JPH02136710A - 腐食ピットの測定方法 - Google Patents
腐食ピットの測定方法Info
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- JPH02136710A JPH02136710A JP28984488A JP28984488A JPH02136710A JP H02136710 A JPH02136710 A JP H02136710A JP 28984488 A JP28984488 A JP 28984488A JP 28984488 A JP28984488 A JP 28984488A JP H02136710 A JPH02136710 A JP H02136710A
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- 230000007797 corrosion Effects 0.000 title claims abstract description 72
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 16
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- CVOFKRWYWCSDMA-UHFFFAOYSA-N 2-chloro-n-(2,6-diethylphenyl)-n-(methoxymethyl)acetamide;2,6-dinitro-n,n-dipropyl-4-(trifluoromethyl)aniline Chemical compound CCC1=CC=CC(CC)=C1N(COC)C(=O)CCl.CCCN(CCC)C1=C([N+]([O-])=O)C=C(C(F)(F)F)C=C1[N+]([O-])=O CVOFKRWYWCSDMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は応力腐食割れ及び腐食疲労が懸念されるタービ
ン、インペラーの車軸２円板。
ン、インペラーの車軸２円板。
動翼等の腐食ピットの測定方法に関する。
応力腐食割れ及び腐食疲労の起点となる腐食ピットは破
壊力学的には微小なき裂と考えられ、静的応力δ又は繰
返応力△δにより、応力腐食割れの場合 Ｋ＝δｆｉ・
Ｙ 腐食疲労の場合 △に＝△δン１−・Ｙで示すＫ又は
ΔＫがそれぞれ限界値Ｋ １５ＣＱ△Ｋｔｈ を超えた
とき、応力腐食割れ又は腐食疲労のき裂が発生及び進展
する。
壊力学的には微小なき裂と考えられ、静的応力δ又は繰
返応力△δにより、応力腐食割れの場合 Ｋ＝δｆｉ・
Ｙ 腐食疲労の場合 △に＝△δン１−・Ｙで示すＫ又は
ΔＫがそれぞれ限界値Ｋ １５ＣＱ△Ｋｔｈ を超えた
とき、応力腐食割れ又は腐食疲労のき裂が発生及び進展
する。
ここで、Ｙは補正係数、ａはき裂深さすなわちここでは
腐食ピット深さであり、き裂深さａが求まれば、限界値
に＋ｓｃｃ 、△Ｋｔにから定まる附界腐食ピットとの
関係で、第７図線図に示すように、被検体の余寿命を推
定することが可能となるので、余寿命推定のためには、
起点となる腐食ピットの寸法を精度よく測定することが
重要となる。
腐食ピット深さであり、き裂深さａが求まれば、限界値
に＋ｓｃｃ 、△Ｋｔにから定まる附界腐食ピットとの
関係で、第７図線図に示すように、被検体の余寿命を推
定することが可能となるので、余寿命推定のためには、
起点となる腐食ピットの寸法を精度よく測定することが
重要となる。
腐食ピットの測定は、従来、第８図工程図（Ａ）に示す
ように、被検面に付着しているスケール１を、同図（Ｂ
）に示すように、エメリー紙８で表面研磨し、同図（Ｃ
）に示すように、その被検面を型取りすることで、同図
（Ｄ）に示す要領で腐食ピットの表面長さ７を測定しこ
れをもって便宜上き裂深さとしている。
ように、被検面に付着しているスケール１を、同図（Ｂ
）に示すように、エメリー紙８で表面研磨し、同図（Ｃ
）に示すように、その被検面を型取りすることで、同図
（Ｄ）に示す要領で腐食ピットの表面長さ７を測定しこ
れをもって便宜上き裂深さとしている。
これは、腐食ピットに詰まったスケールを十分に除去し
てその深さ６を測定することが技術的に困難であること
によるもので、腐食ピット深さを高精度で測定すること
ができれば、被検体の余寿命は高精度で推定することが
できることになるのである。
てその深さ６を測定することが技術的に困難であること
によるもので、腐食ピット深さを高精度で測定すること
ができれば、被検体の余寿命は高精度で推定することが
できることになるのである。
本発明はこのような事情に鑑みて提案されたもので、被
検体の腐食ピットの大きさ特に深さを非破壊的に高精度
で求めることができる実際的な腐食ピットの測定方法を
提供することを目的とする。
検体の腐食ピットの大きさ特に深さを非破壊的に高精度
で求めることができる実際的な腐食ピットの測定方法を
提供することを目的とする。
そのために本発明は、応力腐食割れ又は腐食疲労による
割れが懸念される被検体の起点となる腐食ピットを測定
するに当り、第１工程として上記腐食ピット内のスケー
ルを８００気圧から１８００気圧の高圧ジェット水で吹
き飛し、第２工程として型取材で上記腐食ピットを型取
りし、第３工程としてその型取材の腐食ピット寸法を１
０μｍ以下１μｍまでの感度及び５μｍ以下１μｍまで
の精度を有する測定器で非破壊的に測定することを特徴
とする。
割れが懸念される被検体の起点となる腐食ピットを測定
するに当り、第１工程として上記腐食ピット内のスケー
ルを８００気圧から１８００気圧の高圧ジェット水で吹
き飛し、第２工程として型取材で上記腐食ピットを型取
りし、第３工程としてその型取材の腐食ピット寸法を１
０μｍ以下１μｍまでの感度及び５μｍ以下１μｍまで
の精度を有する測定器で非破壊的に測定することを特徴
とする。
このような構成によれば、腐食ピット中に詰まったスケ
ールは第１工程により十分に除去され、第２工程で腐食
ピットの高精度の型取りが可能となり、第３工程で腐食
ピットの深さ及び長さを１〜５μｍの高精度で測定する
ことが可能となる。
ールは第１工程により十分に除去され、第２工程で腐食
ピットの高精度の型取りが可能となり、第３工程で腐食
ピットの深さ及び長さを１〜５μｍの高精度で測定する
ことが可能となる。
本発明の一実施例を図面について説明すると、第１図は
その工程説明図、第２図は第１図の第１工程で種々の圧
力の高圧ジェット水で被検面のスケールを除去した状況
を示す被検体断面の顕微鏡写真、第３図はスケール除去
後の腐食ピットを示す走査電子顕微鏡写真、第４図は走
査電子顕微鏡を使用して測定した腐食ピットの斜視図、
第５図は本発明方法を従来法による測定結果と比較した
比較図、第６図は本発明方法による測定結果と被検体の
切断実測結果と比較した図である。
その工程説明図、第２図は第１図の第１工程で種々の圧
力の高圧ジェット水で被検面のスケールを除去した状況
を示す被検体断面の顕微鏡写真、第３図はスケール除去
後の腐食ピットを示す走査電子顕微鏡写真、第４図は走
査電子顕微鏡を使用して測定した腐食ピットの斜視図、
第５図は本発明方法を従来法による測定結果と比較した
比較図、第６図は本発明方法による測定結果と被検体の
切断実測結果と比較した図である。
まず、本発明方法を略説すると、第１図に示すように、
第１．第２及び第３工程よりなり、第１工程として、同
図（Ａ）に示すように、腐食ピットに詰まっているスケ
ール１を、同図（Ｂ）に示すように、高圧ジェット水３
により吹飛ばし、腐食ピットを同図（Ｃ）に示す状態と
する。
第１．第２及び第３工程よりなり、第１工程として、同
図（Ａ）に示すように、腐食ピットに詰まっているスケ
ール１を、同図（Ｂ）に示すように、高圧ジェット水３
により吹飛ばし、腐食ピットを同図（Ｃ）に示す状態と
する。
次に、第２工程として、同図（Ｄ）に示す要領で、腐食
ピットの型取りを行ったのち、第３工程として、同図（
Ｅ）に示すように、腐食ピットをレーザー変位計５を使
用して腐食ピットの深さ及び長さを計測する。
ピットの型取りを行ったのち、第３工程として、同図（
Ｅ）に示すように、腐食ピットをレーザー変位計５を使
用して腐食ピットの深さ及び長さを計測する。
次に、被検体として腐食の著しいタービン翼取付部を採
り、その上記各工程による作用を説明すると、第１工程
によるスケールの除去に際して、高圧ジェット水３の吹
付は前の被検体の断面は、等２図（Ａ）に示すように、
スケールが腐食ピットに詰まっているが、８００気圧の
高圧ジェット水によりスケール除去した結果は、同図（
Ｂ）に示すようになり、また１８００気圧の高圧ジェッ
ト水によるスケール除去の結果は、同図（Ｃ）に示すよ
うに、スケールはほとんどすべて除去されているので、
この程度の圧力であれば、約２０ｓの吹付は時間でスケ
ール除去は十分であることが判明した。
り、その上記各工程による作用を説明すると、第１工程
によるスケールの除去に際して、高圧ジェット水３の吹
付は前の被検体の断面は、等２図（Ａ）に示すように、
スケールが腐食ピットに詰まっているが、８００気圧の
高圧ジェット水によりスケール除去した結果は、同図（
Ｂ）に示すようになり、また１８００気圧の高圧ジェッ
ト水によるスケール除去の結果は、同図（Ｃ）に示すよ
うに、スケールはほとんどすべて除去されているので、
この程度の圧力であれば、約２０ｓの吹付は時間でスケ
ール除去は十分であることが判明した。
ここで、高圧ジェット水を使用したのは、スケールを吹
き飛ばすには、エネルギすなわち質量×流速が必要であ
り、気体では質量が不足し、固体では質量が大きすぎて
スケールのみならずメタルまで吹き飛ばす可能性がある
ことによる。
き飛ばすには、エネルギすなわち質量×流速が必要であ
り、気体では質量が不足し、固体では質量が大きすぎて
スケールのみならずメタルまで吹き飛ばす可能性がある
ことによる。
なお、その際の高圧水ジェットノズル２と被検面間距離
、ノズル径、ノズル走査速度及びノズル走査回数は上記
高圧力ではスケール除去の効果にほとんど影響しないこ
とも判明した。
、ノズル径、ノズル走査速度及びノズル走査回数は上記
高圧力ではスケール除去の効果にほとんど影響しないこ
とも判明した。
第３図はこうしてスケールが除去された腐食ピットの平
面写真を示し、第４図はその型取り前の状況を走査電子
顕微鏡で観察した結果を示す。
面写真を示し、第４図はその型取り前の状況を走査電子
顕微鏡で観察した結果を示す。
第３工程で使用する測定機は、１０〜１μｍの感度及び
５〜１μｍの精度を有する読取顕微鏡又はレーザー変位
計を使用する。ここで、感度は測定可能の最小値、精度
は測定値のバラツキ範囲をそれぞれいう。
５〜１μｍの精度を有する読取顕微鏡又はレーザー変位
計を使用する。ここで、感度は測定可能の最小値、精度
は測定値のバラツキ範囲をそれぞれいう。
第５図は、本発明方法による腐食ピア）の深さ及び腐食
ピットの長さを第８図に示す従来法によるものと比較し
た結果を示し、腐食ピットの測定は断面写真より直接に
測定されている。第６図は、その際の本発明方法による
測定結果を切断実測結果と比較した結果を示す。
ピットの長さを第８図に示す従来法によるものと比較し
た結果を示し、腐食ピットの測定は断面写真より直接に
測定されている。第６図は、その際の本発明方法による
測定結果を切断実測結果と比較した結果を示す。
以上述べたところから、本方法によれば、従来、非破壊
的に測定することは非常に困難とされていた腐食ピット
の寸法特に深さが高精度で測定され、被検体の余寿命予
測の精度が向上することが分かる。
的に測定することは非常に困難とされていた腐食ピット
の寸法特に深さが高精度で測定され、被検体の余寿命予
測の精度が向上することが分かる。
要するに本発明によれば、応力腐食割れ又は腐食疲労に
よる割れが懸念される被検体の起点となる腐食ピットを
測定するに当り、第１工程として上記腐食ピット内のス
ケールを８００気圧から１８００気圧の高圧ジェット水
で吹き飛し、第２工程として型取材で上記腐食ピットを
型取りし、第３工程としてその型取材の腐食ピット寸法
を１０μｍ以下１μｍまでの感度及び５μｍ以下１μｍ
までの精度を有する測定器で非破壊的に測定することに
より、被検体の腐食ピットの大きさ特に深さを非破壊的
に高精度で求めることができる実際的な腐食ピットの測
定方法を得るから、本発明は産業上極めて有益なもので
ある。
よる割れが懸念される被検体の起点となる腐食ピットを
測定するに当り、第１工程として上記腐食ピット内のス
ケールを８００気圧から１８００気圧の高圧ジェット水
で吹き飛し、第２工程として型取材で上記腐食ピットを
型取りし、第３工程としてその型取材の腐食ピット寸法
を１０μｍ以下１μｍまでの感度及び５μｍ以下１μｍ
までの精度を有する測定器で非破壊的に測定することに
より、被検体の腐食ピットの大きさ特に深さを非破壊的
に高精度で求めることができる実際的な腐食ピットの測
定方法を得るから、本発明は産業上極めて有益なもので
ある。
第１図は本発明の工程説明図、第２図は第１図の第１工
程で種々の圧力の高圧ジェット水で被検面のスケールを
除去した状況を示す被検体断面の顕微鏡写真、第３図は
スケール除去後の腐食ピットを示す走査電子顕微鏡写真
、第４図は走査電子顕微鏡を使用して測定した腐食ピッ
トの斜視図、第５図は本発明方法を従来法による測定結
果と比較した比較図、第６図は本発明方法による測定結
果と被検体の切断実測結果と比較した図である。 第７図は公知の腐食ピット測定要領を示す工程図、第８
図は腐食ピットの大きさと余寿命との関係を示す公知の
線図である。 １・・・スケール、２・・・高圧水ジェットノズル、３
・・・高圧ジェット水、４・・・型取材、５・・・レー
ザー変位計、６・・・腐食ピットの深さ、７・・・腐食
ピットの長さ。 第２因 ／ ７．１ｉｔｌ！１Ｆ／ｌ最２ 第 図 第、巳 図 手続補正書 平成元年３月ノ３日 事件の表示 昭和６３年特許願第２８９８４４ 号発明の名称 補正をする者 事件との関係 郵便番号 住 所 名 称
程で種々の圧力の高圧ジェット水で被検面のスケールを
除去した状況を示す被検体断面の顕微鏡写真、第３図は
スケール除去後の腐食ピットを示す走査電子顕微鏡写真
、第４図は走査電子顕微鏡を使用して測定した腐食ピッ
トの斜視図、第５図は本発明方法を従来法による測定結
果と比較した比較図、第６図は本発明方法による測定結
果と被検体の切断実測結果と比較した図である。 第７図は公知の腐食ピット測定要領を示す工程図、第８
図は腐食ピットの大きさと余寿命との関係を示す公知の
線図である。 １・・・スケール、２・・・高圧水ジェットノズル、３
・・・高圧ジェット水、４・・・型取材、５・・・レー
ザー変位計、６・・・腐食ピットの深さ、７・・・腐食
ピットの長さ。 第２因 ／ ７．１ｉｔｌ！１Ｆ／ｌ最２ 第 図 第、巳 図 手続補正書 平成元年３月ノ３日 事件の表示 昭和６３年特許願第２８９８４４ 号発明の名称 補正をする者 事件との関係 郵便番号 住 所 名 称
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 応力腐食割れ又は腐食疲労による割れが懸 念される被検体の起点となる腐食ピットを測定するに当
り、第１工程として上記腐食ピット内のスケールを８０
０気圧から１８００気圧の高圧ジェット水で吹き飛し、
第２工程として型取材で上記腐食ピットを型取りし、第
３工程としてその型取材の腐食ピット寸法を１０μｍ以
下１μｍまでの感度及び５μｍ以下１μｍまでの精度を
有する測定器で非破壊的に測定することを特徴とする腐
食ピットの測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28984488A JPH02136710A (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 腐食ピットの測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28984488A JPH02136710A (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 腐食ピットの測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02136710A true JPH02136710A (ja) | 1990-05-25 |
Family
ID=17748497
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28984488A Pending JPH02136710A (ja) | 1988-11-16 | 1988-11-16 | 腐食ピットの測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02136710A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006138673A (ja) * | 2004-11-10 | 2006-06-01 | Hitachi Industries Co Ltd | 表面形状測定方法及び測定システム |
| JP2011012963A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Hitachi Ltd | 加工仕上げ面の検査システム及び検査方法 |
-
1988
- 1988-11-16 JP JP28984488A patent/JPH02136710A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006138673A (ja) * | 2004-11-10 | 2006-06-01 | Hitachi Industries Co Ltd | 表面形状測定方法及び測定システム |
| JP2011012963A (ja) * | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Hitachi Ltd | 加工仕上げ面の検査システム及び検査方法 |
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