JPH02212706A - Inspector for packaged printed circuit board - Google Patents

Inspector for packaged printed circuit board

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JPH02212706A
JPH02212706A JP3398889A JP3398889A JPH02212706A JP H02212706 A JPH02212706 A JP H02212706A JP 3398889 A JP3398889 A JP 3398889A JP 3398889 A JP3398889 A JP 3398889A JP H02212706 A JPH02212706 A JP H02212706A
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JP
Japan
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circuit board
printed circuit
beam spot
reflected light
photoelectric conversion
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Application number
JP3398889A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenichi Kaita
健一 戒田
Osamu Yamada
修 山田
Daisuke Nagai
大介 永井
Eiji Okuda
英二 奥田
Hideyuki Kamioka
上岡 秀行
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH02212706A publication Critical patent/JPH02212706A/en
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Abstract

PURPOSE:To enable measurement at points of a packed printed circuit board on the same conditions by varying respective angles of irradiation of a beam spot with respect to the printed circuit board. CONSTITUTION:An inspector for a packaged printed circuit board is provided with a plurality of beam spot generation means so arranged that a printed circuit board 10 is moved relative to the rotation of a rotor to be positioned on almost the same circumference on the center of the rotation of the rotor and a beam spot 11 is made to irradiate the printed circuit board 10 to scan it 10 sequentially and a plurality of photoelectric conversion means 2, 4, 6 and 8 which receives reflected light from the circuit board 10 to output a value corresponding to energy received. Information from multiple angles can be obtained by varying respective angles of irradiation of the beam spot 11 to the circuit board 10. Thus, as the plurality of photoelectric conversion elements 2, 4, 6 and 8 for receiving the reflected light of the beam spot 11 are arranged in perimeter of the beam spot 11, the reflected light can be received corresponding to a change in the reflected light which may occur to a certain extent depending on a direction of a soldered surface, thereby enabling a highly accurate inspection.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は実装済プリント基板の検査装置に関するもので
、特に細く絞ったビームスポットを用いて実装された部
品の位置ずれ、はんだ不良、はんだブリッジなどを検査
せんとするものである。
[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field The present invention relates to an inspection device for mounted printed circuit boards, and in particular uses a narrow beam spot to detect misalignment of mounted components, solder defects, solder bridges, etc. It is intended to be inspected.

従来の技術 従来実装済プリント基板の検査装置の部品ずれ欠品、は
んだ不良、はんだブリッジなどを検査する装置として、
マルチスリット光とカメラを用いる方法がある。
Conventional technologyAs a device for inspecting conventionally mounted printed circuit boards for component deviations, missing parts, solder defects, solder bridges, etc.
There is a method using multi-slit light and a camera.

以下、図面を参照しながら説明する。第4図において5
5.66は各々スリット光を照射する照射装置であり、
64はカメラ、57は実装済みプリント基板である。二
つのスリット光を実装済みプリント基板67に対して斜
め上方より各々の光軸が直行するように照射し、上方よ
りカメラ64で観察すると三角測量の原理で実装部品の
高さを測定できる。又このときマルチスリット照射装置
56.56を交互に照射することにより、x、y3 /
\−7 方向の部品位置を知ることができる。
This will be explained below with reference to the drawings. In Figure 4, 5
5.66 is an irradiation device that irradiates each slit light,
64 is a camera, and 57 is a mounted printed circuit board. By irradiating two slit lights onto the mounted printed circuit board 67 from diagonally above so that their respective optical axes are perpendicular to each other and observing it from above with the camera 64, the height of the mounted component can be measured using the principle of triangulation. At this time, x, y3 /
You can know the position of parts in the \-7 direction.

発明が解決しようと−する課題 しかしながら上記のような構成では、はんだ付は前にお
ける実装部品の位置測定などでは可能であるが、はんだ
付は工程後のはんだ面の正確な検査は困難である。なぜ
ならはんだ面は境面に近いため、はんだ面の向きとカメ
ラの位置関係によっては、反射光が強すぎてカメラが飽
和してし甘う場合や、逆に反射光か弱すぎて検出できな
い場合が生じるからである3、 課題を解決するための手段 本発明の実装済プリント基板の検査装置は、回転駆動さ
れる回転体と、その回転に対して相対的に検査すべきプ
リント基板を移動せしめる手段と、前記回転体の回転中
心を中心とする略同−円周」二に位置して、各々前記プ
リント基板にビームスポットを照射して、そのビームス
ポットが前記回転体の回転に伴って順次プリント基板を
走査するように前記回転体に配置された複数のビームス
ポット発生手段と、前記回転体に各々の前記ビームスポ
ットを中心として放射状に配置され、前記プリント共成
よりの反射光を受光[7、その受光イ装置に応じた出力
と、受光エネルギーに対応する量を・出力する複数個の
光電変換手段とを備え、前記プリント基板に対する前記
ビームスボッI−の個々の)H(5射角度を変えること
により、多角度からの情報を得ることを特徴とする。
Problems to be Solved by the Invention However, with the above configuration, although it is possible to measure the position of the mounted components before soldering, it is difficult to accurately inspect the solder surface after the soldering process. This is because the solder surface is close to the boundary surface, so depending on the orientation of the solder surface and the position of the camera, the reflected light may be too strong and the camera may become saturated, or conversely, the reflected light may be too weak to be detected. 3. Means for Solving the Problem The mounted printed circuit board inspection device of the present invention includes a rotating body that is rotationally driven and a printed circuit board to be inspected relative to the rotation. and a means for irradiating a beam spot onto the printed circuit board at substantially the same circumference around the center of rotation of the rotating body, and the beam spots are sequentially arranged as the rotating body rotates. a plurality of beam spot generating means disposed on the rotating body so as to scan the printed circuit board; and a plurality of beam spot generating means disposed on the rotating body radially centering on each of the beam spots to receive reflected light from the print co-forming. 7. Equipped with a plurality of photoelectric conversion means that output an output corresponding to the light receiving device and an amount corresponding to the received light energy, and It is characterized by the ability to obtain information from multiple angles by changing the image.

作用 上記構成(Cよればビームスポットの反射光を受光する
光電変換素子をビームスボッl−の周囲に複数個配置し
ているためはんだ而の向きにより反射光がある程度変化
してもそれに対応して反射光を受光することができ、ま
だビームスポットの周囲に複数個配置している光電変換
素子(Cよっても受光できないような急傾斜のはんだ面
等は前記プリント基板に対しある角度を持った前記光学
系1訂のいずれかによりその反射光を受光できる。
Effect According to the above configuration (C), a plurality of photoelectric conversion elements that receive the reflected light from the beam spot are arranged around the beam spot, so even if the reflected light changes to some extent depending on the orientation of the solder, the reflected light will be reflected accordingly. A plurality of photoelectric conversion elements that can receive light and are arranged around the beam spot (such as a steeply sloped solder surface that cannot receive light even if The reflected light can be received by either system.

それにより実装済みプリン!・基板の凹凸を極めて正確
に再生でき精度の高い検査が可能となる。
As a result, implemented pudding!・It is possible to reproduce the irregularities of the board extremely accurately, enabling highly accurate inspection.

実施例 6ベーノ 以下、本発明の一実施例の実装済プリント基板自動検査
装置について、図面を参照しながら説明する。
Embodiment 6 Beno Below, a mounted printed circuit board automatic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は、 ビームスポット投光用光学系と受光用光学
系群が一体となった単位検査装置の斜視図である。1は
、例えばレーザーを使ったビームスボッl−投光用光学
系、2,4,6.8は前記ビームスポットの反射面から
の反射光を受け、その反射面の高さ及び輝度情報を得る
だめの半導体装置検出素T−(以下PSDと呼ぶ)のよ
うな光電変換素子である。このPSDは、ある所定の長
さを有L2、ビートスポットの照射位置に応じて複数の
出力端子の出力が相対的に変化するもので、これにはC
ODラインセンザー等を用いることも可能である。
FIG. 1 is a perspective view of a unit inspection device in which a beam spot projecting optical system and a light receiving optical system group are integrated. 1 is a beam spot projection optical system using, for example, a laser; 2, 4, and 6.8 are devices for receiving reflected light from the reflecting surface of the beam spot and obtaining information on the height and brightness of the reflecting surface; It is a photoelectric conversion element such as a semiconductor device detection element T- (hereinafter referred to as PSD). This PSD has a predetermined length L2, and outputs from multiple output terminals change relatively depending on the irradiation position of the beat spot.
It is also possible to use an OD line sensor or the like.

3.6.7.9は、三角測量を行うために実装済みプリ
ント基板からの反射ビームスポットを前記光電変換素子
2.4.6.8上に各々結像するだめのレンズもしくは
レンズ群である。これらの光電変換素子及びレンズは、
ビームスポット116 ・−・ の光軸周辺に配置され、本実施例では、4組をビームス
ポットを中心とする同一円周上に等間隔(C配置してい
る。
3.6.7.9 is a lens or lens group for respectively focusing the reflected beam spot from the mounted printed circuit board onto the photoelectric conversion element 2.4.6.8 in order to perform triangulation. . These photoelectric conversion elements and lenses are
They are arranged around the optical axis of the beam spots 116, and in this embodiment, four sets are arranged at equal intervals (C) on the same circumference centered on the beam spot.

本実装済プリント基板の検査装置では、第1図で示され
た光学系群が一体となった単位検査装置を五つ持つ。一
つは実装済みプリント基板10に対してビームスポット
11をほぼ垂直に照射したものであり、残り四つは実装
済みプリント基板1oに対してビームスボッl−11を
ある一定の角度で、更に各々が別4の方向から照射する
ように構成しである。
The present mounted printed circuit board inspection apparatus has five unit inspection apparatuses in which the optical system group shown in FIG. 1 is integrated. One beam spot 11 is irradiated almost perpendicularly to the mounted printed circuit board 10, and the remaining four beam spots 11 are irradiated at a certain angle to the mounted printed circuit board 1o. It is configured to irradiate from four different directions.

第2図は、検査装置全体の斜視図である。13゜14.
15,16.17は第1図で示した光学系群が一体とな
った一つの単位検査装置であり。
FIG. 2 is a perspective view of the entire inspection device. 13°14.
Reference numerals 15, 16, and 17 are one unit inspection device in which the optical system group shown in FIG. 1 is integrated.

13は実装済みプリント基板10に対しビーノ・スポッ
ト11をほぼ垂直に照射し、14(d実装済与プリント
基板10に対しビームスポット11を、ある角度(例え
ば実装済みプリント基叛に対し45度の角度)でX軸の
十方向から照射し、16は実装済みプリント基板10に
対しビームスボッ7ベーン ト11を、ある角度(例えば実装済みプリント基板に対
し45度の角度)でy軸の子方向から照射し、16は実
装済みプリント基板10に対しビームスポット11を、
ある角度(例えば実装済みプリント基板に対し46度の
角度)でX軸の一方向から照射し、17は実装済みプリ
ント基板10に対しビームスポット11を、ある角度(
例えば実装済みプリント基板に対し46度の角度)でy
軸の一方向から照射しである。
13 irradiates the beam spot 11 almost perpendicularly to the mounted printed circuit board 10; 16 irradiates the mounted printed circuit board 10 from the direction of the y-axis at a certain angle (for example, at a 45 degree angle to the mounted printed circuit board 11). 16 directs the beam spot 11 to the mounted printed circuit board 10,
The beam spot 17 is irradiated from one direction of the X axis at a certain angle (for example, an angle of 46 degrees with respect to the mounted printed circuit board 10), and the beam spot 17 is irradiated at a certain angle (
For example, at an angle of 46 degrees with respect to the mounted printed circuit board)
It is irradiated from one direction of the axis.

12はモーター等の駆動源(図示せず)によシはぼ一定
速度で回転駆動される回転円盤である。
Reference numeral 12 denotes a rotating disk that is driven to rotate at a nearly constant speed by a drive source (not shown) such as a motor.

前記単位検査装置13.14.16.16.17は回転
円盤12の中心にたいし同一円周上に等間隔に回転円盤
12の回転に伴って、前記ビームスポットが順次実装済
みプリント基板10を走査するよう配置されている。従
って、実装済みプリント基板10を第2図に示す” r
 7 r z座標系のy方向へ順次移動することにより
実装済みプリント基板10の全体をビームスポットによ
p走査することが可能となる。
The unit inspection device 13, 14, 16, 16, 17 detects the beam spot sequentially on the mounted printed circuit board 10 as the rotating disk 12 rotates at equal intervals on the same circumference with respect to the center of the rotating disk 12. arranged to scan. Therefore, the mounted printed circuit board 10 is shown in FIG.
By sequentially moving in the y direction of the 7rz coordinate system, it becomes possible to p-scan the entire mounted printed circuit board 10 with the beam spot.

18はプリント基板10が静止状態で現在単位検査装置
13で走査している軌跡を示しており、22はその静止
状態のプリント基板10を単位検査装置13に続いて単
位検査装置17で走査する軌跡を示しており、21は続
いて単位検査装置16で走査する軌跡を示しており、2
Qは単位検査装置16で走査する軌跡を示しており、1
9は単位検査装置14で走査する軌跡を示している。
Reference numeral 18 indicates a trajectory of the printed circuit board 10 currently being scanned by the unit inspection device 13 in a stationary state, and 22 indicates a trajectory of the printed circuit board 10 in the stationary state being scanned by the unit inspection device 17 following the unit inspection device 13. , 21 indicates the trajectory scanned by the unit inspection device 16, and 2
Q indicates the locus scanned by the unit inspection device 16, and 1
Reference numeral 9 indicates a locus scanned by the unit inspection device 14.

第2図においては、単位検査装置i3,14.16゜1
6.17が走査完了すると実装済みプリント基板10が
y軸方向へ1ピツチ1だけ間欠的に移動して、次の単位
検査装置13の走査開始前に移動が終了するようになっ
ており、無駄な時間がなく最小時間で検査を終了するこ
とができる。なお23は間欠駆動前の単位検査装置13
で走査した軌跡を示している。
In Fig. 2, unit inspection device i3, 14.16°1
When the scanning of 6.17 is completed, the mounted printed circuit board 10 is intermittently moved by 1 pitch 1 in the y-axis direction, and the movement is completed before the next unit inspection device 13 starts scanning, thereby eliminating waste. The inspection can be completed in the minimum amount of time. Note that 23 is a unit inspection device 13 before intermittent driving.
It shows the trajectory scanned by.

第3図は、光電変換素子からの照射位置により相対的に
値が変化する二つの電流出力を演算して高さ情報及び輝
度情報を得るための本装置の電気回路を示している。2
4Fi光電変換素子2の二つ9ページ の電流出力から割算器52を通して高さ情報を得、又、
前記二つの電流出力の和よりオペアンプ63を通して輝
度情報を得ている高さ及び輝度情報検出回路である。
FIG. 3 shows an electric circuit of this device for obtaining height information and brightness information by calculating two current outputs whose values change relatively depending on the irradiation position from the photoelectric conversion element. 2
Height information is obtained from the two page 9 current outputs of the 4Fi photoelectric conversion element 2 through the divider 52, and
This is a height and brightness information detection circuit that obtains brightness information from the sum of the two current outputs through an operational amplifier 63.

26.26.27も前記高さ及び輝度情報検出回路24
と同様の検出回路であり、光電変換素子4.6.8に接
続されている。この場合、光電変換素子を4個使用して
いるため高さ及び輝度情報も一つの光点に対して4個出
力される。
26.26.27 is also the height and brightness information detection circuit 24
This is a detection circuit similar to that of , and is connected to the photoelectric conversion element 4.6.8. In this case, since four photoelectric conversion elements are used, four pieces of height and brightness information are output for one light spot.

28は、単位検査装置13の4個の高さ情報から一つの
高さ情報を得る高さ情報選択回路であり、選択方法とし
て例えば4個の内最大レベルと最小レベルを除いた残り
の二つの平均をとる方法とがある。29は28と同様に
、4個の輝度情報から一つの輝度情報を得る輝度情報選
択回路でちゃ、選択方法として例えば4個の内最大レベ
ルを取る方法がある。以上により、単位検査装置13の
輝度・高さ情報検出回路30を構成している。31゜3
2.33.34はそれぞれ単位検査装置14゜16.1
6.17の輝度・高さ情報検出回路であ10・\−7′ り前記輝度・高さ情報検出回路30と同様な構成になっ
ている。また選択回路28.29はRAM35.38.
37.38.39の節約及び前処理をつけることによる
C P U 40の負荷軽減の目的で設けられたもので
ある。
28 is a height information selection circuit that obtains one piece of height information from the four pieces of height information of the unit inspection device 13. For example, the selection method is to remove the maximum level and the minimum level among the four pieces and select the remaining two pieces of height information. There is a method of taking the average. 29, like 28, is a brightness information selection circuit that obtains one brightness information from four pieces of brightness information.As a selection method, for example, there is a method of taking the maximum level among the four pieces of brightness information. The above constitutes the brightness/height information detection circuit 30 of the unit inspection device 13. 31°3
2.33.34 are unit inspection devices 14゜16.1 respectively
The brightness/height information detection circuit 6.17 has the same configuration as the brightness/height information detection circuit 30 described above. Further, the selection circuits 28, 29 and 35, 38, .
This is provided for the purpose of saving 37, 38, 39 and reducing the load on the CPU 40 by adding preprocessing.

この輝度・高さ情報検出回路30,31,32゜33.
34からの出力はcptr4oのバスに接続されている
RAM35,38,37.38.39へ送られる。尚、
RAM36にはビームスポットを実装済みプリント基板
にたいしほぼ垂直に照射した単位検査装置13により得
られたデータが格納され、同様にRAM36には単位検
査装置14により得られたデータ、RAM37には単位
検査装置16により得られたデータ、RAM3Bには単
位検査装置16により得られたデータであり、RAM3
9には単位検査装置17により得られたデータが格納さ
れる。
This brightness/height information detection circuit 30, 31, 32°33.
The output from 34 is sent to RAMs 35, 38, 37, 38, and 39 connected to the cptr4o bus. still,
The RAM 36 stores the data obtained by the unit inspection device 13 that irradiates the mounted printed circuit board with a beam spot almost perpendicularly. Similarly, the RAM 36 stores the data obtained by the unit inspection device 14, and the RAM 37 stores the data obtained by the unit inspection device 13. The data obtained by the inspection device 16 is stored in RAM3B, and the data obtained by the unit inspection device 16 is stored in RAM3B.
9 stores data obtained by the unit inspection device 17.

前記CPU4oでは、前記RAM36.36 。In the CPU4o, the RAM36.36.

37.38.39よシ読み出された多角度から得た高さ
及び輝度情報を基にプリント基板上の対象11 /\−
7 物をより正確に再現し、予め記憶されている情報とを比
較することにより良否を決定する。
37.38.39 Object 11 on the printed circuit board based on the height and brightness information obtained from multiple angles read out
7. Determine quality by reproducing an object more accurately and comparing it with pre-stored information.

発明の効果 以上のように本発明は、検査すべき実装済みプリント基
板にビームスボッ)Q照射し、そのビームスポットをそ
の周囲に配置された光電変換素子とともに移動せしめな
がら実装済みプリン1一基板の各点の高さ及び輝度の変
化を計測するものであるため、実装済みプリント基板の
各点は同一条件で計測され良好な検査が望めるものであ
る。
Effects of the Invention As described above, the present invention irradiates a mounted printed circuit board to be inspected with a beam spot (Q) and moves the beam spot together with the photoelectric conversion elements arranged around it to irradiate each of the mounted printed circuit boards 1 and 1. Since the method measures changes in the height and brightness of a point, each point on the mounted printed circuit board is measured under the same conditions, and good inspection can be expected.

又、ビームスポット照射面の垂直面に対し小さな傾きの
面であれば実装済みプリント基板からの反射光は、ビー
ムスポットの周囲に配置された複数の光電変換素子によ
り受光されるよう構成されているため、実装済みプリン
ト基板からの反射光が種々の拡散特性になってもそれに
伴う検査結果の変動を小さくでき、さらにはビームスポ
ットの照射角度を変えることにより実装済みプリント基
板に対し極めて急な斜面であってもその形状を極めて正
確に認識できるものである。
In addition, if the surface has a small inclination with respect to the perpendicular surface of the beam spot irradiation surface, the reflected light from the mounted printed circuit board is configured to be received by a plurality of photoelectric conversion elements arranged around the beam spot. Therefore, even if the reflected light from the mounted printed circuit board has various diffusion characteristics, it is possible to reduce the fluctuations in the inspection results caused by it.Furthermore, by changing the irradiation angle of the beam spot, it is possible to avoid extremely steep slopes relative to the mounted printed circuit board. However, the shape can be recognized extremely accurately.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実装済プリント基板の検査装置の一実
施例におけるビームスポット投光用光学系と受光用光学
系が一体となった一単位の検査装置の斜視図、第2図は
同実施例の要部を示す斜視図、第3図は同検査装置の電
気回路のブロック図、第4図は従来のプリント基板検査
装置の斜視図である。 1・・・・・・ビームスポット投光用光学系、2,4゜
6.8・・・・・・光電変換素子、3,6,7.9・・
・・・・レンズ%1o・・・・・・プリント基板、11
・・・・・・ビームスポット、12・・・・・・回転円
盤、13,14,16゜16.1ア・・・・・・単位検
査装置、24.25.26゜27・・・・・・高さ及び
輝度情報検出回路、28・・・・・・高さ情報選択回路
、29・・・・・・輝度情報選択回路、35.36,3
7,38.39・・・・・・RAM、40・・・・・C
PU0
FIG. 1 is a perspective view of a unit inspection device in which a beam spot projecting optical system and a light receiving optical system are integrated in one embodiment of the mounted printed circuit board inspection device of the present invention, and FIG. 2 is the same. FIG. 3 is a block diagram of an electric circuit of the inspection apparatus, and FIG. 4 is a perspective view of a conventional printed circuit board inspection apparatus. 1...Optical system for beam spot projection, 2,4°6.8...Photoelectric conversion element, 3,6,7.9...
... Lens%1o ... Printed circuit board, 11
...Beam spot, 12... Rotating disk, 13, 14, 16° 16.1 A... Unit inspection device, 24.25.26° 27... ... Height and brightness information detection circuit, 28 ... Height information selection circuit, 29 ... Brightness information selection circuit, 35.36,3
7, 38. 39...RAM, 40...C
PU0

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 回転駆動される回転体と、その回転に対して相対的に検
査すべきプリント基板を移動せしめる手段と、前記回転
体の回転中心を中心とする略同一円周上に位置して、各
々前記プリント基板にビームスポットを照射して、その
ビームスポットが前記回転体の回転に伴って順次プリン
ト基板を走査するように前記回転体に配置された複数の
ビームスポット発生手段と、前記回転体に各々の前記ビ
ームスポットを中心として放射状に配置され、前記プリ
ント基板よりの反射光を受光しその受光位置に応じた出
力と、受光エネルギーに対応する量を出力する複数の光
電変換手段とを有し、前記プリント基板に対する前記ビ
ームスポットの個々の照射角度を変えることにより、多
角度からの情報を得ることを特徴とする実装済プリント
基板の検査装置。
A rotary body that is rotationally driven, a means for moving the printed circuit board to be inspected relative to the rotation thereof, and a means for moving the printed circuit board to be inspected relative to the rotation of the rotary body; a plurality of beam spot generating means disposed on the rotary body so as to irradiate the substrate with a beam spot and sequentially scan the printed circuit board with the rotation of the rotary body; A plurality of photoelectric conversion means are arranged radially around the beam spot and receive reflected light from the printed circuit board and output an output according to the light receiving position and an amount corresponding to the received light energy, An inspection device for a mounted printed circuit board, characterized in that information is obtained from multiple angles by changing the individual irradiation angles of the beam spot with respect to the printed circuit board.
JP3398889A 1989-02-14 1989-02-14 Inspector for packaged printed circuit board Pending JPH02212706A (en)

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