JPH02134839A - Manufacture of semiconductor device - Google Patents

Manufacture of semiconductor device

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JPH02134839A
JPH02134839A JP28943888A JP28943888A JPH02134839A JP H02134839 A JPH02134839 A JP H02134839A JP 28943888 A JP28943888 A JP 28943888A JP 28943888 A JP28943888 A JP 28943888A JP H02134839 A JPH02134839 A JP H02134839A
Authority
JP
Japan
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carrier tape
semiconductor chip
lead frame
region
semiconductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP28943888A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsuhiko Izumi
和泉 篤彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH02134839A publication Critical patent/JPH02134839A/en
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Abstract

PURPOSE:To facilitate mounting of semiconductor chips having little variation in characteristics on a carrier tape by a method wherein the region of a carrier tape including a lead frame protruding from the semiconductor chip is cut out and a mark is formed in the region in accordance with the screened characteristic value and the region is bonded to another carrier tape having no lead frame. CONSTITUTION:A semiconductor chip 7 having electronic circuits on its one main surface is mounted on a carrier tape to which a lead frame is bonded and, after the electrode pads 16 of the semiconductor chip 7 are connected to the lead frame, the semiconductor chip 7 is subjected to characteristics screening. When a semiconductor device is manufactured through such a process, the region 5 of the carrier tape including the lead frame protruding from the semiconductor chip 7 is cut out and a mark is formed in the cut-out region 5 of the carrier tape in accordance with the screened characteristic value. Then the cut-out region 5 of the carrier tape is bonded to another carrier tape 1a having no lead frame.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はテープキャリア方式における半導体装置の製造
方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method of manufacturing a semiconductor device using a tape carrier method.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

この種のテープキャリア方式による半導体装置は、リー
ドフレームが貼り付けられたキャリアテープに半導体チ
ップを搭載し、リードフレームと半導体チップの電極パ
ッドと接属し配線して製造していた。特に、このキャリ
アテープ方式の半導体装置は、テープに半導体チップを
搭載した状態で配線したり、特性選別したりするので、
自動化し易い利点があるし、また、この半導体装置は、
薄型に製作できるので、電卓、腕時計及び電子手帳等と
広く使用されるようになった。
Semiconductor devices using this type of tape carrier method are manufactured by mounting a semiconductor chip on a carrier tape to which a lead frame is attached, and connecting and wiring the lead frame and the electrode pads of the semiconductor chip. In particular, this carrier tape type semiconductor device requires wiring and characteristics selection with the semiconductor chip mounted on the tape.
This semiconductor device has the advantage of being easy to automate;
Since it can be made thin, it has come to be widely used in calculators, watches, electronic notebooks, etc.

第8図は従来の一例を示す半導体装置の平面図である。FIG. 8 is a plan view of a conventional semiconductor device.

この半導体装置の製造方法は、二つの部品、すなわち、
リードフレームが貼り付けられたキャリアテープと半導
体チップである部品を製造することから始める。
This semiconductor device manufacturing method consists of two parts:
We start by manufacturing the components, which are a carrier tape with a lead frame attached to it and a semiconductor chip.

まず、キャリアテープについては、長尺の樹脂テープ1
の両側面に、この樹脂テープ1を送り出すスプロケ・ソ
l−にががるスプロケット穴10を形成する。また、こ
の樹脂テープ14の中央の面には、半導体チップ7が入
る矩形状の穴12を形成する。更に、この矩形状の穴1
2の各辺に沿って台形状の穴18が開けることによって
サスペンダ13を形成する。
First, regarding the carrier tape, a long resin tape 1
Sprocket holes 10 through which the resin tape 1 is sent out are formed on both sides of the sprocket. Further, a rectangular hole 12 into which the semiconductor chip 7 is inserted is formed in the center surface of the resin tape 14. Furthermore, this rectangular hole 1
Suspenders 13 are formed by making trapezoidal holes 18 along each side of 2.

次に、樹脂テープ1に銅箔を貼り付ける。この銅箔をエ
ツチング加工法により以下の形状に加工する。すなわち
、リードフレーム2a、2b、2C及び2dは、種々の
形状をもつリード部4a、4b、4c及び4dにし、そ
れぞれのリードの一端にパッド3a〜3dをもつととも
にリードフレーム2Cのリード部3Cの一側面側に穴で
ある認識マーク17を有する突出部15をもつように形
成する。
Next, copper foil is attached to the resin tape 1. This copper foil is processed into the following shape by etching. That is, the lead frames 2a, 2b, 2C, and 2d have lead portions 4a, 4b, 4c, and 4d having various shapes, each having pads 3a to 3d at one end of the lead, and the lead portion 3C of the lead frame 2C. It is formed to have a protrusion 15 having a recognition mark 17, which is a hole, on one side.

一方、半導体チップは、多数の工程、すなわち、半導体
基板に電子回路素子領域を多数形成するために不純物を
拡散する工程、内部配線を形成する工程、層間絶縁膜を
形成する工程を経た後、半導体基板を各領域毎に切断分
割して半導体チップに形成する。
On the other hand, semiconductor chips are manufactured after passing through a number of processes, namely, a process of diffusing impurities to form a large number of electronic circuit element regions on a semiconductor substrate, a process of forming internal wiring, and a process of forming an interlayer insulating film. The substrate is cut and divided into regions to form semiconductor chips.

以上二つの部品が準備できた後、まず、樹脂テープ1の
穴12に半導体チップ7を挿入し、認識マーク17と半
導体チップ7との相対位置を顕微鏡で見ながら位置決め
する。次に、ボンディング装置により、各リード部4a
、4b、4C及び4dの先端と半導体チップの電極パッ
ド16とを圧着接続する。
After the above two parts are prepared, first, the semiconductor chip 7 is inserted into the hole 12 of the resin tape 1, and the relative position of the recognition mark 17 and the semiconductor chip 7 is determined while observing with a microscope. Next, each lead portion 4a is bonded using a bonding device.
, 4b, 4C, and 4d are crimped and connected to the electrode pads 16 of the semiconductor chip.

次に、樹脂テープ1に搭載された半導体チップ7は選別
ステージに送られ、接触子をリードフレーム2aのパッ
ド3aに接触させ、検査選別を行なう。
Next, the semiconductor chips 7 mounted on the resin tape 1 are sent to a sorting stage, and are inspected and sorted by bringing the contacts into contact with the pads 3a of the lead frame 2a.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来の半導体装置の製造方法では、半導体チッ
プをキャリアテープに搭載した後に、検査選別するので
、同一のキャリアテープに貼り付けられた半導体チップ
は、それぞれ特性のばらつきがある。例えば、メモリの
場合は、速度によりグレード分けを行なっても、同一の
キャリアテープ内に速度の違うメモリが点在することに
なり、ばらつきのない速度のメモリを要求に対して答え
られないという問題がある。
In the conventional semiconductor device manufacturing method described above, semiconductor chips are inspected and sorted after being mounted on a carrier tape, so semiconductor chips attached to the same carrier tape each have variations in characteristics. For example, in the case of memory, even if you grade it by speed, memories with different speeds will be scattered on the same carrier tape, making it impossible to meet the demand for memory with consistent speeds. There is.

本発明の目的は、同一のキャリアテープに特性のばらつ
きの少い半導体チップを搭載できる半導体装置の製造方
法を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a semiconductor device that allows semiconductor chips with less variation in characteristics to be mounted on the same carrier tape.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の半導体装置の製造方法は、−主面に電子回路が
形成された半導体チップをリードフレームが接着された
キャリアテープに搭載し前記半導体チップの電極パッド
と前記リードフレームとを接続する工程と、この工程の
後に前記半導体チップの特性選別する工程とを含む半導
体装置の製造方法において、前記選別工程後に前記半導
体チップより張り出した前記リードフレームを含む前記
キャリアテープの領域を切り抜くとともにこの切り抜か
れた前記キャリアテープの領域内に特性選別値に応じた
マークを形成する工程と、前記切り抜かれた領域のキャ
リアテープをリードフレームのない別のキャリアテープ
に貼りつける工程とを含んで構成される。
The method for manufacturing a semiconductor device of the present invention includes the steps of: - mounting a semiconductor chip having an electronic circuit formed on its main surface on a carrier tape to which a lead frame is bonded; and connecting electrode pads of the semiconductor chip and the lead frame. , a method for manufacturing a semiconductor device including, after this step, a step of selecting the characteristics of the semiconductor chip, after the selecting step, cutting out a region of the carrier tape including the lead frame protruding from the semiconductor chip, and The method includes the steps of forming a mark according to the characteristic selection value in the region of the carrier tape, and pasting the carrier tape in the cutout region to another carrier tape without a lead frame.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は本発明による第1の実施例である製造方法で製
作された半導体装置を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a semiconductor device manufactured by a manufacturing method according to a first embodiment of the present invention.

この半導体装置は、同図に示すように、従来の半導体装
置の製造方法で特性選別後に、半導体チップ7を搭載し
、この半導体チップ7から張り出しているリードフレー
ムのリード部4a、4b、4C及び4dを含め、四隅よ
り張り出した足部6をもつキャリアテープの領域である
枠体5を切り抜き、別のリードフレームのない樹脂テー
プlaに貼り付けたことである。
As shown in the figure, this semiconductor device is mounted with a semiconductor chip 7 after characteristics selection using a conventional semiconductor device manufacturing method, and lead portions 4a, 4b, 4C of a lead frame protruding from the semiconductor chip 7. The frame body 5, which is an area of the carrier tape having legs 6 projecting from the four corners, including 4d, is cut out and pasted onto another resin tape la without a lead frame.

第3〜第7図は本発明の半導体装置の製造方法の一例を
説明するためのキャリアテープの加工順に示した半導体
チップを含めたキャリアテープの平面図である。まず、
従来例と同様に、樹脂テ−プ1、例えば、カプトンのよ
うなテープにスプロケット穴10、半導体チップ7の挿
入する穴12等を明ける。次に、例えば、35μm程度
の厚さの銅箔を貼り付け、エツチング加工により、り一
ドフレーム2a、2b、2c及び2dを形成する。
3 to 7 are plan views of a carrier tape including semiconductor chips shown in the processing order of the carrier tape for explaining an example of the method of manufacturing a semiconductor device of the present invention. first,
Similar to the conventional example, a sprocket hole 10, a hole 12 into which a semiconductor chip 7 is inserted, etc. are made in a resin tape 1, for example, a tape such as Kapton. Next, a copper foil having a thickness of, for example, about 35 μm is attached and etched to form the bonded frames 2a, 2b, 2c, and 2d.

次に、第4図に示すように、半導体チップ7を樹脂テー
プ1の穴12に挿入し、従来と同様に、半導体チップ7
を認識マーク17と半導体チップ7との相対位置を顕微
鏡で見ながら位置決めする。
Next, as shown in FIG. 4, the semiconductor chip 7 is inserted into the hole 12 of the resin tape 1, and the semiconductor chip 7 is
The relative positions of the recognition mark 17 and the semiconductor chip 7 are determined while looking through a microscope.

次に、あらかじめ、バンプが形成された半導体チップ7
の電極パッド16とリードフレーム2a、2b、2C及
び2dのリード部の先端部をボンディング装置で圧着し
接続する。
Next, the semiconductor chip 7 on which bumps have been formed in advance
The electrode pads 16 and the tips of the leads of the lead frames 2a, 2b, 2C, and 2d are crimped and connected using a bonding device.

次に、従来と同様に特性選別を行なう。このとき、選別
機は、樹脂テープ1により順次に送られる半導体チップ
ごとに特性値のグレード分けを行ない、半導体チップの
特性値のどの区分であったかを記憶する。次に、穿孔装
置で、選別機に記憶された特性値を読み、この特性値に
応じたマーク、すなわち、第5図に示すように、樹脂テ
ープ1の支持部9に穴8を明ける。この半導体チップ7
の特性値区分を、例えば、穴8の大きさ、あるいは位置
で区分するとよい。
Next, characteristic selection is performed in the same manner as before. At this time, the sorting machine grades the characteristic values of each semiconductor chip that is sequentially fed by the resin tape 1, and stores the classification of the characteristic values of the semiconductor chips. Next, a punching device reads the characteristic values stored in the sorting machine and punches holes 8 in the supporting portion 9 of the resin tape 1 according to marks corresponding to the characteristic values, that is, as shown in FIG. This semiconductor chip 7
It is preferable to classify the characteristic value classification according to the size or position of the hole 8, for example.

次に、半導体チップ7が搭載された樹脂テープ1を、第
6図に示すように、枠体5で示す領域で樹脂テープ14
より切り抜くことである。一方、第7図に示すような別
の樹脂テープ1aに、スプロケット10及び半導体チッ
プ7より大きい抜き穴14を形成し、更に、この矩形状
の抜き穴14の二隅付近に前述の第6図に示す穴8に入
るような突起11を形成する。
Next, as shown in FIG.
It's about cutting out more. On the other hand, punch holes 14 larger than the sprocket 10 and the semiconductor chip 7 are formed in another resin tape 1a as shown in FIG. A protrusion 11 is formed to fit into the hole 8 shown in FIG.

次に、第1図に示すように、第6図に示す切り抜かれた
枠体5を、第7図に示す別の樹脂テープ1aの突起11
を穴8に入れて貼り付ける。このようにすることによっ
て、同じ特性値区分の半導体チップが同一のキャリアテ
ープに搭載されたことになる。
Next, as shown in FIG. 1, the cutout frame 5 shown in FIG. 6 is attached to the protrusion 11 of another resin tape 1a shown in FIG.
Insert into hole 8 and paste. By doing this, semiconductor chips of the same characteristic value classification are mounted on the same carrier tape.

第2図は第6図に示した枠体の別の形状を示した枠体の
平面図である。この枠体5aは、選別後に半導体チップ
7が搭載されているとともにり一ド部4a、4b、4c
及び4dを含めた領域を矩形状に切り抜いたものである
。そして別のリードフレームのない樹脂シー1−1 c
にこの枠体5aを貼り付けたものである。この枠体5a
は、前述の枠体5より強度があるので、貼り付ける工程
では、より容易であるという利点がある6 以上の実施例では、半導体チップが搭載された樹脂テー
プから切り抜く枠体をリードフレームの一部(パッド3
a、3b、3c、3d)を残して形成した例で説明した
が、リードフレームの全体を含んだ領域で切り抜いても
良い、従って、本発明は切り抜かれる樹脂テープの形状
に限定されるものではない。
FIG. 2 is a plan view of the frame showing another shape of the frame shown in FIG. This frame body 5a has the semiconductor chips 7 mounted thereon after sorting, and the lead portions 4a, 4b, 4c.
and 4d are cut out into a rectangular shape. And another resin sheet without lead frame 1-1 c
This frame body 5a is attached to the frame body 5a. This frame 5a
Since the frame body 5 is stronger than the frame body 5 described above, it has the advantage that the pasting process is easier.6 In the above embodiments, the frame body cut out from the resin tape on which the semiconductor chip is mounted is used as one part of the lead frame. (Pad 3
Although the explanation has been given using an example in which parts a, 3b, 3c, and 3d) are left, the area including the entire lead frame may be cut out. Therefore, the present invention is not limited to the shape of the resin tape to be cut out. do not have.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、キャリアテープに搭載さ
れた半導体チップの特性選別検査後に、半導体チップの
特性値に応じたマークをキャリアテープ内に形成し、半
導体チップが搭載されたキャリアテープのリードフレー
ムを含めた領域に切り抜き枠体とし、この切り抜がれな
枠体の半導体チップの特性値区分が同じものを、リード
フレームのない同一のキャリアテープに貼り付けること
により、同一のキャリアテープに特性のばらつきの少い
半導体チップをWiNできる半導体装置の製造方法が得
られるという効果がある。
As explained above, the present invention forms a mark in accordance with the characteristic value of the semiconductor chip in the carrier tape after the characteristic selection inspection of the semiconductor chip mounted on the carrier tape, and leads the carrier tape on which the semiconductor chip is mounted. By making a cutout frame in the area including the frame and pasting semiconductor chips with the same characteristic value classification in the cutout frame on the same carrier tape without a lead frame, the same carrier tape can be used. This has the effect of providing a method for manufacturing a semiconductor device that can perform WiN on semiconductor chips with less variation in characteristics.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による第1の実施例である!A遣方法で
製作された半導体装置を示す平面図、第2製造方法の一
例を説明するためのキャリアテープの加工順序を示した
半導体チップを含めたキャリアテープの平面図、第8図
は従来の一例を示す半導体装置の平面図である。 1.1a、1 c−樹脂テープ、2a、2 +)、2C
52d−、、リードフレーム、3a、3b、3c3 d
 ・・・パッド、4a、4b、4 C14d ・−、リ
ード部、5.5a・・・枠体、6・・・足部、7・・・
半導体チップ、8.8a、12.18.、、穴、9・・
・支持部、10・・・スプロケット穴、 1・・・突起、 3・・・サスペ ンダ、 ■ 4・・・抜き穴、 ・・突出部、 6・・・電極、 7・・・認識マーク。
FIG. 1 shows a first embodiment according to the present invention! A plan view showing a semiconductor device manufactured by method A, a plan view of a carrier tape including semiconductor chips showing the processing order of the carrier tape for explaining an example of the second manufacturing method, and FIG. FIG. 1 is a plan view of a semiconductor device showing an example. 1.1a, 1c-resin tape, 2a, 2 +), 2C
52d-, lead frame, 3a, 3b, 3c3 d
... Pad, 4a, 4b, 4 C14d -, Lead part, 5.5a... Frame body, 6... Foot part, 7...
Semiconductor chip, 8.8a, 12.18. ,, hole, 9...
・Support part, 10... Sprocket hole, 1... Protrusion, 3... Suspender, ■ 4... Hole,... Projection, 6... Electrode, 7... Recognition mark.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  一主面に電子回路が形成された半導体チップをリード
フレームが接着されたキャリアテープに搭載し前記半導
体チップの電極パッドと前記リードフレームとを接続す
る工程と、この工程の後に前記半導体チップの特性選別
する工程とを含む半導体装置の製造方法において、前記
選別工程後に前記半導体チップより張り出した前記リー
ドフレームを含む前記キャリアテープの領域を切り抜く
とともにこの切り抜かれた前記キャリアテープの領域内
に特性選別値に応じたマークを形成する工程と、前記切
り抜かれた領域のキャリアテープをリードフレームのな
い別のキャリアテープに貼りつける工程とを含んでいる
ことを特徴とする半導体装置の製造方法。
A step of mounting a semiconductor chip with an electronic circuit formed on one main surface on a carrier tape to which a lead frame is adhered, and connecting the electrode pads of the semiconductor chip with the lead frame, and after this step, characteristics of the semiconductor chip. In the method of manufacturing a semiconductor device, the method includes a step of sorting, after the sorting step, a region of the carrier tape including the lead frame protruding from the semiconductor chip is cut out, and a characteristic selection value is placed in the cut out region of the carrier tape. 1. A method for manufacturing a semiconductor device, comprising the steps of: forming a mark in accordance with the above, and pasting the carrier tape in the cutout region onto another carrier tape without a lead frame.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0582617A (en) * 1991-09-18 1993-04-02 Sharp Corp Production of semiconductor element

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0582617A (en) * 1991-09-18 1993-04-02 Sharp Corp Production of semiconductor element

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