JPH02130885A - 半導体レーザ駆動回路 - Google Patents
半導体レーザ駆動回路Info
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- JPH02130885A JPH02130885A JP28468488A JP28468488A JPH02130885A JP H02130885 A JPH02130885 A JP H02130885A JP 28468488 A JP28468488 A JP 28468488A JP 28468488 A JP28468488 A JP 28468488A JP H02130885 A JPH02130885 A JP H02130885A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/06825—Protecting the laser, e.g. during switch-on/off, detection of malfunctioning or degradation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
Landscapes
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は半導体レーザ駆動回路に関する。
［従来の技術］
従来の半導体レーザ駆動回路としては、例えば特許公報
昭６３−３１８６０や公開実用新案公報昭６３−３３６
５３がある。
昭６３−３１８６０や公開実用新案公報昭６３−３３６
５３がある。
［発明が解決しようとする課題］
しかし、前述の従来技術ではＬＤの寿命等何らかの理由
でＬＤの発光光量が不足した場合に対する処置が何ら施
されていないという問題点を有する。
でＬＤの発光光量が不足した場合に対する処置が何ら施
されていないという問題点を有する。
そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、そ
の目的とするところはＬＤの寿命等何らかの理由でＬＤ
の発光光量が不足した場合、それを速やかに検出するＬ
ＤＤ動回路を提供するところにある。
の目的とするところはＬＤの寿命等何らかの理由でＬＤ
の発光光量が不足した場合、それを速やかに検出するＬ
ＤＤ動回路を提供するところにある。
［課題を解決するための手段］
本発明の半導体レーザ駆動回路は、
ａ）ＬＤをある一定光ｆｉＰａで発光せしめる目的で流
されている電流値工。をモニタするためのＬＤ駆駆動電
流モニタ回路上、 ｂ）ＬＤをある一定光ＪＩ Ｐ ｂで発光せしめる目的
で流されている電流値ＩｂをモニタするためのＬＤＤ動
電流モニタ回路すと、 ｅ）ＬＤを電流工、で駆動しているときの実際のＬＤ光
ｉｐ、’をモニタするＬＤ光量検出回路ａと、ｄ）ＬＤ
を電流Ｉｂで駆動しているときの実際のＬＤ光ｉｔ Ｐ
ｂ ’をモニタするＬＤＤ量検出回路すと、ｅ）前記
Ｐ ＠ ’ Ｐ ｂ ’ Ｉ ｓおよびＸｂから
ＬＤの効率ηと発光しきい電流値Ｉｔｈとを求めるため
の回路手段とを具備したことを特徴とする。
されている電流値工。をモニタするためのＬＤ駆駆動電
流モニタ回路上、 ｂ）ＬＤをある一定光ＪＩ Ｐ ｂで発光せしめる目的
で流されている電流値ＩｂをモニタするためのＬＤＤ動
電流モニタ回路すと、 ｅ）ＬＤを電流工、で駆動しているときの実際のＬＤ光
ｉｐ、’をモニタするＬＤ光量検出回路ａと、ｄ）ＬＤ
を電流Ｉｂで駆動しているときの実際のＬＤ光ｉｔ Ｐ
ｂ ’をモニタするＬＤＤ量検出回路すと、ｅ）前記
Ｐ ＠ ’ Ｐ ｂ ’ Ｉ ｓおよびＸｂから
ＬＤの効率ηと発光しきい電流値Ｉｔｈとを求めるため
の回路手段とを具備したことを特徴とする。
［実施例コ
ＬＤの出射パワーＰ ［Ｗ］は、ＬＤの効率η［Ｗ／Ａ
］と発光しきい電流値工ｔｈ［Ａ］を用いて、Ｐ＝η（
Ｉ−Ｉｔｈ） （１）と表される。ここで工［
Ａ］はＬＤＤ動電流値である。以下ＬＤのパワーは［Ｗ
］、電流は［Ａ］、電圧は［ｖコの単位で表す。これか
らＰは工を決めれば一意に決定することになる。
］と発光しきい電流値工ｔｈ［Ａ］を用いて、Ｐ＝η（
Ｉ−Ｉｔｈ） （１）と表される。ここで工［
Ａ］はＬＤＤ動電流値である。以下ＬＤのパワーは［Ｗ
］、電流は［Ａ］、電圧は［ｖコの単位で表す。これか
らＰは工を決めれば一意に決定することになる。
しかし実際には（１）式中のηや工ｔｈの値は周囲の温
度や経時変化等により変化する。ところが逆にこれを利
用してＬＤの温度を一定にしたりＬＤの出射パワーをモ
ニタしフィードバックすることによりいわゆるＡＰＣ（
オートパワーコントロール）の機能をもたせることによ
り、周囲の温度変化以外の理由で極端にηが小さくなっ
たりＩｔｈが大きくなったりするのを確認することが出
来、ＬＤの異常を検出できる。
度や経時変化等により変化する。ところが逆にこれを利
用してＬＤの温度を一定にしたりＬＤの出射パワーをモ
ニタしフィードバックすることによりいわゆるＡＰＣ（
オートパワーコントロール）の機能をもたせることによ
り、周囲の温度変化以外の理由で極端にηが小さくなっ
たりＩｔｈが大きくなったりするのを確認することが出
来、ＬＤの異常を検出できる。
例えば光磁気メモリや相変化メモリのような書き換え可
能型光メモリやライトワンスの光メモリの光学ヘッドの
光源としてＬＤを駆動する場合は、その記録パワーや消
去パワーは非常にクリティカルなので、何らかの理由で
記録パワーや消去パワーが不足してしまうとデータの正
確な記録や消去ができず、光メモリドライブの信頼性は
失われてしまうことになる。またデータの再生において
も充分な信号品質が得られないことが生ずる。
能型光メモリやライトワンスの光メモリの光学ヘッドの
光源としてＬＤを駆動する場合は、その記録パワーや消
去パワーは非常にクリティカルなので、何らかの理由で
記録パワーや消去パワーが不足してしまうとデータの正
確な記録や消去ができず、光メモリドライブの信頼性は
失われてしまうことになる。またデータの再生において
も充分な信号品質が得られないことが生ずる。
前述の光磁気メモリの場合、ＬＤＤ動回路の動作状態に
は記録、再生及び消去の３つのモードがある。仮にこの
光磁気、メモリドライブ起動時に常にディスクをドライ
ブに挿入しない状態で、再生モード及び消去モードのＬ
ＤＤ光テストをすればηとＩｔｈを知ることが出来、Ｌ
Ｄの異常が検出でき、前述のようなトラブルを未然に防
ぐことが出来る。
は記録、再生及び消去の３つのモードがある。仮にこの
光磁気、メモリドライブ起動時に常にディスクをドライ
ブに挿入しない状態で、再生モード及び消去モードのＬ
ＤＤ光テストをすればηとＩｔｈを知ることが出来、Ｌ
Ｄの異常が検出でき、前述のようなトラブルを未然に防
ぐことが出来る。
第１図は本発明による実施例を示すＬＤＤ動回路ブロッ
ク図である。以下、このブロック図に基づいて詳細に説
明する。本実施例では（１）式で表されるＬＤのＩ−Ｐ
特性の温度変化による変動を抑えるため前述のＡＰＣの
機能を持たせた。
ク図である。以下、このブロック図に基づいて詳細に説
明する。本実施例では（１）式で表されるＬＤのＩ−Ｐ
特性の温度変化による変動を抑えるため前述のＡＰＣの
機能を持たせた。
まずこのＬＤＤ動回路を動作開始状態にするとバイアス
電流設定回路（第１図１）及びＬＤ駆動電流ドライブ回
路１（第１図２）が動作する。これによって光メモリ装
置が情報の再生、記録及び消去のいずれの状態であって
もバイアス電流設定回路の出力ｖ１で決定される電流Ｉ
ｂｌｓｓが常時バイアス電流として駆動される。この
バイアス電流の大きさは、ＬＤが発光し始める工ｔｈと
同じかそれより大きく設定する。
電流設定回路（第１図１）及びＬＤ駆動電流ドライブ回
路１（第１図２）が動作する。これによって光メモリ装
置が情報の再生、記録及び消去のいずれの状態であって
もバイアス電流設定回路の出力ｖ１で決定される電流Ｉ
ｂｌｓｓが常時バイアス電流として駆動される。この
バイアス電流の大きさは、ＬＤが発光し始める工ｔｈと
同じかそれより大きく設定する。
次に再生時であるが、このときのＬＤ出力は再生パワー
設定回路（第１図３）で設定される。この出力は加算器
（第１図４）に入力される。加算器への消去パワー設定
回路（第１図５）からの入力は再生時には０ボルトとな
るように制御する。
設定回路（第１図３）で設定される。この出力は加算器
（第１図４）に入力される。加算器への消去パワー設定
回路（第１図５）からの入力は再生時には０ボルトとな
るように制御する。
そのため加算器からの出力は再生パワー設定回路からの
出力ｖ２と等しくなる。つまり加算器の出力はＬＤＤ生
出力の基準電圧となり、ＬＤＤ動電流ドライブ２（第１
図６）は再生パワー設定回路で決められる電流Ｉａを供
給する。これにより、再生時にはＬＤにはＬＤＤ動電流
ドライブ１．２から供給される（ Ｉ ｂｌａｂ汁工、
）分の電流が流れることになり、これが前記（１）式中
の工に相当する。
出力ｖ２と等しくなる。つまり加算器の出力はＬＤＤ生
出力の基準電圧となり、ＬＤＤ動電流ドライブ２（第１
図６）は再生パワー設定回路で決められる電流Ｉａを供
給する。これにより、再生時にはＬＤにはＬＤＤ動電流
ドライブ１．２から供給される（ Ｉ ｂｌａｂ汁工、
）分の電流が流れることになり、これが前記（１）式中
の工に相当する。
また、消去時は加算器（第１図４）の消去パワー設定回
路（第１図５）側の入力もオンになる。
路（第１図５）側の入力もオンになる。
加算器の出力は消去パワー設定回路の出力ｖ３と再生パ
ワー設定回路の出力ｖ２の和（Ｖ ｔ ＋ Ｖ ｓ ）
となる。それ以外は再生時と同じ動作をする。よって消
去時には消去パワー設定回路ｖ３で決められる電流工。
ワー設定回路の出力ｖ２の和（Ｖ ｔ ＋ Ｖ ｓ ）
となる。それ以外は再生時と同じ動作をする。よって消
去時には消去パワー設定回路ｖ３で決められる電流工。
たけ再生時より余計にＬＤに電流が流れることになる。
今度は（工１゜＋Ｉ、＋Ｉ。）が（１）式の工に当たる
。
。
さて、再生および消去時のＡＰＣであるがその概略を以
下に述べる。
下に述べる。
差動増幅器１（第１図７）で加算器の出力ｖｒ・ｒ＋（
再生時Ｖ Ｐ ｓ ｒ ｔ ＝ Ｖ ２ テ、消去時Ｖ
ｒ ＊ ｔ ｌ ＝ Ｖ ２ ＋Ｖ ｓ ）とＬＤ比
出力モニタするＰＤの出力電流をニーＶ変換回路（第１
図８）でＩ−Ｖ変換した後にサンプル・ボトムホールド
回路（第１図９）を通過させて得られる電圧信号Ｖ、。
再生時Ｖ Ｐ ｓ ｒ ｔ ＝ Ｖ ２ テ、消去時Ｖ
ｒ ＊ ｔ ｌ ＝ Ｖ ２ ＋Ｖ ｓ ）とＬＤ比
出力モニタするＰＤの出力電流をニーＶ変換回路（第１
図８）でＩ−Ｖ変換した後にサンプル・ボトムホールド
回路（第１図９）を通過させて得られる電圧信号Ｖ、。
ｎｌを比較することによって誤差信号ｅを得る。ＡＰＣ
はこの誤差信号ｅをＯに近づけるように動作する。なお
基準電圧Ｖ ｒ ｅ ｒ ｌと比較する信号の大きさＶ
、。１であるが、以下のように決められる。
はこの誤差信号ｅをＯに近づけるように動作する。なお
基準電圧Ｖ ｒ ｅ ｒ ｌと比較する信号の大きさＶ
、。１であるが、以下のように決められる。
ＡＰＣの構成はこの場合、基準値が加算器の出力Ｖｒ＊
ｒｌで制御量がＬＤ比出力となっているので、ＡＰＣの
精度をａ％、誤差信号をｅとすると、ｅ ／Ｖｒ＊ｆｌ
＝ ａ／１００ （２）ｅ ＝Ｖｒｅｒ
ｌ−Ｖ＠Ｏｎｌ （３）が成り立つ、
（２）に（３）を代入すると（４）を得る。
ｒｌで制御量がＬＤ比出力となっているので、ＡＰＣの
精度をａ％、誤差信号をｅとすると、ｅ ／Ｖｒ＊ｆｌ
＝ ａ／１００ （２）ｅ ＝Ｖｒｅｒ
ｌ−Ｖ＠Ｏｎｌ （３）が成り立つ、
（２）に（３）を代入すると（４）を得る。
Ｖｍｏｎｔ＝（１ａ／１００）Ｖｒｅｒ＋ （４
）ＡＰＣの設計段階で、精度ａ％と基準値Ｖ、。ｔｌを
決定するので基準値と比較する信号Ｖ、。。寡は（４）
によって一意的に決定される。なお再生および消去時は
ＬＤ駆動電流ドライブ回路３（第１図１０）は作動しな
い。
）ＡＰＣの設計段階で、精度ａ％と基準値Ｖ、。ｔｌを
決定するので基準値と比較する信号Ｖ、。。寡は（４）
によって一意的に決定される。なお再生および消去時は
ＬＤ駆動電流ドライブ回路３（第１図１０）は作動しな
い。
次に記録時であるが、このときは消去パワー設定回路か
ら加算器への出力は０で、加算器の出力ｖ１゜ｆｌは、 ｖｒｅｒｔ＝ｖａ となっている、記録時はＬＤはパルス発振し７ているわ
けであるがパルスのロー・レベルを上記ｖｒ６１１で設
定する。ＬＤ比出力ＰＤでモニタしＩ−Ｖ変換した後に
ＬＤ出射パルス幅に比較して十分小さいアクライジョン
タイムに設計されたサンプル・ボトムホールド回路（第
１図９）を通過させることによってパルスのロー・レベ
ルをモニタする。
ら加算器への出力は０で、加算器の出力ｖ１゜ｆｌは、 ｖｒｅｒｔ＝ｖａ となっている、記録時はＬＤはパルス発振し７ているわ
けであるがパルスのロー・レベルを上記ｖｒ６１１で設
定する。ＬＤ比出力ＰＤでモニタしＩ−Ｖ変換した後に
ＬＤ出射パルス幅に比較して十分小さいアクライジョン
タイムに設計されたサンプル・ボトムホールド回路（第
１図９）を通過させることによってパルスのロー・レベ
ルをモニタする。
この値は再生時のＶ、。。１と同じ式で与えられる。
一方、パルスのハイ・レベルであるが（尚記録時はＬＤ
駆動電流ドライブ回路３も動作している）、これは記録
パワー設定回路（第１図１２）の出力ｖ４で設定する。
駆動電流ドライブ回路３も動作している）、これは記録
パワー設定回路（第１図１２）の出力ｖ４で設定する。
ＬＤ比出力ＰＤでモニタしＩ−Ｖ変換した後にＬＤ出射
パルス幅に比較して十分小さいアクライジョンタイムに
設計されたサンプル・ピークホールド回路（第１図１１
）を通過させることによってパルスのハイ・レベルをモ
ニタする。この値Ｖ、。ｎ２は（４）を導いたのと同様
にして、■、。１１２＝（１ａ／１００）Ｖ、。ｔａ
（５）で決定されることがわかる。尚ここで、Ｖｒ
＊ｔ２＝ｖ４である。■、。、２を基準電圧Ｖ、。ｆ２
と差動増幅器２（第１図１３）で比較することによって
誤差信号を得る。これをＬＤ駆動電流ドライブ３に出力
する。ＡＰＣは差動増幅器１と２で得られるそれぞれの
誤差信号を０にするように動作する。
パルス幅に比較して十分小さいアクライジョンタイムに
設計されたサンプル・ピークホールド回路（第１図１１
）を通過させることによってパルスのハイ・レベルをモ
ニタする。この値Ｖ、。ｎ２は（４）を導いたのと同様
にして、■、。１１２＝（１ａ／１００）Ｖ、。ｔａ
（５）で決定されることがわかる。尚ここで、Ｖｒ
＊ｔ２＝ｖ４である。■、。、２を基準電圧Ｖ、。ｆ２
と差動増幅器２（第１図１３）で比較することによって
誤差信号を得る。これをＬＤ駆動電流ドライブ３に出力
する。ＡＰＣは差動増幅器１と２で得られるそれぞれの
誤差信号を０にするように動作する。
以上、第１図の回路のＡＰＣ機能について概略述べたが
、次に本発明の特徴であるところのηとＩｔｈの検出に
ついて述べる。
、次に本発明の特徴であるところのηとＩｔｈの検出に
ついて述べる。
いま再生モードで実際発光している光量をＰａとし、消
去モードで実際発光している光量をＰｂとする。また再
生モードで実際ＬＤに流している電流を１．（理想的に
はＩ ｂ＋ａｓ＋ 工ｒ）とし、 消去モードで実際流
している電流をより（理想的にはＩ ｂｉｍｓ ＋ Ｉ
ｒ ＋ Ｉ。）とする、そうすると（１）式より、ｐ
、＝η（Ｉｓ−Ｉｔｈ） （８）Ｐｂ＝η（
Ｉｂ−工ｔｈ） （７）が得られる。この（
６）（７）式より次の２式が得られる。
去モードで実際発光している光量をＰｂとする。また再
生モードで実際ＬＤに流している電流を１．（理想的に
はＩ ｂ＋ａｓ＋ 工ｒ）とし、 消去モードで実際流
している電流をより（理想的にはＩ ｂｉｍｓ ＋ Ｉ
ｒ ＋ Ｉ。）とする、そうすると（１）式より、ｐ
、＝η（Ｉｓ−Ｉｔｈ） （８）Ｐｂ＝η（
Ｉｂ−工ｔｈ） （７）が得られる。この（
６）（７）式より次の２式が得られる。
η＝（Ｐａ−Ｐ ｂ）／（Ｉ ａ−Ｉ ｂ＞ （
８）Ｉ ｔｈ＝ （ＰｓＩｂ−ＰｂＩｓ）／ （Ｐｓ−
Ｐｂ） （９）つまりＰｌ、Ｐｂ、 Ｉ−および
Ｉｂがわかれば、ηとＩｔｈを知ることが出来る。
８）Ｉ ｔｈ＝ （ＰｓＩｂ−ＰｂＩｓ）／ （Ｐｓ−
Ｐｂ） （９）つまりＰｌ、Ｐｂ、 Ｉ−および
Ｉｂがわかれば、ηとＩｔｈを知ることが出来る。
本実施例では、ＰａとＰｂはＬＤからの出射光をホトダ
イオード（以下ＰＤと称す）で検出し、■−Ｖ変換した
ものを（８）（９）式を代入したうえでηとＩｔｈを求
めるような回路構成を採っである。またその時工、とＩ
ｂもそれぞれ電圧に変換したものを（８）（９）式に代
入しである。
イオード（以下ＰＤと称す）で検出し、■−Ｖ変換した
ものを（８）（９）式を代入したうえでηとＩｔｈを求
めるような回路構成を採っである。またその時工、とＩ
ｂもそれぞれ電圧に変換したものを（８）（９）式に代
入しである。
まずＰ−とＰｂの電圧変換について述べる。ＰＤの感度
をＳ ［Ａ／ＷｌとすればＬＤがパワーＰで発光してい
ればＰＤに流れる電流工ＰＤは（簡単のためここではＬ
Ｄの出射光がロスなくＰＤに入射する場合を考える−例
えばＰＤがＬＤの中付けのものである場合）、 Ｉ ｐＤ＝ Ｐ Ｓ となる。これをＩ−Ｖ変換するとその回路の利得を０１
として、 Ｖ＋＝ＣｔＰＳ （１０）が得ら
れる。 （ｉｏ）式よりＰａとＰ−は以下のような電
圧に変換されることがわかる。
をＳ ［Ａ／ＷｌとすればＬＤがパワーＰで発光してい
ればＰＤに流れる電流工ＰＤは（簡単のためここではＬ
Ｄの出射光がロスなくＰＤに入射する場合を考える−例
えばＰＤがＬＤの中付けのものである場合）、 Ｉ ｐＤ＝ Ｐ Ｓ となる。これをＩ−Ｖ変換するとその回路の利得を０１
として、 Ｖ＋＝ＣｔＰＳ （１０）が得ら
れる。 （ｉｏ）式よりＰａとＰ−は以下のような電
圧に変換されることがわかる。
ｖ ａ ＝ ｃ ＋ ｐ ａ ｓ （
１１）Ｖｂ＝ＣｔＰｂＳ （１２）コ
（７） （１１）（１２）テ与エラれるｖ、とｖｂを第
１図１６のＡ−Ｄコンバータに送り、メモリ（第１図１
７）に入力する。
１１）Ｖｂ＝ＣｔＰｂＳ （１２）コ
（７） （１１）（１２）テ与エラれるｖ、とｖｂを第
１図１６のＡ−Ｄコンバータに送り、メモリ（第１図１
７）に入力する。
次に工、とＩｂの電圧変換について述べる。抵抗Ｒを流
れる電流工はＲの両端の電圧υ１をとして、工＝υ＋／
Ｒ で与えられる。ＬＤに流れる電流もこのように抵抗で規
定されるから、工、とＩｂは 工・２υ口／Ｒ２（１３） より＝υｓ／Ｒ２（１４） となり、この式のυ自とυ８を検出し、両方ともＬＤＤ
動電流モニタ回路（第１図１５）から出力され、Ａ−Ｄ
コンバータ（第１図１６）に入力してからメモリへ送ら
れる。尚、υ口とνＢはそれぞれ抵抗Ｒ１の両端の電圧
であり、Ｒ２はＬＤ駆駆動電流ドラ４口 を規定する抵抗。
れる電流工はＲの両端の電圧υ１をとして、工＝υ＋／
Ｒ で与えられる。ＬＤに流れる電流もこのように抵抗で規
定されるから、工、とＩｂは 工・２υ口／Ｒ２（１３） より＝υｓ／Ｒ２（１４） となり、この式のυ自とυ８を検出し、両方ともＬＤＤ
動電流モニタ回路（第１図１５）から出力され、Ａ−Ｄ
コンバータ（第１図１６）に入力してからメモリへ送ら
れる。尚、υ口とνＢはそれぞれ抵抗Ｒ１の両端の電圧
であり、Ｒ２はＬＤ駆駆動電流ドラ４口 を規定する抵抗。
一方、ＬＤＤ動電流ドライブ１から供給される電流１ｋ
ｌ。（理想的にはＩｂ＋ｓｓ）のモニタであるが、これ
も（１３）（１４）式と同様抵抗Ｒ１とその両端の電圧
υ１．，を用いて、 ｉｂｌ。。＝υｋ１ｍ。／ Ｒ Ｉ（１５）となる。
ｌ。（理想的にはＩｂ＋ｓｓ）のモニタであるが、これ
も（１３）（１４）式と同様抵抗Ｒ１とその両端の電圧
υ１．，を用いて、 ｉｂｌ。。＝υｋ１ｍ。／ Ｒ Ｉ（１５）となる。
再生および消去のときは、ＬＤに流れている電流はそれ
ぞれ（１３）と（１４）に（１５）を加えたものである
から、いまここで ■．＝υ自／Ｒ ２＋υｈａｍｓ／Ｒ Ｉ （１６）エ
ト＝υｓ／Ｒ２＋υｂａｓｓ／ Ｒｔ （１７）と置
き直せば、工．が再生時にＬＤに流れる電流で、Ｉｂが
消去時にＬＤに流れる電流である。
ぞれ（１３）と（１４）に（１５）を加えたものである
から、いまここで ■．＝υ自／Ｒ ２＋υｈａｍｓ／Ｒ Ｉ （１６）エ
ト＝υｓ／Ｒ２＋υｂａｓｓ／ Ｒｔ （１７）と置
き直せば、工．が再生時にＬＤに流れる電流で、Ｉｂが
消去時にＬＤに流れる電流である。
以上、（１１）（１２）（１６，）（１７）式を（８）
（９）式に代入すれば、次の２式が得られる。
（９）式に代入すれば、次の２式が得られる。
η＝Ｒ２（Ｖ＠−Ｖｂ）／Ｃ＋Ｓ（υｎ−υｓ） （
１５）Ｉｔｈ＝（Ｖａｔ／ｓ Ｖｂｔ／ａ）／Ｒ２（
Ｖｂ−Ｖ＋＋） （１６）前述のようニ（１５）（１
６）式中（７）Ｖ．、υ８、Ｖｂおよびυ自はメモリの
中に格納されるので予めメモリ中にＲ２とＣ１とＳを記
憶して置けば、測定の度に７とＩｔｈを演算器（第１図
１８）で計算して求めることが出来る。そしてこれまた
予め記憶して置いた所定の７とＩｔｌｌの値と比較する
ことによりＬＤが正常か異常かを知ることが出来る。
１５）Ｉｔｈ＝（Ｖａｔ／ｓ Ｖｂｔ／ａ）／Ｒ２（
Ｖｂ−Ｖ＋＋） （１６）前述のようニ（１５）（１
６）式中（７）Ｖ．、υ８、Ｖｂおよびυ自はメモリの
中に格納されるので予めメモリ中にＲ２とＣ１とＳを記
憶して置けば、測定の度に７とＩｔｈを演算器（第１図
１８）で計算して求めることが出来る。そしてこれまた
予め記憶して置いた所定の７とＩｔｌｌの値と比較する
ことによりＬＤが正常か異常かを知ることが出来る。
［発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、ＬＤの温度を一定に
したりＬＤの出射パワーをモニタしフィードバックする
ことによりいわゆるＡＰＣ （オートパワーコントロー
ル）の機能をもたせることにより、周囲の温度変化以外
の理由で極端にηが小さくなったり工いが大きくなった
りするのを確認することが出来、ＬＤの異常を検出でき
るという効果を有する。
したりＬＤの出射パワーをモニタしフィードバックする
ことによりいわゆるＡＰＣ （オートパワーコントロー
ル）の機能をもたせることにより、周囲の温度変化以外
の理由で極端にηが小さくなったり工いが大きくなった
りするのを確認することが出来、ＬＤの異常を検出でき
るという効果を有する。
これにより、例えば光磁気メモリや相変化メモリのよう
な書き換え可能型光メモリやライトワンスの光メモリの
光学ヘッドの光源としてＬＤを駆動する場合に、何らか
の理由で記録パワーや消去パワーが不足してしまいデー
タの正確な記録や消去ができなかったり、データの再生
において充分な信号品質が得られないようなことを未然
に防ぐことが出来る。
な書き換え可能型光メモリやライトワンスの光メモリの
光学ヘッドの光源としてＬＤを駆動する場合に、何らか
の理由で記録パワーや消去パワーが不足してしまいデー
タの正確な記録や消去ができなかったり、データの再生
において充分な信号品質が得られないようなことを未然
に防ぐことが出来る。
第１図は、本発明のＬＤＤ動回路の１実施例を示すブロ
ック図。 １・・・ＬＤバイアス電流設定回路 ２・・・ＬＤＤ動電流ドライブ１ ３・・・再生パワー設定回路 ４・・・加算器 ５ ・ ６ ・ ７ ・ ８ ・ ９ ・ １０・ １１・ １２・ １３・ １４・ １５・ １６・ １７・ １８・ １９・ ・消去パワー設定回路 ・ＬＤ駆動電流ドライブ２ ・差動増幅器ト ニーＶ変換回路 ・サンプル・ボトムホールド回路 ・ＬＤ駆動電流ドライブ３ ・サンプル・ピークホールド回路 ・記録パワー設定回路 ・差動増幅器２ ・ＬＤ ・ＬＤ駆動電流モニタ回路 ・Ａ−Ｄコンバータ ・メモリ ・演算器 ・ＰＤ 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人弁理士 上柳雅誉（化１名）
ック図。 １・・・ＬＤバイアス電流設定回路 ２・・・ＬＤＤ動電流ドライブ１ ３・・・再生パワー設定回路 ４・・・加算器 ５ ・ ６ ・ ７ ・ ８ ・ ９ ・ １０・ １１・ １２・ １３・ １４・ １５・ １６・ １７・ １８・ １９・ ・消去パワー設定回路 ・ＬＤ駆動電流ドライブ２ ・差動増幅器ト ニーＶ変換回路 ・サンプル・ボトムホールド回路 ・ＬＤ駆動電流ドライブ３ ・サンプル・ピークホールド回路 ・記録パワー設定回路 ・差動増幅器２ ・ＬＤ ・ＬＤ駆動電流モニタ回路 ・Ａ−Ｄコンバータ ・メモリ ・演算器 ・ＰＤ 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人弁理士 上柳雅誉（化１名）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 半導体レーザダイオード（以下ＬＤと称す）を駆動する
回路において、 ａ）ＬＤをある一定光量Ｐ＿ａで発光せしめる目的で流
されている電流値Ｉ＿ａをモニタするためのＬＤ駆動電
流モニタ回路ａと、 ｂ）ＬＤをある一定光量Ｐ＿ｂで発光せしめる目的で流
されている電流値Ｉ＿ｂをモニタするためのＬＤ駆動電
流モニタ回路ｂと、 ｃ）ＬＤを電流Ｉ＿ａで駆動しているときの実際のＬＤ
光量Ｐ＿ａ′をモニタするＬＤ光量検出回路ａと、ｄ）
ＬＤを電流Ｉ＿ｂで駆動しているときの実際のＬＤ光量
Ｐ＿ｂ′をモニタするＬＤ光量検出回路ｂと、ｅ）前記
Ｐ＿ａ′、Ｐ＿ｂ′、Ｉ＿ａおよびＩ＿ｂからＬＤの効
率ηと発光しきい電流値Ｉ＿ｔ＿ｈとを求めるための回
路手段とを具備したことを特徴とする半導体レーザ駆動
回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28468488A JPH02130885A (ja) | 1988-11-10 | 1988-11-10 | 半導体レーザ駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28468488A JPH02130885A (ja) | 1988-11-10 | 1988-11-10 | 半導体レーザ駆動回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02130885A true JPH02130885A (ja) | 1990-05-18 |
Family
ID=17681642
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28468488A Pending JPH02130885A (ja) | 1988-11-10 | 1988-11-10 | 半導体レーザ駆動回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02130885A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2694423A1 (fr) * | 1992-07-30 | 1994-02-04 | France Telecom | Dispositif de contrôle de la puissance de sortie des diodes laser. |
-
1988
- 1988-11-10 JP JP28468488A patent/JPH02130885A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2694423A1 (fr) * | 1992-07-30 | 1994-02-04 | France Telecom | Dispositif de contrôle de la puissance de sortie des diodes laser. |
| EP0583186A1 (fr) * | 1992-07-30 | 1994-02-16 | France Telecom | Dispositif de contrôle de la puissance de sortie des diodes laser |
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