JPH0217433A - Ｌｅｄランプの外観検査方法 - Google Patents
Ｌｅｄランプの外観検査方法Info
- Publication number
- JPH0217433A JPH0217433A JP16680388A JP16680388A JPH0217433A JP H0217433 A JPH0217433 A JP H0217433A JP 16680388 A JP16680388 A JP 16680388A JP 16680388 A JP16680388 A JP 16680388A JP H0217433 A JPH0217433 A JP H0217433A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- luminance
- led lamp
- detected
- defect
- envelope
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 title abstract description 22
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 33
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 abstract description 4
- 235000019557 luminance Nutrition 0.000 abstract 9
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明はＬＥＤランプの外観の目視検査工程の自動化に
関するもので、特にＬＥＤランプの外囲器に不所望に形
成された欠陥の検査に適用されるものである。
関するもので、特にＬＥＤランプの外囲器に不所望に形
成された欠陥の検査に適用されるものである。
（従来の技術）
ＬＥＤランプの外囲器の外観不良には外囲器面の巣、欠
陥、傷等がある。同一の不良項目であっても形態は種々
存在する。これらの不良は上記ＬＢＤランプの致命的欠
陥となることもあるが、その程度が軽微の場合は良品と
して使用できることもある。このため従来の検査では、
検査員が被検ＬＥＤランプと限度見本とを目視により全
数比較し良、不良の判定をしていた。
陥、傷等がある。同一の不良項目であっても形態は種々
存在する。これらの不良は上記ＬＢＤランプの致命的欠
陥となることもあるが、その程度が軽微の場合は良品と
して使用できることもある。このため従来の検査では、
検査員が被検ＬＥＤランプと限度見本とを目視により全
数比較し良、不良の判定をしていた。
（発明が解決しようとする課題）
上述したように従来のＬＥＤランプの外観検査は目視に
より行なっていたが、次のような問題点があった。
より行なっていたが、次のような問題点があった。
（ａ） 検査作業者による目視検査なので判定基準が
定量化しＫくい。
定量化しＫくい。
Φ） 限度見本による目視検査のため判定結果に個人差
が出る。
が出る。
（Ｃ） 検査作業者の彼方等圧よる見過しがある。
（ｄ） 全数検査を行なっているためＬＥＤランプの
生産数が増加すると検査作業者もこれに比例して増加さ
せなければならない。
生産数が増加すると検査作業者もこれに比例して増加さ
せなければならない。
（ｅ）ＬＥＤランプ組立工程の中では外観検査に最も人
手がかかり全ライン自動化の防げＫなる。
手がかかり全ライン自動化の防げＫなる。
このように目視により外観検査を行なうと種々の問題が
発生する。このような問題を解決する方法として次のよ
うなものが考えられる。これは、第３図（”）ｔ（ｂ）
乃至第５図（ａ）、 （ｂ）、 （ＣＨＣ示すようにＬ
ＥＤランプ（１）を点灯し、その断面の輝度をエリア、
センサにより２次元的に検出して、欠陥（２）があるか
どうかを検査するという方法である。この方法によると
上記ＬＥＤランプ（１）の輝度を２次元的に検出できる
が、第３図（ａ）、（ｂ）に示すようにＬＢＤランプ（
１）の外囲器（２）の上端部分が湾曲形状を有している
場合には第４図に示すように輝度分布が場所によって異
なってくるのでＬＥＤランプ（１）の断面のとり方によ
っては欠陥（２）を発見できないという問題が起こる。
発生する。このような問題を解決する方法として次のよ
うなものが考えられる。これは、第３図（”）ｔ（ｂ）
乃至第５図（ａ）、 （ｂ）、 （ＣＨＣ示すようにＬ
ＥＤランプ（１）を点灯し、その断面の輝度をエリア、
センサにより２次元的に検出して、欠陥（２）があるか
どうかを検査するという方法である。この方法によると
上記ＬＥＤランプ（１）の輝度を２次元的に検出できる
が、第３図（ａ）、（ｂ）に示すようにＬＢＤランプ（
１）の外囲器（２）の上端部分が湾曲形状を有している
場合には第４図に示すように輝度分布が場所によって異
なってくるのでＬＥＤランプ（１）の断面のとり方によ
っては欠陥（２）を発見できないという問題が起こる。
これは第３図（ａ）、（ｂ）及び第５図（ａ）乃至（Ｃ
）に示すように、ＬＥＩＤランプ（１）の湾曲した外囲
器（３）の中心付近に欠陥（２）があった場合、その欠
陥（２）を含む断面で外観検査を行なえば欠陥（２）を
検出できる（第５図（ａ））が、欠陥（２）を含まない
断面で外観検査を行なうと欠陥（２）を発見できない（
第５図山）、（Ｃ））という問題である。他にも欠陥（
２）を検出できても２次元的な検出であるので深さが分
からず非常に浅い傷であっても不良となるという問題が
生じる。これらの問題は非常に大きな問題で、従来これ
らの問題を解決できなかった為に、人手に頼って目視に
より外観検査を行なわざるを得なかった。
）に示すように、ＬＥＩＤランプ（１）の湾曲した外囲
器（３）の中心付近に欠陥（２）があった場合、その欠
陥（２）を含む断面で外観検査を行なえば欠陥（２）を
検出できる（第５図（ａ））が、欠陥（２）を含まない
断面で外観検査を行なうと欠陥（２）を発見できない（
第５図山）、（Ｃ））という問題である。他にも欠陥（
２）を検出できても２次元的な検出であるので深さが分
からず非常に浅い傷であっても不良となるという問題が
生じる。これらの問題は非常に大きな問題で、従来これ
らの問題を解決できなかった為に、人手に頼って目視に
より外観検査を行なわざるを得なかった。
そこで本発明は、ＬＥＤランプの外囲器の外観検査にお
いて目視による感覚的判定基準を輝度検出による定量的
判定規準に変換し、目視検査工程を自動機械化すること
により上記問題点を解決するＬＤＥランプの外観検査方
法を提供することを目的とする。
いて目視による感覚的判定基準を輝度検出による定量的
判定規準に変換し、目視検査工程を自動機械化すること
により上記問題点を解決するＬＤＥランプの外観検査方
法を提供することを目的とする。
（課題を解決するための手段）
本発明のＬＥＤランプの外観検査方法は、ＬＥＤランプ
の外囲器の周間にこの外囲器の輝度を検出する第１及び
第２及び第３の検出手段を上記外囲器に対向するように
３次元的に配置して外観検査を行なう。
の外囲器の周間にこの外囲器の輝度を検出する第１及び
第２及び第３の検出手段を上記外囲器に対向するように
３次元的に配置して外観検査を行なう。
（作用）
上述の方法によればＬＥＤランプの外囲器の輝度を検出
手段により３次元的に検出するようにしたことＫより、
完全に自動的に上記外囲器に不所望に形成された欠陥を
定量的に検出できる。そして、この検出された値と基準
値とを比較することにより目視検査よりも非常に精度良
く良否判定を行なうことができる。
手段により３次元的に検出するようにしたことＫより、
完全に自動的に上記外囲器に不所望に形成された欠陥を
定量的に検出できる。そして、この検出された値と基準
値とを比較することにより目視検査よりも非常に精度良
く良否判定を行なうことができる。
（実施例）
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する０
第１図及び第２図（ａ）は本発明に係るＬＥＤランプの
外観検査方法の第１の実施例を示す。ＬＥＤランプ（１
）の外囲器（３）の湾曲部の上方向に上記湾曲部に対向
して輝度を検出する第１のエリア、センサ（検出手段）
が設けられている。また、上記外囲器（３）の側面に対
向する位ｆｌｔＫは第２のエリア。
外観検査方法の第１の実施例を示す。ＬＥＤランプ（１
）の外囲器（３）の湾曲部の上方向に上記湾曲部に対向
して輝度を検出する第１のエリア、センサ（検出手段）
が設けられている。また、上記外囲器（３）の側面に対
向する位ｆｌｔＫは第２のエリア。
センサ（５）が設けられ、上記外囲器（３）の側面に対
向する位置で、上記第２のエリア、センサ（５）と９０
゜を成す位ｆｔＫ第３のエリア９センサ（６）が設けら
れ上記外囲器（３）の輝度を３次元的に検出するように
構成されている。また、上記第１及び第２及び第３のエ
リア、センサ（４） 、 （５） 、 （６）により検
出された輝度信号は、輝度記憶処理部（力及び輝度処理
制御部（８）に人力されている。
向する位置で、上記第２のエリア、センサ（５）と９０
゜を成す位ｆｔＫ第３のエリア９センサ（６）が設けら
れ上記外囲器（３）の輝度を３次元的に検出するように
構成されている。また、上記第１及び第２及び第３のエ
リア、センサ（４） 、 （５） 、 （６）により検
出された輝度信号は、輝度記憶処理部（力及び輝度処理
制御部（８）に人力されている。
これらを用いて外観検査を行なう場合、まず製造された
ＬＥＤランプ（１）を外観検査位置にまでもって行き、
位置決めする。その際上記ＬＥＤランプ（１）の入力端
１１’ｌ：電源（９）を接続し点灯させる。その際、上
記外囲Ｈ（３）に欠陥等の不良があればその部分の輝度
は正常な部分に比し低くなる。この表面の輝度は上記エ
リアセンサ（４） 、 （５） 、 （６） Ｋより上
記外囲器（３）表面の輝度の高低に比例した３次元の信
号として検出される。この３次元の信号は第２図（ａ）
Ｋ示すように上記外囲器の輝度をすべて包括しており
、もし欠陥（２）等があればその部分の輝度信号は低く
なり３次元的に欠陥（２）部分を検出できる。
ＬＥＤランプ（１）を外観検査位置にまでもって行き、
位置決めする。その際上記ＬＥＤランプ（１）の入力端
１１’ｌ：電源（９）を接続し点灯させる。その際、上
記外囲Ｈ（３）に欠陥等の不良があればその部分の輝度
は正常な部分に比し低くなる。この表面の輝度は上記エ
リアセンサ（４） 、 （５） 、 （６） Ｋより上
記外囲器（３）表面の輝度の高低に比例した３次元の信
号として検出される。この３次元の信号は第２図（ａ）
Ｋ示すように上記外囲器の輝度をすべて包括しており
、もし欠陥（２）等があればその部分の輝度信号は低く
なり３次元的に欠陥（２）部分を検出できる。
上述のエリア、センサ（４） 、 （５） 、 （（３
）により検出された輝度信号は、上記輝度記憶処理部（
７）、輝度処理制御部（８）Ｋより処理され、上記外囲
器（３）の欠陥（２）部分を除いた体積を計算し、上記
外囲器（３）に欠陥（２）等の不良の全く無い場合の基
準体積と比較しである一定の範囲内であれば良品とし、
その範囲を越えれば不良となるように処理を行なう。
）により検出された輝度信号は、上記輝度記憶処理部（
７）、輝度処理制御部（８）Ｋより処理され、上記外囲
器（３）の欠陥（２）部分を除いた体積を計算し、上記
外囲器（３）に欠陥（２）等の不良の全く無い場合の基
準体積と比較しである一定の範囲内であれば良品とし、
その範囲を越えれば不良となるように処理を行なう。
本実施例によればＬＥＤランプ（１）の外観不良の判定
基準を目視による感覚的判定基準から体積差による定量
的判定基準としたため人為的な誤差が入らず、２次元的
検査に比しても遥かに定量的な判定が可能となり、品質
の安定を図ることができる。また、外観検査工程を自動
化することが可能となる為、省力効果が大きくなり、Ｌ
ＥＤランプを増産すればするほどその効果は大きくなる
。更に、本実施例ではＬＥＤランプを点灯させ、上記Ｌ
ＥＤランプ自身の光を光源として輝度を検出するように
したため、点灯検査を外観検査と同時に行なうことがで
き検査工程数を減らすことができる。
基準を目視による感覚的判定基準から体積差による定量
的判定基準としたため人為的な誤差が入らず、２次元的
検査に比しても遥かに定量的な判定が可能となり、品質
の安定を図ることができる。また、外観検査工程を自動
化することが可能となる為、省力効果が大きくなり、Ｌ
ＥＤランプを増産すればするほどその効果は大きくなる
。更に、本実施例ではＬＥＤランプを点灯させ、上記Ｌ
ＥＤランプ自身の光を光源として輝度を検出するように
したため、点灯検査を外観検査と同時に行なうことがで
き検査工程数を減らすことができる。
次に第２図（ｂ）は本発明の第２の実施例を示す。
本実施例において、左右対称形のＬＥＤランプ（１）を
点灯させ、第１の実施例と同様に配置された第１、第２
．第３のエリア、センサ（４） 、 （５） 、 （６
）により上記ＬＰＩＤランプ（１）の外囲器（３）表面
の輝度を検出し、検出された信号を輝度記憶処理部（７
）及び輝度処理制御部（８）に入力して、上記外囲器（
３）の欠陥（２）部以外の体積を計算する。その際、上
記Ｌ Ｅ ｌ）ランプ（１）の外囲器（３）が左右対称
形であることを利用し、上記外囲器（３）を真中で分け
、その左半分の体積と右半分の体積とを別々に計算し、
その差を求める。上記外囲器が左右対称形であればその
左半分と右半分の体積は欠陥（２）が無ければ同一であ
るので、その差を求めれば実質的に欠陥（２）の体積を
計算したことと同様になる。そして、その差がある範囲
を越えれば不良となるように処理を行なう。その他の構
成は上述した第１の実施例と同様である。
点灯させ、第１の実施例と同様に配置された第１、第２
．第３のエリア、センサ（４） 、 （５） 、 （６
）により上記ＬＰＩＤランプ（１）の外囲器（３）表面
の輝度を検出し、検出された信号を輝度記憶処理部（７
）及び輝度処理制御部（８）に入力して、上記外囲器（
３）の欠陥（２）部以外の体積を計算する。その際、上
記Ｌ Ｅ ｌ）ランプ（１）の外囲器（３）が左右対称
形であることを利用し、上記外囲器（３）を真中で分け
、その左半分の体積と右半分の体積とを別々に計算し、
その差を求める。上記外囲器が左右対称形であればその
左半分と右半分の体積は欠陥（２）が無ければ同一であ
るので、その差を求めれば実質的に欠陥（２）の体積を
計算したことと同様になる。そして、その差がある範囲
を越えれば不良となるように処理を行なう。その他の構
成は上述した第１の実施例と同様である。
本実施例によっても係る第１の実施例と同様の効果を得
ることができる。
ることができる。
以上詳述した実施例においては、ＬＥＤランプ（１）を
点灯させ、その光を光源として輝度を検出したが、上記
ＬＥＤランプ（１）を点灯させずに、上記エリア、セン
サ（４）、 ｆ５）、 （６）に向けて上記外囲器（３
）の上記エリア、センサ（４） 、 （５） 、 （６
）の反対側から光を照射するようにしてもかまわない。
点灯させ、その光を光源として輝度を検出したが、上記
ＬＥＤランプ（１）を点灯させずに、上記エリア、セン
サ（４）、 ｆ５）、 （６）に向けて上記外囲器（３
）の上記エリア、センサ（４） 、 （５） 、 （６
）の反対側から光を照射するようにしてもかまわない。
また、輝度を検出する検出手段にテレビ、カメラ等を用
いても勿論構わず上述した第１の実施例と同様の効果が
得られる。
いても勿論構わず上述した第１の実施例と同様の効果が
得られる。
本発明により次の効果が得られる。
（ａ）ＬＥＤランプの外観不良の判定規準を目視による
感覚的判定基準から体積差による定量的判定基準とした
ため人為的な誤差が入らず、品質の安定を図ることがで
きる。また、上記ＬＥＤランプの外囲器の欠陥部分の体
積を検出することができるため、２次元的な検査に比し
ても非常に正確に欠陥を検出できる。
感覚的判定基準から体積差による定量的判定基準とした
ため人為的な誤差が入らず、品質の安定を図ることがで
きる。また、上記ＬＥＤランプの外囲器の欠陥部分の体
積を検出することができるため、２次元的な検査に比し
ても非常に正確に欠陥を検出できる。
（ｂ）ＬＥＤランプの外観検査は全数検査しているが、
本発明により検査自動化が可能となり省力化が図れ、Ｌ
ＥＤランプを増産すればするほどその効果は大きい。
本発明により検査自動化が可能となり省力化が図れ、Ｌ
ＥＤランプを増産すればするほどその効果は大きい。
（ｃ） Ｌ Ｅ’ Ｄランプ組立装置とのオンライン
によるシステム化が可能となり一貫生産ができるようＫ
なり、生産効率が向上する。
によるシステム化が可能となり一貫生産ができるようＫ
なり、生産効率が向上する。
第１図は本発明の第１の実施例を示すＬＥＤランプの外
観検査方法の概略図、第２図（ａ）はその輝度検出によ
り３次元的にＬＥＤランプの外囲器の外形を描かした場
合の概略図、同図（′ｂ）は本発明の第２の実施例を示
すＬＥＤランプの外観検査方法の輝度検出により３次元
的にＬＥＤランプの外囲器の外形を描かした場合の概略
図、＠３図（ａ）は、２次元的に外観検査を行なった場
合のＬＥＤランイθＪ」 ブの平面図、 同図（ｂ）はそ半 の側面図、第４図はその輝度分布図、ｆＰＪｓ図伸）乃
至（Ｃ）はその輝度分布くより２次元的に検出した外囲
器の断面図である。 １・・・ＬＥＤランプ、 ２・・・欠陥、３・・・外
囲器、 ４．５．６・・・検出手段、７・・・輝
度記憶処理部、８・・・輝度処理制御部。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 喜久男第 叉 （θ） （ｂン （θ） 第 図 （Ｃ）
観検査方法の概略図、第２図（ａ）はその輝度検出によ
り３次元的にＬＥＤランプの外囲器の外形を描かした場
合の概略図、同図（′ｂ）は本発明の第２の実施例を示
すＬＥＤランプの外観検査方法の輝度検出により３次元
的にＬＥＤランプの外囲器の外形を描かした場合の概略
図、＠３図（ａ）は、２次元的に外観検査を行なった場
合のＬＥＤランイθＪ」 ブの平面図、 同図（ｂ）はそ半 の側面図、第４図はその輝度分布図、ｆＰＪｓ図伸）乃
至（Ｃ）はその輝度分布くより２次元的に検出した外囲
器の断面図である。 １・・・ＬＥＤランプ、 ２・・・欠陥、３・・・外
囲器、 ４．５．６・・・検出手段、７・・・輝
度記憶処理部、８・・・輝度処理制御部。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 喜久男第 叉 （θ） （ｂン （θ） 第 図 （Ｃ）
Claims (1)
- ＬＥＤランプの外囲器に欠陥があるかどうかの検査を行
なうＬＥＤランプの外観検査方法において、上記外囲器
の周囲に上記外囲器の輝度を検出する為の第１及び第２
及び第３の検出手段を上記外囲器に対向するように３次
元的に配置して外観検査を行なうことを特徴とするＬＥ
Ｄランプの外観検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16680388A JPH0217433A (ja) | 1988-07-06 | 1988-07-06 | Ｌｅｄランプの外観検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16680388A JPH0217433A (ja) | 1988-07-06 | 1988-07-06 | Ｌｅｄランプの外観検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0217433A true JPH0217433A (ja) | 1990-01-22 |
Family
ID=15837971
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16680388A Pending JPH0217433A (ja) | 1988-07-06 | 1988-07-06 | Ｌｅｄランプの外観検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0217433A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5957522A (en) * | 1995-09-26 | 1999-09-28 | Mazda Motor Corporation | Cargo blocking device for vehicle |
| US5971467A (en) * | 1995-10-06 | 1999-10-26 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Tilting structure for motor vehicle seat |
| CN102087226A (zh) * | 2009-12-04 | 2011-06-08 | 三星Led株式会社 | Led测试装置及其测试方法 |
| EP2330406A1 (en) * | 2009-12-03 | 2011-06-08 | Samsung LED Co., Ltd. | LED testing apparatus and testing method thereof |
| US8331649B2 (en) | 2008-06-04 | 2012-12-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | LED testing apparatus and testing method thereof |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59142094A (ja) * | 1983-02-02 | 1984-08-15 | 工業技術院長 | 三次元環境呈示装置 |
| JPS60142235A (ja) * | 1983-12-28 | 1985-07-27 | Fujitsu Ltd | 物品検査装置 |
-
1988
