JPH02231538A

JPH02231538A - 微小点温度測定用熱電対温度計

Info

Publication number: JPH02231538A
Application number: JP5155789A
Authority: JP
Inventors: Toshihiko Akiba; 俊彦秋葉
Original assignee: Research Development Corp of Japan
Current assignee: Japan Science and Technology Agency
Priority date: 1989-03-03
Filing date: 1989-03-03
Publication date: 1990-09-13

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】（技術分野）この発明は、微小点温度測定用熱電対温度計に関する．
さらに詳しくは、この発明は、光学顕微鏡の視野レベル
の温度分布の直接測定を可能とする微小点温度測定用熱
電対温度計に関する，（背景技術）温度計は測定対象に応じて種々のものが使用されており
、微小域の温度測定には、一般に熱電対温度計や放射温
度計が使用されている．しかしながら、従来の熱電対温
度計や放射温度計によっては、光学顕微鏡の視野内レベ
ルの微小点の温度あるいはその温度分布を正確に測定す
ることはできない．すなわち、熱電対温度計は、２種の
金属線の両端を接合し、その両接合点（温接点と基準接
点）を異なる温度に保った場合の熱起電力を利用して温
度を測定するものであるが、使用する金属線の線径は小
さいものでも３０μｍ程度あり、絶縁被覆を含めた全体
の寸法はその数倍大きい．そのため、第３図に示すよう
に熱電対温度計（１０）を顕微鏡視野内のスライドガラ
ス（１１）とカバーガラス（１２）の間に挿入すること
が困龍となっている．また、放射温度計は、試料の熱放射を観測してその試料
の見かけの温度を測定するものであるが、試料の放射率
の相違や光学系との関連など原理的に不明確な要素が多
いために、確度の高い測定を望むことはできない．特に
透過型顕微鏡の視野内の温度測定を行う場合にはその視
野背景全体が大きな熱源となっていることから、試料位
置において高精度の温度測定をすることができない．実
際、数百倍オーダの高い倍率で試料をｉｌ！察する場合
、その試料の温度測定に放射温度計が使用されることは
ない．このため、新たな汎用性のある微小点温度測定用温度計
の開発が望まれていた．（発明の目的》この発明は、以上の通りの事情を踏まえてなされたもの
であり、光学顕微鏡の視野レベルの微小点の温度を直接
かつ容易に、しかも高精度に測定できるようにする微小
点温度測定用熱電対温度計を提供することを目的として
いる．《発明の開示》この発明は、上記の目的を実現するため、熱電対とする
２種の金属線を、蒸着法により薄膜状線として基板上に
形成し、その温接点を基板上に設けてなることを特徴と
する微小点温度測定用熱電対温度計を提供する．この発明の熱電対温度計は、従来の熱電対温度計の２Ｍ
の金属線を蒸着法により基板上に薄膜状の線として形成
し、その際、２種の金属の薄膜状の線の温接点が基板上
に位置するようにしたものであり、それにより顕微鏡視
野内のカバーガラスとスライドガラスとの間にも容易に
挿入することのできる極薄型で、かつそれ自体の熱容量
が著しく小さく、微小域の温度測定を正確に行うことの
できる微小点温度測定用の熱雷対温度計としたものであ
る．このような熱電対温度計の温接点付近の断面図の一例を
第２図に示す．この場合、使用する基板（１）としては、絶縁性のもの
であれば特に制限はなく、測定環境に応じて適宜選択す
ることができる．たとえば、光字顕Ｒ鏡の視野内の温度
測定に使用する場合には、その顕微鏡用カバーガラスま
たはスライドガラスを基板として使用することが好まし
い．また、基板（１）上に蒸着法により形成する２種の金属
の薄膜状線（２）（３）の厚み（ｄ＋　）（ｄｉ　）、
線幅、および温接点の重なり幅（Ｗ）としては、測定対
象の大きさや後述するこれら金属の薄膜状線の形成パタ
ーン等にもよるが、たとえば金属の薄膜状線（２Ｈ３）
の厚み（ｄ＋　）（ｄｉ　）は、それぞれ０．１〜０，
５μｍとすることができ、温接点の重なり幅（Ｗ）は１
〜１０μｍとすることができる．なお、このように薄膜
状の線として形成する金属の種類としては、従来より熱
な対に使用されている２種の金属の組合せを、測定温度
範囲等に応じて適宜用いることができる．たとえば、白
金一白金ロジウム、クロメルーアルメル、銅一コンスタ
ン、タングステンータンスグテンモリブデン、金一銀、
白金一洋銀、金一洋銀、ビスマスーアンチモン等を使用
することができる．また、これらの金属の基板への蒸着法、および所定の線
状に加工するパターン形成法としては、ＩＣ等半導体素
子の配線パターンの形成に使用する方法を利用すること
ができる．さらに、形成した金属の薄膜状線のパターン上には、そ
れを保護するために、保護Ｊｌｉ（４）を形成すること
が好ましく、この保護ＩＩＩ（４）としても半導体素子
の封正に用いられている封止樹脂等を適宜使用すること
ができる．このようにして形成する金属のＮＨｌ状線の形成パター
ンおよび配線形態としては、基板上に単一の温接点を形
成するようにしてもよいが、むしろ複数の温接点を設け
、それらの温接点を直列または並列に配線することが好
ましい．直列配線とした場合には、全体を一つのサーモ
バイルとして使用することにより測定感度を高くするこ
とができる．複数の温接点を並列に設けるようにした例
としては、たとえば、第１図（ａ）　（ｂ）に示すよう
に、一次元の温度センサ・アレイとして機能するように
した熱電対温度計をあげることができる．この第１図（
ａ）の熱電対温度計は、スライドガラスの基板（１）上
に、一本の所定の種類の金属のｒＩＪ膜状線（２）と複
数本の他の種類の金属の薄膜状線（３）を、それらの温
接点部分（５）を中心にして放射状に形成したものであ
り、スライドガラスの基板（１）の端部において、これ
ら薄膜状線（２Ｈ３）を、データセレクタ（６）、然電
対用アンプ（７）、温度表示器（８）に続く配線とボン
ディング接続（９）シたものである．第１図（ｂ）は、上記第１図（ａ）の温接点付近（５）
の拡大図である。同図に示したように、この薄膜状線（
２）には複数の薄膜状線（３）が所定の間隔で接合して
あり、各々の接合部が温接点として機能するようになっ
ている．この場合、薄膜状線（２）と薄膜状線（３）の
それぞれの線幅は１μｍ程度とし、それらの接合間隔は
１０μｍ程度とすることができる．この発明の熱電対温度計は、蒸着法により基板上に２種
の金属の薄膜状線を形成し、それらを熱電対として機能
させるようにするものであるかぎり、上記のパターンお
よび配線形態の他にも種々の態様をとることができる．
たとえば、基板上に２種の金属の薄膜状線の温接点を複
数設け、その複数の温接点の位置関係をパソコンに記憶
させ、個々の温接点における温度と位置との関係を同時
に把握できるようにすることにより、顕微鏡視野内の温
度分布が一見してわかるようにすることも可能である．（発明の効果）この発明の微小点温度測定用熱電対温度計は、極めて薄
く、小型で、熱容量の著しく小さいものとすることがで
きるので、光学票微鏡の視野レベルの微小点の温度を直
接かつ容易に、しかも高精度に測定することを可能とす
る．

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）は、この発明の微小点温度測定用熱電対温
度計のパターン配線図である．第１図（ｂ）は、第１図（ａ）の温接点付近の拡大図で
ある．第２図は、温接点付近の拡大断面図である．第３図は、
顕微鏡の視野内に熱電対温度計を挿入した場合の側面図
である．１　基板２　金属の薄膜状線３　金属の薄膜状線４　保護膜５　温接点部分６　データセレクタ７　熱電対用アンプ８　温度表示器９　ボンディング接続１０）熱な対温度計１１）顕微鏡のスライドガラス１２）顕微鏡のカバーガラス第　　１　　図（ａ）（ｂ）代理人　弁理士　西　澤　利　夫

Claims

【特許請求の範囲】

（１）熱電対とする２種の金属線を、蒸着法により薄膜
状線として基板上に形成し、その温接点を基板上に設け
てなることを特徴とする微小点温度測定用熱電対温度計
。
（２）基板として顕微鏡用カバーガラスまたはスライド
ガラスを使用した請求項（１）記載の微小点温度測定用
熱電対温度計。
（３）温接点を基板上に複数形成し、直列または並列に
配線した請求項（１）記載の微小点温度測定用熱電対温
度計。