JPH0221630A - Wafer cassette replacing equipment - Google Patents

Wafer cassette replacing equipment

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Publication number
JPH0221630A
JPH0221630A JP63171655A JP17165588A JPH0221630A JP H0221630 A JPH0221630 A JP H0221630A JP 63171655 A JP63171655 A JP 63171655A JP 17165588 A JP17165588 A JP 17165588A JP H0221630 A JPH0221630 A JP H0221630A
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JP
Japan
Prior art keywords
wafer
cassette
wafers
mask
wafer cassette
Prior art date
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Pending
Application number
JP63171655A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kozo Kurimoto
栗本 宏三
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPH0221630A publication Critical patent/JPH0221630A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • G03F7/7075Handling workpieces outside exposure position, e.g. SMIF box

Abstract

PURPOSE:To save manhour and prevent the generation of foreign matters by a method wherein, when exposure of all wafers are finished, a controller replaces the wafer cassette position of supply side for that of collection side, and at the same time, automatically replaces masks, too. CONSTITUTION:After the exposure of all wafers in a load cassette 30 is finished, and all of the wafers are accommodated in an unload cassette 32, the load cassette 30 moves in the direction shown by an arrow 50. On the other hand, the unload cassette 32 moves in the direction shown by an arrow 51. Each of them is moved by a linear motor 34. When all of the patterns A of an A- mask 4 have been transferred on a wafer 31, an index motor 77 rotates in the direction shown by an arrow 78 according to an order from a controller 76, and a B-mask 20 is positioned at an exposure position by rotating a rotary plate 75 by 180 deg.C. The controller 76 controls linear motors 34, 36 and makes them automatically transfer each cassette to a specified position.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はウェーハカセット交換装置に係り、特にマスク
パターンを半導体ウェーハ上に露光させる半導体製造装
置のウェーハが収納されているウェーハカセットを自動
的に交換して種類の異なるパターンを同一ウェーハに露
光させるのに好適なウェーハカセット交換装置に関する
ものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a wafer cassette changing device, and particularly to a wafer cassette changing device that automatically changes wafer cassettes containing wafers in semiconductor manufacturing equipment that exposes mask patterns onto semiconductor wafers. The present invention relates to a wafer cassette exchange device suitable for exposing different types of patterns on the same wafer by exchanging the wafer cassettes.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来技術については、日立評論VOL、65Nα7 (
1983−7)第466頁に示しである。
Regarding conventional technology, see Hitachi Review VOL, 65Nα7 (
1983-7), page 466.

第8図、第9図は従来の露光装置の概略図である。露光
用水銀ランプ1より発した露光光2は、コンデンサレン
ズ3により集光されて、Aマスク4のAパターン7を照
射する。マスク4を透過した露光光2は、投影レンズ5
で結像されてウェーハ6上にマスク4のAパターン7を
転写する。つニーハロはロードカセット(C1)8より
ロードベルト9で引き出された後、搬送アーム10でX
Yステージ11上に移送される。露光が終了したウェー
ハ6は、アンロードベルト12でアンロードカセット(
C2)13に収納される。第10図はウェーハ6の右半
分にAパターン7が露光された状態を示す。
FIGS. 8 and 9 are schematic diagrams of a conventional exposure apparatus. Exposure light 2 emitted from the exposure mercury lamp 1 is condensed by a condenser lens 3 and irradiates the A pattern 7 of the A mask 4 . The exposure light 2 transmitted through the mask 4 is transmitted through the projection lens 5
The A pattern 7 of the mask 4 is imaged onto the wafer 6. After the knee harrow is pulled out from the load cassette (C1) 8 by the load belt 9, it is
It is transferred onto the Y stage 11. After exposure, the wafer 6 is transferred to an unload cassette (
C2) It is stored in 13. FIG. 10 shows a state where the A pattern 7 is exposed on the right half of the wafer 6. As shown in FIG.

