JPH02139944A - 半導体チップの実装方法 - Google Patents

半導体チップの実装方法

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JPH02139944A
JPH02139944A JP29296388A JP29296388A JPH02139944A JP H02139944 A JPH02139944 A JP H02139944A JP 29296388 A JP29296388 A JP 29296388A JP 29296388 A JP29296388 A JP 29296388A JP H02139944 A JPH02139944 A JP H02139944A
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JP
Japan
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semiconductor chip
glass substrate
bump electrodes
electrodes
substrate
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JP29296388A
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Takeshi Oka
毅 岡
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の分野〕 本発明は半導体集積回路を基板上にフェースダウンボン
ディングして接続する半導体チップの実装方法に関する
ものである。
〔従来の技術〕
従来混成集積回路においては、半導体チップを基板上に
実装する際に電極の接続方法として、ワイヤボンディン
グ法に加えてワイヤレスボンディング法が用いられる。
ワイヤレスボンディングとして半導体チップの所定位置
にはんだにより突起電極を形成した後、突起電極面を下
向きとして基板上の対応する電極パターンに合わせてリ
フロー工程又は熱圧着法等によってはんだを溶融させボ
ンディングするフェースダウンボンディングが知られて
いる。そして高密度実装を行うために半導体チップを直
接プリント基板に接続する方法が試みられている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかるに液晶パネルのように高密度実装を求められる製
品については、フェースダウンボンディングによって基
板上に直接接続する方法が望まれている。しかしながら
リフロー法のように全体を加熱して突起電極を基板上の
パターンに接続する場合には液晶パネルも加熱されるこ
ととなる。しかるに液晶パネルは加熱によって劣化し易
いため、液晶パネルの実装方法にフェースダウンボンデ
イフグ法を用いることができないという欠点があった。
本発明はこのような従来の半導体チップの実装方法の問
題点に鑑みてなされたものであって、高密度な実装が要
求される製品についても半導体チップを加熱することな
く基板上に接続できるようにすることを技術的課題とす
る。
〔課題を解決するための手段〕
本発明はガラス基板上に形成されたパターンに半導体チ
ップをフェースダウンボンディングする半導体チップの
実装方法であって、突起電極を有する半導体チップをガ
ラス基板上に形成されたパターンに合わせて載置する工
程と、ガラス基板の下方よりガラス板を透過する光を用
いて前記半導体チップの各突起電極を溶融して接続する
工程と、を有することを特徴とするものである。
〔作用〕
このような特徴を有する本発明によれば、半導体チップ
に形成された突起電極をガラス基板上にそのパターンに
合わせて載置すると共に、ガラス板の下方よりガラス板
を透過する光を用いて各突起電極を溶融して電極を接続
するようにしている。
〔発明の効果〕
そのため本発明によれば、電極の接続部分を部分的に加
熱して接続しているため全体を加熱する必要がなく、液
晶パネル等のように加熱できない部品についてもフェー
スダウンポンディングを行うことが可能となる。又各電
極を直接加熱するため無駄なく加熱することができ、又
電極を選択的に接続することもできる。更にリフロー法
のように全体を加熱する必要がないため設備を小型化す
ることも可能となる。
〔実施例の説明〕
第1図は本発明の一実施例による電極チップの取付状態
を示す側面図である。本図において半導体チップ1には
例えば鈴(Sn)、鉛(Pb)、アルミニウム(AA)
、金(Au)、亜鉛(Z n) 、のうち少な(とも1
種類の以上の金属を有する突起電極2a、  2b−・
−・−・−が所定部分に形成されている。
さてこの半導体チップ1をガラス基板3上に載置する。
ガラス基板3にはあらかじめ半導体チップの突起電極に
対応する位置に電極パターン4a。
4bを形成しておくものとする。こうして半導体チップ
をパターン上に配置した後、下方のレーザ光源5よりレ
ーザ光、例えば波長1.06μmのYAGレーザ光をガ
ラス基板3を介して各突起電極2a、2b〜・−・・に
順次照射する。そして突起電極2a、2b〜〜−一一一
一を溶融して半導体チップ1をガラス基板3の電極パタ
ーンに順次接続する。こうすれば半導体チップ1全体を
加熱する必要がなく、突起電極のみを加熱して半導体チ
ップを基板上に実装することができる。
尚この実施例ではガラス基板を透過させてレーザ光を突
起電極にのみ照射するようにしているが、突起電極の直
下の電極パターンにレーザ光を照射することによって突
起電極を溶融してもよく、又電極パターンと突起電極の
双方にレーザ光を照射することによって突起電極を溶融
して接続してもよい。又特開昭62−127788号に
示されているように、半導体チップと基板間に光硬化性
樹脂を挿入し、光を照射して半導体チップを基板上に固
定するようにした半導体の実装方法も提案されている。
このような方法で半導体チップの突起電極を各パターン
に合わせて接続した後、接続不良部分が発見された場合
には、その不良部分のみをレーザ光を用いて溶融して再
接続することも可能である。
又本実施例は光源としてYAGレーザ光を用いているが
、ガラス基板3を透過し、光を十分集束することができ
る種々の光ビームを用いて突起電極を溶融することがで
きることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による半導体チップの突起電
極を溶融して基板上に実装する状態を示す側面図である
。 1−・−・・半導体チップ  2a、  2b・・・−
・・−突起電極3・−・・・−ガラス基板  4a、4
b−・−・・・電極パターン  5−・−レーザ光源 特許出願人   立石電機株式会社 代理人 弁理士 岡本宜喜(他1名)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ガラス基板上に形成されたパターンに半導体チッ
    プをフェースダウンボンディングする半導体チップの実
    装方法であって、 突起電極を有する半導体チップをガラス基板上に形成さ
    れたパターンに合わせて載置する工程と、前記ガラス基
    板の下方よりガラス板を透過する光を用いて前記半導体
    チップの各突起電極を溶融して接続する工程と、を有す
    ることを特徴とする半導体チップの実装方法。
JP29296388A 1988-11-18 1988-11-18 半導体チップの実装方法 Pending JPH02139944A (ja)

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JP29296388A JPH02139944A (ja) 1988-11-18 1988-11-18 半導体チップの実装方法

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JPH02139944A true JPH02139944A (ja) 1990-05-29

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JP (1) JPH02139944A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05109824A (ja) * 1991-10-15 1993-04-30 Omron Corp 電子部品のフリツプチツプ実装方法
JPH08236577A (ja) * 1995-02-28 1996-09-13 Nec Corp フェイスダウン実装方法
US8291729B2 (en) * 2007-07-16 2012-10-23 Corning Incorporated Microalignment using laser-softened glass bumps

Cited By (3)

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JPH05109824A (ja) * 1991-10-15 1993-04-30 Omron Corp 電子部品のフリツプチツプ実装方法
JPH08236577A (ja) * 1995-02-28 1996-09-13 Nec Corp フェイスダウン実装方法
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