JPH02195284A - 磁気センサ - Google Patents
磁気センサInfo
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- JPH02195284A JPH02195284A JP1015914A JP1591489A JPH02195284A JP H02195284 A JPH02195284 A JP H02195284A JP 1015914 A JP1015914 A JP 1015914A JP 1591489 A JP1591489 A JP 1591489A JP H02195284 A JPH02195284 A JP H02195284A
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Landscapes
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁界中における電気抵抗が変化する所謂磁気抵
抗効果を利用して電気信号に変換し1位置検出、速度検
出等を行う磁気センサに関するものであり、特に検知部
材に発生する応力によっても電気信号出力が変化するこ
とのない信軌性の高い磁気センサに関するものである。
抗効果を利用して電気信号に変換し1位置検出、速度検
出等を行う磁気センサに関するものであり、特に検知部
材に発生する応力によっても電気信号出力が変化するこ
とのない信軌性の高い磁気センサに関するものである。
従来の磁気センサは1例えば第2図に要部斜視図として
示すように構成されている。すなわち第2図において1
は回転ドラムであり1回転軸2の回りに回転自在に形成
すると共に1回転ドラム1の外周表面に例えばγ鉄等の
磁性塗膜を固着して。
示すように構成されている。すなわち第2図において1
は回転ドラムであり1回転軸2の回りに回転自在に形成
すると共に1回転ドラム1の外周表面に例えばγ鉄等の
磁性塗膜を固着して。
円周方向に等間隔にNS磁極が出現するように着磁して
インクリメンタル相1aを形成する。なお回転ドラム1
の外周表面には前記インクリメンタル相1aとは別に例
えば1対のNS磁極を設けてアブソリュート相1bを形
成する。なおアブソリュート相1bを形成するN5ii
liは1回転軸2と平行に設け、前記インクリメンタル
相1aを形成する磁極の方向と直交するように配設する
0次に3は検知部材であり9例えばガラス基板4上にニ
ッケル鉄合金のような磁気抵抗効果機能を有する強磁性
材料の薄膜からなる感磁素子5a、5bを。
インクリメンタル相1aを形成する。なお回転ドラム1
の外周表面には前記インクリメンタル相1aとは別に例
えば1対のNS磁極を設けてアブソリュート相1bを形
成する。なおアブソリュート相1bを形成するN5ii
liは1回転軸2と平行に設け、前記インクリメンタル
相1aを形成する磁極の方向と直交するように配設する
0次に3は検知部材であり9例えばガラス基板4上にニ
ッケル鉄合金のような磁気抵抗効果機能を有する強磁性
材料の薄膜からなる感磁素子5a、5bを。
これらの長手方向が各々前記インクリメンタル相laお
よびアブソリュート相lbを形成するNS磁極の方向と
直交するように設け、前記回転ドラム1の外表面と対向
させ、かつ各々前記インクリメンタル相1aおよびアブ
ソリュート相1bを構成するNS磁極による磁界が作用
する範囲内に所定の間隙を介して配設する。5a、
6bは各々リード線であり、前記感磁素子5a、5bと
電気的に接続し、感磁素子5a、5bからの電気信号を
検知回路(図示せず)に入力可能に形成する。
よびアブソリュート相lbを形成するNS磁極の方向と
直交するように設け、前記回転ドラム1の外表面と対向
させ、かつ各々前記インクリメンタル相1aおよびアブ
ソリュート相1bを構成するNS磁極による磁界が作用
する範囲内に所定の間隙を介して配設する。5a、
6bは各々リード線であり、前記感磁素子5a、5bと
電気的に接続し、感磁素子5a、5bからの電気信号を
検知回路(図示せず)に入力可能に形成する。
以上の構成により9回転ドラム1を回転させれば、イン
クリメンタル相1aおよびアブソリュート相1bを構成
するN5II極からの磁界が各々感磁素子5a、5bに
作用する。そして回転ドラム1の回転により前記感磁素
子5a、5bに作用する磁界が刻々変化する結果、電気
抵抗値の変化により例えば電圧変化という電気信号を得
ることができ0位置検出および回転速度を検出すること
ができるのである。
クリメンタル相1aおよびアブソリュート相1bを構成
するN5II極からの磁界が各々感磁素子5a、5bに
作用する。そして回転ドラム1の回転により前記感磁素
子5a、5bに作用する磁界が刻々変化する結果、電気
抵抗値の変化により例えば電圧変化という電気信号を得
ることができ0位置検出および回転速度を検出すること
ができるのである。
〔発明が解決しようとする!1llfl)上記構成の磁
気センサにおいて、検知部材3を例えばアルミニウム合
金からなる支持部材(図示せず)上に固着して実装状態
とした場合に、感磁素子5bからの出力が低下するとい
う現象を惹起することがある。近年の磁気センサの仕様
に対する要求は益々厳しくなり、上記のような電気信号
出力が低下することのない、高信転性の磁気センサの出
現が望まれている。
気センサにおいて、検知部材3を例えばアルミニウム合
金からなる支持部材(図示せず)上に固着して実装状態
とした場合に、感磁素子5bからの出力が低下するとい
う現象を惹起することがある。近年の磁気センサの仕様
に対する要求は益々厳しくなり、上記のような電気信号
出力が低下することのない、高信転性の磁気センサの出
現が望まれている。
上記出力低下現象を詳細に調査した結果、検知部材3を
支持部材から取外した場合に出力が回復することから、
接着時に発生する応力に起因するものであると認められ
る。すなわち検知部材3は前述のようにガラス基板4上
に感磁素子5a、5bを形成する例えばニッケル鉄合金
からなる薄膜を蒸着した後、配線部であるクロム膜およ
びアルミ膜と、絶縁部および保護部である5102膜お
よびポリイミド系有機物膜を積層して形成される。
支持部材から取外した場合に出力が回復することから、
接着時に発生する応力に起因するものであると認められ
る。すなわち検知部材3は前述のようにガラス基板4上
に感磁素子5a、5bを形成する例えばニッケル鉄合金
からなる薄膜を蒸着した後、配線部であるクロム膜およ
びアルミ膜と、絶縁部および保護部である5102膜お
よびポリイミド系有機物膜を積層して形成される。
従ってこれらの膜形成時における熱応力が残留すると共
に、更に支持部材上に接着する際にも外力に起因する応
力が蓄積されるため、感磁素子5a。
に、更に支持部材上に接着する際にも外力に起因する応
力が蓄積されるため、感磁素子5a。
5bに応力が印加され、抵抗変化率その他の特性が変化
するものと認められる。
するものと認められる。
第3図(a)(b)は各々第2図における検知部材3を
変形させた状態を示す説明図、第4図(a)(b)は各
々第3図(a)(b)に対応する磁気抵抗変化曲線を示
す図である。まず第3図(a)(b)に示すように検知
部材3の感磁素子5b側を凹または凸に変形させると、
感磁素子5bの長手方向に各々圧縮応力または引張応力
が作用する。この結果第4図(a)(b)に示すように
磁気抵抗変化曲線が変化する0両図において縦軸は抵抗
変化率ΔR/Rを、横軸は印加磁界Hを示しており0曲
線a、b、cは夫々応力が0. 30MPa、50MP
aの場合の磁気抵抗変化曲線を示す、まず第4図(a)
において、第3図(a)に示すように感磁素子5bに圧
縮応力が作用すると、磁気抵抗変化曲線は無応力の場合
における曲線aから曲線す、 cのように変化し、同
一の抵抗変化率を得るために必要な磁界の値が大となり
。
変形させた状態を示す説明図、第4図(a)(b)は各
々第3図(a)(b)に対応する磁気抵抗変化曲線を示
す図である。まず第3図(a)(b)に示すように検知
部材3の感磁素子5b側を凹または凸に変形させると、
感磁素子5bの長手方向に各々圧縮応力または引張応力
が作用する。この結果第4図(a)(b)に示すように
磁気抵抗変化曲線が変化する0両図において縦軸は抵抗
変化率ΔR/Rを、横軸は印加磁界Hを示しており0曲
線a、b、cは夫々応力が0. 30MPa、50MP
aの場合の磁気抵抗変化曲線を示す、まず第4図(a)
において、第3図(a)に示すように感磁素子5bに圧
縮応力が作用すると、磁気抵抗変化曲線は無応力の場合
における曲線aから曲線す、 cのように変化し、同
一の抵抗変化率を得るために必要な磁界の値が大となり
。
所謂感度の低下が認められるが、抵抗変化率の農大値の
低下は認められない、これに対して第4図(b)におい
ては、第3図(b)に示すように感磁素子5bに引張応
力が作用する場合であり、fR応力状態の曲線aに対し
て30MPaの応力が作用した場合の曲vAbは、同一
の抵抗変化率を得るために必要な磁界の値が一旦は小に
なる。しかし50MPaの応力が作用すると1曲線Cの
ように抵抗変化率が減少し、前記感磁素子5bの出力低
下となって現れる。このようなことから、前記した感磁
素子5bの出力低下は、第2図に示す検知部材3を支持
部材(図示せず)に接着によって実装組立する際におけ
る感磁素子5bに対する引張応力が原因であると認めら
れるのである。
低下は認められない、これに対して第4図(b)におい
ては、第3図(b)に示すように感磁素子5bに引張応
力が作用する場合であり、fR応力状態の曲線aに対し
て30MPaの応力が作用した場合の曲vAbは、同一
の抵抗変化率を得るために必要な磁界の値が一旦は小に
なる。しかし50MPaの応力が作用すると1曲線Cの
ように抵抗変化率が減少し、前記感磁素子5bの出力低
下となって現れる。このようなことから、前記した感磁
素子5bの出力低下は、第2図に示す検知部材3を支持
部材(図示せず)に接着によって実装組立する際におけ
る感磁素子5bに対する引張応力が原因であると認めら
れるのである。
一般に磁気抵抗効果機能を有する材料には、応力によっ
て磁気異方性が誘導されることが知られているが、この
場合の応力誘起異方性定数には次式で表される。
て磁気異方性が誘導されることが知られているが、この
場合の応力誘起異方性定数には次式で表される。
に−□ λ1 σ
但し、λ、:飽和磁歪
σ:応力
すなわち飽和磁歪λ、と応力σの積λ、σの符号によっ
て応力誘起異方性の方向が変化し、正の場合は応力方向
と平行方向、負の場合は応力方向と直角方向を磁化容易
軸とする磁気異方性が生じる。従って前記感磁素子5b
の長手方向に作用する引張応力(σ〉0)に対して磁歪
λが正の場合には$Ifi素子5bの長手方向に、一方
磁歪λが負の場合には感磁素子5bの幅方向に応力誘起
異方性が生じることになる。
て応力誘起異方性の方向が変化し、正の場合は応力方向
と平行方向、負の場合は応力方向と直角方向を磁化容易
軸とする磁気異方性が生じる。従って前記感磁素子5b
の長手方向に作用する引張応力(σ〉0)に対して磁歪
λが正の場合には$Ifi素子5bの長手方向に、一方
磁歪λが負の場合には感磁素子5bの幅方向に応力誘起
異方性が生じることになる。
応力誘起異方性が感磁素子5bの長手方向に生じた場合
には、長手方向に磁気異方性が付加されるため2幅方向
には一層磁化されにくくなる。すなわち同一の抵抗変化
率を得るために要する磁界の値が大となる結果、第4図
(a)における曲線す、 cのように磁気抵抗変化曲
線が変化することが説明できる。一方幅方向に応力誘起
異方性が生じた場合には1発生した応力誘起異方性が感
磁素子5bの有する形状異方性より小であるときは。
には、長手方向に磁気異方性が付加されるため2幅方向
には一層磁化されにくくなる。すなわち同一の抵抗変化
率を得るために要する磁界の値が大となる結果、第4図
(a)における曲線す、 cのように磁気抵抗変化曲
線が変化することが説明できる。一方幅方向に応力誘起
異方性が生じた場合には1発生した応力誘起異方性が感
磁素子5bの有する形状異方性より小であるときは。
第4図(b)における曲線すに示すように、無応力の場
合の曲線aよりも同一の抵抗変化率を得るための磁界の
値が減少する。しかし応力の値が更に大となり、前記応
力誘起異方性が形状異方性より大になると、[化容易方
向は幅方向になり1曲線Cで示すように抵抗変化率が急
激に低下するものと考えられる。
合の曲線aよりも同一の抵抗変化率を得るための磁界の
値が減少する。しかし応力の値が更に大となり、前記応
力誘起異方性が形状異方性より大になると、[化容易方
向は幅方向になり1曲線Cで示すように抵抗変化率が急
激に低下するものと考えられる。
次に従来の感磁素子を構成するニッケル鉄合金において
は、抵抗変化率の値を大にするため、ニッケル含有率を
高い値に設定していた(例えば83.0重量%前記)、
シかしながら、このような合金によって形成した感磁素
子の磁歪は負であるため、前記のように実装組立した場
合において感磁素子に引張応力が作用すると出力低下と
いう現象を惹起することになる。
は、抵抗変化率の値を大にするため、ニッケル含有率を
高い値に設定していた(例えば83.0重量%前記)、
シかしながら、このような合金によって形成した感磁素
子の磁歪は負であるため、前記のように実装組立した場
合において感磁素子に引張応力が作用すると出力低下と
いう現象を惹起することになる。
また第2図において感磁素子5a、5bをガラス基板4
上に薄膜によって形成する場合に、ifi界印加方向を
感磁素子5aの長手方向に合わせであるため、感磁素子
5aと901の長手方向を有する感磁素子5bには1幅
方向に誘導磁気異方性が付与されてしまう、従って感磁
素子5bにおいては、前記応力誘起異方性の付加により
1本来固有の形状異方性より容易に幅方向の異方性が大
となり、前記のように出力低下を惹起するという問題点
がある。
上に薄膜によって形成する場合に、ifi界印加方向を
感磁素子5aの長手方向に合わせであるため、感磁素子
5aと901の長手方向を有する感磁素子5bには1幅
方向に誘導磁気異方性が付与されてしまう、従って感磁
素子5bにおいては、前記応力誘起異方性の付加により
1本来固有の形状異方性より容易に幅方向の異方性が大
となり、前記のように出力低下を惹起するという問題点
がある。
本発明は上記従来技術に存在する問題点を解決し、検知
部材に応力が発生した場合においても電気信号出力を低
下することのない信頼性の高い磁気センサを提供するこ
とを目的とする。
部材に応力が発生した場合においても電気信号出力を低
下することのない信頼性の高い磁気センサを提供するこ
とを目的とする。
上記目的を達成するため9本発明においては。
表面にNS磁極を設けてなる磁界印加部材と、基板上に
磁気抵抗効果機能を有する感磁素子を直接若しくはw1
1m部材を介して固着してなる検知部材とを、前記磁界
印加部材の磁界が作用する範囲内に相対移動自在に設け
ると共に、前記感磁素子をNi81.O〜81.8重量
%、残部Feおよび不可避的不純物からなる薄膜によっ
て形成する。という技術的手段を採用した。
磁気抵抗効果機能を有する感磁素子を直接若しくはw1
1m部材を介して固着してなる検知部材とを、前記磁界
印加部材の磁界が作用する範囲内に相対移動自在に設け
ると共に、前記感磁素子をNi81.O〜81.8重量
%、残部Feおよび不可避的不純物からなる薄膜によっ
て形成する。という技術的手段を採用した。
本発明において、Ni含有量が81.8重量%を超える
と磁歪が負となり、感磁素子Φ長手方向に引張応力が作
用した場合に磁化容易軸が幅方向となり、出力低下を招
来するため不都合である。一方gt、o重量%未満にお
いては、磁歪は正の範囲であるため前記のような理由に
よる出力低下は発生しないが、抵抗変化率自体が減少す
るため感磁素子の出力低下となるため好ましくない。
と磁歪が負となり、感磁素子Φ長手方向に引張応力が作
用した場合に磁化容易軸が幅方向となり、出力低下を招
来するため不都合である。一方gt、o重量%未満にお
いては、磁歪は正の範囲であるため前記のような理由に
よる出力低下は発生しないが、抵抗変化率自体が減少す
るため感磁素子の出力低下となるため好ましくない。
本発明は同一検知部材にアブソリュート相およびインク
リメンタル相に対応する感磁素子を併設した場合に有効
であり、特にアブソリュート相の磁極配列方向とインク
リメンタル相の磁極配列方向とが直交するような磁気セ
ンサである場合に有効である。
リメンタル相に対応する感磁素子を併設した場合に有効
であり、特にアブソリュート相の磁極配列方向とインク
リメンタル相の磁極配列方向とが直交するような磁気セ
ンサである場合に有効である。
上記の構成により、検知部材を形成する感磁素子の磁歪
を常に正とすることができるため、仮りに感磁素子の長
手方向に引張応力が作用した場合においても、応力誘起
異方性定数にの値を正とすることができ、応力方向と平
行方向を磁化容易軸とする磁気異方性を維持するのであ
る。
を常に正とすることができるため、仮りに感磁素子の長
手方向に引張応力が作用した場合においても、応力誘起
異方性定数にの値を正とすることができ、応力方向と平
行方向を磁化容易軸とする磁気異方性を維持するのであ
る。
まず基板として1005m X 100mm x 0.
1m−のコーニング7059ガラスを使用し、このガラ
ス基板上にニッケル鉄合金からなる薄膜(膜厚380±
50人)を、抵抗加熱式真空蒸着装置(東京真空製 E
VM−580型)により、25板温度を230℃とし。
1m−のコーニング7059ガラスを使用し、このガラ
ス基板上にニッケル鉄合金からなる薄膜(膜厚380±
50人)を、抵抗加熱式真空蒸着装置(東京真空製 E
VM−580型)により、25板温度を230℃とし。
薄膜の長手方向に磁界を印加した状態で蒸着した。
磁界はアルニコ磁石(日立金属製 YCM−QC)によ
って発生させ、基板中心部において約2000に保持し
た。蒸着用るつぼには、アルミナコートシたコニカルバ
スケット(東京カソード研究所型 CB5−1型)を使
用した0次にこの薄膜上にRFスパッタによりCr1l
lおよびAlgKを各々0.1#mおよび0.3μmに
形成した。更にこれらの膜上に、RFスパッタおよびス
ピンコードにより各々Si0g膜およびPIQ(ポリイ
ミド系有機物)II5Kを2μm宛積層して検知部材と
した。
って発生させ、基板中心部において約2000に保持し
た。蒸着用るつぼには、アルミナコートシたコニカルバ
スケット(東京カソード研究所型 CB5−1型)を使
用した0次にこの薄膜上にRFスパッタによりCr1l
lおよびAlgKを各々0.1#mおよび0.3μmに
形成した。更にこれらの膜上に、RFスパッタおよびス
ピンコードにより各々Si0g膜およびPIQ(ポリイ
ミド系有機物)II5Kを2μm宛積層して検知部材と
した。
次に幅30μm長さ2800pmに加工した感磁素子の
11り厚を触針弐段差計(SLoan !l!J De
kLak II八)を使用して測定し、その後4端子法
により抵抗値を求め、磁界を±500e印加した際の抵
抗の変化であるMR特性(磁気抵抗効果特性)を測定し
。
11り厚を触針弐段差計(SLoan !l!J De
kLak II八)を使用して測定し、その後4端子法
により抵抗値を求め、磁界を±500e印加した際の抵
抗の変化であるMR特性(磁気抵抗効果特性)を測定し
。
MR曲&91(磁気抵抗変化曲線3例えば第4図)とし
て表した。このようなMR曲線を応力負荷時においても
求め、異方性磁界の変化から磁歪を求めた。
て表した。このようなMR曲線を応力負荷時においても
求め、異方性磁界の変化から磁歪を求めた。
第1図は磁歪と薄Il!1tJ1成(N1重量%)との
関係を示す図である。第1図から明らかなように。
関係を示す図である。第1図から明らかなように。
t181.8重量%において磁歪が0となり、Nl量が
これより小であれば磁歪は正となり、Ni1lがこれよ
り大であれは磁歪は負となる。このようなm膜により5
例えば第2図に示ずような感磁素子5a、5bを形成し
た場合に、一般に50MI’aの応力印加時において出
力低下が起こらないこと(特にアブソリュート相1bに
対応する感磁素子5bに)が要求されている。このよう
な要求を満足する磁歪は±2X10−”以内であるため
、Nl量がこの範囲の値を示すように薄膜組成を制御す
ればよい、この組成範囲は第1図からNi81.O〜8
2.7ffi量2である。一方前記のように磁歪は正の
方が望ましいことが明らかであるため、T!1歪が正で
あるNi81.0〜81.8重量%が好ましい0本実施
例においては蒸着源としてN ia2.3重量%の合金
を使用したが、ロフト間の変動も含めて薄膜の組成を上
記の範囲にコントロールすることは充分に可能である。
これより小であれば磁歪は正となり、Ni1lがこれよ
り大であれは磁歪は負となる。このようなm膜により5
例えば第2図に示ずような感磁素子5a、5bを形成し
た場合に、一般に50MI’aの応力印加時において出
力低下が起こらないこと(特にアブソリュート相1bに
対応する感磁素子5bに)が要求されている。このよう
な要求を満足する磁歪は±2X10−”以内であるため
、Nl量がこの範囲の値を示すように薄膜組成を制御す
ればよい、この組成範囲は第1図からNi81.O〜8
2.7ffi量2である。一方前記のように磁歪は正の
方が望ましいことが明らかであるため、T!1歪が正で
あるNi81.0〜81.8重量%が好ましい0本実施
例においては蒸着源としてN ia2.3重量%の合金
を使用したが、ロフト間の変動も含めて薄膜の組成を上
記の範囲にコントロールすることは充分に可能である。
なお従来の感磁素子におけるyI膜組成はNi82.6
〜83.4重量%であり、第1図から明らかなように磁
歪が−2〜−3,8X 10−”の範囲にあり、応力の
作用により前記のような出力低下を招来する結果となっ
ている。
〜83.4重量%であり、第1図から明らかなように磁
歪が−2〜−3,8X 10−”の範囲にあり、応力の
作用により前記のような出力低下を招来する結果となっ
ている。
本実施例においては、検知部材に設けた感磁素子を各々
長手方向が直交するように設け、アブソリュート相に対
応する感磁素子の例について記述したが1本発明はこれ
に限定されず、他の態様の磁気センサにも当然に適用可
能である。すなわち例えばインクリメンタル相とアブソ
リュート相における磁極配列方向が同一であり5各々の
相に対応する感磁素子の長手方向が非直交若しくは平行
であってもよい、また磁界印加部材として回転ドラムの
外周面にNS磁極を設けた例のものを示したが2例えば
ベルト吠のものでもよく、要するに磁界印加部材と検知
部材とを相対移動自在に配設したものである限り作用は
同様である。なお検知部材を構成する感磁素子の形成手
段としては、蒸着法に限定されず、スパッタ法、イオン
ブレーティング法、気相成長法、メツキ法等の他の公知
の手段を使用できる。
長手方向が直交するように設け、アブソリュート相に対
応する感磁素子の例について記述したが1本発明はこれ
に限定されず、他の態様の磁気センサにも当然に適用可
能である。すなわち例えばインクリメンタル相とアブソ
リュート相における磁極配列方向が同一であり5各々の
相に対応する感磁素子の長手方向が非直交若しくは平行
であってもよい、また磁界印加部材として回転ドラムの
外周面にNS磁極を設けた例のものを示したが2例えば
ベルト吠のものでもよく、要するに磁界印加部材と検知
部材とを相対移動自在に配設したものである限り作用は
同様である。なお検知部材を構成する感磁素子の形成手
段としては、蒸着法に限定されず、スパッタ法、イオン
ブレーティング法、気相成長法、メツキ法等の他の公知
の手段を使用できる。
〔発明の効果〕
本発明は以上記述のような構成および作用であるから、
下記の効果を期待できる。
下記の効果を期待できる。
(1) 感磁素子の抵抗変化率が応力の作用にも拘ら
ず印加磁界500eにおいて2.5%以上の値を確保し
、出力を高レベルに保持できる。
ず印加磁界500eにおいて2.5%以上の値を確保し
、出力を高レベルに保持できる。
(2)出力を高レベルに確保できると共に、異方性磁界
が150e以下であり、感度が極めて高いと共に、信鯨
性を大幅に向上することができる。
が150e以下であり、感度が極めて高いと共に、信鯨
性を大幅に向上することができる。
(3)磁歪定数がθ〜2X10−以下であるため。
耐応力性が極めて高い。
発明の対象である磁気センサの例を示す要部斜視図、第
3図(a)(b)は各々第2図における検知部材を変形
させた状態を示す説明図、第4図(a)(b)は各々第
3図(a)(b)に対応する磁気抵抗変化曲線を示す図
である。
3図(a)(b)は各々第2図における検知部材を変形
させた状態を示す説明図、第4図(a)(b)は各々第
3図(a)(b)に対応する磁気抵抗変化曲線を示す図
である。
1:回転ドラム、3:検知部材、5a、5b:感磁素子
。
。
Claims (5)
- (1)表面にNS磁極を設けてなる磁界印加部材と、基
板上に磁気抵抗効果機能を有する感磁素子を直接若しく
は絶縁部材を介して固着してなる検知部材とを、前記磁
界印加部材の磁界が作用する範囲内に相対移動自在に設
けると共に、前記感磁素子をNi81.0〜81.8重
量%、残部Feおよび不可避的不純物からなる薄膜によ
って形成したことを特徴とする磁気センサ。 - (2)磁界印加部材の表面にアブソリュート相とインク
リメンタル相とを形成した請求項(1)記載の磁気セン
サ。 - (3)感磁素子との相対移動方向にNS磁極を交互に設
けた請求項(1)若しくは(2)記載の磁気センサ。 - (4)アブソリュート相の磁極配列方向とインクリ形成
した請求項(1)若しくは(2)記載の磁気センサ。 - (5)磁界印加部材を回転ドラムによって形成すると共
に、この回転ドラムの外周面の円周方向にインクリメン
タル相を構成するNS磁極を交互に設けた請求項(1)
ないし(4)何れかに記載の磁気センサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1015914A JPH02195284A (ja) | 1989-01-25 | 1989-01-25 | 磁気センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1015914A JPH02195284A (ja) | 1989-01-25 | 1989-01-25 | 磁気センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02195284A true JPH02195284A (ja) | 1990-08-01 |
Family
ID=11902048
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1015914A Pending JPH02195284A (ja) | 1989-01-25 | 1989-01-25 | 磁気センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02195284A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5508611A (en) * | 1994-04-25 | 1996-04-16 | General Motors Corporation | Ultrathin magnetoresistive sensor package |
US6184680B1 (en) * | 1997-03-28 | 2001-02-06 | Tdk Corporation | Magnetic field sensor with components formed on a flexible substrate |
JP2004172599A (ja) * | 2002-11-01 | 2004-06-17 | Nec Corp | 磁気抵抗デバイス及びその製造方法 |
JP2008039782A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Magic Technologies Inc | Gmrセンサストライプ、gmrセンサストライプアレイおよびそれらの形成方法 |
US7379280B2 (en) | 2002-12-16 | 2008-05-27 | Nec Corporation | Magnetic tunnel magneto-resistance device and magnetic memory using the same |
US7394626B2 (en) | 2002-11-01 | 2008-07-01 | Nec Corporation | Magnetoresistance device with a diffusion barrier between a conductor and a magnetoresistance element and method of fabricating the same |
US7417269B2 (en) | 2002-11-21 | 2008-08-26 | Denso Corporation | Magnetic impedance device, sensor apparatus using the same and method for manufacturing the same |
WO2019146347A1 (ja) * | 2018-01-25 | 2019-08-01 | 株式会社村田製作所 | 磁気センサおよび電流センサ |
-
1989
- 1989-01-25 JP JP1015914A patent/JPH02195284A/ja active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7417269B2 (en) | 2002-11-21 | 2008-08-26 | Denso Corporation | Magnetic impedance device, sensor apparatus using the same and method for manufacturing the same |
US7582489B2 (en) | 2002-11-21 | 2009-09-01 | Denso Corporation | Method for manufacturing magnetic sensor apparatus |
US7379280B2 (en) | 2002-12-16 | 2008-05-27 | Nec Corporation | Magnetic tunnel magneto-resistance device and magnetic memory using the same |
JP2008039782A (ja) * | 2006-08-01 | 2008-02-21 | Magic Technologies Inc | Gmrセンサストライプ、gmrセンサストライプアレイおよびそれらの形成方法 |
JP2013167632A (ja) * | 2006-08-01 | 2013-08-29 | Magic Technologies Inc | Gmrセンサストライプアレイおよびgmrセンサストライプアレイの形成方法 |
WO2019146347A1 (ja) * | 2018-01-25 | 2019-08-01 | 株式会社村田製作所 | 磁気センサおよび電流センサ |
US11249116B2 (en) | 2018-01-25 | 2022-02-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Magnetic sensor and current sensor |
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