次に、ウェーハ6の左半分に第11図に示す如<B/<
ターンを露光させるには、第9図に示す如く、Aマスク
4をBマスク20に入れ替え、また、ロードカセット8
をアンロードカセット13の位置に、アンロードカセッ
ト13をロードカセット8の位置に人手によって入れ替
える。一方、マスクの交換は、ウェーハカセットの交換
が終了した後、オペレータが操作盤よりキー人力して交
換していた。このため、多大の労力を必要としていた。
Next, on the left half of the wafer 6, as shown in FIG.
To expose the turn, as shown in FIG. 9, replace the A mask 4 with the B mask 20,
is placed in the position of the unload cassette 13, and the unload cassette 13 is placed in the position of the load cassette 8 by hand. On the other hand, the mask was replaced manually by an operator using a key from the operation panel after the wafer cassette was replaced. Therefore, a great deal of effort was required.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記従来技術は、ロードカセットとアンロードカセット
の位置を入れ替えるのに入手を必要とし、かつ、入れ替
える際に異物(ごみ)が発生し、ウェーハを汚染させる
恐れがあった。
In the above-mentioned conventional technology, it is necessary to obtain a load cassette and an unload cassette to replace their positions, and when the cassette is replaced, foreign matter (dust) is generated, which may contaminate the wafer.

本発明の目的は、人手をかけずに自動的にカセットの位
置を交換でき、省力化をはかるとともに異物の発生を防
止し、一方、マスクの交換もウェーハカセットの交換時
に自動的に行うことができるウェーハカセット交換装置
を提供することにある。
The purpose of the present invention is to be able to automatically change the position of the cassette without any manual effort, thereby saving labor and preventing the generation of foreign matter.On the other hand, it is possible to automatically replace the mask when replacing the wafer cassette. The purpose of the present invention is to provide a wafer cassette exchange device that can be used for changing wafer cassettes.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的は、半導体ウェーハが複数枚収納された供給側
ウェーハカセットと焼き付け処理が終了したウェーハを
回収する空の回収側ウェーハカセットを一対配置し、上
記供給側ウェーハカセット内のウェーハを全部露光した
らその信号を受けて自動的に上記供給側と回収側のウエ
ーハカセツ1−を交互にその位置を入れ替えて別の回路
パターンを同一ウェーハ上に露光させるコントローラを
設けた構成として達成するようにした。
The above purpose is to arrange a pair of supply-side wafer cassettes containing a plurality of semiconductor wafers and an empty collection-side wafer cassette for collecting wafers that have completed the baking process. This is achieved by providing a controller that receives a signal and automatically switches the positions of the supply side and recovery side wafer cassettes 1- alternately to expose different circuit patterns on the same wafer.

また、コントローラは、全ウェーハが露光された後、マ
スクの交換を自動的に行うようにした。
Additionally, the controller automatically replaced the mask after all wafers were exposed.

〔作用〕[Effect]

供給側(ロード)ウェーハカセットに収納されているウ
ェーハは、その下面をロード真空ピンセットにより吸着
され、XYステージ上に移送される。XYステージは、
ステップ露光を繰り返して。
The lower surface of the wafer stored in the supply side (load) wafer cassette is attracted by load vacuum tweezers, and the wafer is transferred onto the XY stage. The XY stage is
Repeat step exposure.

ウェーハ面上の必要領域にマスクパターンを露光する。A mask pattern is exposed on the required area on the wafer surface.

露光が終了したウェーハは回収側(アンロード)ウェー
ハカセットにアンロード真空ピンセットにより吸着され
て収納される。この動作を供給側ウェーハカセットに収
納されている全ウェーハについて行う。全ウェーハの露
光が終了すると。
The exposed wafer is adsorbed and stored in a recovery side (unload) wafer cassette by unload vacuum tweezers. This operation is performed for all wafers stored in the supply side wafer cassette. When all wafers have been exposed.

供給側ウェーハカセットは当然空になる。一方、回収側
ウェーハカセットはウェーハで一杯になる。
Naturally, the supply side wafer cassette becomes empty. On the other hand, the recovery side wafer cassette becomes full of wafers.

このとき、その信号でコントローラは供給側ウェーハカ
セット及び回収側ウェーハカセットをそれぞれロール上
を互いに逆方向に移動し、供給側と回収側のウェーハカ
セットの位置を入れ替え、回収側ウェーハカセットを供
給側ウェーハカセットとし、供給側ウェーハカセットを
回収側ウェーハカセットとし、これと同時にマスクも自
動的に入れ替えるので、省力化をはかるとともに、異物
の発生を防止できる。
At this time, the controller moves the supply-side wafer cassette and the recovery-side wafer cassette on the rolls in opposite directions, swaps the positions of the supply-side and recovery-side wafer cassettes, and transfers the recovery-side wafer cassette to the supply-side wafer cassette. Since the wafer cassette on the supply side is used as the wafer cassette on the recovery side, and the mask is automatically replaced at the same time, it is possible to save labor and prevent the generation of foreign matter.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明の一実施例を第1図〜第7図を用いて詳細に
説明する。
An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to FIGS. 1 to 7.

第1図は本発明のウェーハカセット交換装置の一実施例
を示す概略図、第2図〜第5図は本発明の動作説明図、
第6図はウェーハピンセット部の概略図、第7図は第1
図のウェーハカセットの移動機構部の一実施例を示す概
略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of the wafer cassette exchanging device of the present invention, and FIGS. 2 to 5 are explanatory diagrams of the operation of the present invention.
Figure 6 is a schematic diagram of the wafer tweezers section, and Figure 7 is a schematic diagram of the wafer tweezers section.
FIG. 3 is a schematic diagram showing an embodiment of a moving mechanism section of the wafer cassette shown in the figure.

第2図において、ロードカセット30には露光されるウ
ェーハ31が収納されている。アンロードカセット32
はロードカセット30の反対側に設置されており、それ
ぞれのカセット30.32は、第7図に示すように、ロ
ードカセットレール33またはアンロードカセットレー
ル41上をリニアモータ34によって左右に移動可能と
なっている。第2図において、ロードカセット30内の
ウェーハ31の下面をロード真空ピンセット35で吸着
し、第6図に示すように、リニアモータ36がロードレ
ール37上を移動して第1図のXYステージ38上のウ
ェーハチャックにウェーハ31を移送する。ウェーハチ
ャック上にウェーハ31が移送された状態は、第2図の
一点鎖線で示す。
In FIG. 2, a load cassette 30 houses a wafer 31 to be exposed. Unload cassette 32
are installed on the opposite side of the load cassette 30, and each cassette 30, 32 can be moved left and right on the load cassette rail 33 or the unload cassette rail 41 by a linear motor 34, as shown in FIG. It has become. In FIG. 2, the lower surface of the wafer 31 in the load cassette 30 is sucked by the load vacuum tweezers 35, and as shown in FIG. The wafer 31 is transferred to the upper wafer chuck. The state in which the wafer 31 is transferred onto the wafer chuck is shown by the dashed line in FIG.

XYステージ38上のウェーハ31は、第1図に示すよ
うに、Xサーボモータ70とXボールネジ71及びYサ
ーボモータ72とYボールネジ73を駆動することによ
りXY力方向ステップ動作を行い、Aマスク4上のAパ
ターン7がウェーハ31上に露光される。
As shown in FIG. 1, the wafer 31 on the XY stage 38 performs a step operation in the XY force direction by driving the X servo motor 70 and the X ball screw 71, and the Y servo motor 72 and the Y ball screw 73. The upper A pattern 7 is exposed onto the wafer 31.

露光で終了したウェーハ31は、第3図に示すように、
アンロード側に移動し、ここで待機しているアンロード
真空ピンセット39に吸着されてアンロードレール40
上を移動してアンロードカセット32に排出される。
The wafer 31 that has been exposed is exposed as shown in FIG.
The unloading rail 40 moves to the unloading side and is attracted to the unloading vacuum tweezers 39 waiting here.
and is discharged to the unload cassette 32.

次に、第3図に示す如く、ロードカセット30内のウェ
ーハを全部露光し終ってアンロードカセット32内に収
納し終ると、第4図に示す如く、ロードカセット3oは
矢印50の方向に移動する。
Next, as shown in FIG. 3, when all the wafers in the load cassette 30 have been exposed and stored in the unload cassette 32, the load cassette 3o moves in the direction of the arrow 50, as shown in FIG. do.

他方、アンロードカセット32は矢印51の方向に移動
する。それぞれの移動は、第7図に示すリニアモータ3
4で行われる。第4図に示すアンロードカセット32内
のウェーハ31は、前述と同様にロード真空ピンセット
35により吸着され、XYステージ38上に移送される
。このときのアンロード力セツ゛ト32は第3図のロー
ドカセット30と同一の作用をし、第4図の一点鎖線で
示す通りである。xYステージ38はステップ動作を行
い、Bマスク2oの8パターンを露光する。露光が終了
したウェーハ31はアンロード側へ移動する。この状態
は第5図に示しである。
On the other hand, the unload cassette 32 moves in the direction of the arrow 51. Each movement is performed by a linear motor 3 shown in FIG.
It will be held at 4. The wafer 31 in the unload cassette 32 shown in FIG. 4 is sucked by the load vacuum tweezers 35 and transferred onto the XY stage 38 in the same manner as described above. The unloading force set 32 at this time operates in the same manner as the loading cassette 30 in FIG. 3, as shown by the dashed line in FIG. 4. The xY stage 38 performs a step operation to expose eight patterns of the B mask 2o. The wafer 31 that has been exposed moves to the unload side. This state is shown in FIG.

次に、アンロード側に待機しているアンロード真空ピン
セット39に吸着されてアンロードカセットの状態にな
っているロードカセット30に排出される。ロードカセ
ットの状態になっているアンロードカセット32内のウ
ェーハをすべて露光し終ると、ロット処理が終了する。
Next, it is adsorbed by the unloading vacuum tweezers 39 waiting on the unloading side and is discharged to the loading cassette 30 which is in the state of an unloading cassette. When all the wafers in the unload cassette 32, which is in the load cassette state, have been exposed, the lot processing ends.

この時点でウェーハにはAパターンとBパターンが露光
されている。ウェーハカセットの棚の各段に対する処理
は、第6図に示すエレベータ−機構により行う。アンロ
ード真空ピンセット39は、エレベータ−モータ60の
繰り糸61を上下させて、矢印63方向に高さが制御さ
れる。上下の案内は、案内棒62で行う。
At this point, the A pattern and B pattern have been exposed on the wafer. Each stage of the wafer cassette shelves is processed by an elevator mechanism shown in FIG. The height of the unloading vacuum tweezers 39 is controlled in the direction of the arrow 63 by moving the reeling line 61 of the elevator motor 60 up and down. The vertical guidance is performed by a guide rod 62.

次に、マスクの交換を第1図によって説明する。Next, mask replacement will be explained with reference to FIG.

Aマスク4とBマスク20が回転板75に装着されてお
り、Aマスク4のAパターンをすべてウェーハ31に露
光し終ると、コントローラ76からの指令によりインデ
ックスモータ・77が矢印78の方向に回転し、回転板
75を180度回転させてBマスク20を露光位置に位
置決めする。また、コントローラ76はりニアモータ3
4,36を制御して所定の位置に各カセットを自動的に
移動させる。
The A mask 4 and the B mask 20 are mounted on a rotary plate 75, and when all the A patterns of the A mask 4 have been exposed onto the wafer 31, the index motor 77 is rotated in the direction of the arrow 78 according to a command from the controller 76. Then, the rotating plate 75 is rotated 180 degrees to position the B mask 20 at the exposure position. In addition, the controller 76 is connected to the near motor 3.
4 and 36 to automatically move each cassette to a predetermined position.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した本発明によれば、特定用台向は集積回路用
LSIを製作する場合に、−枚の半導体ウェーハ内に多
品種のICを露光する必要があるが、従来行われてきた
ようにマスクを変える毎に供給側と回収側のウェーハカ
セットを人手によって交換する必要がないので、省力化
をはかると同時に人手を介さないので異物(ごみ)の発
生を最小限に抑えることができる。
According to the present invention as described above, when manufacturing an LSI for integrated circuits, it is necessary to expose a wide variety of ICs within one semiconductor wafer, but it is not necessary to expose a wide variety of ICs to light in a single semiconductor wafer. There is no need to manually replace the wafer cassettes on the supply side and recovery side each time a mask is changed, which saves labor and also minimizes the generation of foreign matter (dust) since no human intervention is required.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のウェーハカセット交換装置の一実施例
を示す概略図、第2図〜第5図は本発明の動作説明図、
第6図はウェーハピンセット部の概略図、第7図は第1
図のウェーハカセットの移動機構部の一実施例を示す概
略図、第8図、第9図は従来技術の概略図、第10図、
第11図はつ工−ハにパターンが露光された状態を示す
図である。 4・・・Aマスク、2o・・・Bマスク、30・・・ロ
ードカセット、31・・・ウェーハ、32・・・アンロ
ードカセット、33.41・・・カセットレール、34
.35・・・ロード真空ピンセット、36・・・リニア
モータ、37・・・ロードレール、38・・・xyステ
ージ、39・・・アンロード真空ピンセット、40・・
・アンロードレール、60・・・エレベータモータ、6
1・・・繰り糸、62・・・案内棒、75・・・回転板
、76・・・コントローラ、77・・・インデックスモ
ータ。 vOjl 区 γ′/−’づシフ。17ス七−ブ 第11i−図 第2囚 第す囚 第−Iの
FIG. 1 is a schematic diagram showing an embodiment of the wafer cassette exchanging device of the present invention, and FIGS. 2 to 5 are explanatory diagrams of the operation of the present invention.
Figure 6 is a schematic diagram of the wafer tweezers section, and Figure 7 is a schematic diagram of the wafer tweezers section.
8 and 9 are schematic diagrams of the prior art, and FIG.
FIG. 11 is a diagram showing a state in which a pattern has been exposed on the molding part. 4... A mask, 2o... B mask, 30... Load cassette, 31... Wafer, 32... Unload cassette, 33.41... Cassette rail, 34
.. 35...Load vacuum tweezers, 36...Linear motor, 37...Load rail, 38...xy stage, 39...Unload vacuum tweezers, 40...
・Unload rail, 60...Elevator motor, 6
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Reeling yarn, 62... Guide rod, 75... Rotating plate, 76... Controller, 77... Index motor. vOjl ward γ'/-'zu shift. 17th Section 7-B No. 11i-Fig. 2nd Prisoner 2nd Prisoner I

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、半導体ウェーハ上にマスクパターンを焼き付ける露
光装置において、前記半導体ウェーハが複数枚収納され
た供給側ウェーハカセットと焼き付け処理が終了したウ
ェーハを回収する空の回収側ウェーハカセットを一対配
置し、前記供給側ウェーハカセット内のウェーハを全部
露光したらその信号を受けて自動的に前記供給側と回収
側のウェーハカセットを交互にその位置を入れ替えて別
の回路パターンを同一ウェーハ上に露光させるコントロ
ーラを設けたことを特徴とするウェーハカセット交換装
置。 2、前記コントローラは、供給側と回収側のウェーハカ
セットの位置を入れ替える際に、次に露光されるマスク
パターンを自動的に同時に交換させる特許請求の範囲第
1項記載のウェーハカセット交換装置。
[Scope of Claims] 1. In an exposure apparatus that prints a mask pattern on a semiconductor wafer, a supply wafer cassette containing a plurality of semiconductor wafers and an empty collection wafer cassette for collecting wafers after the baking process are provided. Once all the wafers in the supply-side wafer cassette are exposed, the supply-side and collection-side wafer cassettes are automatically swapped alternately in response to the signal, and another circuit pattern is printed on the same wafer. A wafer cassette exchange device characterized by being provided with a controller for exposing. 2. The wafer cassette exchange apparatus according to claim 1, wherein the controller automatically exchanges the next exposed mask pattern at the same time when exchanging the positions of the wafer cassettes on the supply side and the recovery side.
JP63171655A 1988-07-09 1988-07-09 Wafer cassette replacing equipment Pending JPH0221630A (en)

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JP63171655A JPH0221630A (en) 1988-07-09 1988-07-09 Wafer cassette replacing equipment

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100646906B1 (en) * 1998-09-22 2006-11-17 동경 엘렉트론 주식회사 Substrate processing apparatus and substrate processing method

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