- 1988-07-06 JP JP16680388A patent/JPH0217433A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59142094A (ja) * | 1983-02-02 | 1984-08-15 | 工業技術院長 | 三次元環境呈示装置 |
| JPS60142235A (ja) * | 1983-12-28 | 1985-07-27 | Fujitsu Ltd | 物品検査装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5957522A (en) * | 1995-09-26 | 1999-09-28 | Mazda Motor Corporation | Cargo blocking device for vehicle |
| US5971467A (en) * | 1995-10-06 | 1999-10-26 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Tilting structure for motor vehicle seat |
| US8331649B2 (en) | 2008-06-04 | 2012-12-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | LED testing apparatus and testing method thereof |
| EP2330406A1 (en) * | 2009-12-03 | 2011-06-08 | Samsung LED Co., Ltd. | LED testing apparatus and testing method thereof |
| CN102087226A (zh) * | 2009-12-04 | 2011-06-08 | 三星Led株式会社 | Led测试装置及其测试方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5187573A (en) | Inspection method and apparatus | |
| JPH0217433A (ja) | Ｌｅｄランプの外観検査方法 | |
| US4544268A (en) | Method and apparatus for detecting flaw on threads of male screw | |
| KR101299571B1 (ko) | 타이어 검사방법 | |
| WO2000028309A1 (en) | Method for inspecting inferiority in shape | |
| JP3140177B2 (ja) | 検査装置の検査方法 | |
| JPH0821709A (ja) | 表面形状測定装置 | |
| JP4215330B2 (ja) | 環形蛍光ランプの形態検査装置及び形態検査方法 | |
| CN106646939A (zh) | 一种Mura缺陷检出方法 | |
| JPH0431974A (ja) | 矩形部材の不良検査装置 | |
| JPH05203584A (ja) | ワーク表面特徴量検出装置 | |
| JPS59153108A (ja) | 鏡面体の表面欠陥検査方法 | |
| JPH10103938A (ja) | 鋳造品の外観検査方法及び装置 | |
| JPH08201042A (ja) | ボトルキャップ外観検査方法及びその装置 | |
| JPS63196980A (ja) | プリント基板の半田付外観検査装置 | |
| JPH0461144A (ja) | 接合部の検査方法 | |
| JPH05157704A (ja) | 不純物認識装置 | |
| JP5161743B2 (ja) | ガラス封止部の検査装置及び検査方法 | |
| JP2555049B2 (ja) | 蛍光ランプの不良検査方法 | |
| JPH04258736A (ja) | カラー固体撮像素子の検査装置 | |
| JPH10267857A (ja) | スクラッチ傷の連続性判定方法 | |
| JPS63175976A (ja) | 探傷検査装置 | |
| JPH10104166A (ja) | 結晶体の品質評価方法および装置 | |
| JPH01262637A (ja) | 半導体ペレットの外観検査方法 | |
| JPH0282141A (ja) | 印刷回路板の外観検査方法 |