JPH0216639A - 電子装置診断保守装置 - Google Patents

電子装置診断保守装置

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Publication number
JPH0216639A
JPH0216639A JP63168382A JP16838288A JPH0216639A JP H0216639 A JPH0216639 A JP H0216639A JP 63168382 A JP63168382 A JP 63168382A JP 16838288 A JP16838288 A JP 16838288A JP H0216639 A JPH0216639 A JP H0216639A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
knowledge
storage device
stores
inference
test
Prior art date
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Pending
Application number
JP63168382A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiyuki Koseki
義幸 古関
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63168382A priority Critical patent/JPH0216639A/ja
Publication of JPH0216639A publication Critical patent/JPH0216639A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、蓄積プログラム型時分割電子交換機、電子計
算機などの電子装置の診断保守装置に関するものである
〔従来の技術〕
従来、蓄積プログラム型時分割電子交換機、電子計算機
などの電子装置は、診断保守のための装置として、装置
の状態や障害の発生状況を示したシステム状態メツセー
ジ群を、印字出力するメツセージ出力装置を備えている
。そのため、診断保守対象装置の診断保守は、「日本電
気(株)、トラブルロゲーティングマニュアル NEA
X61E デジタルスイッチングシステム、1986(
Trouble Locating Manual N
EAX61 DigitalSwitching Sy
stem、 NECCorporation ) Jに
示されているような多量なマニュアル類を参照しながら
、保守の専門知識を身に付けた熟練した診断保守の専門
家により、行なわれている。
〔発明が解決しようとする課題〕
電子交換機のように複雑でかつ公共的に使用され、速や
かな障害復帰が必要とされる電子装置の診断保守におい
ては、大変高度な保守の専門知識が要求される。このよ
うな保守の専門知識を身につけるためには、長い教育期
間と経験が必要であり、熟練した保守の専門家を育てる
には膨大な費用を必要とする。
本発明の目的は、熟練度の低い保守者でも、熟練した保
守の専門家と同等の診断保守を行なうことができるよう
に、熟練した保守の専門家の知識を蓄え、対象装置の障
害を解析して速やかに障害部品を発見することができる
電子装置診断保守装置を提供することである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の電子装置診断保守装置は、経験的知識に基づく
推論を行う装置と論理に基づく推論を行う装置の双方か
ら構成され、経験的知識に基づく推論装置は、同対象装
置において起こり得る症状に関する知識を蓄えた症状知
識記憶装置と、同対象装置のテストに関する知識を蓄え
たテスト知識記憶装置と、同対象装置の障害原因につい
ての知識を蓄えた障害原因知識記憶装置と、これらの知
識の間の関連度を蓄えた症状・テスト関連度記憶装置、
症状・障害原因関連度記憶装置および障害原因・テスト
関連度記憶装置と、症例を分析して各関連度を更新する
ことにより症例を記憶する知識更新手段とからなり、論
理に基づく推論装置は、同対象装置の動作のモデルを記
憶した動作モデル記憶装置と、論理的構造を記憶した論
理構造記憶装置と、実装構造を記憶した実装構造記憶装
置と、それらを使って推論を行うから推論手段とから構
成されている。
[作用コ 対象装置内蔵の障害発見機能によって障害が発見された
場合、もしくは外部からの観察により対象装置の動作に
異常が発見された場合に、まず、経験に基づく診断装置
によりその障害に対応する経験的知識があるかどうかを
判断する。経験的知識がある場合には、経験的知識に基
づく推論装置の中の症状知識記憶装置からその障害の症
状に関する知識を取出し、その障害の原因となる可能性
のある部分(以下被疑部分と呼ぶ)をリストアツブする
。次にその被疑部分をより狭めていくためのテストをテ
スト知識記憶装置に蓄えられているテストの中から選び
出す。このテストを実行した結果を利用して被疑部分を
より狭めていく、この繰返しにより被疑部分を狭め、最
後にその被疑部分を修理するための修理方法を選びだし
、その修理を指示する。これを修理方法がなくなるまで
繰り返す、ある修理により故障が完治したならば、その
修理の結果に基づき、その症状についての知識の更新を
行う、知識の更新は、その症状とその症状の原因となっ
た障害原因の関連度と、その症状とその症状の診断に有
効であったテストとの関連度と、その障害原因とその診
断に有効だったテストの関連度を更新することにより行
う。
経験に基づく推論により故障を完治出来なかった場合は
、論理に基づく推論により診断を続ける。論理に基づく
推論装置は動作モデル記憶装置に蓄えられている対象装
置の動作モデルと論理構造記憶装置に蓄えられている論
理構造を利用して論理的に被疑部分を推論する。
〔実施例〕
以下、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す。第1図において、経
験的知識に基づく推論装置1は、入力された障害情報を
もとに、症状知識記憶装置3内に蓄えられた知識を利用
して、その障害の原因となる可能性のある部分(被疑部
分)をリストアツブする0次にその被疑部分をより狭め
ていくためのテストをテスト知識記憶装置4に蓄えられ
ているテストの中から選び出し、そのテストの実行手順
に従って、テストを行う。このテストの実行した結果を
利用して被疑部分をより狭めていく。これを繰返すこと
により、被疑部分が次第に狭まっていく。最後にその被
疑部分を含んでいる部分の修理方法を障害原因記憶装置
5から選びだし、その修理を保守者に指示する。
この経験的知識に基づく推論装置により診断が出来なか
った場合には、論理に基づく推論装置2が診断を行う。
入力された障害情報をもとに、動作モデル記憶装置10
に蓄えられた装置の動作に関する知識と論理構造記憶装
置11に蓄えられた装置の論理的構造の双方を利用して
、その障害の原因となる可能性のある部分(被疑部分)
をリストアツブする0次にその被疑部分をより狭めてい
くためのテストを同様の知識を利用しながら、選び出し
、その実行を行う。このテストを実行した結果を利用し
て被疑部分をより狭めていく、これを繰返すことにより
、被疑部分が次第に狭まっていく、最後にその被疑部分
を含んでいる部分の修理方法を、その修理を保守者に指
示する。
第2図にこのような動作を行なう障害診断手段を実行す
るフローチャートを示す、なお図中のP1〜P14は、
フローチャートの各ステップを示す。
Plにおいて障害情報の入力を行い、P2において経験
知識の存在を判断する。経験知識が存在する場合はP3
において被疑部分の作成を行う。
P4においてこの被疑部分を狭めるために有効なテスト
を求め一つを選択し、P5において実行し、その結果に
より被疑部分を狭める。P6において被疑部分を含む部
品の修理方法を求め、それを指示する。その結果、障害
が完治したかどうかをPlにおいて判断し、完治してい
ない場合はP2にもどる。完治した場合はP8において
知識ベースを更新したのち、動作を終了する。知識ベー
スの更新の計算には例えば、r D、E、ルーメルハー
ト等著、パラレル・デイストリビューテッド・プロセッ
シング、8章ラーニング・インターナル・リプレゼンテ
ーションズ・パイ・エラー・プロパゲーション、(D、
 E、 Rumelhart et at、。
Parallel  Distributed  Pr
ocessing、Chapter  8Learni
ng  Internal  Representat
ions  by  errorPropagatio
n、 The MIT Press 1986 ) J
に示されているデルタルール式等を用いることが出来る
経験的知識による診断が失敗した場合、あるいはその障
害に関する経験的知識がなかった場合にはP9において
論理的に被疑部分の作成を行う。
PLOにおいてこの被疑部分を狭めるために有効なテス
トを求め一つを選択し、pHにおいて実行し、その結果
により被疑部分を狭める。Pl2において被疑部分を含
む部品の修理方法を求め、それを指示する。その結果、
障害が完治したかどうかをPl3において判断し、完治
していない場合はP9にもどる。完治した場合はPl4
において経験的知識を更新したのち、動作を終了する。
〔発明の効果〕
以上に説明したとおり、本発明によれば、対象装置の障
害に対して、その原因となっている障害部品の決定を熟
練した保守の専門家と同様に速やかに行うことが出来る
ので、熟練度の低い保守者でも、熟練した保守の専門家
と同等の診断保守を行なうことが可能になる。また、経
験的知識と論理的知識の双方を持つので、経験のある障
害はより早く診断できる上に、経験のない障害に対して
も正しい診断が出来る。
また、診断結果の分析により知識の更新を行う学習機能
を持?ために、使用回数を重1ねるにしたがって、より
正確な診断を早く行うことが出来るようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
本実施例における判断手段の処理内容を示すフローチャ
ートである。 1・・・経験的知識に基づく推論装置、2・・・論理に
基づく推論装置、3・・・症状知識記憶装置、4・・・
テスト知識記憶装置、5・・・障害原因知識記憶装置、
6・・・症状・テスト関連度記憶装装置、7・・・症状
・障害原因関連度記憶装置、8・・・障害原因・テスト
関連度記憶装置、9・・・知識更新手段、10・・・動
作モデル記憶装置、 1・・・論理構造記憶装置、 2・・・ 実装構造記憶装置、 3・・・推論手段。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  診断保守対象装置より出力される障害情報を受け取り
    、蓄えられた知識を利用して保守者の取るべき操作を決
    定する障害診断手段として、経験的知識に基づく推論を
    行う装置と論理に基づく推論を行う装置の双方を持ち、
    経験的知識に基づく推論装置は、同対象装置ににおいて
    起こり得る症状に関する知識を蓄えた症状知識記憶装置
    と、同対象装置のテストに関する知識を蓄えたテスト知
    識記憶装置と、同対象装置の障害原因についての知識を
    蓄えた障害原因知識記憶装置と、これらの知識の間の関
    連度を蓄えた症状・テスト関連度記憶装置、症状・障害
    原因関連度記憶装置および障害原因・テスト関連度記憶
    装置と、症例を分析して各関連度を更新することにより
    症例を記憶する知識更新手段とからなり、論理に基づく
    推論装置は、同対象装置の動作のモデルを記憶した動作
    モデル記憶装置と、論理的構造を記憶した論理構造記憶
    装置と、実装構造を記憶した実装構造記憶装置と、それ
    らを使って推論を行うから推論手段からなることを特徴
    とする電子装置診断保守装置。
JP63168382A 1988-07-05 1988-07-05 電子装置診断保守装置 Pending JPH0216639A (ja)

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JP63168382A JPH0216639A (ja) 1988-07-05 1988-07-05 電子装置診断保守装置

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JPH0216639A true JPH0216639A (ja) 1990-01-19

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JP63168382A Pending JPH0216639A (ja) 1988-07-05 1988-07-05 電子装置診断保守装置

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JP (1) JPH0216639A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0476681A2 (en) * 1990-09-21 1992-03-25 Mita Industrial Co. Ltd. Self-diagnosis and repair system for image forming apparatus
EP0476680A2 (en) * 1990-09-21 1992-03-25 Mita Industrial Co. Ltd. Self-diagnosis and self-repair system for image forming apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5239547A (en) * 1990-09-21 1993-08-24 Mita Industrial Co., Ltd. Self-diagnosis and self-repair system for image forming apparatus

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