JPH021582A - 電子スピン共鳴型分光計 - Google Patents
電子スピン共鳴型分光計Info
- Publication number
- JPH021582A JPH021582A JP63195950A JP19595088A JPH021582A JP H021582 A JPH021582 A JP H021582A JP 63195950 A JP63195950 A JP 63195950A JP 19595088 A JP19595088 A JP 19595088A JP H021582 A JPH021582 A JP H021582A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- microwave
- pulse shaping
- channel
- resonator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims abstract description 44
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 19
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000004435 EPR spectroscopy Methods 0.000 description 12
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 10
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 5
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 3
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 3
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 238000000804 electron spin resonance spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000009532 heart rate measurement Methods 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/60—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using electron paramagnetic resonance
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、測定試料を含む共振器が定強度、高均一性の
磁場内に配設してあり、該共振器にマイクロ波ブリッジ
によりマイクロ波エネルギーを脈動信号として供給可能
であり、共振器より放出した測定信号が検波器と信号評
価装置とに供給、し、更にマイクロ波源とマイクロ波ブ
リッジとの間に配設した線路が並列パルス整形チャネル
に分割してあり、1つのチャネルに位相及び振幅を調整
する手段、そして複数のチャネルにパルス整形チャネル
を通過する信号を切り替える手段が配設してある電子ス
ピン共鳴型分光計に関する。
磁場内に配設してあり、該共振器にマイクロ波ブリッジ
によりマイクロ波エネルギーを脈動信号として供給可能
であり、共振器より放出した測定信号が検波器と信号評
価装置とに供給、し、更にマイクロ波源とマイクロ波ブ
リッジとの間に配設した線路が並列パルス整形チャネル
に分割してあり、1つのチャネルに位相及び振幅を調整
する手段、そして複数のチャネルにパルス整形チャネル
を通過する信号を切り替える手段が配設してある電子ス
ピン共鳴型分光計に関する。
(従来の技術)
かかる分光計は、米国テキサス州ヒユーストン大学化学
部よfi1982年に刊行されたナガヤナの論文「電子
スピンエコー分光計において遅れを低減するための能動
マイクロ波遅延線」に記載されている。
部よfi1982年に刊行されたナガヤナの論文「電子
スピンエコー分光計において遅れを低減するための能動
マイクロ波遅延線」に記載されている。
周知の分光計で中心となっている課題は、いわゆる「空
洞リンギング」により発生する遅れを減らすことである
。電子スピン共鳴(ES It、)型分光計に普通、高
品質又は小帯域幅のマイクロ波空洞共振器を使用するこ
とは知られている。
洞リンギング」により発生する遅れを減らすことである
。電子スピン共鳴(ES It、)型分光計に普通、高
品質又は小帯域幅のマイクロ波空洞共振器を使用するこ
とは知られている。
この共振器に、専門用語でマイクロ波バーストと理解さ
れるマイクロ波「パルス」を印加すると、共振器は品質
が高いためパルス遮断後、比較的長時間にわたって再び
励起する。この励起は共振器の品質が高いほど大きくな
る。
れるマイクロ波「パルス」を印加すると、共振器は品質
が高いためパルス遮断後、比較的長時間にわたって再び
励起する。この励起は共振器の品質が高いほど大きくな
る。
しかし、この励起時間EAR内でのスピンエコー信号の
測定を妨げる。というのも、励起パルスに対するスピン
系の応答をできるだけパルス消滅直後に測定することに
関心があるからである。
測定を妨げる。というのも、励起パルスに対するスピン
系の応答をできるだけパルス消滅直後に測定することに
関心があるからである。
このことを背景に、前掲論文には、マイクロ波源からマ
イクロ波ブリッジに至るマイクロ波線に分路を設けた配
置が記載されている。マイクロ波線の主分路にはダイオ
ードスイッチと進行波パワー増幅器と可変減衰器が順次
直列に配設してある。ダイオードスイッチより前でマイ
クロ波線に10dBカプラが設けてあり、ここから分岐
線が可変減衰器の背後まで導いてあり、その箇所で分岐
線は逆向きの1odBカプラを介し再び主線に結合され
る。分岐線にはダイオードスイッチ、マイクロ波増幅器
、別のダイオードスイッチ、可変減衰器、そして0°か
ら1800まで調整可能な移相器が相前後して設けてち
る。
イクロ波ブリッジに至るマイクロ波線に分路を設けた配
置が記載されている。マイクロ波線の主分路にはダイオ
ードスイッチと進行波パワー増幅器と可変減衰器が順次
直列に配設してある。ダイオードスイッチより前でマイ
クロ波線に10dBカプラが設けてあり、ここから分岐
線が可変減衰器の背後まで導いてあり、その箇所で分岐
線は逆向きの1odBカプラを介し再び主線に結合され
る。分岐線にはダイオードスイッチ、マイクロ波増幅器
、別のダイオードスイッチ、可変減衰器、そして0°か
ら1800まで調整可能な移相器が相前後して設けてち
る。
この配置は、主分路のダイオードスイッチを作動させて
主分路でまず単数又は複数の測定パルスを接続できるよ
うにする一方、分岐線のダイオードスイッチを適宜に作
動させて極性の異なる別のマイクロ波パルスを共振器に
供給できるようにするためのものであり、前記マイクロ
波パルスは特定の遅れを有して主線のマイクロ波パルス
に続いている。
主分路でまず単数又は複数の測定パルスを接続できるよ
うにする一方、分岐線のダイオードスイッチを適宜に作
動させて極性の異なる別のマイクロ波パルスを共振器に
供給できるようにするためのものであり、前記マイクロ
波パルスは特定の遅れを有して主線のマイクロ波パルス
に続いている。
(発明が解決しようとする課題)
しかし、この周知配置は、欠点として、ごく単純なパル
ス列を発生できるにすぎず、又装置にかなシの費用がか
かシ、この費用は2つの完全なマイクロ波高パワー回路
の費用に事実上等しい、そのため周知配置は用途の広さ
の点でも費用の点でもその使用が限られている。
ス列を発生できるにすぎず、又装置にかなシの費用がか
かシ、この費用は2つの完全なマイクロ波高パワー回路
の費用に事実上等しい、そのため周知配置は用途の広さ
の点でも費用の点でもその使用が限られている。
そこで本発明は、冒頭述べた形式の分光計を改良し、最
小の構造支出でほぼ無限数のパルス列を、任意に設定可
能な時間間隔、振幅及び位相において試料に照射できる
ようにすることを目的とする。
小の構造支出でほぼ無限数のパルス列を、任意に設定可
能な時間間隔、振幅及び位相において試料に照射できる
ようにすることを目的とする。
(課題を解決する丸めの手段、作用)
上記目的を達成するため、本発明は電子スピン共鳴型分
光計において、パルス整形チャネルが分割器により同じ
部分に線路から供給を受け、どのパルス整形チャネルも
位相及び振幅を調整する手段を備え、パルス整形チャネ
ルが、共通のマイクロ波パワー増幅器の入力端子の前に
配設した結合器により再び一つにまとめられるように構
成されている。
光計において、パルス整形チャネルが分割器により同じ
部分に線路から供給を受け、どのパルス整形チャネルも
位相及び振幅を調整する手段を備え、パルス整形チャネ
ルが、共通のマイクロ波パワー増幅器の入力端子の前に
配設した結合器により再び一つにまとめられるように構
成されている。
こうして、分割器を使用することによりまず少なくとも
類似した、好ましくは同一でさえあるチャネルが得られ
、これらのチャネルにはパワーを増幅する能動素子がな
く、せいぜいダイオードスイッチ、減衰器及び移相器を
設けることに限定できるので、本発明の目的が完全に達
成される。どのチャネルでも振幅及び位相を調整できる
ので、パルスプログラムを作成するにあたって事実上無
限の柔軟性が保証され、又特に核磁気共鳴(NMR)
技術の方から知られている種類のパルス列、例えばC
arr−Purce 11パルス列又はCarr−Pu
rcell −Meiboom−Gi 11パルス列又
はその他の、相連続したパルスの位相がいわゆるX、−
X、Y又は−YパルスとしてDo、90°、180°。
類似した、好ましくは同一でさえあるチャネルが得られ
、これらのチャネルにはパワーを増幅する能動素子がな
く、せいぜいダイオードスイッチ、減衰器及び移相器を
設けることに限定できるので、本発明の目的が完全に達
成される。どのチャネルでも振幅及び位相を調整できる
ので、パルスプログラムを作成するにあたって事実上無
限の柔軟性が保証され、又特に核磁気共鳴(NMR)
技術の方から知られている種類のパルス列、例えばC
arr−Purce 11パルス列又はCarr−Pu
rcell −Meiboom−Gi 11パルス列又
はその他の、相連続したパルスの位相がいわゆるX、−
X、Y又は−YパルスとしてDo、90°、180°。
270°で現れるパルス列を調整することができる。
この場合チャネル内に好ましくは能動素子のみ使用する
と、増幅器での過渡現象及び減衰現象を考慮しなくても
よいという利点が得られる。
と、増幅器での過渡現象及び減衰現象を考慮しなくても
よいという利点が得られる。
むしろ全マイクロ波信号は低レベル領域でパルス連鎖へ
と成形され、これが次に共通のマイクロ波パワー増幅器
、例えば進行波増幅器に達する。
と成形され、これが次に共通のマイクロ波パワー増幅器
、例えば進行波増幅器に達する。
パルス整形チャネルは好ましくは同一に構成してあり、
そして前述の4つのX、−X、Y及び−Yパルスを別々
に調整できるよう4つのかかるパルス整形チャネルが使
用される。これに加え更に、移相器の調整範囲が0〜3
60°であるのが望ましい。
そして前述の4つのX、−X、Y及び−Yパルスを別々
に調整できるよう4つのかかるパルス整形チャネルが使
用される。これに加え更に、移相器の調整範囲が0〜3
60°であるのが望ましい。
つまシこうして全体として任意のパルス列を構成するこ
とができる。これが周知装置では不可能であるが、それ
はそこでは空洞共振器の減衰現象を補償するため単一の
抑圧パルスを生成することのみ頭にあったからである。
とができる。これが周知装置では不可能であるが、それ
はそこでは空洞共振器の減衰現象を補償するため単一の
抑圧パルスを生成することのみ頭にあったからである。
本発明の好ましい1展開では、各パルス整形チャネルが
2つの並列分路を有し、各分路が位相及び振幅を調整す
る手段と切替手段とを備えている。
2つの並列分路を有し、各分路が位相及び振幅を調整す
る手段と切替手段とを備えている。
この処置の利点として、パルス整形チャネルはそれぞれ
特定の測定パルス、いわゆる「物理的パルス」を調整す
るのに使用することができ、各パルス整形チャネルの内
部には「技術的パルス」により空洞共振器の減衰現象を
補償する別の分路が設けてアリ、各パルス整形チャネル
ごとにこの補償を行うことができる。
特定の測定パルス、いわゆる「物理的パルス」を調整す
るのに使用することができ、各パルス整形チャネルの内
部には「技術的パルス」により空洞共振器の減衰現象を
補償する別の分路が設けてアリ、各パルス整形チャネル
ごとにこの補償を行うことができる。
相互に同一のパルス整形チャネル又は分路を4つ又は8
つに配置すると、別の利点として、こうして時間的に直
接連続した振幅の異なるパルスを多数発生することがで
き、任意の種類のパルス波形を得ることができる。こう
して有利なことに、相連続したごく狭いパルスが適宜に
増加又は減少する振幅を有することにより、ガウス充填
面銀を生成することができる。例えば8つの並列チャネ
ルの場合振幅の分解能は28、すなわち1 : 256
であり、ごく微細な輪郭線のパルス充填曲線を生じる。
つに配置すると、別の利点として、こうして時間的に直
接連続した振幅の異なるパルスを多数発生することがで
き、任意の種類のパルス波形を得ることができる。こう
して有利なことに、相連続したごく狭いパルスが適宜に
増加又は減少する振幅を有することにより、ガウス充填
面銀を生成することができる。例えば8つの並列チャネ
ルの場合振幅の分解能は28、すなわち1 : 256
であり、ごく微細な輪郭線のパルス充填曲線を生じる。
更に、位相及び振幅を調整する手段と切替手段とをサー
キュレータにより1方向で互いに減結合することにより
、良好な作用が達成される。
キュレータにより1方向で互いに減結合することにより
、良好な作用が達成される。
この処置の利点として混合の分路又はチャネルを互いに
最適に減結合することができ、交互作用の現、れること
がない。
最適に減結合することができ、交互作用の現、れること
がない。
本発明の更に別の1構成では、パルス整形チャネルとパ
ワー増幅器との間に電子調整可能な減衰器、好ましくは
ダイオードスイッチが設けである。
ワー増幅器との間に電子調整可能な減衰器、好ましくは
ダイオードスイッチが設けである。
この処置の利点として、チャネル又は分路にスイッチン
グ手段として普通、代表的には25dBの切替損失を有
するマイクロ波ダイオードが使用されるにも拘らず、例
えば53 dBというパワー増幅器の入力レベルを全範
囲において利用することができる。後置された共通の電
子調整可能な減衰器、好ましくはやはりスイッチングダ
イオードが、同じ<25dBの損失でターンオン可能で
あり、こうして通常のパワー増幅器の全ダイナミックレ
ンジを接続することができる。
グ手段として普通、代表的には25dBの切替損失を有
するマイクロ波ダイオードが使用されるにも拘らず、例
えば53 dBというパワー増幅器の入力レベルを全範
囲において利用することができる。後置された共通の電
子調整可能な減衰器、好ましくはやはりスイッチングダ
イオードが、同じ<25dBの損失でターンオン可能で
あり、こうして通常のパワー増幅器の全ダイナミックレ
ンジを接続することができる。
(実 施 例)
本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図において10はその基本構成が本来知られている
ような電子スピン共鳴型パルス分光計の全体である。均
一性の高い電磁石11の磁極間にマイクロ波共振器12
があり、そのなかで被検試料13がマイクロ波磁場の磁
場成分に曝されると同時に電磁石11の定磁場にも曝さ
れている。励起マイクロ波エネルギーを共振器12に転
送する一方、共振器12により反射した測定信号を受信
して継続処理するため、マイクロ波ブリッジ14がマイ
クロ波線15を介し共振器12と結ばれている。或は、
信号増幅器17に接続した通常構造の検波器16におい
て前記継続処理を行うこともできる。分光計10の信号
増幅器17及びその他数多くの構成要素tdテータパス
を介しコンビエータ中央制御装置18と結んである。他
方、サンプルホールド段を有するAD変換器に接続した
直角変調用検波器19を介して前記信号評価を行うこと
もでき、このユニットはやはりデータバスでコンピュー
タ制御装置18に接続してある。
ような電子スピン共鳴型パルス分光計の全体である。均
一性の高い電磁石11の磁極間にマイクロ波共振器12
があり、そのなかで被検試料13がマイクロ波磁場の磁
場成分に曝されると同時に電磁石11の定磁場にも曝さ
れている。励起マイクロ波エネルギーを共振器12に転
送する一方、共振器12により反射した測定信号を受信
して継続処理するため、マイクロ波ブリッジ14がマイ
クロ波線15を介し共振器12と結ばれている。或は、
信号増幅器17に接続した通常構造の検波器16におい
て前記継続処理を行うこともできる。分光計10の信号
増幅器17及びその他数多くの構成要素tdテータパス
を介しコンビエータ中央制御装置18と結んである。他
方、サンプルホールド段を有するAD変換器に接続した
直角変調用検波器19を介して前記信号評価を行うこと
もでき、このユニットはやはりデータバスでコンピュー
タ制御装置18に接続してある。
分光計10をマイクロ波パルス動作で運転できるようパ
ルスプログラム制御装f25が設けてあり、これはデー
タバスを介しコンビエータ制御装置18と結ばれ、マイ
クロ波ブリッジ14、AD変換器20、及びマイクロ波
ブリッジ14と進行波増幅器27との間に配設したパル
ス整形段26を駆動する。進行波増幅器27もパルスプ
ログラム制御装置25から制御信号を受信する。進行波
増幅器27の出力端子が再びマイクロ波ブリッジ14に
働きかけてマイクロ波高パワーエネルギーを共振器12
に転送させる。
ルスプログラム制御装f25が設けてあり、これはデー
タバスを介しコンビエータ制御装置18と結ばれ、マイ
クロ波ブリッジ14、AD変換器20、及びマイクロ波
ブリッジ14と進行波増幅器27との間に配設したパル
ス整形段26を駆動する。進行波増幅器27もパルスプ
ログラム制御装置25から制御信号を受信する。進行波
増幅器27の出力端子が再びマイクロ波ブリッジ14に
働きかけてマイクロ波高パワーエネルギーを共振器12
に転送させる。
更に分光計10が通常の如く界磁調整器30を有し、こ
れが電磁石11のマグネット電源装置31を制御する。
れが電磁石11のマグネット電源装置31を制御する。
磁場・周波数ロック32が磁場に依存した信号とマイク
ロ波の周波数に依存した信号とを受信し、それと同時に
界磁調整器30を制御するが、このこと自体はやはり周
知のことである。
ロ波の周波数に依存した信号とを受信し、それと同時に
界磁調整器30を制御するが、このこと自体はやはり周
知のことである。
それゆえ、全体として、パルスプログラム制御装置25
を適宜に調整することにより共振器12又はそのなかに
配置した試料13にマイクロ波パルスを印加することが
できる。この場合「パルス」とは、時間的に制限された
波動列、すなわち投入時点、位相及び振幅を調整するこ
とのできるバーストのことである。受信した信号を検波
するためパルスプログラム制御装置25は適宜な仕方で
、高パワーマイクロ波パルスと同期で受信信号を検波し
評価できるよう副信号を必要とする。
を適宜に調整することにより共振器12又はそのなかに
配置した試料13にマイクロ波パルスを印加することが
できる。この場合「パルス」とは、時間的に制限された
波動列、すなわち投入時点、位相及び振幅を調整するこ
とのできるバーストのことである。受信した信号を検波
するためパルスプログラム制御装置25は適宜な仕方で
、高パワーマイクロ波パルスと同期で受信信号を検波し
評価できるよう副信号を必要とする。
第2図が分光計10の主要なマイクロ波部品を示す。
クライストロン40又はその他適当なマイクロ波源が、
電子調整可能な減衰器41を介し、マイクロ波エネルギ
ーを2チヤネルに分割する第一の分割器42と結んであ
る。第一分割器42の出力端子に第一〇カブラ43が接
続してあり、その結合出力端子はやはり減衰器41を制
御するレベル調整器44に接続してある。連続波動作(
CW)用とパルス動作(P)用の2つの入力信号により
減衰器41の2の段を調整することができる。図示した
配置では、クライストロン40のレベル制御が可能であ
り、代表的適用事例ではX帯域における最高出力パワー
1.2Wのクライストロンが使用され、その出力パワー
は連続波動作(CW)のとき200nf、そしてパルス
動作(P)のとき800 mWに調整される。
電子調整可能な減衰器41を介し、マイクロ波エネルギ
ーを2チヤネルに分割する第一の分割器42と結んであ
る。第一分割器42の出力端子に第一〇カブラ43が接
続してあり、その結合出力端子はやはり減衰器41を制
御するレベル調整器44に接続してある。連続波動作(
CW)用とパルス動作(P)用の2つの入力信号により
減衰器41の2の段を調整することができる。図示した
配置では、クライストロン40のレベル制御が可能であ
り、代表的適用事例ではX帯域における最高出力パワー
1.2Wのクライストロンが使用され、その出力パワー
は連続波動作(CW)のとき200nf、そしてパルス
動作(P)のとき800 mWに調整される。
第一分割器42の別の出力端子が第二のカブラ45に、
そしてその結合出力端子が周波数調整器a b (AF
C)に接続してある。周波数調整器46は高品質の外部
共振器47と協働し、出力側はクライストロン40の電
源装置48に働きかける。
そしてその結合出力端子が周波数調整器a b (AF
C)に接続してある。周波数調整器46は高品質の外部
共振器47と協働し、出力側はクライストロン40の電
源装置48に働きかける。
電子スピン共鳴パルス実験に必要な共振器12は、パル
ス動作が広帯域幅の共振器12を必要とすることから、
低品質のもの、例えば誘導共振器であるので、高品質の
外部共振器47にクライストロン40の周波数を調整す
るのが望ましい。測定共振器120品質がごく低いこと
から、例えば温度ドリフト現象を補償するため測定共振
器12で周波数を調整する仁とはできない。この理由か
らQが数千以上の外部共振器47が使用される。
ス動作が広帯域幅の共振器12を必要とすることから、
低品質のもの、例えば誘導共振器であるので、高品質の
外部共振器47にクライストロン40の周波数を調整す
るのが望ましい。測定共振器120品質がごく低いこと
から、例えば温度ドリフト現象を補償するため測定共振
器12で周波数を調整する仁とはできない。この理由か
らQが数千以上の外部共振器47が使用される。
第二カプラ45の出力端子が第三のカプラ49に、そし
てその結合出力端子が基準分路50に接続してある。該
分路の詳細につめては後に第11図に関連してなお詳し
く説明する。
てその結合出力端子が基準分路50に接続してある。該
分路の詳細につめては後に第11図に関連してなお詳し
く説明する。
第三カプラ49′の出力端子が第四のカプラ51゛に、
そしてその結合出力端子が磁場・周波数ロック32に接
続してある。
そしてその結合出力端子が磁場・周波数ロック32に接
続してある。
マイクロ波回路の反対側で第一カプラ43の出力端子に
第五のカプラ52が接続してあり、その結合出力端子は
第二分割器53に接続してある。第二分割器53は連続
波動作(CW)用尺ヒパルス動作CP)用の2台のモニ
タ54,551c働きかけ、モニタ54.55が第二人
力端子で受けるマイクロ波信号は信号分路又はマイクロ
波高パワー分路からくる。モニタ54.55はマイクロ
波成分、特にマイクロ波パルスの調整が正しいかどうか
を点検するのに役立つ。
第五のカプラ52が接続してあり、その結合出力端子は
第二分割器53に接続してある。第二分割器53は連続
波動作(CW)用尺ヒパルス動作CP)用の2台のモニ
タ54,551c働きかけ、モニタ54.55が第二人
力端子で受けるマイクロ波信号は信号分路又はマイクロ
波高パワー分路からくる。モニタ54.55はマイクロ
波成分、特にマイクロ波パルスの調整が正しいかどうか
を点検するのに役立つ。
第五カプラ52の出力端子に第六のカプラ56が、そし
てその結合出力端子はマイクロ波カウンタ57に接続し
てある。こうして、その都度調整したマイクロ波周波数
を連続的に表示することができる。
てその結合出力端子はマイクロ波カウンタ57に接続し
てある。こうして、その都度調整したマイクロ波周波数
を連続的に表示することができる。
第一分割器42により限定された2つのマイクロ波チャ
ネルは、すぐ上で述べたように4111定及び制御を目
的とした各種信号からカプラ45゜45.49,51,
52.56を介し減結合された後、第2図の上半分で連
続波チャネル60に、そして第2図の下半分でパルスチ
ャネル61に接続してある。これらのチャネル60.6
1は出力端子が第一の結合器62において再び一つにさ
れ、マイクロ波ブリッジ14の第一のサーキュレータ6
3に達している。サーキュレータは第一のシーケンス出
力端子が共振器12に、そして第二のシーケンス出力端
子は第2図に符号64とした信号処理装置に接続してあ
る。信号処理装置の詳細については後に第11図に関連
して説明する。
ネルは、すぐ上で述べたように4111定及び制御を目
的とした各種信号からカプラ45゜45.49,51,
52.56を介し減結合された後、第2図の上半分で連
続波チャネル60に、そして第2図の下半分でパルスチ
ャネル61に接続してある。これらのチャネル60.6
1は出力端子が第一の結合器62において再び一つにさ
れ、マイクロ波ブリッジ14の第一のサーキュレータ6
3に達している。サーキュレータは第一のシーケンス出
力端子が共振器12に、そして第二のシーケンス出力端
子は第2図に符号64とした信号処理装置に接続してあ
る。信号処理装置の詳細については後に第11図に関連
して説明する。
連続波チャネル61;j実質的に第一の減衰器70と第
一の移相器71と制御入力端子73を介し切替可能な第
一のスイッチングダイオードCPINダイオード)72
との直列回路からなる。
一の移相器71と制御入力端子73を介し切替可能な第
一のスイッチングダイオードCPINダイオード)72
との直列回路からなる。
それに対し、後に第5図に関連して詳細を説明するパル
スチャネル61は実質的に制御入力端子75.76を備
えたパルス整形段74と第二の移相器74と進行波増幅
器27とからなる直列回路を有する。
スチャネル61は実質的に制御入力端子75.76を備
えたパルス整形段74と第二の移相器74と進行波増幅
器27とからなる直列回路を有する。
連続波ナヤネル60とパルスチャネル61が並列に配置
され、そしてそれらが第一結合器62で一つにしてある
ことにより、いまや、連続波動作又はパルス動作を選択
して処理するか或は特定の実験を行うため両方の動作モ
ードを同時に調整することもできる。
され、そしてそれらが第一結合器62で一つにしてある
ことにより、いまや、連続波動作又はパルス動作を選択
して処理するか或は特定の実験を行うため両方の動作モ
ードを同時に調整することもできる。
代表的な適用事例では、連続波チャネル60は約50m
Wの出力パワーを共振器12に放出できるよう寸法設計
してある。代表的には立上がシ時間In、の第一スイッ
チングダイオード72により、(第一スイッチングダイ
オード72を開いて)連続波動作で処理するか、又は第
一スイッチングダイオード72の作動により共振器12
に低出力パワーのマイクロ波パルスヲ供給することがで
きる。
Wの出力パワーを共振器12に放出できるよう寸法設計
してある。代表的には立上がシ時間In、の第一スイッ
チングダイオード72により、(第一スイッチングダイ
オード72を開いて)連続波動作で処理するか、又は第
一スイッチングダイオード72の作動により共振器12
に低出力パワーのマイクロ波パルスヲ供給することがで
きる。
このいわゆる「軟パルス」はパルスチャネル61からく
る高パワーパルスよりもパルス幅を本質的に長くするこ
とができる。つまりその持続時間は進行波増幅器27の
許容最大占有率によって決まり、この種の通常の増幅器
の場合、許容最大占有率は1%程度である。連続波チャ
ネル60内で第一移相器71を適当に調整することによ
り軟パルスは0〜360°間の任意の位相位置において
パルスチャネル61の高パワーパルスにセットすること
ができる。
る高パワーパルスよりもパルス幅を本質的に長くするこ
とができる。つまりその持続時間は進行波増幅器27の
許容最大占有率によって決まり、この種の通常の増幅器
の場合、許容最大占有率は1%程度である。連続波チャ
ネル60内で第一移相器71を適当に調整することによ
り軟パルスは0〜360°間の任意の位相位置において
パルスチャネル61の高パワーパルスにセットすること
ができる。
上述の配置により、一方でパルスチャネル61を遮断し
、第一スイッチングダイオード72を持続的に開とする
ことにより、通常の低パワー連続波動作で処理すること
ができる。
、第一スイッチングダイオード72を持続的に開とする
ことにより、通常の低パワー連続波動作で処理すること
ができる。
第二の動作モードではパルスチャネル61を遮断し第一
スイッチングダイオード72を作動させることにより低
パワーマイクロ波パルスでのみ処理することができる。
スイッチングダイオード72を作動させることにより低
パワーマイクロ波パルスでのみ処理することができる。
第三の動作モードでは逆に連続波チャネル60ta断し
パルス整形段741&:作動させることにより高パワー
パルス動作で処理することができる。
パルス整形段741&:作動させることにより高パワー
パルス動作で処理することができる。
次に、第四の動作モードでは両方のチャネル60.61
を並列に投入することができ、この場合連続波チャネル
60が低パワーパルス、そしてパルスチャネル61が高
パワーパルスを供給する。
を並列に投入することができ、この場合連続波チャネル
60が低パワーパルス、そしてパルスチャネル61が高
パワーパルスを供給する。
その−例が第3図に示してあり、そこには時間に依存し
てまず低パワーの、但し持続時間の長い第一のパルス8
0、そして次に高パワーの、但し持続時間の短い第二の
パルス81e D メルことができる。
てまず低パワーの、但し持続時間の長い第一のパルス8
0、そして次に高パワーの、但し持続時間の短い第二の
パルス81e D メルことができる。
知られているように、フーリエ変換を介し時間領域が周
波数領域に依存しているためパルス幅は周波数領域内の
周波数分布のスペクトル幅に反比例する。つまり時間領
域内の短いパルスはごく幅の広い周波数分布に至るのに
対し、長いパルスはごく幅の狭い周波数分布に至る。こ
のことを第3図の実験で利用することができ、第二パル
ス81に起因した比較的広い周波数分布82が第一パル
ス80の惹き起こすごく狭い切込み部83を備えている
@4図の周波数分布が得られる。従って軟パルス80に
より、本来幅の広いスピン東(周波数分布82)内で選
択飽和(切込み部83)を達成することができる。
波数領域に依存しているためパルス幅は周波数領域内の
周波数分布のスペクトル幅に反比例する。つまり時間領
域内の短いパルスはごく幅の広い周波数分布に至るのに
対し、長いパルスはごく幅の狭い周波数分布に至る。こ
のことを第3図の実験で利用することができ、第二パル
ス81に起因した比較的広い周波数分布82が第一パル
ス80の惹き起こすごく狭い切込み部83を備えている
@4図の周波数分布が得られる。従って軟パルス80に
より、本来幅の広いスピン東(周波数分布82)内で選
択飽和(切込み部83)を達成することができる。
パルス80.81を使った第3図の図示が単なる1例と
理解すべきであることは自明であり、パルスは勿論任意
の時間関係、位相位置又は振幅比とすることができ、例
えば時間的に一致させることもできる。最後に、前述の
高パワーパルスをパルスチャネル61がら放出し、第一
スイッチングダイオード72を連続的に開いて連続波チ
ャネル60を連続波動作で作動させる第五の動作モード
も可能である。高パワーパルスの連続波レベルの混合は
、スピン系を飽和し、そして次に連続波レベルにより飽
和状態からのスピン系の回復を検出するいわゆる「飽和
回復」を生成するのに使用することができる。この場合
、低パワーの分離した連続波チャネル60全並行して使
用することの利点としてきわめて低い連続波レベルで処
理することができ、単一の高パワーチャネルを使って処
理し、そして高パワーパルスの照射後に低レベルの連続
波動作に切り替える場合のように進行波増幅器の雑音で
邪魔されることもない。
理解すべきであることは自明であり、パルスは勿論任意
の時間関係、位相位置又は振幅比とすることができ、例
えば時間的に一致させることもできる。最後に、前述の
高パワーパルスをパルスチャネル61がら放出し、第一
スイッチングダイオード72を連続的に開いて連続波チ
ャネル60を連続波動作で作動させる第五の動作モード
も可能である。高パワーパルスの連続波レベルの混合は
、スピン系を飽和し、そして次に連続波レベルにより飽
和状態からのスピン系の回復を検出するいわゆる「飽和
回復」を生成するのに使用することができる。この場合
、低パワーの分離した連続波チャネル60全並行して使
用することの利点としてきわめて低い連続波レベルで処
理することができ、単一の高パワーチャネルを使って処
理し、そして高パワーパルスの照射後に低レベルの連続
波動作に切り替える場合のように進行波増幅器の雑音で
邪魔されることもない。
第5図がパルスチャネル61のその他の詳細を示す。
パルスチャネル61の入力側に第三の分割器90を認め
ることができ、これが到来するマイクロ波エネルギーを
4つの並列且つ等価なパルス整形チャネル91a 、9
1b 、91c 、91dに分配し、パルス整形チャネ
ルは出力側で、第三分割器90と対称な第二の結合器9
4で再び一つにまとめられる。パルス整形チャネル91
.〜91dはそれぞれ2個の制御入力端子92a〜92
d又1d93a〜95dを有するが、その詳細について
はなお後に第6図及び第8図に関連して説明する。
ることができ、これが到来するマイクロ波エネルギーを
4つの並列且つ等価なパルス整形チャネル91a 、9
1b 、91c 、91dに分配し、パルス整形チャネ
ルは出力側で、第三分割器90と対称な第二の結合器9
4で再び一つにまとめられる。パルス整形チャネル91
.〜91dはそれぞれ2個の制御入力端子92a〜92
d又1d93a〜95dを有するが、その詳細について
はなお後に第6図及び第8図に関連して説明する。
第二結合器94の出力端子に、マイクロ波前置増幅器9
5と第二移相器77と制御入力端子97を有する第二の
スイッチングダイオード96とその結合出力端子がパル
スモニタ55に結ばれた第七のカプラ98と進行波増幅
器27と第二の減衰器99と制御入力端子101を有す
るスイッチング段100とからなる直列回路が接続して
ある。
5と第二移相器77と制御入力端子97を有する第二の
スイッチングダイオード96とその結合出力端子がパル
スモニタ55に結ばれた第七のカプラ98と進行波増幅
器27と第二の減衰器99と制御入力端子101を有す
るスイッチング段100とからなる直列回路が接続して
ある。
4つの並列に接続したパルス整形チャネル91a〜91
dにより、任意のパルスプログラムを作成することがで
きる。例えば、第一パルス整形チャネル91aではいわ
ゆるXパルス(位相0°)、第二パルス整形チャネル9
1bではいわゆるーXパルス(位相+90°)、第三パ
ルス整形チャネル91cではいわゆるYパルス(位相+
180°)、そして最後に第四パルス整形チャネル91
dではいわゆるーYXパルス位相+270°)f!:調
整することができる。
dにより、任意のパルスプログラムを作成することがで
きる。例えば、第一パルス整形チャネル91aではいわ
ゆるXパルス(位相0°)、第二パルス整形チャネル9
1bではいわゆるーXパルス(位相+90°)、第三パ
ルス整形チャネル91cではいわゆるYパルス(位相+
180°)、そして最後に第四パルス整形チャネル91
dではいわゆるーYXパルス位相+270°)f!:調
整することができる。
4つのパルス整形チャネル91a〜91dを並列に配置
する利点として前記X、−X、Y及び−Yパルスは互い
に任意の位相位置で調整することができる。単一のチャ
ネルではこれが不可能であろう。というのもマイクロ波
信号の位相を切り替える通常の部品はスイッチング時間
が3nsよりかなり長く、ごく密接した位相関係をこの
方法で実現することはできないからである。
する利点として前記X、−X、Y及び−Yパルスは互い
に任意の位相位置で調整することができる。単一のチャ
ネルではこれが不可能であろう。というのもマイクロ波
信号の位相を切り替える通常の部品はスイッチング時間
が3nsよりかなり長く、ごく密接した位相関係をこの
方法で実現することはできないからである。
だが並列チャネル′を便うと、ごく密接した位相位置も
互いに、位相位置0に至るまで調整することができる。
互いに、位相位置0に至るまで調整することができる。
後に第6図及び第8図に関連してなお説明するように、
パルス整形チャネル91a〜91dはマイクロ波パワー
を弱めるスイッチングダイオードをすでに備えている。
パルス整形チャネル91a〜91dはマイクロ波パワー
を弱めるスイッチングダイオードをすでに備えている。
第二結合器94の共通する出力端子の後方に制御入力端
子97を有する第ニスイツチングダイオード96は更に
、進行波増幅器27のダイナミックレンジが例えば53
dBであり、単一のスイッチングダイオードではこれを
カバーすることができないので、ダイナミックレンジを
広げる意味も持つ。それゆえ減衰を行い又それとともに
進行波増幅器27のダイナミックレンジ全体を利用する
ため、通常のスイッチングダイオードのダイナミックレ
ンジが約25dBであることから、かかるスイッチング
ダイオードが2側石列に接続して使用される。
子97を有する第ニスイツチングダイオード96は更に
、進行波増幅器27のダイナミックレンジが例えば53
dBであり、単一のスイッチングダイオードではこれを
カバーすることができないので、ダイナミックレンジを
広げる意味も持つ。それゆえ減衰を行い又それとともに
進行波増幅器27のダイナミックレンジ全体を利用する
ため、通常のスイッチングダイオードのダイナミックレ
ンジが約25dBであることから、かかるスイッチング
ダイオードが2側石列に接続して使用される。
進行波増幅器27の出力端側にある第二d衰器99はレ
ンジが例えば0〜60 dBの高パワー減衰器として設
けておくことができる。
ンジが例えば0〜60 dBの高パワー減衰器として設
けておくことができる。
知られているように通常の進行波増幅器はマイクロ波パ
ルスの増幅時後縁の最後にいわゆる「尾」、減衰現象を
生じる特徴がある。この現象は電子スピン共鳴パルス実
験の場合大きな障害となる。この理由から、このパルス
の「尾」を切り取る役目でスイッチング段100が設け
である。こうして分光計の無駄時間が著しく低減する。
ルスの増幅時後縁の最後にいわゆる「尾」、減衰現象を
生じる特徴がある。この現象は電子スピン共鳴パルス実
験の場合大きな障害となる。この理由から、このパルス
の「尾」を切り取る役目でスイッチング段100が設け
である。こうして分光計の無駄時間が著しく低減する。
スイッチング段100の詳細が第10図に示してあり、
この点については本明細書中に説明してある。
この点については本明細書中に説明してある。
第6図はパルス整形チャネル91aの1実施例の第一変
形例を示す。
形例を示す。
第6図からはっきりわかるようにここでも2つの並列分
路が設けてあり、その入力端側は第四の分割器110に
より形成してある。分路はそれぞれ第三の減衰器111
a又は111bと第三の移相器112a又は112bと
第三のスイツ・チングダイオード115a又は115b
との直列回路からなり、該ダイオードにはすでに触れた
制御入力端子92B、93aが付属し、そして最後に両
分路は第三の結合器11XSにおいて再び一つにまとめ
である。
路が設けてあり、その入力端側は第四の分割器110に
より形成してある。分路はそれぞれ第三の減衰器111
a又は111bと第三の移相器112a又は112bと
第三のスイツ・チングダイオード115a又は115b
との直列回路からなり、該ダイオードにはすでに触れた
制御入力端子92B、93aが付属し、そして最後に両
分路は第三の結合器11XSにおいて再び一つにまとめ
である。
第6図の上側分路111a・・・はいわゆる「マスター
」分路として働き、制御入力端子92aの駆動によりス
イッチングダイオード113aが動作して希望するパル
ス、例えばXパルスを発生する。
」分路として働き、制御入力端子92aの駆動によりス
イッチングダイオード113aが動作して希望するパル
ス、例えばXパルスを発生する。
測定共振器12は品質が比較的低いにも拘らずなお帯域
幅が限定されているので、高パワーマイクロ波パルスを
印加すると「リンギング」と呼ばれる減衰現象が発生す
る。この障害となる作用を取り除くため第6図の下側分
路が「スレーブ」分路として設けである。「スレーブ」
分路内で、「マスター」パルスとは180°位相ノずれ
た抑圧パルスが生成される。
幅が限定されているので、高パワーマイクロ波パルスを
印加すると「リンギング」と呼ばれる減衰現象が発生す
る。この障害となる作用を取り除くため第6図の下側分
路が「スレーブ」分路として設けである。「スレーブ」
分路内で、「マスター」パルスとは180°位相ノずれ
た抑圧パルスが生成される。
第7図がかかるパルス列を示す。117は本来の電子ス
ピン共鳴実験の遂行、つまり試料15の励起に役立つい
わゆる「物理的パルス」である。次に、例えば位相03
の「物理的パルス」117に、共振器12の減衰現象を
抑圧するいわゆる[技術的パルスJ 118(空洞リン
ギング消滅パルス)が位相位!180°で続いている。
ピン共鳴実験の遂行、つまり試料15の励起に役立つい
わゆる「物理的パルス」である。次に、例えば位相03
の「物理的パルス」117に、共振器12の減衰現象を
抑圧するいわゆる[技術的パルスJ 118(空洞リン
ギング消滅パルス)が位相位!180°で続いている。
高周波技術上の理由からパルス117,118間の間隔
をできるだけ0とすべきであることは明白である。しか
し実際上の理由からパルス117゜118間に僅かの時
間の遅れを取るのが有利な場合もあり、これに利用する
のがモニタ54 、55である。
をできるだけ0とすべきであることは明白である。しか
し実際上の理由からパルス117゜118間に僅かの時
間の遅れを取るのが有利な場合もあり、これに利用する
のがモニタ54 、55である。
「マスター」分路111a・・・の素子と「スレーブ」
分路111b・・・の素子は好ましくは同一に構成して
ある。各分路において、第6図から読み取ることができ
るようにパルス(又はパルスシーケンス)の位相も振幅
も別々に調整することができる。通常使用される振幅調
整範囲は0〜50dB、位相調整範囲は分解能α1°の
場合0〜360°である。
分路111b・・・の素子は好ましくは同一に構成して
ある。各分路において、第6図から読み取ることができ
るようにパルス(又はパルスシーケンス)の位相も振幅
も別々に調整することができる。通常使用される振幅調
整範囲は0〜50dB、位相調整範囲は分解能α1°の
場合0〜360°である。
第6図を第5図と一緒に検討してわかるようにそれぞれ
二重に分路した4つのパルス整形チャネル91a〜91
aでもって合計8つの、例えば同一のマイクロ波チャネ
ルが用意してある。従ってパルスチャネル61の各種動
作モードが可能である。
二重に分路した4つのパルス整形チャネル91a〜91
aでもって合計8つの、例えば同一のマイクロ波チャネ
ルが用意してある。従ってパルスチャネル61の各種動
作モードが可能である。
1動作モードでは4つのパルス整形チャネルla〜91
dにより任意のパルス列を@整し、共振器12の減衰現
象をそれぞれ抑圧することができる。こうして試料13
に、磁気共鳴技術の方から知られているようなパルス又
はパルス列全照射することができる。例として挙げるな
らCarr−Purce l 1パルス列又はCarr
−Purcell −Me iboom−Gi 11
パルス列がある。いわゆる相回転を使った実験も行うこ
とができる。位相を周期的に交換し、そして得られた測
定データを適宜に分類することにより、後に第11図に
関連してなお説明するように直角変調用検波器19及び
それに付属したビデオ増幅器の両方のアームのなかに技
術上発生する差異を突き止めることができる。
dにより任意のパルス列を@整し、共振器12の減衰現
象をそれぞれ抑圧することができる。こうして試料13
に、磁気共鳴技術の方から知られているようなパルス又
はパルス列全照射することができる。例として挙げるな
らCarr−Purce l 1パルス列又はCarr
−Purcell −Me iboom−Gi 11
パルス列がある。いわゆる相回転を使った実験も行うこ
とができる。位相を周期的に交換し、そして得られた測
定データを適宜に分類することにより、後に第11図に
関連してなお説明するように直角変調用検波器19及び
それに付属したビデオ増幅器の両方のアームのなかに技
術上発生する差異を突き止めることができる。
測定した吸収信号をA、測定した分散信号をDとすると
、X及びYパルスを使用した場合位相を周期的に交換す
ると二重のビデオ増幅器の出力端子にまず信号A、D、
次にり、A、次に−A、−D、そして最後に−D、−A
が現れる。
、X及びYパルスを使用した場合位相を周期的に交換す
ると二重のビデオ増幅器の出力端子にまず信号A、D、
次にり、A、次に−A、−D、そして最後に−D、−A
が現れる。
次にこれらの信号を適宜に加算、減算又は除算し、一定
した誤差を算出することができる。
した誤差を算出することができる。
この場合、格別有利な点として各パルス整形チャネル9
1a〜91d内にそれぞれ2つの分路があるため、各物
理的パルス(第7図の117)に技術的抑圧パルス(第
7図の118)が続くので、極端に短い遅れで処理する
ことができる。
1a〜91d内にそれぞれ2つの分路があるため、各物
理的パルス(第7図の117)に技術的抑圧パルス(第
7図の118)が続くので、極端に短い遅れで処理する
ことができる。
合計8つのマイクロ波チャネルを利用できる別の動作モ
ードは次のとおりである。
ードは次のとおりである。
試料13を高い選択性で、つまり狭い帯域ごとに励起し
たい場合、時間領域内でマイクロ波パルスの波形はガウ
ス曲線の形状とすべきである。かかる分布曲線は8つの
マイクロ波チャネルを使って、すなわち8つのチャネル
の各々がそれぞれ同じ時間に特定の振幅量全提供するこ
とにより、容易に合成することができる。8つのチャネ
ルはすべてその振幅が個々に調整可能であり、又出力端
側で第二及び第三結合器94,114により混合される
ので、こうして2s、すなわちに256の振幅分解能が
可能である。
たい場合、時間領域内でマイクロ波パルスの波形はガウ
ス曲線の形状とすべきである。かかる分布曲線は8つの
マイクロ波チャネルを使って、すなわち8つのチャネル
の各々がそれぞれ同じ時間に特定の振幅量全提供するこ
とにより、容易に合成することができる。8つのチャネ
ルはすべてその振幅が個々に調整可能であり、又出力端
側で第二及び第三結合器94,114により混合される
ので、こうして2s、すなわちに256の振幅分解能が
可能である。
第8図は、順次励起される個別パルス121から合成し
たガウス分布のパルス波形120を使ったこの実験の結
果を示す。達成できる振幅分解能122はすでに述べた
ように1:256である。
たガウス分布のパルス波形120を使ったこの実験の結
果を示す。達成できる振幅分解能122はすでに述べた
ように1:256である。
第9図に示すパルス整形チャネル91a′の変形例は、
第6図に示す素子[10,112a、115a。
第6図に示す素子[10,112a、115a。
114又は110 、111b 、112b 、115
b 、114間にそれぞれサーキユレータ115又は1
15aがあり、その第三出力端子が各1のマイクロ波溜
め116又は116aに接続してある点で第6図の実施
例と相違している。サーキユレータ115として、第四
分割器110の出力端子及び第三結合器114の入力端
子に後方減衰40dBの複式アイソレータ、そして残り
の部分では後方減衰25dllの単式アイル−タを使用
することができる。
b 、114間にそれぞれサーキユレータ115又は1
15aがあり、その第三出力端子が各1のマイクロ波溜
め116又は116aに接続してある点で第6図の実施
例と相違している。サーキユレータ115として、第四
分割器110の出力端子及び第三結合器114の入力端
子に後方減衰40dBの複式アイソレータ、そして残り
の部分では後方減衰25dllの単式アイル−タを使用
することができる。
サーキユレータ115又は115a f付加的に設ける
と、システムの非反作用性、及び前記8つのチャネル相
互の減結合が向上する。
と、システムの非反作用性、及び前記8つのチャネル相
互の減結合が向上する。
第10図は第5図でパルスチャネル61の出力端側に認
めることができるようなスイッチング段100の詳細を
示す。
めることができるようなスイッチング段100の詳細を
示す。
例えば、パルスチャネル61内の第ニスイツチングダイ
オード96の場合のように、マイクロ波パワーの切替又
は減衰に簡単なスイッチングダイオードの使用が可能で
はあるが、しかし大きなマイクロ波パワーを接続すべき
場合には問題を生じることがある、というのも照射する
きわめて大きなマイクロ波パワーでなだれ効果が発生す
ることによりダイオードがかつてに導通となるからであ
る。
オード96の場合のように、マイクロ波パワーの切替又
は減衰に簡単なスイッチングダイオードの使用が可能で
はあるが、しかし大きなマイクロ波パワーを接続すべき
場合には問題を生じることがある、というのも照射する
きわめて大きなマイクロ波パワーでなだれ効果が発生す
ることによりダイオードがかつてに導通となるからであ
る。
仁の問題は第10図のスイッチング段100で防ぐこと
ができる。マイクロ波分路にスイッチングを接続する代
わりに、第三のサーキユレータ130を使用し、その第
二端子を第四のスイッチングダイオード31と接続し、
後者は第二のマイクロ波溜め152に接続してあろう第
四スイッチングダイオード151は制御入力端子101
を介し導通状態と非″導通状態とにすることができる。
ができる。マイクロ波分路にスイッチングを接続する代
わりに、第三のサーキユレータ130を使用し、その第
二端子を第四のスイッチングダイオード31と接続し、
後者は第二のマイクロ波溜め152に接続してあろう第
四スイッチングダイオード151は制御入力端子101
を介し導通状態と非″導通状態とにすることができる。
1vJ10図に更に示唆したように素子130゜131
.132の配置は、更に別の素子セット130a。
.132の配置は、更に別の素子セット130a。
1311 、132aを任意の数だけ直列に接続するこ
とにより、カスケード化することもできる。
とにより、カスケード化することもできる。
スイッチング段100は、第5図に関連してすでに述べ
たように、パルスの「尾」が電子スピン共鳴実験を乱す
ことのないよう、進行波増幅器27の高パワー出力パル
スを切り取る意味を持っている。これを達成するため制
御入力端子101は時間的にマイクロ波パルスの後縁と
同期又はそれより僅かに遅れて駆動される。第四スイッ
チングダイオード151は、サーキュレータ130′l
jI:介しマイクロ波高パワーパルスを転送できるよう
まず遮断されている。なぜなら遮断された第四スイッチ
ングダイオード151ばそれ自身なだれ領域に達するこ
となくマイクロ波パルスを反射するからである。これに
関連し、マイクロ波高パワーパルスの反射時、第四スイ
ッチングダイオード131が導通状態となることのない
ようその挿入損失(1nsertion 1oss )
を適宜に設計しておく点に勿論注意しなければならない
。
たように、パルスの「尾」が電子スピン共鳴実験を乱す
ことのないよう、進行波増幅器27の高パワー出力パル
スを切り取る意味を持っている。これを達成するため制
御入力端子101は時間的にマイクロ波パルスの後縁と
同期又はそれより僅かに遅れて駆動される。第四スイッ
チングダイオード151は、サーキュレータ130′l
jI:介しマイクロ波高パワーパルスを転送できるよう
まず遮断されている。なぜなら遮断された第四スイッチ
ングダイオード151ばそれ自身なだれ領域に達するこ
となくマイクロ波パルスを反射するからである。これに
関連し、マイクロ波高パワーパルスの反射時、第四スイ
ッチングダイオード131が導通状態となることのない
ようその挿入損失(1nsertion 1oss )
を適宜に設計しておく点に勿論注意しなければならない
。
次にマイクロ波パ゛ルスの後縁でもって第四スイッチン
グダイオード131が導通状態に反転し、サーキュレー
タ130内のパルスの「尾」は第四スイッチングダイオ
ード131を介しマイクロ波溜め132に転送される。
グダイオード131が導通状態に反転し、サーキュレー
タ130内のパルスの「尾」は第四スイッチングダイオ
ード131を介しマイクロ波溜め132に転送される。
第四スイッチングダイオード131t−マイクロ波パル
スの後縁より多少遅らせて導通にすると、進行波増幅器
27の出カバルスはごく短時間のうちに約30〜aOd
B低下し、第四スイッチングダイオード151は30〜
40dB低下したレベルを導通するだけとなるとの事実
を利用することができる。大抵の電子スピン共鳴実験に
とってこのスイッチング挙動は十分である。というのも
マイクロ波パルスの後縁から第四スイッチングダイオー
ド151のターンオンまでの短い時間の間、後縁の急峻
は十分大きいからである。
スの後縁より多少遅らせて導通にすると、進行波増幅器
27の出カバルスはごく短時間のうちに約30〜aOd
B低下し、第四スイッチングダイオード151は30〜
40dB低下したレベルを導通するだけとなるとの事実
を利用することができる。大抵の電子スピン共鳴実験に
とってこのスイッチング挙動は十分である。というのも
マイクロ波パルスの後縁から第四スイッチングダイオー
ド151のターンオンまでの短い時間の間、後縁の急峻
は十分大きいからである。
パルスの「尾」のこの切取りは第10図に示唆した素子
のカスケード化により勿論なお向上させることができる
。
のカスケード化により勿論なお向上させることができる
。
最後に第11図は信号処理の詳細を示す。
共振器12で反射した測定信号は測定すべき電子スピン
共用実験についての情報を含んでおり、通常の方法によ
りサーキユレータ63の第三端子から取り出すことがで
きる。この測定信号が最初に供給される第へのカプラ1
40は結合出力端子が連続波チャネルのモニタ54に接
続してある。第八カプラ140の出力端子はまず第一切
替スイッチ141の一方の入力端子に接続してあり、第
二の入力端子には別の共振器、例えば誘導共振器を接続
することができる。
共用実験についての情報を含んでおり、通常の方法によ
りサーキユレータ63の第三端子から取り出すことがで
きる。この測定信号が最初に供給される第へのカプラ1
40は結合出力端子が連続波チャネルのモニタ54に接
続してある。第八カプラ140の出力端子はまず第一切
替スイッチ141の一方の入力端子に接続してあり、第
二の入力端子には別の共振器、例えば誘導共振器を接続
することができる。
第一切替スイッチ141の出力端子に第五のスイッチン
グダイオード143が接続してあり、その制御入力端子
144はやはり第二の切替スイッチ145に接続してあ
る。第二切替スイッチ145は一方の切替位置のとき測
定信号?そのまま転送し、他方の切替位置のときマイク
ロ波前置増幅器146をオンにする。この増幅器は代表
的適用事例の場合、雑音指数が僅か1.9 dB、増幅
度58 dBである。この動作モードのときマイクロ波
前置増幅器146を高パワーパルスから保護するため第
五スイッチングダイオード143が設けてあシ、これは
、パルス間隔中に電子スピン共鳴信号の自由誘導落下分
をマイクロ波前置増幅器146に供給するため、だがそ
の外ではこれを高パワーパルスから保護するため、パル
ス間隔の間のみ開く。
グダイオード143が接続してあり、その制御入力端子
144はやはり第二の切替スイッチ145に接続してあ
る。第二切替スイッチ145は一方の切替位置のとき測
定信号?そのまま転送し、他方の切替位置のときマイク
ロ波前置増幅器146をオンにする。この増幅器は代表
的適用事例の場合、雑音指数が僅か1.9 dB、増幅
度58 dBである。この動作モードのときマイクロ波
前置増幅器146を高パワーパルスから保護するため第
五スイッチングダイオード143が設けてあシ、これは
、パルス間隔中に電子スピン共鳴信号の自由誘導落下分
をマイクロ波前置増幅器146に供給するため、だがそ
の外ではこれを高パワーパルスから保護するため、パル
ス間隔の間のみ開く。
第三の切替スイッチ147が前記分路を再び一緒にし、
更に第四の切替スイッチ148に接続してある。後者は
第11図の上側切替位置が連続波測定、下側切替位置が
好ましくはパルス測定に使用される。第四の切替スイッ
チ148が上側切替位置のとき、第四の結合器151と
単相復調器152、例えば同軸ショットキー障壁ダイオ
ードとを有する連続波チャネル150がオンであり、こ
のチャネルは(第四切替スイッチ148の)測定信号と
基準信号とから(第五結合器151の第二人力端子を介
し′)形成した例えば帯域幅30Hz〜5MHzのトー
タル信号を増幅し、通常の方法で継続処理する。電子ス
ピン共鳴測定信号は最後に表示装置153、例えば画面
、プリンタ等で表示され、更には周知の如く記憶し、評
価し又はその他の方法で処理することができる。
更に第四の切替スイッチ148に接続してある。後者は
第11図の上側切替位置が連続波測定、下側切替位置が
好ましくはパルス測定に使用される。第四の切替スイッ
チ148が上側切替位置のとき、第四の結合器151と
単相復調器152、例えば同軸ショットキー障壁ダイオ
ードとを有する連続波チャネル150がオンであり、こ
のチャネルは(第四切替スイッチ148の)測定信号と
基準信号とから(第五結合器151の第二人力端子を介
し′)形成した例えば帯域幅30Hz〜5MHzのトー
タル信号を増幅し、通常の方法で継続処理する。電子ス
ピン共鳴測定信号は最後に表示装置153、例えば画面
、プリンタ等で表示され、更には周知の如く記憶し、評
価し又はその他の方法で処理することができる。
第四切替スイッチ148が下側切替位置のとき、基準分
路50と後段の直角チャネル160とを有する第11図
の下半分に示す測定チャネルが投入される。
路50と後段の直角チャネル160とを有する第11図
の下半分に示す測定チャネルが投入される。
第三カブラ49から減結合されたマイクロ波基準信号は
基準分路50において、第五分割器164内で分割きれ
る前に、まず遅延素子161と第四の減衰器162と第
四の移相器163とからなる直列回路に到達する。第五
分割器164は第一の出力端子が第六の分割器165の
入力端子に接続してあり、後者は一方の出力端子から、
すでに連続波チャネル150に関連して説明した第四結
合器151に供給する基準信号を発生する。第五分割器
164の第二出力端子は第五移相器166と第五減衰器
167との直列回路を経て直角チャネル160に至る。
基準分路50において、第五分割器164内で分割きれ
る前に、まず遅延素子161と第四の減衰器162と第
四の移相器163とからなる直列回路に到達する。第五
分割器164は第一の出力端子が第六の分割器165の
入力端子に接続してあり、後者は一方の出力端子から、
すでに連続波チャネル150に関連して説明した第四結
合器151に供給する基準信号を発生する。第五分割器
164の第二出力端子は第五移相器166と第五減衰器
167との直列回路を経て直角チャネル160に至る。
この直角チャネル160の入力側に第六の分割器168
が設けてあり、その入力端子が第四切替スイッチ148
と結ばれている。第六分割器168の2つの出力端子は
、第1図でともに符号19としておいた第一の直角検波
器169又は第二の直角検波器170に接続してある。
が設けてあり、その入力端子が第四切替スイッチ148
と結ばれている。第六分割器168の2つの出力端子は
、第1図でともに符号19としておいた第一の直角検波
器169又は第二の直角検波器170に接続してある。
第一直角検波器169の第二人力端子が第六分割器16
5の第二出力端子と結ばれ、第二直角検波器17oの第
二人力端子は第五減衰器167の出力端子に接続してあ
る。直角検波器169 、170の出力端子は、結局、
サンプルホールド段を有するAD変換器20に接続して
あり、そしてこのユニットは第11図には図示省略した
別の周知ユニットケ介し表示装置153にやはり接続し
てある。
5の第二出力端子と結ばれ、第二直角検波器17oの第
二人力端子は第五減衰器167の出力端子に接続してあ
る。直角検波器169 、170の出力端子は、結局、
サンプルホールド段を有するAD変換器20に接続して
あり、そしてこのユニットは第11図には図示省略した
別の周知ユニットケ介し表示装置153にやはり接続し
てある。
パルス動作のとき、回転磁化の2つの直交投影において
磁化の崩壊(いわゆるrFIDJ−自由誘導崩壊fre
e 1nduction decay)が測定されろう
以上のことから推論されるように、直角検波器169,
170には一第六分割器16Bを介しm−測定信号が供
給される一方、基準信号も供給され、第二直角検波器1
70の基準信号は素子166、167により振幅及び量
が、第六分割器165の下側出力端子に現われる別の基
準信号に対し相対的に調整可能である。
磁化の崩壊(いわゆるrFIDJ−自由誘導崩壊fre
e 1nduction decay)が測定されろう
以上のことから推論されるように、直角検波器169,
170には一第六分割器16Bを介しm−測定信号が供
給される一方、基準信号も供給され、第二直角検波器1
70の基準信号は素子166、167により振幅及び量
が、第六分割器165の下側出力端子に現われる別の基
準信号に対し相対的に調整可能である。
通常のスピンエコー実験には勿論一方の直角検波器16
9又は170のみを使って処理することもでき、この場
合他方の分路は遮断する。直角検波器169 、10と
して高ダイナミツクツマイクロ波混合器が使用される。
9又は170のみを使って処理することもでき、この場
合他方の分路は遮断する。直角検波器169 、10と
して高ダイナミツクツマイクロ波混合器が使用される。
第11図に示すブロック20はまず帯域幅50〜200
MHz、増幅度例えば66 dBの2チャネルビデオ
増幅器を含む。この場合ビデオ増幅器の出力信号はAD
変換器に、そしてそこからコンピュータ制御装置18に
供給されるが、第11図では理解を容易にするためその
詳細がすべて図示省略している。
MHz、増幅度例えば66 dBの2チャネルビデオ
増幅器を含む。この場合ビデオ増幅器の出力信号はAD
変換器に、そしてそこからコンピュータ制御装置18に
供給されるが、第11図では理解を容易にするためその
詳細がすべて図示省略している。
ちなみに、分光計10の記載した構成要素には電子スピ
ン共鳴分光技術において一般的で知られているような市
販のマイクロ波及び高周波部品を使用することができる
。
ン共鳴分光技術において一般的で知られているような市
販のマイクロ波及び高周波部品を使用することができる
。
(発明の効果)
本発明はパルス整形チャネルが分割器により分割された
ほぼ同一の複数チャネルでなり、このチャネルにはダイ
オードスイッチ、減衰器および移相器を設けることによ
りどのチャネルでも振幅および位相を調整でき、任意の
パルス列を構成できる。
ほぼ同一の複数チャネルでなり、このチャネルにはダイ
オードスイッチ、減衰器および移相器を設けることによ
りどのチャネルでも振幅および位相を調整でき、任意の
パルス列を構成できる。
さらに共通のマイクロ波パワー増巾器の前段に結合器を
設けてチャネルを再び一つにまとめたので、回路に有害
な帰還作用をなくして所望の正確なパルス列を試料に照
射できる。
設けてチャネルを再び一つにまとめたので、回路に有害
な帰還作用をなくして所望の正確なパルス列を試料に照
射できる。
第1図は電子スピン共鳴型パルス分光計の著しく簡略化
したブロック構成図、 第2図は第1図に示す分光計のマイクロ波部品の簡略化
したブロック構成図、 第3図は低パワーマイクロ波回路と高パワーマイクロ波
回路の併用を明らかにする2棟のマイクロ波パルスの時
間的推移図、 寺 第4図第5図に示す技術を適用した場合のマイクロ波エ
ネルギーのスペクトル分布図、第5図は第2図に示すブ
ロック構成図のマイクロ波高パワーチャネルの詳@を説
明する別のブロック構成図、 第6図は第5図に示すブロック構成図のパルス整形チャ
ネルの更に別の細部のブロック構成図、 第7図は第6図に示すパルス整形チャネルで発生するこ
とのできるマイクロ波パルスの時間依存性金示す図、 斃 第8図第6図に示す実施例の変形例を示すフロック構成
図、 第9図は第6図及び8I!8図のパルス整形チャネルで
発生することができそして所定の分布曲線を合成するの
に使用される相連続したマイクロ波パルスの時間依存性
を示す図、 第10図は第5図に示すスイッチング段の史に別の詳細
を説明するブロック構成図、第11図は第1図に示す電
子スピン共鳴型パルス分光計の信号評価回路を説明する
ブロック構成図である。 10・・・分光計、 12・・・共系器、 13・
・・試料、14−・・マイクロ波ブリッジ、16・・・
復調器、17・・・信号増幅器、 19・・・直角復
調器、20・・・AD変換器、 60.61・・・チャ
ネル、CW・・一連続波信号、 P・・・パルス信号。
したブロック構成図、 第2図は第1図に示す分光計のマイクロ波部品の簡略化
したブロック構成図、 第3図は低パワーマイクロ波回路と高パワーマイクロ波
回路の併用を明らかにする2棟のマイクロ波パルスの時
間的推移図、 寺 第4図第5図に示す技術を適用した場合のマイクロ波エ
ネルギーのスペクトル分布図、第5図は第2図に示すブ
ロック構成図のマイクロ波高パワーチャネルの詳@を説
明する別のブロック構成図、 第6図は第5図に示すブロック構成図のパルス整形チャ
ネルの更に別の細部のブロック構成図、 第7図は第6図に示すパルス整形チャネルで発生するこ
とのできるマイクロ波パルスの時間依存性金示す図、 斃 第8図第6図に示す実施例の変形例を示すフロック構成
図、 第9図は第6図及び8I!8図のパルス整形チャネルで
発生することができそして所定の分布曲線を合成するの
に使用される相連続したマイクロ波パルスの時間依存性
を示す図、 第10図は第5図に示すスイッチング段の史に別の詳細
を説明するブロック構成図、第11図は第1図に示す電
子スピン共鳴型パルス分光計の信号評価回路を説明する
ブロック構成図である。 10・・・分光計、 12・・・共系器、 13・
・・試料、14−・・マイクロ波ブリッジ、16・・・
復調器、17・・・信号増幅器、 19・・・直角復
調器、20・・・AD変換器、 60.61・・・チャ
ネル、CW・・一連続波信号、 P・・・パルス信号。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)測定試料(13)を含む共振器(12)が定強度、
高均一性の磁場内に配設してあり、該共振器にマイクロ
波ブリッジ(14)によりマイクロ波エネルギーを脈動
信号(P)として供給可能であり、共振器(12)より
放出した測定信号が検波器(16、19)と信号評価装
置(20)とに供給し、更にマイクロ波源とマイクロ波
ブリッジ(14)との間に配設した線路が並列パルス整
形チャネル(91a〜91d)に分割してあり、1つの
パルス整形チャネルに位相及び振幅を調整する手段(1
11、112)、そして複数のパルス整形チャネルにパ
ルス整形チャネル(91a〜91d)を通過する信号を
切り替える手段(113)が配設してある電子スピン共
鳴型分光計において、パルス整形チャネル (91a〜91d)が分割器(90)により同じ部分に
線路から供給を受け、どのパルス整形チャネル(91a
〜91d)も位相及び振幅を調整する手段(111、1
12)を備え、パルス整形チャネル(91a〜91d)
が、共通のマイクロ波パワー増幅器(27)の入力端子
の前に配設した結合器(94)により再び一つにまとめ
られていることを特徴とする分光計。 2)パルス整形チャネル(91a〜91d)がすべて同
一に構成してあることを特徴とする請求項1記載の分光
計。 3)4つのパルス整形チャネル(91a〜91d)を設
けたことを特徴とする請求項1又は2記載の分光計。 4)各パルス整形チャネル(91a〜91d)が2つの
並列分路を有し、各分路が位相及び振幅を調整する手段
(111a/111b、112a/112b)と切替手
段(113a/113b)とを備えていることを特徴と
する請求項1〜5のいずれかに記載の分光計。 5)位相調整手段(112)が0〜360°の領域をカ
バーすることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記
載の分光計。 6)位相及び振幅を調整する手段(111、112)と
切替手段(113)がサーキュレータ(115)により
1方向で互いに減結合してあることを特徴とする請求項
1〜5のいずれかに記載の分光計。 7)パルス整形チャネル(91a〜91d)とパワー増
幅器(27)との間に電子調整可能な減衰器(96)が
配設してあることを特徴とする請求項1〜6のいずれか
に記載の分光計。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3726046.4 | 1987-08-06 | ||
DE19873726046 DE3726046A1 (de) | 1987-08-06 | 1987-08-06 | Elektronenspinresonanz-spektrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH021582A true JPH021582A (ja) | 1990-01-05 |
JPH065269B2 JPH065269B2 (ja) | 1994-01-19 |
Family
ID=6333138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63195950A Expired - Fee Related JPH065269B2 (ja) | 1987-08-06 | 1988-08-05 | 電子スピン共鳴型分光計 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4812763A (ja) |
JP (1) | JPH065269B2 (ja) |
DE (1) | DE3726046A1 (ja) |
GB (1) | GB2208442B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009180677A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Institute Of Physical & Chemical Research | 磁場安定化機構、磁気共鳴装置及び電子スピン共鳴装置 |
JP2013057527A (ja) * | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Jeol Resonance Inc | パルスesr装置 |
JP2016075665A (ja) * | 2014-10-06 | 2016-05-12 | 日本電子株式会社 | 電子スピン共鳴装置 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1992013629A1 (en) * | 1991-01-31 | 1992-08-20 | Wayne State University | A method for analyzing an organic sample |
US5233303A (en) * | 1991-05-23 | 1993-08-03 | Barney Bales | Portable dedicated electron spin resonance spectrometer |
US5387867A (en) * | 1993-07-26 | 1995-02-07 | The United States Of America As Represented By The Dept. Of Health And Human Services | Pulsed low frequency EPR spectrometer and imager |
GB9319875D0 (en) * | 1993-09-27 | 1994-03-09 | British Tech Group | Apparatus for and methods of nuclear resonance testing |
DE4412064C2 (de) * | 1994-04-11 | 1996-09-05 | Bruker Analytische Messtechnik | Verfahren zum Messen von gepulsten Elektronenspinresonanz-Signalen und Elektronenspinresonanz-Impulsspektrometer |
WO1996010193A1 (en) | 1994-09-29 | 1996-04-04 | British Technology Group Limited | Method of nuclear quadrupole resonance testing and method of configuring apparatus for nuclear quadrupole resonance testing |
JP2002168801A (ja) * | 2000-12-04 | 2002-06-14 | Nec Corp | 走査型マイクロ波顕微鏡及びマイクロ波共振器 |
DE102006055386B4 (de) * | 2006-11-22 | 2011-08-25 | Siemens AG, 80333 | Ganzkörperantenne für eine Magnetresonanzanlage und Magnetresonanzanlage mit einer solchen Ganzkörperantenne |
US9392957B1 (en) | 2010-02-22 | 2016-07-19 | Howard J. Halpern | T1-sensitive inversion-recovery-imaging method and apparatus for EPRI |
US10218368B2 (en) | 2016-02-18 | 2019-02-26 | Honeywell International Inc. | System and method for in-situ optimization of microwave field homogeneity in an atomic clock |
RU2756168C1 (ru) * | 2020-12-29 | 2021-09-28 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Новосибирский институт органической химии им. Н.Н. Ворожцова Сибирского отделения Российской академии наук (НИОХ СО РАН) | Мост импульсного ЭПР-спектрометра X- и Q-диапазона на основе цифрового синтезатора СВЧ-излучения и полупроводникового усилителя мощности |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5531417A (en) * | 1978-08-25 | 1980-03-05 | Toagosei Chem Ind Co Ltd | Zinc based substrate surface treatment |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU693230A1 (ru) * | 1976-10-12 | 1979-10-25 | Институт Химической Кинетики И Горения Со Ан Ссср | Импульсный спектрометр электронного парамагнитного резонанса |
-
1987
- 1987-08-06 DE DE19873726046 patent/DE3726046A1/de active Granted
- 1987-11-20 US US07/123,146 patent/US4812763A/en not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-08-02 GB GB8818379A patent/GB2208442B/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-08-05 JP JP63195950A patent/JPH065269B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5531417A (en) * | 1978-08-25 | 1980-03-05 | Toagosei Chem Ind Co Ltd | Zinc based substrate surface treatment |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009180677A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Institute Of Physical & Chemical Research | 磁場安定化機構、磁気共鳴装置及び電子スピン共鳴装置 |
JP2013057527A (ja) * | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Jeol Resonance Inc | パルスesr装置 |
JP2016075665A (ja) * | 2014-10-06 | 2016-05-12 | 日本電子株式会社 | 電子スピン共鳴装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2208442A (en) | 1989-03-30 |
DE3726046A1 (de) | 1989-02-16 |
GB8818379D0 (en) | 1988-09-07 |
US4812763A (en) | 1989-03-14 |
DE3726046C2 (ja) | 1991-11-21 |
GB2208442B (en) | 1991-07-24 |
JPH065269B2 (ja) | 1994-01-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH021582A (ja) | 電子スピン共鳴型分光計 | |
US5661439A (en) | Method and apparatus for cancelling phase noise | |
EP4194875A1 (de) | Magnetresonanztomograph mit aktiver störunterdrückung und verfahren zur störunterdrückung in einem magnetresonanztomographen | |
JPH03198511A (ja) | 低歪高周波増幅装置 | |
US5502386A (en) | Pulsed low frequency EPR spectrometer and imager | |
US4782297A (en) | Electron spin resonance spectrometer | |
JP2794531B2 (ja) | パルス電子スピン共鳴信号を測定する方法、及び電子スピン共鳴型パルス分光計 | |
JPH0769412B2 (ja) | 電子スピン共鳴型分光計 | |
US3714550A (en) | Microwave spectrometer apparatus | |
US11092619B1 (en) | Active harmonic load pull impedance tuner | |
CA2278872C (en) | Feed forward amplifier improvement incorporating an automatic gain and phase controller | |
US4266201A (en) | Method and apparatus using first and second parallel channels, one of which includes an inverter, for producing an electrical signal with an improved on/off ratio | |
US3439266A (en) | Method of and system for heterodyning employing a single source of signals | |
EP3857240A1 (en) | Millimeter wave active load pull using low frequency phase and amplitude tuning | |
JP2004318145A (ja) | 二回通過型の偏光無依存性信号プロセッサおよび軸上処理方法 | |
JP2013057527A (ja) | パルスesr装置 | |
Freisleben et al. | Neutron spin-flip-chopper with high repetition rates | |
JP2000111642A (ja) | 合成開口レーダの試験装置 | |
Nava et al. | Cross correlation techniques applied to the measurement of PM and AM noise in pulsed amplifiers | |
JPH08321725A (ja) | フィードフォワード増幅器 | |
Jones et al. | A very wide frequency band pulsed/IF radar system | |
JPH03267044A (ja) | Mri装置 | |
POWER | UIlltGd States Patent [19][11] Patent Number: 5,387,867 | |
JPH03159406A (ja) | 高周波増幅器の非線形補償回路 | |
JPH04348620A (ja) | 信号送受信装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |