JPH02218140A - 半導体チップの実装方法 - Google Patents

半導体チップの実装方法

Info

Publication number
JPH02218140A
JPH02218140A JP3859389A JP3859389A JPH02218140A JP H02218140 A JPH02218140 A JP H02218140A JP 3859389 A JP3859389 A JP 3859389A JP 3859389 A JP3859389 A JP 3859389A JP H02218140 A JPH02218140 A JP H02218140A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
substrate
chip
bonded
bonding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3859389A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2679215B2 (ja
Inventor
Wataru Hidese
渡 秀瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP3859389A priority Critical patent/JP2679215B2/ja
Publication of JPH02218140A publication Critical patent/JPH02218140A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2679215B2 publication Critical patent/JP2679215B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はLEDやCODのようなドツトを備えた半導体
チップの実装方法に関し、殊に相隣る半導体チップのド
ツトの間隔の補正手段に関する。
(従来の技術) 例えばファクシミリなどの読取り部や書取り部は、CC
DやLEDなどのドツトがピッチをおいて並設された半
導体チップをグイボンディング装置により基板に複数個
横列ボンディングして製造される。
この種ドツトは、所定のピッチをおいて正しく並列して
いる必要があり、ピッチに狂いがあると、読取りミスや
書取りミスを生じる。ところが相隣る半導体チップのド
ツトのピンチは、ボンディング誤差や半導体チップの外
形誤差等のため、狂いを生じやすいものである。
このため従来、半導体チップをダイボンディング装置に
より基板にボンディングした後、作業者が顕微鏡により
ドツトのピッチを観察し、ピッチに狂いがある場合は、
ピンなどにより半導体チップを動かして、ピッチの補正
を行っていた。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら上記従来手段は、作業者の手作業によりピ
ンチの補正を行うものであるため、作業能率や精度があ
がらないものであった。
したがって本発明は、基板にボンディングされた相隣る
半導体チップのドツトのピンチを、作業性よく自動補正
できる手段を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段) このために本発明は、サブ移送ヘッドと、ボンディング
ヘッドと、ボンド塗布ヘッドの3つのヘッドを同時に横
方向に往復動させることにより、サブ移送ヘッドにより
チップ供給部に装備された半導体チップをサブステージ
に移送し、またサブステージにおいてXYθ方向の位置
ずれの補正がなされた半導体チップを、ボンディングヘ
ッドの3方向ダイコレツトに吸着してXY方向移動装置
に位置決めされた基板にボンディングし、またボンド供
給部のボンドをボンド塗布ヘッドにより基板に塗布する
ようにした半導体チップの実装方法において、上記のよ
うにボンディングヘッドのダイコレットにより半導体チ
ップを基板にボンディングした後、上記XY方向移動装
置を駆動して基板にボンディングされた半導体チップを
ボンディング地点の側方に設けられたカメラの下方へ移
動させ、このカメラによりその前にボンディングされた
半導体チップのドツトとこの半導体チップのドツトの間
隔の誤差を検出し、次に再度XY方向移動装置を駆動し
てその半導体チップをボンディングヘッドの直下に移動
させ、次に上記ダイコレットによりこの半導体チップを
押え付けてXY方向移動装置を駆動することにより、上
記誤差を補正するようにしたものである。
(作用) 上記構成によれば、基板にボンディングされた半導体チ
ップをカメラの下方に移動させて、相隣る半導体チップ
のドツトのピンチの狂いを検出し、再度半導体チップを
ダイコレットの下方に移動させてこのダイコレットによ
り半導体チップを押え付けてXY方向移動装置を駆動す
ることにより、ピッチの狂いを補正する。
(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図はダイボンディング装置の全体正面図であって、
ベーシックマシンのような駆動装置Aの下方に、チップ
供給部1と、サブステージ2と、基板の位置決め用XY
方向移動装置3と、ボンド供給部4を並設して構成され
ている。チップ供給部1には、ウェハー5とウェハー5
上の半導体チップPを突き上げるダイエジェクタ12が
、またボンド供給部4にはボンド皿6が設けられている
。7,8.9は駆動装置Aに装備されたサブ移送ヘッド
、ボンディングヘッド。
ボンド塗布ヘッドである。これらの3つのヘッド7〜9
は、ガイド装置lOに沿って一緒に横方向に摺動するこ
とにより、サブ移送ヘッド7はウェハー5上のチップP
をサブステージ2上に移送し、またボンディングヘッド
8はサブステージ2でXYθ方向の位置ずれが補正され
たチップPをXY方向移動装置3上の基板11に移送搭
載し、またボンド塗布ヘッド9はボンド皿6のボンドを
基板11に塗布する。22は、ボンディングヘッド8の
下端部に設けられた3方向グイコレツトであって、この
ダイコレット22に半導体アップPを吸着する。13は
駆動部であって、グイエジェクタ12を駆動するととも
に、ロッド14.揺動部材15.水平ロッド16等を介
して、各ヘッド7〜9を横方向に往復摺動させる。XY
方向移動装置3は、XY子テーブル7.18上に、基[
11のクランプ部材19を設置して構成されている。2
0はXY方向移動装置3の上方に設けられた第1のカメ
ラであって、基板11のXYθ方向の位置ずれを観察す
る。
第2図はボンディングヘッド8の下端部の3方向グイコ
レツト22に半導体チップPを吸着して、これを基板1
1にボンディングしている様子を示すものであって、ボ
ンディングヘッド8は横力向Yに往復動し、サブテーブ
ル2においてXYθ方向の位置ずれの補正がなされた半
導体アップPを、XY方向移動装置3上の基板11に移
送してボンディングする。また基板11は、ヘッド7〜
9の往復動方向Yと直交する方向Xに搬送されて、XY
方向移動装置3上に搬入され、またここから搬出される
。21はボンディング地点の側方(第1図においてカメ
ラ20の手前側)に設けられた第2のカメラであって、
チップPの上面に並設されたLEDやCCDのようなド
ツトSのピッチを観察する。
本装置は上記のような構成より成り、次に第3図を参照
しながら、動作の説明を行う。
同図(a)において、チップPを基板11にボンディン
グするに先立ち、まず第1のカメラ20により、基板1
1のXYθ方向の位置ずれを検出し、XY方向移動装置
3を駆動することにより、この位置ずれを補正する。
次にボンディングヘッド8がサブステージ2とXY方向
移動装置3の間を往復することにより、サブステージ2
上の第1番目のチップP1を3方向ダイコレツト22に
吸着してピンクアップし、基vi11にボンディングす
る(同図(b))、なお3方向グイコレツトとは、これ
に吸着された半導体チップの3方向の移動を規制し、1
方向の移動のみを許容するダイコレットであって、第2
図において、ダイコレット22に吸着されたチップPは
左端方向にのみ移動できる。
次に同様にして第2番目のアップP2をダイコレット2
2に吸着して基板11にボンディングする(同図(c)
)、次にボンディングヘッド8は上昇位置で待機し、そ
の状態でXY方向移動装置3を駆動して、このチップP
2を第2のカメラ21の下方に移動させ、相隣るチップ
PI、P2の端部と端部のドツトSのピッチを観察する
。同図(d)は観察中の平面図であって、相隣るドツト
S同士のピッチはt+△tであり、所定のピッチtより
△tだけ過大となっている。
次にアップP2を再度ダイコレット22の下方に移動さ
せ、ダイコレット22によりこのチッソP2を押え付け
て、基板11をX1方向に距離△tだけ移動させる。す
ると第1番目のチップP1は同距離△tだけチップP2
に接近し、この誤差△tは補正される(同図(e))。
なおかかる誤差△tの補正を有利に行うためには、誤差
Δtがプラス側に生じるよう、XY方向移動装置3の移
動プログラミングを設定しておくことが望ましい。何故
なら、マイナス側に誤差が生じると、チップP2を基板
11にボンディングする際に、前のチップP1に当って
ボンディングできない虞れを生じるからである。なお上
記のように誤差△tの補正をする際には、チップP2を
基板11にボンディングするボンド23は未硬化である
このようにしてチップP2を実装したならば、次に第3
番目のチップP3を基板11上にボンディングしく同図
(f))、上記と同様によしてこのチップP3とその前
のチップP2の相隣るドツトSのピッチの補正を行う。
かかる作業を、以下のチップP4.P5・・・について
順次行うことにより、多数個のチップP1=Pnを、ド
ツトSのピッチを揃えて基板11上に実装することがで
きる。
なお上記動作に、チエツク動作を追加してもよい。すな
わちチエツク動作は、上述のようにしてピンチの補正を
した後、チップとチップの接合部分を第2のカメラ21
の下方に移動させて正しく補正されたかどうかをチエツ
クするものである。かかるチエツク動作はすべてについ
て行ってもよく、或いは時折行ってもよく、その実行頻
度は自由に決定できる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、サブ移送ヘッドと、ボン
ディングヘッドと、ボンド塗布ヘッドの3つのヘッドを
同時に横方向に往復動させることにより、サブ移送ヘッ
ドによりチップ供給部に装備された半導体チップをサブ
ステージに移送し、またサブステージにおいてXYθ方
向の位置ずれの補正がなされた半導体チップを、ボンデ
ィングヘッドの3方向グイコレツトに吸着してXY方向
移動装置に位置決めされた基板にボンディングし、また
ボンド供給部のボンドをボンド塗布ヘッドにより基板に
塗布するようにした半導体チップの実装方法において、
上記のようにボンディングへラドのダイコレットにより
半導体チップを基板にボンディングした後、上記XY方
向移動装置を駆動して基板にボンディングされた半導体
チップをボンディング地点の側方に設けられたカメラの
下方へ移動させ、このカメラによりその前にボンディン
グされた半導体チップのドツトとこの半導体チップのド
ツトの間隔の誤差を検出し、次に再度XY方向移動装置
を駆動してその半導体チップをボンディングヘッドの直
下に移動させ、次に上記ダイコレットによりこの半導体
チップを押え付けてXY方向移動装置を駆動することに
より、上記誤差を補正するようにしているので、相隣る
半導体チップのドツトのピッチの狂いを簡単かつ正確に
補正することができる。殊にこの方法は、半導体チップ
の外形とは無関係に、ドツトを観察してそのピッチ補正
を行うものであるので、この種半導体チップが有する寸
法のばらつきに基づ(外形誤差に左右されずに、ピッチ
の補正を行うことができる利点を有する。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図はダイ
ボンディング装置の正面図、第2図はボンディング中の
斜視図、第3図(a)〜(f)はボンディング中の部分
正面図及び部分平面図である。 ■・・・チップ供給部 2・・・サブステージ 3・・・XY方向移動装置 6・・・ボンド供給部 7・・・サブ移送ヘッド 8・・・ボンディングヘッド 9・・・ボンド塗布ヘッド 11・・・基板 21・・・カメラ 22・・・ダイコレット 23・・・ボンド P・・・半導体チップ S・・・ドツト む・・・ピッチ 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. サブ移送ヘッドと、ボンディングヘッドと、ボンド塗布
    ヘッドの3つのヘッドを同時に横方向に往復動させるこ
    とにより、サブ移送ヘッドによりチップ供給部に装備さ
    れた半導体チップをサブステージに移送し、またサブス
    テージにおいてXYθ方向の位置ずれの補正がなされた
    半導体チップを、ボンディングヘッドの3方向ダイコレ
    ットに吸着してXY方向移動装置に位置決めされた基板
    にボンディングし、またボンド供給部のボンドをボンド
    塗布ヘッドにより基板に塗布するようにした半導体チッ
    プの実装方法において、上記のようにボンディングヘッ
    ドのダイコレットにより半導体チップを基板にボンディ
    ングした後、上記XY方向移動装置を駆動して基板にボ
    ンディングされた半導体チップをボンディング地点の側
    方に設けられたカメラの下方へ移動させ、このカメラに
    よりその前にボンディングされた半導体チップのドット
    とこの半導体チップのドットの間隔の誤差を検出し、次
    に再度XY方向移動装置を駆動してその半導体チップを
    ボンディングヘッドの直下に移動させ、次に上記ダイコ
    レットによりこの半導体チップを押え付けてXY方向移
    動装置を駆動することにより、上記誤差を補正するよう
    にしたことを特徴とする半導体チップの実装方法。
JP3859389A 1989-02-17 1989-02-17 半導体チップの実装方法 Expired - Fee Related JP2679215B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3859389A JP2679215B2 (ja) 1989-02-17 1989-02-17 半導体チップの実装方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3859389A JP2679215B2 (ja) 1989-02-17 1989-02-17 半導体チップの実装方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02218140A true JPH02218140A (ja) 1990-08-30
JP2679215B2 JP2679215B2 (ja) 1997-11-19

