JPH0221699A - Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材 - Google Patents

Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材

Info

Publication number
JPH0221699A
JPH0221699A JP63171224A JP17122488A JPH0221699A JP H0221699 A JPH0221699 A JP H0221699A JP 63171224 A JP63171224 A JP 63171224A JP 17122488 A JP17122488 A JP 17122488A JP H0221699 A JPH0221699 A JP H0221699A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electromagnetic
electromagnetic wave
chamber
anechoic chamber
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63171224A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2574409B2 (ja
Inventor
Katsuo Ishihara
石原 勝夫
Yoshio Tomiyama
冨山 善夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP63171224A priority Critical patent/JP2574409B2/ja
Priority to US07/315,926 priority patent/US5134405A/en
Publication of JPH0221699A publication Critical patent/JPH0221699A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2574409B2 publication Critical patent/JP2574409B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
    • H05K9/0001Rooms or chambers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/10Radiation diagrams of antennas
    • G01R29/105Radiation diagrams of antennas using anechoic chambers; Chambers or open field sites used therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q17/00Devices for absorbing waves radiated from an antenna; Combinations of such devices with active antenna elements or systems
    • H01Q17/004Devices for absorbing waves radiated from an antenna; Combinations of such devices with active antenna elements or systems using non-directional dissipative particles, e.g. ferrite powders
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q17/00Devices for absorbing waves radiated from an antenna; Combinations of such devices with active antenna elements or systems
    • H01Q17/008Devices for absorbing waves radiated from an antenna; Combinations of such devices with active antenna elements or systems with a particular shape

