JPH02172122A - 光スイッチ - Google Patents
光スイッチInfo
- Publication number
- JPH02172122A JPH02172122A JP63328175A JP32817588A JPH02172122A JP H02172122 A JPH02172122 A JP H02172122A JP 63328175 A JP63328175 A JP 63328175A JP 32817588 A JP32817588 A JP 32817588A JP H02172122 A JPH02172122 A JP H02172122A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- laser
- splitter
- phase conjugate
- pressure
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 13
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract description 5
- 230000005484 gravity Effects 0.000 abstract description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Switches Operated By Changes In Physical Conditions (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はレーザ光が遮られたことを検知して、制御対象
物を作動させるスイッチに関する。
物を作動させるスイッチに関する。
従来の光圧力スイッチを第2図に示す。
第2図におhて、光源20から出射された光はレンズ1
8により平行光となりスリット19によシ細い光となる
。この光はシリンダ5内の圧力が高りときには遮へい板
4によプさえぎられており、光検出器6には入射光Ir
iなく、出力信号はなり。
8により平行光となりスリット19によシ細い光となる
。この光はシリンダ5内の圧力が高りときには遮へい板
4によプさえぎられており、光検出器6には入射光Ir
iなく、出力信号はなり。
またシリンダ内の圧力が低くなると、遮へい板4は重力
、ばね等によシ下方へ移動し、光は光検出器6に達し、
光検出器から出力信号を発生する。
、ばね等によシ下方へ移動し、光は光検出器6に達し、
光検出器から出力信号を発生する。
このようにして遮へい板4は、圧力変化等によるスイッ
チとして機能し、光検出器は、光が入射すると、これに
対応した信号出力電圧を発生する。
チとして機能し、光検出器は、光が入射すると、これに
対応した信号出力電圧を発生する。
第2図に示すような従来装置には下記の問題がある。
(1)被測定部と検出部の間にガス等が存在すれば、光
線が散乱し、誤作動する。
線が散乱し、誤作動する。
(2) 被測定部に大きな振動があり、被測定部が僅
かに回転しても、光軸の先端でのずれは大きく、光検出
器に光が当たらなくなり、誤作動する。
かに回転しても、光軸の先端でのずれは大きく、光検出
器に光が当たらなくなり、誤作動する。
本発明はこれらの問題を解決する光スィッチを提供する
ことを目的とする。
ことを目的とする。
本発明に係る光スィッチは、被測定物へレーザ光線を発
射するレーザ光源と、前記レーザ光源から照射されたレ
ーザ光を被沖]定物で遮へいしな5時に照射方向に向け
て反射させる位相共役鏡と、前記位相共役鏡と前記レー
ザ光源との間の光路上に配置されたビーム・スプリッタ
と、前記位相共役鏡で反射されかつ前記ビーム・スプリ
ッタで反射された光を受光する光検出器を有することを
特徴とする。
射するレーザ光源と、前記レーザ光源から照射されたレ
ーザ光を被沖]定物で遮へいしな5時に照射方向に向け
て反射させる位相共役鏡と、前記位相共役鏡と前記レー
ザ光源との間の光路上に配置されたビーム・スプリッタ
と、前記位相共役鏡で反射されかつ前記ビーム・スプリ
ッタで反射された光を受光する光検出器を有することを
特徴とする。
レーザ1から出射された光は、位相共役鏡で反射された
場合、入射光の方向へもどる。
場合、入射光の方向へもどる。
そのためレーザ1と位相共役鏡3の間に存在するガス等
の散乱がある場合にも、位相共役鏡3で反射された光は
、レーザ1の出射光と同じ波面をもつ光となり、レーザ
1から出射された光は、必らずレーザlの方向へもどる
。従って、レーザ1と位相共役鏡3の間に、シリンダ圧
力で動く遮へい板4をおくことにより、光の0N−OF
Fから、シリンダ内の圧力を検知することができる。
の散乱がある場合にも、位相共役鏡3で反射された光は
、レーザ1の出射光と同じ波面をもつ光となり、レーザ
1から出射された光は、必らずレーザlの方向へもどる
。従って、レーザ1と位相共役鏡3の間に、シリンダ圧
力で動く遮へい板4をおくことにより、光の0N−OF
Fから、シリンダ内の圧力を検知することができる。
本発明の実施例を第1図に示す。
第1図において、検出部のレーザ1を出射した光はビー
ム・スプリッタ2を通り、被測定部の位相共役鏡3に当
たる、この光路上に、逍へh板4があり、この遮へい板
は、シリンダ5内の圧力が高いときには、光を遮り、圧
力の低−ときには重力、ばね等により下方へ下がり光を
遮らない。
ム・スプリッタ2を通り、被測定部の位相共役鏡3に当
たる、この光路上に、逍へh板4があり、この遮へい板
は、シリンダ5内の圧力が高いときには、光を遮り、圧
力の低−ときには重力、ばね等により下方へ下がり光を
遮らない。
シリンダ5内の圧力が低く遮へい板4が下がっていると
きは、光を遮らないため、レーザ1から出射し、位相共
役鏡3に達した光は、入射してきた光と同じ方向に反射
して、ビーム・スプリッタx VCCu2このビーム・
スプリッタで反射され、光検出器6に達し、出力信号を
発生する。
きは、光を遮らないため、レーザ1から出射し、位相共
役鏡3に達した光は、入射してきた光と同じ方向に反射
して、ビーム・スプリッタx VCCu2このビーム・
スプリッタで反射され、光検出器6に達し、出力信号を
発生する。
他方、シリンダ内の圧力が高く、遮へい板、4が上がっ
ているときには、遮へい板が光をさえぎるため出力信号
はない0次にレーザ1から位相共役鏡3に達した光が入
射してまた光と同じ方向に反射することを説明する0位
相共役鏡3はレーザ7と非線型物質8と、ビーム・スプ
リッタ9とミラー10〜12によ)構成され、縮退4光
波混合というプロセスを利用している。
ているときには、遮へい板が光をさえぎるため出力信号
はない0次にレーザ1から位相共役鏡3に達した光が入
射してまた光と同じ方向に反射することを説明する0位
相共役鏡3はレーザ7と非線型物質8と、ビーム・スプ
リッタ9とミラー10〜12によ)構成され、縮退4光
波混合というプロセスを利用している。
レーザrから出射した光は、ポンプ光としてビーム・ス
ゲリッタ9によプ2つに分離され、ミラー10 、11
及びミラー12〜17VCより反射され、非線型物質8
に方向が全く逆方向となるように入射される。
ゲリッタ9によプ2つに分離され、ミラー10 、11
及びミラー12〜17VCより反射され、非線型物質8
に方向が全く逆方向となるように入射される。
ここで、レーザ7からミラー10.11をへて非線型物
質8に達する光の光路長と、ミラー12〜17をへて非
線型物質8に達する光の光路長は同一にする。またレー
ザ7の波長はレーザ1の波長と全く同一の波長とする。
質8に達する光の光路長と、ミラー12〜17をへて非
線型物質8に達する光の光路長は同一にする。またレー
ザ7の波長はレーザ1の波長と全く同一の波長とする。
これにより非線型物質8はレーザ1から入射した光(プ
ローブ光)の位相共投光を発生させることができる。こ
の位相集約光はIンプ光の強度を強くすればプローブ光
に対して増幅させることができる。
ローブ光)の位相共投光を発生させることができる。こ
の位相集約光はIンプ光の強度を強くすればプローブ光
に対して増幅させることができる。
またプローブ光の入射する方向は、任意の方向にするこ
とができる。
とができる。
そして、位相共投光は、入射光(プローブ光)と同一の
波面をもつ光となり、入射光(プローブ光)の方向へも
どる。
波面をもつ光となり、入射光(プローブ光)の方向へも
どる。
したがってレーザ1と位相共役鏡3の内にガス等による
光の散乱がありても、その影響をうけず、シリンダs内
の圧力が低りときは光検出器6は、出力信号を発生し、
圧力が高論ときは光検出器6は出力信号を発生しない、
非線型物質としては順蒸気等を用りる。
光の散乱がありても、その影響をうけず、シリンダs内
の圧力が低りときは光検出器6は、出力信号を発生し、
圧力が高論ときは光検出器6は出力信号を発生しない、
非線型物質としては順蒸気等を用りる。
なお本発明に係る光スィッチは、温度による圧力の変化
、高度による圧力の変化を利用すれば、温度スイッチ、
高度リミッタ等にも利用できる。
、高度による圧力の変化を利用すれば、温度スイッチ、
高度リミッタ等にも利用できる。
〔発明の効果〕
本発明に係る光スィッチは、前述のように構成されてい
るので、次のような効果を奏する。
るので、次のような効果を奏する。
(1) 非測定部と検出部の間にガス等による光の散
乱があっても、検出部のレーザ1から出射した光は、遮
へh板のないとき(光をとおすとき)には、必らず光検
出器〈戻るため、ガスによる誤動作がなくなる。
乱があっても、検出部のレーザ1から出射した光は、遮
へh板のないとき(光をとおすとき)には、必らず光検
出器〈戻るため、ガスによる誤動作がなくなる。
(2)被測定部が振動して込ても、遮へい板のないとき
は、レーザ1から出射し次光は、必らず光検出器6に戻
る九め、撮動による誤動作がなくなる。
は、レーザ1から出射し次光は、必らず光検出器6に戻
る九め、撮動による誤動作がなくなる。
第1図は本発明の実施例を示す図、
1g2図は従来の装置を示す図である。
1.7・・・レーザ、2.#・・・ビーム・スゲリッタ
、3・・・位相共役鏡、4・・・遮へい板、5・・・シ
リンダ、σ・・・光検出器、8・・・非線型物質、10
〜17・・・ミ9− JJ・・・レンズ、20−・・光
源。
、3・・・位相共役鏡、4・・・遮へい板、5・・・シ
リンダ、σ・・・光検出器、8・・・非線型物質、10
〜17・・・ミ9− JJ・・・レンズ、20−・・光
源。
Claims (1)
- 被測定物へレーザ光線を発射するレーザ光源と、前記
レーザ光源から照射されたレーザ光を被測定物で遮へい
しない時に照射方向に向けて反射させる位相共役鏡と、
前記位相共役鏡と前記レーザ光源との間の光路上に配置
されたビーム・スプリッタと、前記位相共役鏡で反射さ
れかつ前記ビーム・スプリッタで反射された光を受光す
る光検出器を有することを特徴とする光スイッチ
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63328175A JPH02172122A (ja) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | 光スイッチ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63328175A JPH02172122A (ja) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | 光スイッチ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02172122A true JPH02172122A (ja) | 1990-07-03 |
Family
ID=18207318
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63328175A Pending JPH02172122A (ja) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | 光スイッチ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02172122A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2043540A2 (es) * | 1992-04-13 | 1993-12-16 | Espa Ola Del Oxigeno S A Soc | Detector optico de presion. |
WO1994009403A1 (en) * | 1992-10-20 | 1994-04-28 | Fujitsu Limited | Application of optical system to phase conjugate optics |
-
1988
- 1988-12-26 JP JP63328175A patent/JPH02172122A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2043540A2 (es) * | 1992-04-13 | 1993-12-16 | Espa Ola Del Oxigeno S A Soc | Detector optico de presion. |
WO1994009403A1 (en) * | 1992-10-20 | 1994-04-28 | Fujitsu Limited | Application of optical system to phase conjugate optics |
US5596667A (en) * | 1992-10-20 | 1997-01-21 | Fujitsu Limited | Application of phase conjugate optics to optical systems |
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