Family

ID=12529596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3859389A Expired - Fee Related JP2679215B2 (ja) 1989-02-17 1989-02-17 半導体チップの実装方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2679215B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108155127A (zh) * 2017-12-27 2018-06-12 昆山思雷电子科技有限公司 一种固晶辅助设备及固晶机

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108155127A (zh) * 2017-12-27 2018-06-12 昆山思雷电子科技有限公司 一种固晶辅助设备及固晶机

Also Published As

Publication number Publication date
JP2679215B2 (ja) 1997-11-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI287841B (en) Method and apparatus for mounting semiconductor chips
KR100598198B1 (ko) 피가공물과 헤드의 위치결정장치 및 위치결정방법
JP2000150970A (ja) 発光素子のボンディング方法および装置
JP2009016673A5 (ja)
JPH02218140A (ja) 半導体チップの実装方法
JP2722601B2 (ja) ダイボンディング装置及びダイボンディング方法
JPH118259A (ja) ピックアップ方法
JP2746989B2 (ja) チップの位置決め方法およびその装置、インナリードボンディング装置およびインナリードボンディング方法
JP2767955B2 (ja) 半導体チップの実装方法
KR100565783B1 (ko) 반도체 패키지용 다중 정렬장치 및 방법
JPS6245146A (ja) 治具およびこの治具を有する整列供給装置
JPH0575299A (ja) チツプの実装装置
WO2022004151A1 (ja) 物品の製造装置、物品の製造方法
JP2773306B2 (ja) 半導体チップの実装方法
KR940007536B1 (ko) 범프 부착방법
KR100960598B1 (ko) 본딩 장비의 웨이퍼 지지 장치
JPH09283543A (ja) ダイボンド装置
JPS6329525A (ja) ボンデイング装置
JP3613013B2 (ja) 電子部品実装装置および電子部品実装方法
KR200375302Y1 (ko) 반도체 패키지용 다중 정렬장치
JPH0897595A (ja) 電子部品実装装置
JP3077348B2 (ja) 電子部品実装装置および電子部品実装方法
JPH11121911A (ja) コネクタのボンディング装置およびボンディング方法
JPH06140468A (ja) インナリードボンダ
JP2679240B2 (ja) ダイコレット及びダイコレットによるベアチップの搭載方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070801

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080801

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees