JPH0213436A - 計算機式断層写真装置で漏話の人為効果を除くための像補正方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 この発明は全般的にＸ線旧算機式断層写真（ＣＴ）装置
を用いて像を発生すること、更に具体的に云えば、ＣＴ
装置に於ける隣接した検出器の間の漏話誤差によって汚
染されたＸ線測定値を補正することに関する。

合口のＣＴ装置は、扇形ビームのＸ線回転源と、複数個
の回転位置（即ち、ビュー（ｖｉｅｗ）　）に於ける被
検体による減衰後の扇形ビームを測定するＸ線検出器の
配列とを使って、被検体のＸ線減衰係数の断面像を再生
する。第３世代ＣＴスキャナでは、回転検出器配列が、
扇形ビーム源とは被検体の反対側で、回転平面内に横に
整合して並べた多数の検出素子（又はチャンネル）で構
成される。

各々のビューで、各々の検出素子によって求められたＸ
線測定値を組合せて、フィルタ補正逆投影法の様な周知
の方法を使って、像を形成する。

検出器配列内の素子は密な間隔でなければならないから
、漏話が起る惧れがある。即ち、１つのチャンネルに入
射するＸ線がそのチャンネルと両隣りのチャンネルとに
出力信号を生ずる。普通便われるキセノン・ガス検出器
では、検出セルの間のＸ線散乱と、セルの間の電荷の漏
れとによって、漏話が起る。固体検出器では、Ｘ線散乱
と、１つのシンチレータで発生された可視光が異なるシ
ンチレータに関連する感光ダイオードに漏れることと、
隣合ったダイオードの間の電気信号が漏れること＼によ
って、漏話が起る。

訓話は、各チャンネルの個々のＸ線測定値の歪みの為、
第３世代ＣＴスキャナの再生像にリング形及びストリー
キング形の人為効果（アーチファクト）を生ずる。その
名前の示す様に、リング形人為効果は、源及び検出器配
列の回転軸線（即ち、図形中心）を中心とする明るい又
は暗い円又は円の一部分となって現れる。こう云うリン
グは視野の中心近く、並びに減衰係数が突然に変化する
区域に現れる傾向がある。ストリーキング形人為効果は
、稠密（即ち、Ｘ線減衰の強い）物体の縁に対して接線
方向の明るい又は暗い線となって現れる。

リング形及びストリーキング形人為効果を減らそうとす
る従来の試みは、素子の間に高度の一様性を持つ釣合い
検出器を使うものかある。隣接する全てのチャンネルの
漏話特性が略等しければ、各チャンネルの累積漏話誤差
は、１つのビューの際に、検出器の間に起るＸ線強度の
変動が近似的に区間別に線形であるから、大体相殺する
。然し、釣合い検出器配列は構成するのが困難であり、
費用もか＼る。

別の方式はリング形人為効果があるかどうか再生像を検
査し、数値方法を用いて、リングを除く様に、像を操作
するものである。然しこの方式はストリーキング形人為
効果を除くことが出来ない。

更にリング形人為効果も、ある烈しさを越えたものは、
除くことが出来ない。

従って、この発明の主な目的は、特殊な釣合い検出器を
使わずに、ＣＴ像の漏話人為効果を少なくすることであ
る。

別の目的は、リング形人為効果及びストリーキング形人
為効果を含めて、漏話によって生ずるＣＴ像の全ての人
為効果を少なくする方法と装置を提供することである。

別の目的は、特別の準備又はハードウェアを用いないで
、検出器配列の漏話を簡単便利な形で特徴づけることで
ある。

別の目的は、像を再生する前に、ＣＴデータから漏話誤
差を除くことである。

発明の要約 」−記並びにその他の目的が、測定値から再生される像
の漏話による人為効果を少なくする様に、ＣＴ定走査各
々のビューで、検出器配列から得られる個々のＸ線測定
値を補正する方法と装置によって達成される。この方法
は、（１）各ビューの間に、隣合った検出器の間に生ず
る漏話誤差によって汚染された、検出器の出力からの複
数個のＸ線測定値を求め、（２）夫々の検出器からの夫
々のＸ線測定値と、そのビューで、隣合った少なくとも
１つのＸ線測定値の少なくとも一部分に、夫々の検出器
と各々の隣接する検出器の漏話結合に関係する漏話補正
係数を乗じたものとを加算することにより、夫々の検出
器の各々のＸ線測定値から補正７１Ｉｌｊ定値を決定す
る工程を含む。

この発明の別の一面では、ＣＴスキャナの複数個のＸ線
検出器からの複数個の出力信号を較正する補正係数を見
つける方法を提供する。この方法は、（１）複数個のビ
ューの各々で、Ｘ線源からのＸ線エネルギを検出器に向
って放射して、各々のビューで検出器に到着するエネル
ギが夫々の分布を持つ様にし、（２）各々のビューで各
々の検出器の出力を測定し、（３）各々のビューに対す
る出力信号の変動に基づいて、夫々の検出器に対する補
正係数を決定する工程を含む。

この発明の新規な特徴は特許請求の範囲に具体的に記載
しであるが、この発明自体の構成、作用並びにその他の
目的及び利点は、以下図面について説明する所から最も
よく理解されよう。

好ましい実施例の詳しい説明 第１図について説明すると、計算機式断層写真スキャナ
が回転ガントリ１０有するデータ収集装置を含む。ガン
トリが、その向い合った両側に、扇形ビームＸ線源１１
及び検出器配列１２を支持している。作像しようとする
物体１３がガントリ１０内に位置ぎめされていて、何れ
のビューもガントリー１０の異なる回転位置になる様な
複数個の異なるビューで、その物体をＸ線によって照射
することが出来る様にする。各々のビューに対し、検出
器配列１２によって測定されたＸ線減衰デー夕か像処理
部分に供給される。この処理部分が計算機１４を含み、
これかデータに対する補正があれば、その補正を行ない
、フィルタ補正逆投影法の様な任意の周知の再生方法を
用いて、物体１３の断面像を再生する。再生像が計算機
１４からＣＲＴ又はフィルム撮影装置の様な表示装置１
５に供給される。

第２図は好ましい実施例の検出器配列１２の一部分を詳
しく示す。この実施例は固体検出素子を含むカベこれか
ら説明する漏話モデル及びこの発明の像補正方法は、キ
セノン・ガス検出器の様な他の検出器にも同じ様に用い
ることが出来る。

複数個の固体シンチレータ２０乃至２４及び夫々の感光
ダイオード３０乃至３４が、支持及び分離手段（図面に
示してない）によってガントリ１０に固定される。典型
的には、各々のシンチレータは、沃化すトリウムの様に
、Ｘ線光子を吸収して、それに応答して可視光の光子を
放出することが出来る結晶で構成される。可視光の光子
が感光タイオートと相互作用し、このダイオードが、夫
々の検出器を照射するＸ線束の目安である電気信号を発
生する。

夫々の検出器素子に対する相対的な出力信号の寄与のモ
デルを、シンチレータ２２とダイオード３２で構成され
た検出素子の場合について説明する。この特定の素子が
Ｘ線束り０受取り、電気出力信号Ｓ０持つ。隣接する一
方の素子がＸ線束人力Ｌ−を受取り、出力信号Ｓ−を持
つが、隣接する他方の素子はＸ線束人力Ｌ　を受取り、
出力信号Ｓ　を持つ。

出力信号Ｓ。は漏話による漏れで汚染されている。かな
りよい近似として、漏話による漏れは隣接する素子の間
だけで起る。従って、任意の所定の素子の汚染信号は、
両側のチャンネルからの信号の結果として起るだけであ
る。

第２図のモデルに基づくと、所定の素子からの出力信号
Ｓ。は次の式で近似することが出来る。

Ｓ　　＝ε　　Ｌ　　＋ε　　Ｌ　　＋ε　　Ｌ　　　
　　（１）０　　　　−−　　　　００　　　　　＋＋
こ＼でε。は所定の素子の電気利得であり、ε−及びε
やは、この所定の素子と夫々隣接する２つの素子との間
の漏話結合強度である。この発明では、−旦漏話結合強
度εや及びε−が決定されたら、各々の出力信号の汚染
部分を減算によって除くことにより、漏話の影響が除か
れる。

Ｓ、Ｓｏ及びＳ＋を、第２図に示す様に隣接する３つの
検出器からの基準に対して正規化した出力信号であると
する。各々のビューに於ける各々のＸ線束測定値に対す
る補正測定値Ｓ′が、εｏＬｏの値を推定する。この発
明のモデルでは、Ｓ′＝Ｓｏ−Ｅ−Ｌ−−ε＋Ｌ＋　　
　　　（２）然し、Ｌ−及びＬ　の値は未知であり、推
定しなければならない。隣接する検出器では、漏話を無
視した出力信号は Ｓ−はεｏＬ− ８＋−εｏ＋Ｌ＋ である。こ＼でεロー及びε０＋は隣接する各々の検出
器の電気利得である。漏話誤差は経験的に典型的には１
０％未満であることが判っているから、これらの式を式
（２）に代入しても、誤差は極く少ない。

Ｓ’　＝Ｓｏ−（ε−／εロー）Ｓ− −（ε＋／εｏ＋）Ｓ＋　　　　　　（３）検出器は、
全ての検出器の電気利得が略同じである様に設計されて
いる。更に、εｏ−＝ε０及びε。や＝ε０代入すると Ｓ’　−’Ｓｏ−（ε−／εｏ）Ｓ− −（ε＋／εｏ）Ｓ＋　　　　　　　（４）ＣＴ定走査
各々のビューで、各々の測定値に式（４）を適用すれば
、再生した時に漏話による人為効果が目立って減少した
像が得られる様な像データが得られる。

補正測定値を発生する為に式（４）を使う時、εや及び
ε−は経験により（例えば、検出器の構造に基づいた推
定により）又は直接或いは間接の測定によって見出すこ
とが８来る。１つの測定方法は、配列の」二にスリット
付き鉛板をゆっくりと通しながら、検出器配列をＸ線で
走査することである。スリットの幅は、−度に１つの素
子だけを照射する様に狭くしなければならない。各々の
検出素子が照射される時、隣接する素子の出力信号を測
定し、照射された素子の出力信号によって正規化する。

これによって、ε−／ε０及びε＋／ε０ではなく、ε
−／εロー及びε＋／ε０＋が得られるが、典型的には
検出器の電気利得の差は無視し得る。

鉛スリット試験及び同様な他の検出器の特徴づけは、複
雑化を招き、費用の高くなる様な特殊な装置を使わなけ
れば出来ないと云う欠点がある。

従って、特別の装置を用いずに、スキャナを取付けた後
に実施し得る試験が望ましい。

この発明の別の改良点として、漏話は、各々の検出器と
隣接する検出器との漏話結合の差（例えば、εや一ε−
）に従って特徴づけられる。、この特徴づけを利用して
、これから説明する幾つかの方法により、リング形人為
効果及びストリーキング形人為効果の両方を除くことが
出来る。これらの方法は、やはりこれから説明する様な
漏話結合の差を測定するこの発明の方法と共に実施する
ことか出来る。

Ｅ＝（ε−＋ε＋）／２を平均漏話結合とし、δ＝εや
−ε−を漏話結合の差とするとε　　ミＴ＋δ／２ ε−＝τ−δ／２ これらの式を（１）に代入すると Ｓｏ−εｏＬｏ＋Ｅ’（Ｌ　　＋Ｌ　　）＋δ（Ｌ＋−
Ｌ−）／２　　　　　　　（５）これを並べかえし、Ｄ
　及びＤ２を素子の間のＸ線束強度の変動の平均の１次
及び２次微分の離散的な近似と定義すると り、　＝　（Ｌ＋−Ｌ、−）　／２ Ｄ２＝Ｌ＋＋Ｌ−−２ＬＤ 従って５ｏ＝（Ｓｏ　＋　２　ｅ　）　Ｌｏ　＋　Ｋ　
Ｄ　２十δＤ１　　　　　　　　　　（６） この式は、所定の素子の両側にあるチャンネルの間の漏
話の差はＸ線束の１次微分に組合さり、これに対してこ
れら２つのチャンネルの平均漏話はＸ線束の２次微分に
繋がると共に、素子の見かけの利得にも寄与する（即ち
、Ｘ線束り。の倍数となる）ことが判る。平均利得によ
る見かけの利得に対する寄与は、標準的な空気較正走査
によってデータを正規化する時、除算によって除かれる
。

大抵の物体によって減衰したＸ線信号では、２次微分項
Ｄ２は、減衰が強い物体の縁の極く近くの場合が考えら
れる他は、他の項に比べて無視し得ることか判っている
。

上に述べた所から、漏話による人為効果の殆んど全部は
、所定の素子の両側にあるチャンネルの間の漏話の差δ
によるものであることは明らかである。この寄与が問題
になるのは、検出器の間にＸ線束の勾配か存在する時だ
けである。

リング形及びストリーキング形人為効果は殆んど全部が
漏話の差δによるものであるから、ε及びε−の代りに
、この差だけを用いて補正を実施することか可能になる
。従って、各々のＸ線束の測定値は（式（６）からＤ２
に関係する無視し得る項を落して）、次の式を用いて補
正することか出来る。

ｓ’　＝ｓ　　−δＤ　　＝Ｓ　　−（δ／２ε。）Ｓ
＋＋（δ／２εｏ）Ｓ　　　　　　　　（７）実験によ
ると、式（４）及び式（７）が漏話による人為効果を同
じ様に除去することが判った。

Ｄ２の式を書き直すことにより、更に簡略にすることが
出来る。

Ｌ−＝Ｄ２−Ｌ＋＋２Ｌ。

これを（１）に代入すると Ｓ′＝（ε　＋２ε−）Ｌｏ＋ε−Ｄ２＋δＬ この場合も、Ｄ２に関係する２次微分項は無視し得るも
のであり、ε−項は大部分が検出器の見かけの利得変化
に寄与するが、空気較正走査によって除した後は、この
後で脱落する。従って、漏話の補正は、次の簡単にした
式で実施することが出来る。

Ｓ′＝Ｓ−（δ／ε。）Ｓ＋　　　　　（８）Ｄ２の式
を書き直すことにより、これとは別の簡略化を行なうこ
とが出来る。

Ｌ＋＝Ｄ２−Ｌ　　＋２Ｌ。

式（１）に代入すると Ｓ′＝（εｏ＋２ε＋）Ｌｏ十ε＋Ｄ２−δＬ− この場合も、Ｄ２に関係する２次微分項は無視し得るも
のであり、ε　項は大部分が検出器の見かけの利得変化
に寄与するものであって、空気較正走査によって除した
後は脱落する。従って、漏話の補正は、別の簡単にした
次の式によって実施することか出来る。

Ｓ′−８ｏ＋（δ／εｏ）Ｓ−（８’　）」二に述べた
補正方法（即ち、式（４）、（７）、（８）及び（８′
））の内、どれもか漏話によるリング形及びストリーキ
ング形人為効果を大体同じ様に補正するか、式（８）及
び（８′）が、乗算／加算か２回ではなく１回しか必要
とせず、実際の結合値εや及びε−ではなく、容易に得
られる漏話の差δを使う点で、最も効率的に構成出来る
。

この発明の好ましい実施例では、夫々の検出器の隣接す
る２つの検出器に対する漏話結合強度の差δは、隣接す
る検出器に対して供給するＸ線束強度の差を系統的に変
え、こうして予定の形で、夫々の検出器が受取る漏話の
汚染を変えることによって測定される。漏話較正走査の
各々のビューでは、Ｘ線束を夫々のエネルギ分布を持っ
て検出器配列に放射する。検出器の出力を測定し、各々
のビューに対し、その出力信号の変動に基づいて、各々
の検出器に対する漏話補正係数を決定する。

前に論じた様に、漏話による人為効果を発生するには、
Ｘ線信号の勾配が必要である。ファントムの走査により
、その縁の近くに大きな勾配が生ずるが、これがそこに
漏話による人為効果が生ずる理由である。この様なファ
ントムが中心にあることによって影となる素子では、信
号の勾配が殆んどない。ファントムを中心外れに配置し
た場合、その影が、軸走査の過程の間に、検出器配列を
横切り、その為、中心の素子は、ファントムの種々の部
分の影になるにつれて、漏話の生ずる度合が変化する。

例えば、３６０°の軸走査の間、中心の検出器チャンネ
ルに対する効果を考える。ファントムを図形中心の上に
配置した場合、このチャンネルは最初にファントムの中
心、一方の縁、その後再び中心、他方の縁、そして最後
に中心の影になる。従って、中心外れの丸いファントム
を便利に用いて、必要とする変化する勾配分布を発生す
ることが出来る。全てのビューに対し、夫々の検出素子
から得られたＸ線測定値から、夫々の素子に於ける変化
する勾配の大きさに漏話誤差を最小自乗ではめ合せるこ
とにより、その素子に対するδの推定値が得られる。こ
の後、δの値を式（７）、（８）又は（８′）で使って
、生の測定値を補正し、この後で再生される像の漏話に
よる人為効果を少なくすることが出来る。

第３図は、ＣＴスキャナの図形中心４１からずれた丸い
滑かなファントム４０を示している。源１１及び検出器
配列１２が位置Ａにある時、検出器配列１２が受けるＸ
線エネルギ強度分布４２が示されている。ガントリ１０
が位置Ｂに回転した場合に対応するビューでは、配列１
２が受取る分布は４３である。典型的な走査は、約１，
０００個のビューで構成される。この為、中心外れのフ
ァントムが約１，０００個の異なる分布を生ずるが、漏
話を決定づけるのは、更に少ないビューで出来る。

中心外れのファントムを用いて漏話較正走査を実施する
前に、検出素子の間の利得の変動に対し、全ての測定値
を正規化する為に、空気較正走査を実施することが必要
である。空気較正走査では、源１１が検出器配列１２に
ある全ての素子を平等に走査する。最も正確に漏話を補
正する為には、漏話の計算を実施する前に、使われる特
定の装置に関係するＸ線測定値のこの他の判っている誤
差を種々の公知の方式を用いて補正又は補償すべきであ
る。

走査の各々のビューは、漏話の独立の測定値であるから
、量子雑音が問題である。量子雑音を抑圧しないと、そ
れが漏話誤差を越え、その為擬似的な結果が得られるこ
とがある。この問題を解決する為、Ｘ線束を強めること
が出来る。これは、ファントムの多重走査を行なって、
対応するビューの測定値を加算することによって達成す
ることが出来る。

好ましい実施例のファントム４０は、ポリ塩化ビニル（
Ｐ　Ｖ　Ｃ）又はその他の熱可塑性樹脂の様に、Ｘ線減
衰の小さい品質材料で作った小さい（例えば直径約５吋
）の円板である。ファントムは、その縁の影となる区域
に対して大きなＸ線勾配を作るものであるから、ファン
トムの寸法が小さいことが好ましい。漏話を特徴づける
際の誤差の原因となる様な分布の乱れを避ける為に、フ
ァントムの側面は滑かにする。

漏話の差δ（又は更に具体的に云えば、項δ／ε。）は
、次の様に計算することが出来る。Ｘ線束の変動並びに
データ収集装置のオフセットを補正した、空気較正の特
定の検出器の出力をＣ８で表わすとする。

Ｃ＝（Ｃｏ＋２ｒ）Ａｏ＋　（δ／２）（Ａ＋−Ａ　　
）　　　　　　　　　　　（９）こ＼でＡ。、Ａ＋及び
Ａ−は、（２次微分項を無視して）空気較正走査の間に
、隣接する３つの素子に入射する、ビューの間で平均し
たＸ線束を表わす。ファントムの１つのビューに対する
対応する検出器出力が次の式で示される。

Ｓ　　−（ε　＋２　ｅ　）　Ｌ　ｏ　＋　（δ／２）
（Ｌ＋−Ｉ、　）（１０） 空気較正をしたファントムの測定値は、式（１θ）を式
（９）で除すことによって得られる。

Ａｏ、Ａ＋及びＡ−は近似的に等しい（即ち、Ａ＋−Ａ
−〜０）そしてＣｏ〉〉τであるから、式（１１）は次
の様に近似することが出来る。

Ｓ　ｏ　／　Ｃｏ　−Ｌｏ　／　Ａｏ　＋　（δ／２ε
０）（Ｌ＋／Ａ＋−Ｌ−／Ａ−） 対数に負の符号をつけて、δ／εｏくく１と云う事実を
利用すると −１ｎ（Ｓｏ／Ｃｏ）＝−１ｎ（Ｌｏ／Ａｏ）＋（δ＋
２εｏ）（Ａｏ／Ｌｏ） （Ｌ　　／Ａ　　−Ｌ　　／Ａ　　） 式（１３）の左辺は、式（１１）の結果として得られる
ファントムの測定値から直接的に計算することが出来る
。Ｘ＝−１ｎ　（Ｓｏ／Ｃｏ）とする。

項εや及びε−が、配列内の素子の間で大幅に変化し、
その為、漏話の汚染も配列にわたって大幅に変化する（
即ち、高い周波数で変化する）ことに注意されたい。そ
の時、右辺の第１項は、Ｘの適当な低域フィルタ作用に
よって近似することが出来る。

Ｙ＝−１０（Ｌｏ／Ａｏ）＝Ｓ＊Ｘ こ＼でＳ＊Ｘは適当な低域フィルタによる畳込み積分を
表わす。項り。／Ａｏ、Ｌ　　／Ａ−及びＬ　　／Ａ　
　は次の式 ％式％） を使い、この結果を１チヤンネルだけシフトして、５　
／Ａ−又はＬ　　／Ａ　　を求めることによって計算す
ることが出来る。この時、項δ／ε。は、各々の検出素
子に対し、全てのビューにわたって最小自乗のはめ合せ
をすることによって計算することが出来る。

各々のビューに対し、低域フィルタが、ファントムの縁
にぶつかる時に、Ｙに対して擬似的な結果を生ずる。こ
の問題をさける為、ファントムの縁の近くの値はＯに置
換える。その特定のビューで、ファントムの縁の近くの
素子に対しては、この為最小自乗のはめ合せの和にデー
タを加算しない。ファントムの縁の外側にある全ての信
号は、この特定のビューでそれらに対する漏話の値を測
定することがあり得ないから、０にする。

最小自乗のはめ合せの値を見付ける為、Ｚ＝　（１／２
）（Ａｏ／Ｌｏ） （Ｉ、／Ａ　　−Ｌ＋／Ａ＋）　　　　　（１４）とお
く。式（１３）は次の様に書き直すことが出来る。

Ｘ−Ｙ＝　（δ／ε。）Ｚ　　　　　　　　（１５）こ
の時、δ／ε０に対する最小自乗のはめ合せの値は、次
の式で表わされる。

δ／ε　＝Σ（Ｘ−Ｙ）Ｚ／ΣＺ２　　　　（１６）こ
＼で値は関心か持たれる各々の検出チャンネルに対して
計算し、走査中の全てのビューにわたる和を求める。多
重走査を使う場合、全ての走査にわたって和を累算する
。

この発明の好ましい実施例を図面に示して説明したか、
この実施例は例に過ぎないことを承知されたい。当業者
には、この発明の範囲内で、種々の変更並びに置換えが
考えられよう。従って、特許請求の範囲は、この発明の
範囲内に含まれるこの様な全ての変更を包括するもので
あることを承知されたい。

【図面の簡単な説明】

第１図は計算機式断層写真データ収集装置と、データ処
理及び表示装置の一部分の回路図、第２図は検出器配列
のある部品を示す断面図、第３図は中心外れのファント
ムを用いて得られる種々のＸ線束の分布の導き出し方を
示す説明図である。 図中、１１はＸ線源、１２は検出器配列、４０はファン
トムを表わす。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、測定値から再生された像内の漏話による人為効果を
   少なくする様に、計算機式断層写真法（ＣＴ）の走査の
   ビューで、検出器の配列によるＸ線束の個々の測定値を
   補正する方法に於て、 ａ）前記ビューの間、前記検出器の出力から複数個のＸ
   線測定値を求め、該測定値は隣合った検出器の間に起る
   漏話誤差によって汚染されており、 ｂ）夫々の検出器からの夫々のＸ線測定値と、隣接する
   検出器からの、前記ビュー内の少なくとも１つの隣接す
   るＸ線測定値の少なくとも一部分に、夫々の検出器と各
   々の隣接する検出器の漏話結合に関係する漏話補正係数
   を乗じたものとを加算することにより、補正測定値を決
   定する工程を含む方法。 ２、前記補正測定値が、Ｓ′を補正測定値、Ｓ＿０補正
   すべき夫々の検出器からの測定値、Ｓ＿＋を隣接する一
   方の検出器からの測定値、Ｓ＿−を他方の隣接する検出
   器からの測定値、ε＿０を夫々の検出器の信号利得、ε
   ＿＋を夫々の検出器と前記一方の隣接する検出器の間の
   漏話結合強度、そしてε＿−を前記夫々の検出器と他方
   の隣接する検出器の間の漏話結合強度として、次の式 Ｓ′＝Ｓ＿０−（ε＿−／ε＿０）Ｓ＿− −（ε＿＋／ε＿０）Ｓ＿＋ に従って求められる請求項１記載の方法。 ３、前記補正測定値が、Ｓ′を補正測定値、Ｓ＿０補正
   すべき夫々の検出器からの測定値、Ｓ＿＋隣接する一方
   の検出器からの測定値、Ｓ＿−を他方の隣接する検出器
   からの測定値、ε＿０を夫々の検出器の信号利得、δを
   前記夫々の検出器と各々の隣接する検出器との間の漏話
   結合強度の差として、補正測定値が次の式 Ｓ′＝Ｓ＿０−（δ／２ε＿０）Ｓ＿＋ ＋（δ／２ε＿０）Ｓ＿− に従って求められる請求項１記載の方法。 ４、前記補正測定値が、Ｓ′を補正測定値、Ｓ＿０を補
   正しようとする夫々の検出器からの測定値、Ｓ＿＋を隣
   接する一方の検出器からの測定値、ε＿０夫々の検出器
   の信号利得、δを夫々の検出器と各々の隣接する検出器
   との間の漏話結合強度の差として、次の式 Ｓ′＝Ｓ＿０−（δ／ε＿０）Ｓ＿＋ に従って求められる請求項１記載の方法。 ５、前記補正測定値が、Ｓ′を補正測定値、Ｓ＿０を補
   正しようとする夫々の検出器からの測定値、Ｓ＿−を隣
   接する一方の検出器からの測定値、ε＿０を夫々の検出
   器の信号利得、δを夫々の検出器と各々の隣接する検出
   器との間の漏話結合強度の差として、次の式Ｓ′＝Ｓ＿
   ０＋（δ／ε＿０）Ｓ＿− に従って求められる請求項１記載の方法。 ６、Ｘ線源を含むＣＴスキャナにある複数個のＸ線検出
   器からの複数個の出力信号を較正する補正係数を見つけ
   る方法に於て、ａ）前記源からのＸ線エネルギを複数個
   のビューの各々で前記検出器に向けて放射して、夫々の
   ビューで前記検出器に到着するエネルギが夫々の分布を
   持つ様にし、ｂ）各々のビューに対し、各々の検出器か
   らの出力信号を測定し、ｃ）各々のビューからの出力信
   号の変動に基づいて、夫々の検出器に対する補正係数を
   決定する工程を含む方法。 ７、前記放射する工程が、前記ＣＴスキャナの中心外れ
   の位置に滑かなファントムを配置して、前記ビューに対
   する夫々の分布を持たせる工程を含む請求項６記載の方
   法。 ８、前記放射する工程及び測定する工程が、複数回実施
   され、量子雑音の効果を少なくする為に、その結果を組
   合せる請求項６記載の方法。 ９、更に空気較正走査を実行して、夫々の検出器に対す
   る平均基準出力信号を求める工程を含む請求項６記載の
   方法。 １０、夫々の検出器に対応する各々の補正係数が、夫々
   の検出器の両方の隣接する検出器に対する漏話結合の差
   δに比例し、前記補正係数を決定することが、Ｓを夫々
   の測定された出力信号、Ｃを夫々の検出器に対する夫々
   の基準出力信号として、Ｓ÷Ｃを出して、夫々の検出器
   に対するδを見つける工程を含む請求項９記載の方法。 １１、Ｌ＿０ならびにＬ＿＋及びＬ＿−を各検出器ｏな
   らびに隣接する一方の検出器及び隣接する他方の検出器
   に対して夫々のビューの間に放射された実際のＸ線束と
   し、Ａ＿０ならびにＡ＿＋及びＡ＿−を前記検出器ｏな
   らびに前記隣接する一方の検出器及び前記隣接する他方
   の検出器に対して前記空気較正走査の間に夫々放射され
   る平均Ｘ線束とし、ε＿０を夫々の検出器ｏの信号利得
   として、各々の検出器に対するＳ÷Ｃが、次の式 Ｓ＿０／Ｃ＿０＝Ｌ＿０／Ａ＿０＋（δ／２ε＿０）（
   Ｌ＿＋／Ａ＿＋−Ｌ＿−／Ａ＿−） を用いて求められる請求項１０記載の方法。 １２、夫々の検出器に対する項Ｌ＿０／Ａ＿０がＳ＿０
   ／Ｃ＿０の低域濾波作用によって近似される請求項１１
   記載の方法。 １３、各々の検出器に対する項δ／ε＿０が、前記複数
   個のビューにわたる最小自乗のはめ合せを用いて計算さ
   れる請求項１１記載の方法。 １４、ａ）Ｘ線源と、 ｂ）各々の検出器が該源から放射されたＸ線に応答して
   出力信号を発生する様になっていて、当該配列及び前記
   源が中心容積の周りを回転して複数個のビューを発生す
   る様になっているＸ線検出器の配列と、 ｃ）該配列に結合されていて、前記検出器からのＸ線測
   定値を求める測定手段と、 ｄ）該測定手段に結合されていて、夫々の検出器からの
   夫々のＸ線測定値と、同じビュー内の隣接する検出器か
   らの少なくとも１つの隣接するＸ線測定値の少なくとも
   一部分に、夫々の検出器と各々の隣接する検出器との漏
   話結合に依存する漏話補正係数を乗じたものとを加算す
   ることにより、夫々の検出器からの夫々のＸ線測定値に
   対する補正測定値を決定する補正手段とを有する計算機
   式断層写真装置。 １５、前記補正測定値からＣＴ像を再生する様に前記補
   正手段に結合された像再生手段を有し、こうして再生像
   が前記漏話誤差によるリング形及びストリーキング形人
   為効果を目立って減少する様にした請求項１４記載の計
   算機式断層写真装置。 １６、前記測定手段及び前記補正手段に結合されていて
   、多数のビューからなる較正手順の間、Ｘ線測定値から
   補正係数を決定すると共に、該補正係数を前記補正手段
   に供給する係数手段を有し、該係数手段は前記較正手順
   に於ける夫々のビューの勾配分布に応答する請求項１４
   記載の計算機式断層写真装置。 １７、前記勾配分布を発生する様に、中心外れの位置を
   持つＸ線ファントムを前記中心容積内に位置ぎめする位
   置ぎめ手段を有する請求項１６記載の計算機式断層写真
   装置。