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Compounds Of Iron (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Hard Magnetic Materials (AREA)
  • Aerials With Secondary Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は電子機器のEMG  (Electr。
Magnetic  Compatibility、 
 1磁環境適合性)試験、すなわち放射電磁波ノイズ評
価および強電界照射試験をするだめの電磁波無響室に関
する。
従来の技術 一般に電子機器製造者においては、製造された電子機器
のEMG試験を行っている。前記EMG試験をする環境
設備としては第5図に示すようなオープンフィールドテ
ストサイト、あるいは第6図および第7図に示す電磁波
無響室が使用されている。
前記第6図に示すオープンフィールドテストサイトは野
外において供試器1を供試器支持台2上に載置し、前記
供試器1より離れた位置にアンテナポール3を立設し、
これにアンテナ4を上下方向にスライド自在に設け、ア
ンテナ4に対してアンテナケーブル6で測定器6を接続
した構成を取る。
そして放射電磁波ノイズ評価を行う場合には、前記供試
器1より放射される電磁波をアンテナ4で設けて前記電
磁波が規定値以下であるかどうかを測定し、また強電界
照射試験をする場合には、アンテナ4より強電界を供試
器1に照射し、供試器1における異常状態を測定する。
第6図および第7図に示す電磁波無響室は外来電磁波を
シールドするために鉄板7で囲まれた室8を構成し、そ
の内周壁および天井には多数のくさび状の電磁波吸収体
9を設け、室8内には前述と同様に供試器支持台2、ア
ンテナポール3、アンテナ4および供試器1を設備し、
同様なEIIC試験を行っている。なお、前記電磁波吸
収体9はウレタンゴムにカーボンを含浸した構成として
いる。
前記試験において、供試器支持台2は一般家庭の机の上
に電子機器を置く場合と同じようにするために、その高
さは1m程度とする。また、アンテナポール3は規定に
よって供試器支持台2より3mはなれた位置に立設され
、その高さは大きなものとしている。これは床面で反射
する電磁波があり、第8図に示すように高さ方向に電磁
波の強弱のあるいわゆるハイドパターンが発生し、この
ためアンテナ4を上下方向にスライドして電磁波のピー
ク値を測定することから、前記アンテナポール3の高さ
は少なくとも4m以上を必要としている。
発明が解決しようとする課題 前記第6図に示すオープンフィールドテストサイトは、
部会地では外来の環境電磁波ノイズのレベルが高いため
に試験ができないことから、野外に設置することを原則
としている。したがって不便であり、また、降雨、降雪
2強風等の気象条件によって試験ができないことがある
また外気温度の変化、湿度の変化等により、供試器の放
射電磁波ノイズのレベルが変化し、測定結果の再現性が
得にくい。一方、測定小屋等の構造物を設置することも
あるが、それにより供試器より放射する電磁波の反射を
引き起こし、特性を低下(3dB以上)させる問題があ
る。特に強電界照射試験は、他への電磁波妨害を引き起
こすために実施できない。
一方、第6図および第7図に示す電磁波無響室は、シー
ルド室構成となっているため、前記の欠点を補填するが
、次のような問題がある。すなわち電磁波吸収体9の長
さは吸収すべき電磁波の半波長の長さが必要である。こ
こで、放射される電磁波は周波数30 MHz〜1GH
zであることから前記電磁波吸収体9は少なくとも5m
以上の長さにしなければならない。また床面が電磁波の
全反射面となっているため、ハイドパターンが発生し、
無響室内寸法は有効高さで6m以上必要である。
これらの条件より第6図および第7図の電磁波無響室の
大きさは、外面寸法で長さ19m、巾1θm、高さ10
m以上となり、非常に大型で、かつ高額の設備費を要す
る。さらに強電界照射試験では床が電磁波の全反射面と
なっているため電界の乱れを生じ、したがって前記強電
界照射試験ができない。
τ 本発明は前記従来の問題に留意し、小形しかも正確にE
MC試験ができる電磁波無響室を提供することを目的と
するものである。
課題を解決するための手段 前記課題を解決するため、本発明の第1の手段はシール
ドされた室内の全内面の構造壁を、フェライトよりなる
電磁波吸収体パネルで形成した電磁波無響室の構成とし
だものである。
また本発明の第2の手段は前記電磁波吸収体パネルの全
部または一部を、電磁波がアンテナ方向に反射しない角
度に設定した構成としたものである。
また本発明の第3の手段は、電磁波無響室の一部に測定
器観測用の電磁波窓を設けたことにある。
さらに本発明の第4の手段は銅板および鉄板よりなる二
重シールド構成にしたことにある。
作用 上記構成の電磁波無響室は、室内に供試器およびアンテ
ナを設備し、放射電磁波ノイズ評価試験および強電界照
射試験をする。前記各試験において、フェライトよりな
る電磁波吸収体パネルは吸収周波数の帯域が広く、効果
的に電磁波を吸収し、反射波が極めて少ない状態で効果
的な試験をする。
また、電磁波吸収体パネルに一定角度をもたせたことに
より、電磁波の定在波の発生を防ぎ、この点からも測定
精度を上げることとなる。さらに電磁波無響室の一部の
電磁波窓からは測定器を常時観測することによ、す、試
験と同時に結果が判断でき、試験効率の向上が得られる
。またシールド部材は銅板および鉄板の二重シールド構
成としているので、シールド周波数の広帯域化、シール
ド特性の向上および軽量化が図れることとなる。
実施例 以下本発明の一実施例を第1図〜第4図にもとづき説明
する。
図において10は電磁波無響室、11は前記電磁波無響
室1oに隣接して設けられた測定室である。前記電磁波
無響室1Qは外周にシールド材12を有する。このシー
ルド材12は第4図に示すように電界(電圧)の吸収損
が大きい鉄板121Lと、磁界(電流)の反射損が大き
い銅板12bによる二重構造となっており、これらはそ
れぞれベニア板12c、12dに張りつけられ、単位パ
ネルはパネル接合金具1261によって導通できるよう
に結合されている。
前記電磁波無響室1oの全内面、すなわち、側壁、天井
、床の構造壁は、フェライトよりなる電磁波吸収体パネ
ル13によって構成されている。
この電磁波吸収体パネル13は第4図に示すように1o
crn角で厚み6羽の多数個のフェライト基板131L
をベニア板13bに貼りつけ、前記フェライト基板13
2L上に導電性反射面材としてアルミ箔130を重ねて
構成されている。そして前記シールド材12に対し、ね
じ止めされている。図中の14は支柱を示している。
前記電磁波無響室1Q内には約1mの高さの供試器支持
台16を設定してその上に供試器16を載置してあり、
また、この供試器16に対して3mの位置にはアンテナ
ポール17を立設し、このアンテナポール17の高さ約
1mの位置にアンテナ18を固定化している。前記アン
テナ18からはアンテナケーブル19が導出され、測定
室11における測定器20に接続されている。測定室1
1においては、前記測定器20のデータを表示するモニ
タテレビ21が設置されている。そして電磁波無響室1
0と測定室11を区隔する壁には、前記モニタテレビ2
1を透視できる電磁波窓22を設けている。なお第1図
中の23.24は扉を示している。
前記電磁波無響室10におけるアンテナ18の設置側の
両側壁の電磁波吸収体パネル13は、ある角度をもたせ
て設置されている。この角度は供試器16より放射され
る電磁波の反射が、アンテナ18に向わないようにす゛
る角度とし、すなわち、定在波の発生を防ぐ角度として
いる。
なお、前記実施例においてはEMCam法試験に適用す
る太きさとしているが、他のメートル法試験に応じる大
きさとしてもよい。また、角度をもつ電磁波吸収体パネ
ル13は、アンテナ18の両側以外の部分にも設けても
よく、フェライト基板あるいはシールド部材のベニア板
に代わり、合成樹脂の板材を用いてもよい。
上記構成のEMG試験用電磁波無響室において、外来の
電磁波は銅板と鉄板による二重シールド構造になってい
るシールド材12によって吸収および反射され、内部の
試験に影響を与えない。電磁波無響室内において、放射
電磁波ノイズ評価をする場合は、供試器16より放射さ
れる電磁波をアンテナ18が受け、測定器2oで測定す
る。この試験において供試器16より放射される電磁波
のうち、電磁波無響室の床、天井、側壁に向う電波はフ
ェライトを基材とする電磁波吸収体パネルによってほと
んど吸収され、したがってアンテナ18は主として直線
波を受けることとなる。もちろん床面よりの電磁波の反
射がないのでハイトパターン特性は安定し、アンテナ1
8を上下に位置移動して測定する必要がないので、アン
テナ18は供試器16と同じ高さに固定したままでよい
また、アンテナ18の両側における電磁波吸収体パネル
13は角度をつけられており、この部分でわずかに反射
された電磁波はアンテナ18に向わなく、したがって定
在波の発生が防止され、測定の精度を上げることができ
る。これらの測定は測定作業者が電磁波無響室10内に
入り、供試器16を調整しながら行なわれる。そして電
磁波窓22を透してモニタテレビ21を見ながら行なう
ことができるので、測定が行ないやすい。そして調整の
都度に測定器場所に移動しなくてもよいので、測定時間
が短かくなる。
つぎに強電界照射試験はアンテナ18より供試器16に
強電界を照射して行なう。この場合、床は電磁波吸収体
パネル13より構成されているので、強電界は反射され
なく、その試験に支障はない。
発明の効果 本発明の電磁波無響室は、電磁波シールド材料として銅
板および鉄板の二重構造としていることにより、シール
ド周波数の広帯域化とシールド特性を向上(周波数16
0KHz 〜1GHzでシールド特性80dB以上)さ
せ、また、パネル化されているので組立設置が簡便にな
る。電磁波吸収体としてフェライト基板を用いているた
め、吸収体の小型化が実現する。すなわち、従来は6m
の長さを有していたものが、厚み6MMと小さくなり、
電磁波無響室の小型化に大きく寄与する。また、床もフ
ェライト基板よりなる電磁波吸収体パネルを設けたこと
により、ハイドパターンを安定化し、電磁波無響室の高
さ寸法を小型化する。すなわち3m法試験用として従来
の電磁波無響室では長さ19m、巾16m、高さ10m
以上要していたものが、長さ7m、巾3m、高さ2.6
mの小型となり、設備費も約ら程度にすることができる
。もちろん床による電磁波の反射がないだめアンテナの
高さは固定でよく、強電界試験を行なうこともできる。
他に測定をしながら電磁波窓を通して測定結果を見るこ
とができるので、従来のように測定室よりその都度電磁
波無響室に入って供試器あるいはアンテナ位置を調整す
る必要がなく、測定が短時間で行なうことができる。
以上のように本発明のEMC試験用電磁波無響室は、測
定精度、測定時間短縮、組立、小型化、コストの面で有
利であり、その工業的価値の大きいものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のEMC試験用電磁波無響室の平断面図
、第2図は同縦断面図、第3図は同平断面斜視図、第4
図は電磁波吸収体パネルおよびシールド部材の断面図、
第6図は従来のオープンフィールドテストサイドの説明
図、第6図は従来のEMC試験用無響室の平断面図、第
7図は同縦断面図、第8図a、bはハイドパターン特性
図である。 1o11310.電磁波無響室、11・・・・・・測定
室、12・・・・・・シールド材、12&・旧・・鉄板
、12b・・・・・・銅板、120 、12d・・・・
・・ベニア板、13・・・・・・電磁波吸収体パネル、
13a・・・・・・フェライト基板、13b・・・・・
・ベニア板、16・・・・・・供試器支持台、16・・
・・・・供試器、17・・・・・・アンテナポール、1
8・・・・・・アンテナ、2o・・・・・・測定器、2
1・・・・・・モニタテレビ、22・・・・・・電磁波
窓。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名第 図 12・−・シールド材 12↓・−・虚失坂 tZV−・部ト板 12c、Jab ”−ベニア板 13・−1,僅液」反q又体バ卑ル 13a−−フェライト&版 (!外順11) 第8図 (飢) サイトアッテネーシゴンC(LB) (m) 2θ 乙5 3θ S 4θ 6η サイトアッテネーシ3ン(d−釦

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)シールド材でシールドされた室の全内面の構造壁
    をフエライトよりなる電磁波吸収体パネルで形成してな
    るEMG試験用電磁波無響室。
  2. (2)電磁波吸収体パネルの一部または全部を電磁波が
    内設されるアンテナ方向に反射しない角度に設定してな
    る請求項1記載のEMC試験用電磁波無響室。
  3. (3)シールド材でシールドされ、内壁に電磁波吸収体
    を設けた電磁波無響室と、前記電磁波無響室に隣接され
    た測定室よりなり、前記測定室に測定器を設備し、前記
    両室を区隔する構造壁に測定器を透視するための電磁波
    窓を形成してなるEMC試験用電磁波無響室。
  4. (4)電磁波吸収体パネルは多数のフエライト基板を支
    持基板に知りつけて構成されてなる請求項1記載のEM
    C試験用電磁波無響室。
  5. (5)銅板と鉄板により二重構成され、かつパネル化さ
    れてなるシールド材。
  6. (6)電磁波吸収体パネルとシールド材が一体化して構
    造壁が構成されてなる請求項1記載のEMC試験用電磁
    波無響室。
JP63171224A 1988-07-08 1988-07-08 Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材 Expired - Fee Related JP2574409B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63171224A JP2574409B2 (ja) 1988-07-08 1988-07-08 Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材
US07/315,926 US5134405A (en) 1988-07-08 1989-02-27 Electromagnetically anechoic chamber and shield structures therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63171224A JP2574409B2 (ja) 1988-07-08 1988-07-08 Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0221699A true JPH0221699A (ja) 1990-01-24
JP2574409B2 JP2574409B2 (ja) 1997-01-22

Family

ID=15919348

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63171224A Expired - Fee Related JP2574409B2 (ja) 1988-07-08 1988-07-08 Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5134405A (ja)
JP (1) JP2574409B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11163580A (ja) * 1997-11-26 1999-06-18 Tekunet:Kk 無反射型電磁波シールド構造体
JP2005061949A (ja) * 2003-08-11 2005-03-10 Device Co Ltd 電磁波測定暗箱
JP2007502972A (ja) * 2003-08-18 2007-02-15 エステウ、ダプリカシオン、テクノロジーク、ド、リマジェリ、ミクロ、オンド 調査対象器具の電磁挙動の直接観測のための無響室
JP2008241661A (ja) * 2007-03-29 2008-10-09 Fujitsu Ltd Emi測定システム

Families Citing this family (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2866758B2 (ja) * 1991-07-05 1999-03-08 沖電気工業株式会社 ノンインパクトプリンタ
US5331567A (en) * 1991-08-22 1994-07-19 The University Of Colorado Foundation, Inc. Pyramidal absorber having multiple backing layers providing improved low frequency response
DE4225912B4 (de) * 1992-08-05 2006-04-27 Epcos Ag Vorkonfektionierte Absorbermodule
US5353029A (en) * 1993-05-17 1994-10-04 Johnston Beverly R Separable electromagnetic waveguide attenuator
WO1995005013A1 (en) * 1993-08-06 1995-02-16 Ray Proof Shielding Systems Corporation Method for constructing an absorber and absorber structure
US5530412A (en) * 1993-09-03 1996-06-25 Emc Science Center, Inc. Enhanced mode stirred test chamber
US5510792A (en) * 1993-12-27 1996-04-23 Tdk Corporation Anechoic chamber and wave absorber
US5534873A (en) * 1995-02-07 1996-07-09 Mcdonnell Douglas Corp. Near field RCS test facility and testing method
US5893031A (en) * 1996-06-27 1999-04-06 Cellular Technical Services Company, Inc. System and method for collection of transmission characteristics
US6140576A (en) * 1998-04-06 2000-10-31 Motorola, Inc. Protective shield tent and method of using same
US6011504A (en) * 1999-04-23 2000-01-04 Singapore Technologies Aerospace, Ltd. Method for building a low cost, large scale, portable EMI shielded enclosure
SE0002980D0 (sv) * 2000-03-31 2000-08-23 Kildal Antenn Consulting Ab A method and an apparatus for measuring the performance of antennas
US6657214B1 (en) * 2000-06-16 2003-12-02 Emc Test Systems, L.P. Shielded enclosure for testing wireless communication devices
US20030084999A1 (en) * 2001-11-05 2003-05-08 Tokyo Electron Limited Apparatus and method for mitigating chamber resonances in plasma processing
US7102562B2 (en) * 2004-03-22 2006-09-05 Motorola, Inc. Radio frequency anechoic chamber with improved test stand
TWI254609B (en) * 2004-05-12 2006-05-01 Jian Miau Yu Mobile EMI test lab
US7688246B2 (en) * 2005-05-10 2010-03-30 Fuji Xerox Co., Ltd. Radio wave absorber, electromagnetic field measurement system and radiated immunity system
CN101039534B (zh) * 2006-03-15 2012-06-20 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 声音检测设备和自动传送装置
US20070243826A1 (en) * 2006-04-13 2007-10-18 Accton Technology Corporation Testing apparatus and method for a multi-paths simulating system
US8774726B2 (en) * 2007-04-11 2014-07-08 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Arrangement and method for simulating a radio access network
US7880670B2 (en) * 2007-06-18 2011-02-01 AGC Automotive Signal measurement system and method for testing an RF component
US7830296B2 (en) * 2007-07-11 2010-11-09 Finisar Corporation Anechoic structures for absorbing electromagnetic interference in a communications module
US8330640B2 (en) * 2008-10-24 2012-12-11 Ets Lindgren, L.P. Termination of edges of a parabolic reflector in a compact range
US9002287B2 (en) * 2009-10-09 2015-04-07 Apple Inc. System for testing multi-antenna devices
KR101333807B1 (ko) * 2009-12-09 2013-11-29 한국전자통신연구원 실내 공간의 전자파 환경 재현 시설 및 그 구축 방법
US8462039B2 (en) * 2009-12-09 2013-06-11 Electronics And Telecommunications Research Institute Indoor electromagnetic environment implementing structure and a constructing method thereof
TW201132991A (en) * 2010-03-23 2011-10-01 Emtrek Technologies Corp RF anechoic chamber
US8344932B2 (en) * 2010-05-13 2013-01-01 Emtrek Technologies Corporation RF anechoic chamber
CN102269783A (zh) * 2010-06-02 2011-12-07 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 全电波暗室
EP2721424B1 (en) * 2011-06-15 2019-07-24 Bluetest AB Improved method and apparatus for measuring the performance of antennas, mobile phones and other wireless terminals
FR2978249B1 (fr) * 2011-07-22 2013-07-26 Thales Sa Dispositif de calibration et de test pour une antenne active notamment une antenne de pointe avant d'un radar aeroporte
CN103091523B (zh) * 2011-10-31 2017-01-25 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 切换式电波暗室
US9116232B2 (en) 2012-04-13 2015-08-25 Apple Inc. Methods and apparatus for testing satellite navigation system receiver performance
US20130307763A1 (en) * 2012-05-21 2013-11-21 Amplifier Research Corporation Field analyzer
US9523728B2 (en) 2013-01-11 2016-12-20 Ford Global Technologies, Llc Electromagnetic stripline transmission line structure
US9482708B2 (en) 2013-01-29 2016-11-01 ETS-Lindgren Inc. Enhanced reverberation chamber
CN103149924B (zh) * 2013-02-27 2015-05-20 浙江吉利汽车研究院有限公司杭州分公司 汽车电控单元辐射抗干扰测试监控系统
US9746423B2 (en) 2013-05-15 2017-08-29 ETS-Lindgren Inc. Reverberation chamber loading
US20170115334A1 (en) * 2014-04-03 2017-04-27 Vecta Pty Ltd Testing Method and Apparatus
CN104407257A (zh) * 2014-12-04 2015-03-11 成都思邦力克科技有限公司 电磁兼容性检测系统
JP6376004B2 (ja) * 2015-03-06 2018-08-22 オムロン株式会社 無線機
CN108132360B (zh) * 2016-12-01 2024-07-19 深圳市新益技术有限公司 旋转承载台以及天线测量隔离室
US10605857B2 (en) 2017-05-24 2020-03-31 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Anechoic chamber for testing a device under test
US10995509B2 (en) * 2017-07-31 2021-05-04 Marc Cordes Methods and systems for providing lightweight acoustically shielded enclosures
CN108120880A (zh) * 2017-12-22 2018-06-05 广州广电计量检测无锡有限公司 雷达发射天线传导发射及敏感度测试平台及其测试方法
CN108366518B (zh) * 2018-01-30 2020-10-27 深圳市共进电子股份有限公司 一种金属屏蔽箱
US11226360B2 (en) 2018-05-24 2022-01-18 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Over-the-air test system and method with visual status indication
US10935596B2 (en) 2018-07-20 2021-03-02 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Test system and method with a thermally isolated hollow body inside an over the air measurement chamber
FI3855192T3 (fi) * 2018-11-27 2023-08-10 Morita Tech Co Ltd Testauslaite
EP3884302B1 (en) 2019-06-28 2024-05-29 Orolia Defense & Security LLC Mobile anechoic chamber, corresponding system and method
US11959955B2 (en) 2020-09-21 2024-04-16 Argo AI, LLC Enhanced anechoic chamber

