JPH02151773A - Logic analyzer - Google Patents

Logic analyzer

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JPH02151773A
JPH02151773A JP30644988A JP30644988A JPH02151773A JP H02151773 A JPH02151773 A JP H02151773A JP 30644988 A JP30644988 A JP 30644988A JP 30644988 A JP30644988 A JP 30644988A JP H02151773 A JPH02151773 A JP H02151773A
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JP
Japan
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measurement
time
data
memory
signals
Prior art date
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JP30644988A
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Japanese (ja)
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JPH0670650B2 (en
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Takanori Okada
岡田 高典
Hideo Harada
原田 秀夫
Michio Maejima
前島 道雄
Satoru Tosabayashi
土佐林 悟
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To accurately and easily enable data observation at the time of repetitive measurement and stop operation of the repetitive measurement in a specific state by providing an interval of time between the end of each measurement and the start of the next measurement at the time of repetitive measurement. CONSTITUTION:A delay counter 11 starts to operate with a trigger detection signal and stops when a prespecified number of delays have been counted. When the counter 11 stops, a memory address counter 12 also stops simultaneously, and memory operation of sampled/latched 13 signals to a buffer memory is completed. Then, all of the stored 13 signals are transferred to an acquisition memory 14. Data of this memory 14 is transferred to a video RAM 15. A display control circuit 16 reads the contents of the RAM 15 and generates video signals and horizontal and vertical synchronous signals to be displayed 17. Control of this series of operation is performed by a CPU 18 according to a program stored in the RAM 15 while information from a keyboard 20 and logic state of hardware are monitored.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は入力ディジタル信号をサンプリングし、表示装
置に表示するまでの−・連の動作を繰り返し実行する機
能なイ■するオシロスコープ等に使用するロジックアナ
ライザに関する。
[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field The present invention is directed to a logic analyzer used in an oscilloscope, etc., which has the function of repeatedly performing the series of operations from sampling an input digital signal to displaying it on a display device. Regarding.

従来の技術 従来のロジックアナライザでは、入力ディジタル信号の
サンプリング、トリガ事象の検出、サンプルされたデー
タの記憶、記憶されたデータの表示専の一連の動作を一
回だけ実行するシングル測定と、l1記一連の動作を繰
り返し実行する繰り返し測定(以下リピート測定という
)ができるように構成されている。したがって、リピー
ト測定時には測定毎に測定開始操作を行なう煩雑さがな
く、各回の測定終了毎に測定データを表示装置に更新し
て表示するため、入力ディジタル信号の状態変化を観測
しながら最適な測定条件、測定データ表示条件の指定を
行なうことができる。
BACKGROUND OF THE INVENTION Conventional logic analyzers perform single measurements, in which a series of operations dedicated to sampling an input digital signal, detecting a trigger event, storing the sampled data, and displaying the stored data are performed only once; It is configured to perform repeated measurements (hereinafter referred to as repeat measurements) in which a series of operations are repeated. Therefore, during repeat measurements, there is no need to perform a measurement start operation for each measurement, and the measurement data is updated and displayed on the display device after each measurement, so you can make optimal measurements while observing changes in the state of the input digital signal. Conditions and measurement data display conditions can be specified.

さらに、表示回路の高速化、データ処理アルゴリズムの
効率化によって測定終了から次回の測定開始までの時間
の短縮が図られるように構成されており、表示データ更
新サイクルの高速化、効率的な測定を行なうことができ
る。
Furthermore, the system is designed to shorten the time from the end of a measurement to the start of the next measurement by increasing the speed of the display circuit and making the data processing algorithm more efficient. can be done.

発明が解決しようとする課題 しかし、上記従来のロジックアナライザでは、リピート
測定時において、測定終了後のデータ表示後、直ちに次
の測定が開始するため、データ表示画面上で各測定毎の
入カディジタル信−多の状態の観測、各信号11の差異
の識別を目視で行なうことが困難であるという問題があ
った。また、毎回の測定データを観測しながら、測定デ
ータがある特定の状態になった時に測定を停止トし、そ
の測定データを詳細に解析する場合、測定データを認識
し、リピート測定停止1−操作を行なうまでの時間より
もリピート測定間隔が速いため、該当する測定終了後で
確実にリピート測定を停止l:することができないとい
う問題があった。
Problems to be Solved by the Invention However, in the conventional logic analyzer described above, during repeat measurement, the next measurement starts immediately after the data is displayed after the measurement is completed. There is a problem in that it is difficult to visually observe the state of the signals 11 and identify differences between the signals 11. In addition, if you want to stop the measurement when the measurement data reaches a certain state while observing the measurement data each time and analyze the measurement data in detail, you can recognize the measurement data and repeat measurement stop 1-operation. Since the repeat measurement interval is faster than the time it takes to perform the measurement, there is a problem in that it is not possible to reliably stop the repeat measurement after the corresponding measurement is completed.

本発明はこのような従来の問題を解決するもので、リピ
ート測定時において、測定終了後のデータ表示後、次の
測定を開始するまでの時間の設定、変更を行なう機能を
備えたロジックアナライザを提供することを目的とする
The present invention solves these conventional problems by providing a logic analyzer with a function to set and change the time from when data is displayed after measurement to when the next measurement starts during repeat measurements. The purpose is to provide.

課題を解決するための手段 本発明は上記目的を達成するために、入力ディジタル信
シ)のサンプリング5 トリガ°11象の検出。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above-mentioned objects, the present invention provides sampling of input digital signals (5) and detection of trigger (11) events.

サンプルされたデータの記憶、記憶されたデータの表示
等の−・連の測定を繰り返して実行する測定手段と、L
記憶り返し測定時において、測定線rから次回の測定開
始までの時間を設定するト段と、L配設定時間を計数す
る手段とを備え、繰り返し測定における繰り返し測定間
隔時間を設定又は変更して、表示データの観測、特定の
表示状態となったときの繰り返し測定の停止操作をする
ようにしたロジックアナライザとした。
a measuring means for repeatedly performing a series of measurements such as storing sampled data and displaying stored data;
It is equipped with a step for setting the time from the measurement line r to the start of the next measurement during memorization and repeat measurement, and a means for counting the L setting time, and a means for setting or changing the repeat measurement interval time in the repeat measurement. This is a logic analyzer that can observe display data and stop repeated measurements when a specific display state is reached.

作  用 本発明によれば、リピート測定時において、各回の測定
路−r後のデータ表示後、次回の測定開始までの時間(
シ)を設定することによって、リピートflll+定を
実行しながらその測定間隔を変更することができ、各回
の測定データをデータ表示画面1、=で観測しながら最
適な測定間隔で動作することができるため2表示データ
の識別、ある特定の状態でのリピート測定停止に操作が
正確にできる。
According to the present invention, during repeat measurements, the time (
By setting C), it is possible to change the measurement interval while executing repeat full + constant, and it is possible to operate at the optimal measurement interval while observing the measurement data of each time on the data display screen 1, =. Therefore, operations can be performed accurately to identify the displayed data and to stop repeat measurement in a certain specific state.

さらに、11?i記時間(シ)をOに設定することによ
って、従来のロジックアナライザが備えていたリピート
測定時における測定の効率化、表示データ更新サイクル
の高速化も実現できる。
Furthermore, 11? By setting the i-time period (shi) to O, it is possible to improve measurement efficiency during repeat measurements and speed up the display data update cycle, which conventional logic analyzers have.

実施例 第1図は本発明の一実施例の構成を示すもので、プロー
ブlに入力されたディジタル13吋は、プローブ1内の
コンパレータによって[)/△コンバータ2から送られ
てくるスレッショルド電圧と比較され、ハイレベル、ロ
ーレベルに論理整形されてサンプル/ラッチ回路3へ送
られる。クロック選択回路4はサンプリングクロックと
して、プローブ5から送られてくる外部クロックを用い
るか、あるいはクロックジェネレータ6で発生した内部
クロックを用いるかを選択する。サンプル/ラッチ回路
3へ送られた信号は、クロック選択回路4からのサンプ
リングクロックによって、サンプルされる。グリッチ検
出回路7はサンプリングクロック間のグリッチを検出し
、検出信号をトリが検出回路8へ送る。ワード検出回路
9はあらかじめ設定したワードとサンプル/ラッチ回路
3でサンプルされた信−ンを比較して、一致すると検出
(+iりをトリガ検出回路8へ送る。エツジ検出回路I
Oはサンプル/ラッチ回路3でサンプルされた(At;
の☆〕ち上がり、あるいは立ち下がりのエツジを検出し
、検出信号をトリが検出回路8へ送る。トリが検出回路
8はサンプル/ラッチ回路コ3、ワド検出回路9、エツ
ジ検出回路10からの検出信号なあらかじめ設定した組
み合せで合成し、トリが検出傾5′Fをデイレイカウン
タ11へ送る。デイレイカウンタ11はトリガ検出信号
で動作を開始し、あらかじめ設定したデイレイ数をカウ
ントすると停止1−する。デイレイカウンタ11が停r
Lするとメモリアドレスカウンタ12も同時に停止して
、サンプル/ラッチ回路3でサンプルされた信号のバッ
ファメモリ13への記憶動作が終−rする。]ユ記記憶
動作が終rすると、バッファメモリ13に記憶されてい
る信1子はすべてアクイジションメモリ14へ転送され
る。アクイジションメモリ14のデータは1表示形式(
スラート表示、タイミング表示、グラフ表示笠)に従っ
た処理がなされ、ビデオI<AMI5へ転送される。デ
イスプレィコントロール回路16は常時ビデオRAM+
5の内容を読みとり、表示装置17へ表示するためのビ
デ第115号、水)ト・垂直同期伝号を生成する。
Embodiment FIG. 1 shows the configuration of an embodiment of the present invention. The 13-inch digital signal input to the probe 1 is converted by the comparator in the probe 1 to the threshold voltage sent from the [)/Δ converter 2. The signals are compared, logically shaped into high and low levels, and sent to the sample/latch circuit 3. The clock selection circuit 4 selects whether to use the external clock sent from the probe 5 or the internal clock generated by the clock generator 6 as the sampling clock. The signal sent to the sample/latch circuit 3 is sampled by the sampling clock from the clock selection circuit 4. A glitch detection circuit 7 detects a glitch between sampling clocks and sends a detection signal to a detection circuit 8. The word detection circuit 9 compares the preset word with the signal sampled by the sample/latch circuit 3, and detects when they match (sends +i to the trigger detection circuit 8. Edge detection circuit I
O was sampled by sample/latch circuit 3 (At;
☆] The rising or falling edge is detected and the bird sends a detection signal to the detection circuit 8. The trigger detection circuit 8 synthesizes the detection signals from the sample/latch circuit 3, the word detection circuit 9, and the edge detection circuit 10 using a preset combination, and sends the trigger detection slope 5'F to the delay counter 11. The delay counter 11 starts operating in response to a trigger detection signal, and stops after counting a preset number of delays. Delay counter 11 stops
When the signal goes low, the memory address counter 12 also stops at the same time, and the storage operation of the signal sampled by the sample/latch circuit 3 into the buffer memory 13 ends. ] When the recording operation is completed, all signals stored in the buffer memory 13 are transferred to the acquisition memory 14. The data in the acquisition memory 14 is displayed in one display format (
Processing is performed according to the slide display, timing display, and graph display screen, and the video is transferred to video I<AMI5. Display control circuit 16 always uses video RAM+
5 and generates a vertical synchronization signal for display on the display device 17.

]二記一連の動伯−の制御は、Cl5L月8がlセOM
1つに記憶されているプログラムに従って、キーボード
20からの情報やハードウェアの論理状態をモニタして
行なう。
] The control of the second series of motions is as follows: Cl5L month 8 is lseOM
This is done by monitoring the information from the keyboard 20 and the logical state of the hardware according to a single stored program.

21はリファレンスメモリであり、アクイジションメ干
り14の内容を転送することによって一時記憶する。2
2はCI)tJ18が一連の処理を行なうときに必要と
するワーク用RA Mである。
A reference memory 21 temporarily stores the contents of the acquisition memory 14 by transferring them thereto. 2
Reference numeral 2 denotes a work RAM that is required when the CI)tJ18 performs a series of processes.

リピート測定時には、+iii記一連の動作を繰り返し
行なう。
At the time of repeat measurement, the series of operations in +iii are repeated.

第2図は本実施例によるタイミング表示画面であり、第
3図は前記時間(+、)の計数部ブロック図を示す。キ
ーボード20からリピート測定実行のキー入力があると
、リピート測定設定フィールド23に示され、CI)U
I8は110M+9のプロゲラ11に従い、1111記
時間(シ)を設定するりビート測定間隔設定フィールド
24を表示する。25はタイミング表示データである。
FIG. 2 is a timing display screen according to this embodiment, and FIG. 3 is a block diagram of a counting section for the time (+,). When there is a key input from the keyboard 20 to execute repeat measurement, it is displayed in the repeat measurement setting field 23, and CI)U
I8 sets the time (1111) and displays the beat measurement interval setting field 24 in accordance with the program 11 of 110M+9. 25 is timing display data.

キー入力によってフィールド24に設定された時間はC
PLJ18によって読まれ、タイマー29に設定される
The time set in field 24 by key entry is C
It is read by the PLJ 18 and set in the timer 29.

第二り図において、26は時間設定信号でCP U 1
8は測定が終了し測定データの表示が終了すると、タイ
マー29に表示終了信号27を送る。タイマー29はC
PLJ113からの表示終了信号27を受けると計数を
開始する。タイマー29はあらかじめ設定された時間の
計数が終Tすると、(1)U18に計数終了漬し−28
を送る。CP tJ I[lはタイマー29からの計数
線r信号28を受けて次回の測定開始指令を出力する。
In the second diagram, 26 is a time setting signal for CPU 1.
8 sends a display end signal 27 to the timer 29 when the measurement is completed and the display of the measured data is completed. Timer 29 is C
Upon receiving the display end signal 27 from the PLJ 113, it starts counting. When the timer 29 finishes counting for a preset time, (1) it indicates the end of counting to U18 and indicates -28.
send. CP tJ I[l receives the count line r signal 28 from the timer 29 and outputs a command to start the next measurement.

このように、L記実施例によれば、リピート測定間隔設
定フィールド24にキーボード20によって時間を設定
することにより、リピート測定間隔を変更することがで
きるため、リピート測定時における表示データの認識表
示データがある特定の状態となったときのリピート測定
停止1−操作がIE確かつ容易に行なうことができる。
As described above, according to the embodiment L, the repeat measurement interval can be changed by setting the time in the repeat measurement interval setting field 24 using the keyboard 20, so that the recognition display data of display data during repeat measurement can be changed. Repeat measurement stop 1-operation when a certain condition occurs can be performed accurately and easily.

なお、上記実施例では、時間(シ)として数値と(11
位で設定しているが、これは第4図に示すように相対的
な時間であってもよく、バー表示30の長さが−1,2
時間(1,)に対応する。
In addition, in the above embodiment, the time (shi) is expressed as a numerical value and (11
However, as shown in Fig. 4, it may be set as a relative time, and the length of the bar display 30 is -1, 2.
Corresponds to time (1,).

発明の効果 本発明は上記のような構成をとったので、リピート測定
時において各測定路rから次回測定開始までに時間を設
けたもので、リピート測定時のデータ観測、特定状態で
のリピート測定の停+、l−操作が正確にかつ容易にで
きる。そして、さらに上記時間の設定変更がリピート測
定によるデータ観測を実行しながら行なうことができる
ため、観7Illl状態に応じて最適な時間に設定でき
るという効果をイ■する。
Effects of the Invention Since the present invention has the above-described configuration, a time is provided between each measurement path r and the start of the next measurement during repeat measurements, and data observation during repeat measurements and repeat measurements in specific conditions are possible. The stop + and l- operations can be performed accurately and easily. Further, since the above-mentioned time setting can be changed while performing data observation by repeat measurement, the effect that the time can be set to the optimum time according to the observed state is achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示すロジックアナライザの
ブロック図、第2図は同ロジックアナライザによるタイ
ミング表示図、第3図は時間計数部ブロック図、第4図
は同ロジックアナライザによる他のタイミング表示図で
ある。 23・・・リピート測定設定フィールド24・・・リピ
ート測定間隔設定フィールド25・・・タイミング表示
データ
Fig. 1 is a block diagram of a logic analyzer showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a timing display diagram of the same logic analyzer, Fig. 3 is a block diagram of the time counter, and Fig. 4 is a block diagram of another logic analyzer using the same logic analyzer. It is a timing display diagram. 23... Repeat measurement setting field 24... Repeat measurement interval setting field 25... Timing display data

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)入力ディジタル信号のサンプリング、トリガ事象
の検出、サンプルされたデータの記憶、記憶されたデー
タの表示等の一連の測定を繰り返して実行する測定手段
と、上記繰り返し測定時において、測定終了から次回の
測定開始までの時間を設定する手段と、上記設定時間を
計数する手段とを備え、繰り返し測定における繰り返し
測定間隔時間を設定又は変更して、表示データの観測、
特定の表示状態となったときの繰り返し測定の停止操作
をするようにしたことを特徴とするロジックアナライザ
(1) A measuring means that repeatedly performs a series of measurements such as sampling an input digital signal, detecting a trigger event, storing sampled data, and displaying the stored data, and a measuring means that repeatedly performs a series of measurements such as sampling an input digital signal, detecting a trigger event, storing the sampled data, and displaying the stored data. The method includes a means for setting a time until the start of the next measurement and a means for counting the set time, and the display data is observed by setting or changing the repeat measurement interval time in repeated measurements.
A logic analyzer characterized in that repeated measurements are stopped when a specific display state is reached.
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JPH0670650B2 JPH0670650B2 (en) 1994-09-07

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