JPH02123722U - - Google Patents

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JPH02123722U
JPH02123722U JP3054389U JP3054389U JPH02123722U JP H02123722 U JPH02123722 U JP H02123722U JP 3054389 U JP3054389 U JP 3054389U JP 3054389 U JP3054389 U JP 3054389U JP H02123722 U JPH02123722 U JP H02123722U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例を示す光ヘツドの光
学系の構成を示す斜視図、第２図は収束ビーム形
状について説明するもので収束ビーム光強度分布
図である。 １……レーザツダイオード（レーザ光源）、３
……ビームスプリツタ、４……コリメータレンズ
、６……遮光帯、７……対物レンズ、９……ホロ
グラムレンズ、１０……小孔、１１……再生信号
検出用光センサ、１２……サーボエラー検出用光
センサ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ レーザ光源と、このレーザ光源から出射した
    光ビームを透過させ、デイスクで反射した戻り光
    を直角方向に反射するビームスプリツタと、前記
    レーザ光源から出射された拡散光を平行光線にす
    るコリメータレンズと、デイスクに面して配置さ
    れた対物レンズと、この対物レンズに入射するコ
    リメート光中の中央にデイスク半径方向と平行に
    設けられた遮光帯と、デイスクで反射し前記ビー
    ムスプリツタで直角方向に反射された戻り光の光
    路中に配置された、互いに格子パターンの異なる
    ２つの領域を持つダブルナイフエツジ型のホログ
    ラムレンズと、このホログラムレンズを透過した
    ０次回折光およびプラスまたはマイナス１次回折
    光の方向にそれぞれ配置された再生信号検出用光
    センサおよびサーボエラー検出用光センサと、前
    記ホログラムレンズと前記再生信号検出用光セン
    サとの間に配置された小孔とを備えたことを特徴
    とする光ヘツド。 ２ 上記小孔を再生信号用検出用光ビームの光軸
    方向と直交する２方向に移動調整可能にしたこと
    を特徴とする請求項１記載の光ヘツド。 ３ トラツキングエラー検出方式として、レーザ
    光源から出射されたレーザ光を回折格子により３
    つの光ビームに分け、その左右の光ビームのデイ
    スクでの反射光に基づいてトラツキングエラー検
    出を行う３ビーム法を採用したことを特徴とする
    請求項１記載の光ヘツド。 ４ 上記再生信号検出用光センサは、上記３つの
    光ビームに対応して中央と左右との３つに分割さ
    れたものであることを特徴とする請求項３記載の
    光ヘツド。
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