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6088597U (ja) * 1983-11-21 1985-06-18 理研イーエムシー株式会社 電磁遮蔽室の構築用電磁波遮蔽板
JPS6144479U (ja) * 1984-08-24 1986-03-24 日立建機株式会社 把持装置
JPS61264288A (ja) * 1985-05-17 1986-11-22 株式会社日立メディコ 電磁波シ−ルド構成体
JPS62152500U (ja) * 1986-03-20 1987-09-28
JPS62162895U (ja) * 1986-04-04 1987-10-16

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB538623A (en) * 1940-02-06 1941-08-11 Standard Telephones Cables Ltd Improvements in or relating to ultra high frequency electron discharge devices using resonators
US3887920A (en) * 1961-03-16 1975-06-03 Us Navy Thin, lightweight electromagnetic wave absorber
DE1261912B (de) * 1962-03-29 1968-02-29 Siemens Ag Kastenfoermiger abgeschirmter Messraum zur Messung von elektromagnetischen oder akustischen Wellen
US3806928A (en) * 1964-03-16 1974-04-23 American Rockwell Corp Laminated sandwich construction
US3295133A (en) * 1965-12-16 1966-12-27 William H Emerson Anechoic chamber
US4162496A (en) * 1967-04-03 1979-07-24 Rockwell International Corporation Reactive sheets
US3596270A (en) * 1969-09-24 1971-07-27 Sakae Fukui Microwave absorbing wall element
US3806943A (en) * 1972-10-02 1974-04-23 A Holloway Anechoic chamber
US4118704A (en) * 1976-04-07 1978-10-03 Tdk Electronics Co., Ltd. Electromagnetic wave-absorbing wall
US4164718A (en) * 1976-07-09 1979-08-14 California Institute Of Technology Electromagnetic power absorber
CA1100625A (en) * 1977-04-01 1981-05-05 Leland H. Hemming Plane wave lens
DE2750919C1 (de) * 1977-11-15 1984-03-01 Pusch, Günter, Dr.-Ing., 6903 Neckargemünd Breitbandige Tarnung militaerischer Ziele
US4387786A (en) * 1981-06-08 1983-06-14 Klipsch And Associates, Inc. Anechoic chamber arrangement
US4467327A (en) * 1981-09-22 1984-08-21 The Boeing Company Active millimeter wave simulator for missile seeker evaluations
US4496950A (en) * 1982-07-16 1985-01-29 Hemming Leland H Enhanced wide angle performance microwave absorber
JPH0217515Y2 (ja) * 1987-06-03 1990-05-16
US4949093A (en) * 1988-02-12 1990-08-14 General Electric Company Compact antenna range with switchable electromagnetic mirror
JPH0732320B2 (ja) * 1988-04-28 1995-04-10 茂一 渋谷 反射板のある電波暗室
US4901080A (en) * 1988-07-06 1990-02-13 Northrop Corporation Radar test device with planar reflecting shield
JP2510880B2 (ja) * 1988-07-26 1996-06-26 ティーディーケイ株式会社 多層型電波吸収体及び該電波吸収体からなる電波暗室
US4973963A (en) * 1988-11-18 1990-11-27 Seiko Instuments Inc. Flat lattice for absorbing electromagnetic wave

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6088597U (ja) * 1983-11-21 1985-06-18 理研イーエムシー株式会社 電磁遮蔽室の構築用電磁波遮蔽板
JPS6144479U (ja) * 1984-08-24 1986-03-24 日立建機株式会社 把持装置
JPS61264288A (ja) * 1985-05-17 1986-11-22 株式会社日立メディコ 電磁波シ−ルド構成体
JPS62152500U (ja) * 1986-03-20 1987-09-28
JPS62162895U (ja) * 1986-04-04 1987-10-16

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11163580A (ja) * 1997-11-26 1999-06-18 Tekunet:Kk 無反射型電磁波シールド構造体
JP2005061949A (ja) * 2003-08-11 2005-03-10 Device Co Ltd 電磁波測定暗箱
JP2007502972A (ja) * 2003-08-18 2007-02-15 エステウ、ダプリカシオン、テクノロジーク、ド、リマジェリ、ミクロ、オンド 調査対象器具の電磁挙動の直接観測のための無響室
JP4932482B2 (ja) * 2003-08-18 2012-05-16 エステウ、ダプリカシオン、テクノロジーク、ド、リマジェリ、ミクロ、オンド 調査対象器具の電磁挙動の直接観測のための無響室
JP2008241661A (ja) * 2007-03-29 2008-10-09 Fujitsu Ltd Emi測定システム

Also Published As

Publication number Publication date
US5134405A (en) 1992-07-28
JP2574409B2 (ja) 1997-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0221699A (ja) Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材
Chung et al. Modeling of RF absorber for application in the design of anechoic chamber
US4972191A (en) Wave absorber, and an anechoic chamber using the same
JP5023513B2 (ja) 電子機器用試験装置および電子機器試験方法
CN105911393B (zh) 用于emv测量测试的测试室
Satav et al. Do-it-yourself fabrication of an open TEM cell for EMC pre-compliance
Johnk et al. Efficient and accurate testing of an EMC compliance chamber using an ultrawideband measurement system
Leferink et al. Shielding effectiveness measurements using a reverberation chamber
CN211061622U (zh) 光伏逆变器电磁兼容性电波测试暗室
Daniel et al. Shielding Efficiency Measuring Methods and Systems
JP2738507B2 (ja) 微小電磁波測定および強電磁波発生用セル
Bridges Proposed recommended practices for the measurement of shielding effectiveness of high-performance shielding enclosures
Zombolas The effects of table material on radiated field strength measurement reproducibility at open area test sites
JP2008034761A (ja) 2重構造の電磁シールド材を用いた電磁シールドルームシステム
Dina et al. Estimating the shielding efficiency of an anechoic chamber
Manara et al. Electromagnetic penetration and coupling to wires through apertures of arbitrary shape
Bradley A low cost screened enclosure for effective control of undesired radio frequency emissions
JP2722313B2 (ja) 電波暗箱
JP2000138493A (ja) 電波暗室
Trautnitz Emc absorbers through the years with respect to the new site vswr validation procedure in the frequency range from 1 to 18 ghz-a practical approach
Lockwood New Technique for the Determination of the Integrity of Shielded Enclosures by the Measurement of the Perpendicular Magnetic Field
Munir Development of Radiated emission and Radiated immunity test setups for an anechoic chamber
Livermore Quantifying Signal Leakage--How do Current Methods Measure Up?
Keyser State-of-the-art 10m EMI/EMC chamber at SAMEER, Chennai
JP2000315886A (ja) 電磁シールド装置及び電磁シールドルーム

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees