JPH02146303U - - Google Patents
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- JPH02146303U JPH02146303U JP5622989U JP5622989U JPH02146303U JP H02146303 U JPH02146303 U JP H02146303U JP 5622989 U JP5622989 U JP 5622989U JP 5622989 U JP5622989 U JP 5622989U JP H02146303 U JPH02146303 U JP H02146303U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection
- section
- calculation display
- detection section
- cable
- Prior art date
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- Granted
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例を示す斜視図、第
２図はこの実施例の作動を示す構成説明図、第３
図は従来例の第２図相当図である。 １；投影機（光学式測定機器）、２；投影機本
体、３；演算表示部、４；被測定物、５；載置台
、７；スクリーン、１１；検出部、１３；検出器
、１４；増幅回路、１５；ケーブル、１６；演算
回路。
２図はこの実施例の作動を示す構成説明図、第３
図は従来例の第２図相当図である。 １；投影機（光学式測定機器）、２；投影機本
体、３；演算表示部、４；被測定物、５；載置台
、７；スクリーン、１１；検出部、１３；検出器
、１４；増幅回路、１５；ケーブル、１６；演算
回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 被測定物を拡大視させ得る拡大視手段と、その
拡大視手段によつて拡大視される被測定物の像の
受像側において被測定物の像の端部を検出する検
出部と、その検出部からの検出信号に基づき被測
定物の端部の位置を演算して表示する演算表示部
と、検出部からの検出信号を演算表示部に送るケ
ーブルとを備え、 前記検出部で得られる検出信号を検出部におい
て増幅し、且つ低インピーダンス化した信号に変
換し、その後にケーブルを介して演算表示部に送
ることを特徴とする光学式測定機器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989056229U JP2511637Y2 (ja) | 1989-05-16 | 1989-05-16 | 光学式測定機器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989056229U JP2511637Y2 (ja) | 1989-05-16 | 1989-05-16 | 光学式測定機器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02146303U true JPH02146303U (ja) | 1990-12-12 |
| JP2511637Y2 JP2511637Y2 (ja) | 1996-09-25 |
Family
ID=31579869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989056229U Expired - Lifetime JP2511637Y2 (ja) | 1989-05-16 | 1989-05-16 | 光学式測定機器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2511637Y2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61233305A (ja) * | 1985-04-09 | 1986-10-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位置検出装置 |
-
1989
- 1989-05-16 JP JP1989056229U patent/JP2511637Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61233305A (ja) * | 1985-04-09 | 1986-10-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位置検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2511637Y2 (ja) | 1996-09-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |