JPH02139985A - Optical integrated device and its manufacture - Google Patents

Optical integrated device and its manufacture

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JPH02139985A
JPH02139985A JP29393588A JP29393588A JPH02139985A JP H02139985 A JPH02139985 A JP H02139985A JP 29393588 A JP29393588 A JP 29393588A JP 29393588 A JP29393588 A JP 29393588A JP H02139985 A JPH02139985 A JP H02139985A
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JP
Japan
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active layer
cladding layer
optical
light emitting
layer
Prior art date
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Application number
JP29393588A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshitaka Furutsu
古津 美貴
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To reduce the degradation of a coupling efficiency caused by light scattering in an optical boundary and improve a light utilization factor and reduce optical noise component by a method wherein, in a coupling part between a light emitting device and the other optical device, a part of the active layer of the other optical device is enlarged. CONSTITUTION:A waveguide device 30a which serves as a waveguide is formed adjacent to a light emitting device 20. A recess 6 is formed in the extension of the first lower cladding layer 2 of the light emitting device 20 at a part adjacent to the light emitting device to form the second lower cladding layer 2a of the waveguide device 30a. The second active layer 7a of the waveguide device 30a is formed on the recess 6 to form an approximately flat surface. In other words, the second active layer 7a has an enlarged thickness in the part adjacent to the light emitting device 20. A second upper cladding layer 8a is formed on the second active layer 7a to form a surface approximately in the same plane as a first upper cladding layer 4. The depth of the recess 6 in the second active layer 7a is not necessarily uniform and may be gradually changed as shown by a broken line.

Description

【発明の詳細な説明】 [概要] 異なるバンドギャップの半導体活性層を有する複数の光
学的素子を集積した光集積装置とその製造方法に関し、 組成の興なる複数の活性層が隣接配置された光集積装置
において、複数の活性層間に形成された光学的界面での
光散乱による結合効率の低下を減じ、光利用率を高く、
光雑音成分を低くできる光集積装置を提供することを目
的とし、 同一基板上に発光素子と他の光学的素子とを集積した光
集積装置であワて、 該発光素子は、基板上の第1の下側クラッド層と、その
上の第1の半導体で形成された第1の活性層と、その上
の第1の上側クラッド層とを有し、該他の光学的素子は
、該第1の下側クラッド層の延長部である第2の下側ク
ラッド層と該第1の活性層に隣接して配置し、該第1の
半導体より広いバンドギャップを有する第2の半導体で
形成された第2の活性層とその上の第2の上側クラッド
層とを含み、該第2の活性層は第1の活性層と接する部
分で第2の下側クラッド層側に増加した厚みを有するよ
うに構成する。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] This invention relates to an optical integrated device in which a plurality of optical elements having semiconductor active layers with different band gaps are integrated, and a method for manufacturing the same. In an integrated device, the decrease in coupling efficiency due to light scattering at the optical interface formed between multiple active layers is reduced, and the light utilization rate is increased.
The purpose of the present invention is to provide an optical integrated device that can reduce optical noise components, and is an optical integrated device in which a light emitting element and other optical elements are integrated on the same substrate. the other optical element has a lower cladding layer of 1, a first active layer formed of a first semiconductor thereon, and a first upper cladding layer thereon; a second lower cladding layer that is an extension of the lower cladding layer of the first active layer and a second semiconductor formed of a second semiconductor having a wider bandgap than the first semiconductor; a second active layer and a second upper cladding layer thereon, the second active layer having a thickness that increases toward the second lower cladding layer at a portion in contact with the first active layer. Configure it as follows.

[産業上の利用分野] 本発明は光集積装置とその製造方法に関し、特に興なる
バンドギャップの半導体活性層を有する複数の光学的素
子を集積した光集積装置とその製造方法に関する。
[Industrial Field of Application] The present invention relates to an optical integrated device and a method for manufacturing the same, and more particularly to an optical integrated device in which a plurality of optical elements having a semiconductor active layer of a particular bandgap are integrated, and a method for manufacturing the same.

光通信において、変調光を得ようとする場合等、半導体
レーザ等の発光素子と変調器等の他の光学的素子を用い
る。これらの複数の光学的素子は同一の基板上に集積す
るのが便宜であり、光集積装置化が研究されている。°
シかじ、発光素子の活性層と変調素子の活性層とは一般
的にバンドギャップが異なる。このような複数の異なる
バンドギャップの活性層を含む光集積装置において、発
光素子からの光を効率よく他の光学的素子に結合させる
ことが望まれる。
In optical communications, when trying to obtain modulated light, a light emitting element such as a semiconductor laser and other optical elements such as a modulator are used. It is convenient to integrate a plurality of these optical elements on the same substrate, and research is being carried out on forming an optical integrated device. °
Generally, the active layer of a light emitting device and the active layer of a modulating device have different band gaps. In such an optical integrated device including a plurality of active layers with different band gaps, it is desired to efficiently couple light from a light emitting element to other optical elements.

[従来の技術] 従来、半導体レーザ等の発光素子と光変調器とを集積化
する方法の一つは同一の基板上の同一平面上に半導体レ
ーザの活性層と光変調器の活性層とを隣接して形成しス
トライプ状に整形することである。
[Prior Art] Conventionally, one of the methods for integrating a light emitting element such as a semiconductor laser and an optical modulator is to integrate the active layer of the semiconductor laser and the active layer of the optical modulator on the same plane on the same substrate. They are formed adjacent to each other and shaped into stripes.

第4図に、この様な従来技術による半導体レーザ発光素
子70と電界吸収型光変調素子80との光集積装置の例
を示す0図において、51は例えばn形1nPの基板、
52は例えばn型1nPの下側クラッド層、52aはn
型下側クラッド層52の延在部である光変調素子のn型
クラッド領域、53は例えばInGaASPの半導体レ
ーザ素子の活性層、57は組成の異なるInGaAsP
の光変調素子の活性層、54はたとえばp型1nPの半
導体レーザ素子の上側クラッド層、58は例えばp型1
nPの光変調素子のp型クラッド領域、60は共通のn
1lll電極、61は半導体レーザ素子70のpil!
!電極、62は光変調素子80のp側電極である。光変
調素子80の活性層57は、無電界時には半導体レーザ
素子70の活性層53から発したレーザ光を透過させ、
電界印加時には活性層53からの光を吸収するようなバ
ンドギャップを持つように、その組成を選択されている
。このため、半導体レーザ素子の活性層53と光変調素
子80の活性層57とは興なる組成を有する必要があり
、別個に形成される1例えば、半導体レーザ素子の構造
を形成後、エツチングにより光変調素子を形成する領域
を活性層まで除去し、部分的エピタキシャル成長を行っ
て、光変調素子の構造を形成する。
FIG. 4 shows an example of an optical integrated device including a semiconductor laser light emitting device 70 and an electroabsorption optical modulation device 80 according to the prior art.
52 is an n-type 1nP lower cladding layer, and 52a is an n-type 1nP lower cladding layer.
An n-type cladding region of the optical modulation device which is an extension of the lower cladding layer 52, 53 is an active layer of a semiconductor laser device made of, for example, InGaASP, and 57 is InGaAsP having a different composition.
54 is an upper cladding layer of a p-type 1nP semiconductor laser device, and 58 is an active layer of a p-type 1nP semiconductor laser device.
The p-type cladding region of the nP light modulation element, 60 is a common n
1llll electrode, and 61 is the pil! of the semiconductor laser device 70.
! The electrode 62 is the p-side electrode of the light modulation element 80. The active layer 57 of the light modulation element 80 transmits the laser light emitted from the active layer 53 of the semiconductor laser element 70 when there is no electric field,
Its composition is selected so that it has a band gap that absorbs light from the active layer 53 when an electric field is applied. For this reason, the active layer 53 of the semiconductor laser device and the active layer 57 of the light modulation device 80 need to have different compositions, and are formed separately. The region where the modulation element is to be formed is removed down to the active layer, and partial epitaxial growth is performed to form the structure of the light modulation element.

[発明が解決しようとする課題] このようなバンドギャップの興なる複数の活性層が隣接
配置された光集積装置においては、複数の活性層間に光
学的界面が形成され、この界面が光散乱の原因となる。
[Problems to be Solved by the Invention] In an optical integrated device in which a plurality of active layers with such band gaps are arranged adjacent to each other, an optical interface is formed between the plurality of active layers, and this interface is a barrier to light scattering. Cause.

このため、半導体発光素子と他の光学的素子との結合効
率が低下し、光利用率が低く、光雑音成分が高くなる。
Therefore, the coupling efficiency between the semiconductor light emitting element and other optical elements decreases, the light utilization rate becomes low, and the optical noise component becomes high.

本発明の目的は、バンドギャップの興なる複数の活性層
が隣接配置された光集積装置において、複数の活性層間
に形成された光学的界面での光散乱による結合効率の低
下を減じ、光利用率を高く、光9!音成分を低くできる
光集積装置を提供することである。
An object of the present invention is to reduce the reduction in coupling efficiency due to light scattering at the optical interface formed between the plurality of active layers in an optical integrated device in which a plurality of active layers with a wide band gap are arranged adjacently, and to improve the utilization of light. High rate, light 9! An object of the present invention is to provide an optical integrated device that can reduce sound components.

本発明の他の目的は、バンドギャップの興なる複数の活
性層を隣接配置し、その間に光学的界面を形成し、かつ
光学的界面での光散乱による結合効率の低下を減じ、光
利用率を高く、光雑音成分を低くできる光集積装置を容
易に製造できる光集積装置の製造方法を提供することで
ある。
Another object of the present invention is to arrange a plurality of active layers with wide band gaps adjacent to each other, form an optical interface therebetween, and reduce the reduction in coupling efficiency due to light scattering at the optical interface, thereby increasing the light utilization efficiency. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an optical integrated device that can easily manufacture an optical integrated device that can increase the optical noise component and reduce the optical noise component.

[課題を解決するための手段] 第1図(A)、(B)に本発明の光集積装置の原理説明
図を示す、第1図(A>は発光素子20と光変調素子3
0とを含む光集積装置を示し、第1図(B)は発光素子
20と導波素子30aとを含む光集積装置を示す。
[Means for Solving the Problems] FIGS. 1A and 1B show diagrams explaining the principle of the optical integrated device of the present invention. FIG.
FIG. 1B shows an optical integrated device including a light emitting element 20 and a waveguide element 30a.

第1図(A)において、基板1上に第1下側クラッド層
2が形成され、その上に発光素子20の第1活性層3、
第1上側クラッド層4が形成されている。第1活性層は
バンドギャップ波長λ1と屈折率n1とを有し、上下の
クラッド層2.4は、波長λ1では透明でnlより小さ
い屈折率を有する。下側クラッド層2の延長部分は発光
素子と隣接する部分で凹部6を有し、光変調素子30の
n型領域である第2下側クラッド層2aを形成している
。この上に光変調素子20の第2活性層7が形成され、
凹部6上で他の部分より大きい厚さを有している。その
上には光変調素子30のp型領域である第2上側クラッ
ド層8が形成され、第1上側クラッド層4とほぼ同一の
上平面を形成している。第2活性層7は、λ1に近いが
λ1より短いバンドギャップ波長λ2 (くλ1)を有
し、その屈折率n2もnlと異なる。第2活性層7の上
下のクラッド層2a、8はnlよりも小さい屈折率を有
する。基板1上に共通電極10、第1上側クラッド層4
上に発光素子のp側電極11、第2上側クラッド層8上
に光変調素子のpill電極12が形成される。
In FIG. 1(A), a first lower cladding layer 2 is formed on a substrate 1, and a first active layer 3 of a light emitting device 20 is formed on the first lower cladding layer 2.
A first upper cladding layer 4 is formed. The first active layer has a bandgap wavelength λ1 and a refractive index n1, and the upper and lower cladding layers 2.4 are transparent at the wavelength λ1 and have a refractive index smaller than nl. The extended portion of the lower cladding layer 2 has a recess 6 in a portion adjacent to the light emitting element, and forms a second lower cladding layer 2a which is an n-type region of the light modulation element 30. The second active layer 7 of the light modulation element 20 is formed on this,
It has a larger thickness on the recess 6 than on other parts. A second upper cladding layer 8, which is a p-type region of the light modulation element 30, is formed thereon, and forms substantially the same upper plane as the first upper cladding layer 4. The second active layer 7 has a bandgap wavelength λ2 (×λ1) close to λ1 but shorter than λ1, and its refractive index n2 is also different from nl. The cladding layers 2a and 8 above and below the second active layer 7 have a refractive index smaller than nl. A common electrode 10 and a first upper cladding layer 4 are disposed on the substrate 1.
A p-side electrode 11 of the light emitting element is formed on the p-side electrode 11 of the light emitting element, and a pill electrode 12 of the light modulating element is formed on the second upper cladding layer 8 .

第1図(B)においては、第1図(A)と同様の発光素
子20に隣接して導波路として働く導波素子30aが形
成されている0発光素子20の第1下側クラッド層2の
延在部は発光素子と隣接する部分で凹部6を有し、導波
素子30aの第2下側クラツド2aを形成している。こ
の上に導波素子30aの第2活性層7aが形成されほぼ
平坦な平面を形成している。すなわち第2活性層7aは
発光素子20に隣接する部分で部分的に増大した厚さを
有する。第2活性層7a上には第2上側クラッド層8a
が形成され、第1上側クラッド層4とほぼ同一の上平面
を形成している。第2活性層7aの凹部6は−様な深さ
を有するものに限らす゛、図中破線で示すように次第に
深さが変わるものなどであっても良い、導波素子30a
の他端にはさらに第3下側クラッド層2b、第3活性層
7b、第3上側クラッド層8bを含む他の光学的素子3
0b(例えば分岐素子)を設けることができる。
In FIG. 1(B), a first lower cladding layer 2 of a light emitting device 20 is formed with a waveguide element 30a serving as a waveguide adjacent to the light emitting device 20 similar to that in FIG. 1(A). The extending portion has a recess 6 in a portion adjacent to the light emitting element, and forms a second lower cladding 2a of the waveguide element 30a. The second active layer 7a of the waveguide element 30a is formed on this to form a substantially flat plane. That is, the second active layer 7a has a partially increased thickness in a portion adjacent to the light emitting device 20. A second upper cladding layer 8a is provided on the second active layer 7a.
is formed, forming almost the same upper plane as the first upper cladding layer 4. The concave portion 6 of the second active layer 7a is limited to having a depth of -, but may have a depth that gradually changes as shown by the broken line in the figure.
At the other end, another optical element 3 including a third lower cladding layer 2b, a third active layer 7b, and a third upper cladding layer 8b is provided.
0b (for example a branching element) can be provided.

このように本発明によれば、発光素子との結合部分で他
の光学的素子の活性層が一部太くされている。
As described above, according to the present invention, the active layer of another optical element is partially thickened at the connection portion with the light emitting element.

[作用] 発光素子との結合部において、他の光学的素子の活性層
の幅が大きくなっているため、発光素子の活性層と他の
光学的素子の活性層との界面で光散乱が生じても他の光
学的素子の活性層に取り込まれる確率が増える。従って
、発光素子と他の光学的素子との結合効率が向上し、光
利用率が向上し、光雑音成分が低下する。
[Function] Because the width of the active layer of another optical element is increased at the joint with the light emitting element, light scattering occurs at the interface between the active layer of the light emitting element and the active layer of the other optical element. However, the probability that it will be incorporated into the active layer of other optical elements increases. Therefore, the coupling efficiency between the light emitting element and other optical elements is improved, the light utilization rate is improved, and the optical noise component is reduced.

このため、例えば、光変調器と結合する場合、変調効率
を向上することができる。
Therefore, for example, when coupled with an optical modulator, modulation efficiency can be improved.

[実施例] 本発明の実施例による光集積装置を第2図(A)、(B
)、(C)に示す、(A)が斜視図、(B)が断面図、
(C)が平面図である。
[Example] An optical integrated device according to an example of the present invention is shown in FIGS.
), shown in (C), (A) is a perspective view, (B) is a cross-sectional view,
(C) is a plan view.

第2図(A)、(B)、(C)において、n型InP基
板1の上に、発光波長1.55μmのレーザ発光素子2
0と電界吸収型光変調素子30とが形成されている。レ
ーザ発光素子20は、lnP基板1上のn型1nPで形
成された第1下側クラブド層2、発光波長1.55μm
のノンドー11nGaASPで形成された第1の活性層
3、p型1nPで形成された第1上側クラッド層4を含
む、電界吸収型光変調素子30は、基本的に逆バイアス
のダイオード構造を有し、InP基板1ユのn型1nP
で形成された第2下側クラッド層2a、無電界印加時に
は1.55μmで透明であり、電界印加時に1゜55μ
mで吸収性となるバンドギャップを有するノンドーグI
nGaAsPで形成された第2の活性層7、P型1nP
で形成された第2上側クラッド層8を含む。
In FIGS. 2(A), (B), and (C), a laser emitting element 2 with an emission wavelength of 1.55 μm is placed on an n-type InP substrate 1.
0 and an electroabsorption optical modulation element 30 are formed. The laser emitting element 20 includes a first lower clubbed layer 2 formed of n-type 1nP on an lnP substrate 1, and an emission wavelength of 1.55 μm.
The electro-absorption optical modulator 30, which includes a first active layer 3 made of non-doped 11nGaASP and a first upper cladding layer 4 made of p-type 1nP, basically has a reverse bias diode structure. , n-type 1nP of 1 InP substrate
The second lower cladding layer 2a formed of
Nondogue I with a bandgap that becomes absorbent at m
Second active layer 7 formed of nGaAsP, P type 1nP
a second upper cladding layer 8 formed of .

第2下側クラッド層2aは第1下側クラッド層2と連続
したn型1nPの領域であるが、レーザ発光素子20と
接する部分で下に掘り下げられた凹部6を有している。
The second lower cladding layer 2a is an n-type 1nP region continuous with the first lower cladding layer 2, but has a recessed portion 6 dug downward at a portion in contact with the laser emitting element 20.

このため、活性層7は凹部6の上で増加した厚さを有し
ている。
For this reason, the active layer 7 has an increased thickness above the recess 6.

たとえば、レーザ発光素子20の長さは300μm、電
界吸収型光変調素子30の長さは250μm、下側クラ
ッド層2.2aの厚さtlは2゜0μm、活性層3.7
の厚さtlは0.2μm、上側クラッド層4.8の厚さ
t3は2.0μmであり、凹部6は長さQが約50μm
、深さdが約0.5μmである。このため第2店性鳩7
は凹部6上で約0.7μmの厚さを有している。第2活
性層7はレーザ発光素子20と隣接する部分で少なくと
も2倍の厚さを持つ(tl +d≧2t2)ことが好ま
しい。
For example, the length of the laser emitting device 20 is 300 μm, the length of the electroabsorption optical modulation device 30 is 250 μm, the thickness tl of the lower cladding layer 2.2a is 2°0 μm, and the active layer 3.7
The thickness tl of the upper cladding layer 4.8 is 0.2 μm, the thickness t3 of the upper cladding layer 4.8 is 2.0 μm, and the length Q of the recess 6 is approximately 50 μm.
, the depth d is approximately 0.5 μm. For this reason, the second store sex pigeon 7
has a thickness of about 0.7 μm on the recess 6. It is preferable that the second active layer 7 has at least twice the thickness of the portion adjacent to the laser emitting element 20 (tl + d≧2t2).

レーザ発光素子20と電界吸収型光変調素子30とは第
2図(A)、(C)に示すようにメサストライプ状に整
形され、第2図(A)に破線で示すように側方クラッド
領域9によって埋め込まれる。ストライプの幅は例えば
約2μmである。
The laser emitting device 20 and the electro-absorption optical modulating device 30 are shaped into a mesa stripe as shown in FIGS. Filled by region 9. The width of the stripe is, for example, approximately 2 μm.

レーザ発光素子20には順方向バイアス+v1を印加し
て、順方向電流を流してレーザ発振させ、電界吸収型光
変調素子30には逆バイアス電圧−v2と変調信号を重
畳して印加し、レーザ発光素子20から入射するレーザ
光を変調する。
A forward bias +v1 is applied to the laser emitting element 20, and a forward current is applied to cause laser oscillation.A reverse bias voltage -v2 and a modulation signal are superimposed and applied to the electroabsorption optical modulation element 30, and the laser oscillates. The laser light incident from the light emitting element 20 is modulated.

次に、第2図(A)、(B)、(C)に示すような光集
積装置の製造方法を第3図(A>、(B)(C)を参照
して説明する。
Next, a method for manufacturing an optical integrated device as shown in FIGS. 2(A), (B), and (C) will be described with reference to FIGS. 3(A>, (B), and (C)).

第3図(A)はエピタキシャル成長の工程を示す、n型
1nPの基板1上に、n型1nPの下側クラッド層2と
レーザ発光素子20用のInGaASPの第1の活性層
3を例えば液晶エピタキシャル成長で、続けて成長する
FIG. 3(A) shows the epitaxial growth process. On an n-type 1nP substrate 1, an n-type 1nP lower cladding layer 2 and a first active layer 3 of InGaASP for a laser emitting device 20 are formed by, for example, liquid crystal epitaxial growth. And continue to grow.

第3図(B)は選択エツチングの工程を示す。FIG. 3(B) shows the selective etching process.

例えばマスク14を形成して、ウェットなケミカルエツ
チングにより第1の活性層3の一部を選択的に除去する
。ここで、ケミカルエツチングによって、なだらかな斜
面を得ることができる4次に、露出した第2下側クラッ
ド層2aの1部上にもマスク16を設け、レーザ発光素
子と隣接する部分を露出する。更に露出部分で選択的エ
ツチングを行って、第2下側クラッド層2aをその一部
厚さのみ除去して凹部6を形成する。
For example, a mask 14 is formed and a portion of the first active layer 3 is selectively removed by wet chemical etching. Here, a mask 16 is also provided on a portion of the exposed second lower cladding layer 2a, which allows a gentle slope to be obtained by chemical etching, to expose the portion adjacent to the laser light emitting element. Furthermore, selective etching is performed on the exposed portion to remove only a portion of the thickness of the second lower cladding layer 2a, thereby forming the recess 6.

第3図(C)はその後のエピタキシャル成長工程を示す
、まず、露出した第2下側クラッド層2aの上に1、光
−変調素子30の1nGaAsP ノ第2の活性層7を
選択的にエピタキシャル成長する。第1の活性層3とほ
ぼ同一面となるまで第2の活性層7を成長した後、p型
1nPの上側クラッド層4.8を成長する。この後、電
極を形成して、レーザ発光素子20と光変調素子30と
を含む光集積装置を作成する。
FIG. 3(C) shows the subsequent epitaxial growth process. First, the second active layer 7 of 1nGaAsP of the light modulation element 30 is selectively grown epitaxially on the exposed second lower cladding layer 2a. . After growing the second active layer 7 until it is substantially flush with the first active layer 3, a p-type 1nP upper cladding layer 4.8 is grown. Thereafter, electrodes are formed to create an optical integrated device including the laser emitting element 20 and the light modulating element 30.

なお、先に第1活性層までエピタキシャル成長した後、
選択的エツチングを行う場合を説明したが、第1上側ク
ラッド層4まで先にエピタキシャル成長した後選択的エ
ツチングを行ってもよい。
Note that after first epitaxially growing up to the first active layer,
Although the case where selective etching is performed has been described, selective etching may be performed after first epitaxially growing up to the first upper cladding layer 4.

レーザ発光素子と光変調素子とを含む光集積装置の実施
例について説明したが、同様にしてレーザ発光素子と導
波素子ないしはさらに他の光学的素子を含む光集積装置
を構成することができることは当業者に自明であろう。
Although an embodiment of an optical integrated device including a laser emitting element and a light modulating element has been described, it is possible to similarly configure an optical integrated device including a laser emitting element and a waveguide element or other optical elements. It will be obvious to those skilled in the art.

また、上述の実施例は同等制限的意味を有するものでは
なく、種々の変形、修正、組合わせ等が可能であること
も自明であろう4 [発明の効果] 光集積装置におい−て、発光素子と他の光学的素子の間
の光学的結合が改良され、光利用率を高く、光雑音成分
を低くすることができる0例えば、他の光学的素子が光
変調素子の場合、変調特性を向上できる。
Furthermore, it is obvious that the above-mentioned embodiments are not meant to be equally restrictive, and that various modifications, modifications, combinations, etc. are possible.4 [Effects of the Invention] The optical coupling between the element and other optical elements is improved, making it possible to increase the light utilization rate and lower the optical noise component0. For example, if the other optical element is a light modulation element, the modulation characteristics can be improved. You can improve.

また、上記のような光集積装置を容易に製造することが
できる。
Further, the optical integrated device as described above can be easily manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図(A)、(B)は本発明の光集積装置の原理説明
図、 第2図(A)、(B)、(C)は本発明の実施例による
光集積装置の概略的な斜視図、断面図、平面図、 第3図(A>、(B)、(C)は本発明の実施例により
第2図に示す光集積装置を製造する工程を示す断面図、 第4図は従来例による光集積装置の例を示す断面図であ
る。  a 7.7a 8.8a 10、11、12 第1下側クラッド層 第2下側クラッド層 第1活性層 第1上側クラッド層 凹部 第2活性層 第2上側クラッド層 電極 図において、 基板 (A)発光素子と光変調素子 (A) it略斜視図 (B)概s所面図 CB)発光素子と導波素子 第1図 <c>tpus平面区 本発明の実施例による光集積河路装置 第2図 (A)エピタキシャル成長 (B)選択的エツチング 、(C)エピタキシャル成長。 第2図の光集M河路装置の製造工程 第3図 第4図
1(A) and (B) are diagrams explaining the principle of the optical integrated device of the present invention, and FIG. 2 (A), (B), and (C) are schematic diagrams of the optical integrated device according to the embodiment of the present invention. 3 (A>, (B), and (C) are sectional views showing the steps of manufacturing the optical integrated device shown in FIG. 2 according to an embodiment of the present invention; FIG. 4 7.7a 8.8a 10, 11, 12 First lower cladding layer Second lower cladding layer First active layer First upper cladding layer Recessed part. In the electrode diagram of the second active layer and second upper cladding layer, the substrate (A) light emitting element and light modulating element (A) it schematic perspective view (B) schematic top view CB) light emitting element and waveguide element Fig. 1<c>tpus plane area FIG. 2 shows an optical integrated channel device according to an embodiment of the present invention. (A) Epitaxial growth (B) Selective etching, (C) Epitaxial growth. Figure 2: Manufacturing process of the light concentrator M-channel device Figure 3: Figure 4

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)、同一基板(1)上に発光素子(20)と他の光
学的素子(30、30a)とを集積した光集積装置であ
って、 該発光素子(20)は、基板(1)上の第1の下側クラ
ッド層(2)と、その上の第1の半導体で形成された第
1の活性層(3)と、その上の第1の上側クラッド層(
4)とを有し、該他の光学的素子(30、30a)は、
該第1の下側クラッド層(2)の延長部である第2の下
側クラッド層(2a)と、該第1の活性層(3)に隣接
して配置し、該第1の半導体より広いバンドギャップを
有する第2の半導体で形成された第2の活性層(7、7
a)と、その上の第2の上側クラッド層(8、8a)と
を含み、該第2の活性層(7、7a)は第1の活性層(
3)と接する部分で第2の下側クラッド層(2a)側に
増加した厚みを有することを特徴とする光集積装置。
(1) An optical integrated device in which a light emitting element (20) and other optical elements (30, 30a) are integrated on the same substrate (1), wherein the light emitting element (20) is integrated on the substrate (1). a first lower cladding layer (2) above, a first active layer (3) made of a first semiconductor above it, and a first upper cladding layer (
4), and the other optical element (30, 30a) is
a second lower cladding layer (2a) which is an extension of the first lower cladding layer (2), and which is disposed adjacent to the first active layer (3) and further from the first semiconductor layer; A second active layer (7, 7) formed of a second semiconductor with a wide bandgap.
a) and a second upper cladding layer (8, 8a) thereon, the second active layer (7, 7a) comprising a first active layer (
3) An optical integrated device characterized by having an increased thickness on the second lower cladding layer (2a) side at a portion in contact with the second lower cladding layer (2a).
(2)、発光素子と他の光学的素子とを含む光集積装置
の製造方法であって、 第1の下側クラッド層(2)、第1の活性層(3)を含
む積層構造を基板(1)上にエピタキシャル成長する工
程と、 該積層構造の上にマスクを形成し、露出部分の第1の活
性層(3)を除去して発光素子の活性層を残す工程と、 発光素子と隣接する第1の下側クラッド層 (2)の一部についてその厚さの一部を除去して凹部を
形成し、一部厚さが薄くされた第2の下側クラッド層(
2a)を形成する工程と、該凹部を含む第2の下側クラ
ッド層(2a)の上に第1の活性層(3)より広いバン
ドギャップを有する第2の活性層(7、7a)を選択的
にエピタキシャル成長する工程と を含むことを特徴とする光集積装置の製造方法。
(2) A method for manufacturing an optical integrated device including a light emitting element and other optical elements, the method comprising: depositing a layered structure including a first lower cladding layer (2) and a first active layer (3) on a substrate; (1) a step of epitaxially growing on the layered structure; a step of forming a mask on the layered structure and removing the exposed portion of the first active layer (3) to leave the active layer of the light emitting device; A part of the thickness of the first lower cladding layer (2) is removed to form a recess, and a second lower cladding layer (2) whose thickness is partially reduced is removed.
2a) and forming a second active layer (7, 7a) having a wider bandgap than the first active layer (3) on the second lower cladding layer (2a) including the recess. 1. A method of manufacturing an optical integrated device, comprising a step of selectively epitaxially growing.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008291627A (en) * 2007-05-28 2008-12-04 Riichiro Nishino Urine splashing preventive western-style toilet
JP2020500332A (en) * 2016-11-23 2020-01-09 ロックリー フォトニクス リミテッドRockley Photonics Limited Photoelectric device

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