JPH02190706A - Pattern terminal part inspecting device - Google Patents

Pattern terminal part inspecting device

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Publication number
JPH02190706A
JPH02190706A JP1011334A JP1133489A JPH02190706A JP H02190706 A JPH02190706 A JP H02190706A JP 1011334 A JP1011334 A JP 1011334A JP 1133489 A JP1133489 A JP 1133489A JP H02190706 A JPH02190706 A JP H02190706A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
defect
image signal
signal
detection
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP1011334A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Sadaaki Yokoi
横井 貞明
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH02190706A publication Critical patent/JPH02190706A/en
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Abstract

PURPOSE:To accurately detect a defect part by providing a detection window which has a defect detection window and a projection detection window. CONSTITUTION:A window generating circuit 9 generates the detection window 10 including the defect detection window and projection detection window centering on a gravity center position signal 8. Further, a defect detecting circuit 11 outputs a defect signal 12 by deciding whether or not there is a defect from whether or not there is a point which is in the defect detection window included in the window 10 and not on the pattern of a binary-coded image signal 4. Then a projection extracting circuit 13 extracts only a point which is outside the projection detection window and on the pattern of the signal 4 to output a projection extraction image signal 14. Then a projection detection part 15 regards a part which is narrower than preset a definite width by using the signal 14 to output a projection signal 16. Then a defect decision circuit 17 decides whether or not the terminal end part of the pattern has a defect from the signals 12 and 16 to output a defect signal 18.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光電スキャナで走査して読出した印刷配線基
板(プリント基板)の検査対象パターンの終端部に欠陥
があるか否かを判定するためのパターン終端部検査装置
に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention determines whether there is a defect at the end of a pattern to be inspected on a printed wiring board (printed circuit board) scanned and read by a photoelectric scanner. The present invention relates to a pattern end inspection device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

印刷配線基板(プリント基板)の検査対象パターンの終
端部に欠陥があるか否かを判定するための従来の技術と
しては、専用の検査マスクを用いる方法がよく知られて
いる(例えば、武藤・安藤:[プリント基板の目視検査
の自動化」、機械設計、第29巻、2号、P87〜96
.1985)。
As a conventional technique for determining whether or not there is a defect at the end of a pattern to be inspected on a printed wiring board (printed circuit board), a method using a dedicated inspection mask is well known (for example, Muto et al. Ando: [Automation of visual inspection of printed circuit boards], Mechanical Design, Vol. 29, No. 2, P87-96
.. 1985).

第6図は専用の検査マスクを用いた従来のパターンの終
端部の欠陥の検出手段の一例を示す平面図である。 第
6図において、検査マスク33上の点がすべてパターン
上になく、かつ検査領域31にパターン上の点が含まれ
ている場合に、検査対象パターン32に欠陥があると判
定している。
FIG. 6 is a plan view showing an example of a conventional means for detecting defects at the end of a pattern using a dedicated inspection mask. In FIG. 6, when all the points on the inspection mask 33 are not on the pattern and the inspection area 31 includes points on the pattern, it is determined that the pattern to be inspected 32 has a defect.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述したような従来のパターンの終端部の欠陥の検出手
段は、検査マスクに基いて判定を行っているため、欠陥
の形状によっては検出ができないことがあるという欠点
がある。
The conventional means for detecting defects at the end of a pattern as described above makes determinations based on an inspection mask, and therefore has the drawback that detection may not be possible depending on the shape of the defect.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明のパターン終端部検査装置は、印刷配線基板の検
査対象パターンを走査して読出す光電変換スキャナと、
前記光電変換スキャナが読出した入力画像信号を“0″
および“1”の2値化画像信号に変換して出力する2値
化回路と、前記2値化画像信号を入力して前記2値化画
像信号にあらかじめ設定されている寸法の線除去マスク
をラスタースキャンに同期して走査することによって前
記検査対象パターンの終端部のみを検出して終端検出画
像信号を送出する終端部検出回路と、前記終端検出画像
信号を入力してその終端部の重心位置を検出して重心位
置信号を出力する重心検出回路と、前記重心位置信号を
中心としてあらかじめ設定されている寸法の欠損検出ウ
ィンドおよび突起・検出ウィンドを含む検出ウィンドを
発生するウィンド発生回路と、前記検出ウィンドに含ま
れる前記欠損検出ウィンドの内部の点で前記2値化画像
信号のパターン上にない点の有無によって欠損の有無の
判定を行なって欠損信号を出力する欠損検出回路と、前
記検出ウィンドに含まれる前記突起検出ウィンドの外部
の点で前記2値化画像信号のパターン上にある点のみを
抽出して突起抽出画像信号を出力する突起抽出回路と、
前記突起抽出画像信号からあらかじめ設定されている一
定の幅以下の部分を突起部として検出して突起信号を出
力する突起検出回路と、前記欠損信号および前記突起信
号から前記検査対象パターンの終端部の欠陥の有無を判
定して欠陥信号を出力する欠陥判定回路とを備えている
The pattern end inspection device of the present invention includes a photoelectric conversion scanner that scans and reads out a pattern to be inspected on a printed wiring board;
The input image signal read by the photoelectric conversion scanner is set to "0".
and a binarization circuit that converts and outputs a binary image signal of "1"; An end portion detection circuit detects only the end portion of the pattern to be inspected by scanning in synchronization with raster scan and sends out an end detection image signal; and a center of gravity position of the end portion by inputting the end detection image signal. a center of gravity detection circuit that detects the center of gravity and outputs a center of gravity position signal; a window generation circuit that generates a detection window including a defect detection window and a protrusion/detection window having preset dimensions centered on the center of gravity position signal; a defect detection circuit that outputs a defect signal by determining the presence or absence of a defect based on the presence or absence of a point inside the defect detection window that is included in the detection window and is not on the pattern of the binarized image signal; a protrusion extraction circuit that extracts only points on the pattern of the binarized image signal among points outside the protrusion detection window included in the protrusion detection window and outputs a protrusion extraction image signal;
a protrusion detection circuit that detects a portion having a predetermined width or less as a protrusion from the protrusion extraction image signal and outputs a protrusion signal; and a defect determination circuit that determines the presence or absence of a defect and outputs a defect signal.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

第1図において、光電変換スキャナ1を走査して読出し
た入力画像信号2は、2値化回路3によって“0”およ
び1°′の2値化画像信号4に変換して出力される。こ
の2値化画像信号4を入力する終端部検出回路5は、2
値化画像信号4にあらかしめ設定されている寸法の線除
去マスクをラスタースキャンに同期して走査し、パター
ンの終端部のみを検出して終端検出画像信号6を送出す
る0重心検出回路7は、終端検出画像信号6を入力して
その終端部の重心位置を検出して重心位置信号8を出力
する。ウィンド発生回路9は、重心位置信号8を中心と
してあらかじめ設定されている寸法の欠損検出ウィンド
および突起検出ウィンドを含む検出ウィンド10を発生
する。欠損検出回路11は、検出ウィンド10に含まれ
る欠損検出ウィンドの内部の点で、2値化画像信号4の
パターン上にない点の有無によって欠損の有無の判定を
行なって欠損信号12を出力する。突起抽出回路13は
、検出ウィンド10に含まれる突起検出ウィンドの外部
の点で、2値化画像信号4のパターン上にある点のみを
抽出して突起抽出画像信号14を出力する。突起検出回
路15は、突起抽出画像信号14からあらかじめ設定さ
れている一定の幅以下の部分を突起部として検出して突
起信号16を出力する。欠陥判定回路17は、欠損信号
12および突起信号16からパターンの終端部の欠陥の
有無を判定して欠陥信号18を出力する。
In FIG. 1, an input image signal 2 read out by scanning a photoelectric conversion scanner 1 is converted into a binary image signal 4 of "0" and 1°' by a binarization circuit 3 and output. The terminal end detection circuit 5 which inputs this binary image signal 4 has two
The 0 center of gravity detection circuit 7 scans the line removal mask having the dimensions preliminarily set in the digitized image signal 4 in synchronization with the raster scan, detects only the end of the pattern, and sends out the end detection image signal 6. , a terminal end detection image signal 6 is input, the center of gravity position of the terminal end is detected, and a center of gravity position signal 8 is output. The window generating circuit 9 generates a detection window 10 including a defect detection window and a protrusion detection window having predetermined dimensions around the center of gravity position signal 8 . The defect detection circuit 11 determines the presence or absence of a defect based on the presence or absence of a point inside the defect detection window included in the detection window 10 that is not on the pattern of the binarized image signal 4, and outputs a defect signal 12. . The protrusion extraction circuit 13 extracts only points on the pattern of the binary image signal 4 that are included in the detection window 10 and are outside the protrusion detection window, and outputs the protrusion extraction image signal 14. The protrusion detection circuit 15 detects a portion smaller than a predetermined width from the protrusion extraction image signal 14 as a protrusion, and outputs a protrusion signal 16. The defect determination circuit 17 determines whether there is a defect at the end of the pattern based on the defect signal 12 and the protrusion signal 16 and outputs a defect signal 18 .

次に第2図〜第5図を参照して各部の動作の詳細につい
て説明する。
Next, details of the operation of each part will be explained with reference to FIGS. 2 to 5.

第2図は第1図の実施例の終端部検出回路の動作原理を
示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing the operating principle of the termination detection circuit of the embodiment shown in FIG. 1.

第2図において、入力画像20に対して、あらかじめ設
定されている寸法の線除去マスク23をラスタースキャ
ンに同期して走査し、線除去マスク23の内部の点がす
べてパターン上にある点のみを取出す。
In FIG. 2, a line removal mask 23 with preset dimensions is scanned over an input image 20 in synchronization with raster scanning, and only the points where all the points inside the line removal mask 23 are on the pattern are removed. Take it out.

第3図は第1図の実施例の終端部検出回路で検出された
終端検出画像の一例を示す画像図である。 重心検出回
路7は、第3図に示す終端位置信号25の重心位置を求
める。
FIG. 3 is an image diagram showing an example of a termination detection image detected by the termination detection circuit of the embodiment shown in FIG. The center of gravity detection circuit 7 determines the center of gravity position of the terminal position signal 25 shown in FIG.

第4図は第1図の実施例の欠損検出および突起抽出方法
を示す説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing the defect detection and protrusion extraction method of the embodiment shown in FIG.

第4図において、欠損検出ウィンド26の内部の点でパ
ターン上にない点を求めると、欠損部29が検出できる
。また、突起検出ウィンド27の外部の点でパターン上
にある点を求めると、突起抽出画像が取出せる。
In FIG. 4, by finding points inside the defect detection window 26 that are not on the pattern, a defect 29 can be detected. Further, by finding points on the pattern outside the protrusion detection window 27, a protrusion extraction image can be extracted.

第5図は上述のようにして取出した突起抽出画像の一例
を示す平面図である。
FIG. 5 is a plan view showing an example of the protrusion extraction image extracted as described above.

第5図における突起抽出画像30に対して、あらかじめ
設定されている一定の幅以下の条件を用いて突起部28
を検出することができる。
The protrusion extraction image 30 in FIG.
can be detected.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明のパターン終端部検査装置
は、従来使用していた検査マスクの代りに、欠損検出ウ
ィンドと突起検出ウィンドとを有する検出ウィンドを用
いてパターンの終端部の検出して欠損部と突起部の検出
を行なうことができるため、欠陥の形状に無関係に精度
よく欠陥部の検出を行なうことができるという効果があ
る。
As explained above, the pattern end portion inspection device of the present invention detects the end portion of a pattern by using a detection window having a defect detection window and a protrusion detection window instead of the conventionally used inspection mask. Since defective portions and protrusions can be detected, there is an effect that defective portions can be detected with high accuracy regardless of the shape of the defect.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図の実施例の終端部検出回路の動作原理を示す説明
図、第3図は第1図の実施例の終端部検出回路で検出さ
れた終端検出画像の一例を示す画像図、第4図は第1図
の実施例の欠損検出および突起抽出方法を示す説明図、
第5図は突起抽出画像の一例を示す平面図、第6図は専
用の検査マスクを用いた従来のパターン欠陥の検出手段
の一例を示す平面図である。 1・・・・・・光電変換スキャナ、2・・・・・・入力
画像信号、3・・・・・・2値化回路、4・・・・・・
2値化画像信号、5・・・・・・終端部検出回路、6・
・・・・・終端検出画像信号、7・・・・・・重心検出
回路、8・・・・・・重心位置信号、9・・・・・・ウ
ィンド発生回路、10・・・・・・検出ウィンド、11
・・・・・・欠損検出回路、12・旧・・欠損信号、1
3・・・・・・突起抽出回路、14・・・・・・突起抽
出画像信号、15・・・・・・突起検出回路、16・・
・・・・突起信号、17・・・・・・欠陥判定回路、1
8・・・−・・欠陥信号。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram showing the operating principle of the termination detection circuit of the embodiment of FIG. 1, and FIG. 3 is a diagram of the termination of the embodiment of FIG. 1. FIG. 4 is an explanatory diagram showing the defect detection and protrusion extraction method of the embodiment of FIG. 1;
FIG. 5 is a plan view showing an example of a protrusion extraction image, and FIG. 6 is a plan view showing an example of a conventional pattern defect detection means using a dedicated inspection mask. 1...Photoelectric conversion scanner, 2...Input image signal, 3...Binarization circuit, 4...
Binarized image signal, 5... End portion detection circuit, 6.
... End detection image signal, 7 ... Center of gravity detection circuit, 8 ... Center of gravity position signal, 9 ... Window generation circuit, 10 ... Detection window, 11
・・・・・・Deficiency detection circuit, 12・old・defective signal, 1
3... Protrusion extraction circuit, 14... Protrusion extraction image signal, 15... Protrusion detection circuit, 16...
... Protrusion signal, 17 ... Defect determination circuit, 1
8...--Defect signal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 印刷配線基板の検査対象パターンを走査して読出す光電
変換スキャナと、前記光電変換スキャナが読出した入力
画像信号を“0”および“1”の2値化画像信号に変換
して出力する2値化回路と、前記2値化画像信号を入力
して前記2値化画像信号にあらかじめ設定されている寸
法の線除去マスクをラスタースキャンに同期して走査す
ることによって前記検査対象パターンの終端部のみを検
出して終端検出画像信号を送出する終端部検出回路と、
前記終端検出画像信号を入力してその終端部の重心位置
を検出して重心位置信号を出力する重心検出回路と、前
記重心位置信号を中心としてあらかじめ設定されている
寸法の欠損検出ウインドおよび突起検出ウインドを含む
検出ウインドを発生するウインド発生回路と、前記検出
ウインドに含まれる前記欠損検出ウインドの内部の点で
前記2値化画像信号のパターン上にない点の有無によっ
て欠損の有無の判定を行なって欠損信号を出力する欠損
検出回路と、前記検出ウインドに含まれる前記突起検出
ウインドの外部の点で前記2値化画像信号のパターン上
にある点のみを抽出して突起抽出画像信号を出力する突
起抽出回路と、前記突起抽出画像信号からあらかじめ設
定されている一定の幅以下の部分を突起部として検出し
て突起信号を出力する突起検出回路と、前記欠損信号お
よび前記突起信号から前記検査対象パターンの終端部の
欠陥の有無を判定して欠陥信号を出力する欠陥判定回路
とを備えることを特徴とするパターン終端部検査装置。
A photoelectric conversion scanner that scans and reads out the pattern to be inspected on a printed wiring board, and a binary image signal that converts the input image signal read by the photoelectric conversion scanner into a binary image signal of "0" and "1" and outputs it. A conversion circuit inputs the binarized image signal and scans a line removal mask having dimensions preset in the binarized image signal in synchronization with raster scanning, thereby removing only the end portion of the pattern to be inspected. a termination detection circuit that detects and sends a termination detection image signal;
a center of gravity detection circuit that inputs the end detection image signal, detects the center of gravity of the end of the image signal, and outputs a center of gravity position signal, and a defect detection window and protrusion detection having dimensions preset around the center of gravity position signal. A window generation circuit generates a detection window including a window, and the presence or absence of a defect is determined based on the presence or absence of a point inside the defect detection window included in the detection window that is not on the pattern of the binarized image signal. a defect detection circuit that outputs a defect signal based on the detection window; and a defect detection circuit that extracts only points that are included in the detection window and are on the pattern of the binarized image signal outside the protrusion detection window and outputs a protrusion extraction image signal. a protrusion extraction circuit; a protrusion detection circuit that detects a portion smaller than a predetermined width from the protrusion extraction image signal as a protrusion and outputs a protrusion signal; A pattern end portion inspection device comprising: a defect determination circuit that determines the presence or absence of a defect at the end portion of a pattern and outputs a defect signal.
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