JPH02120741A - Aligner and marking method using such device - Google Patents
Aligner and marking method using such deviceInfo
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Landscapes
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
f産業上の利用分野]
この発明はパターン転写のための露光装置及びこの露光
装置を用いて、数字9番号等のマーキングを行うマーキ
ング方法に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an exposure device for pattern transfer and a marking method for marking numerals 9, etc. using this exposure device.
[従来の技術]
被マーキング物にパターンを露光する装置及び方法は従
来より種々行われている。[Prior Art] Various apparatuses and methods for exposing a pattern to an object to be marked have been used in the past.
第2図は半導体ウェハにマーキングをするための従来の
露光装置の主要部の概略を示す図である。FIG. 2 is a diagram schematically showing the main parts of a conventional exposure apparatus for marking semiconductor wafers.
以下、第2図の露光装置についての露光方法を説明する
。The exposure method for the exposure apparatus shown in FIG. 2 will be explained below.
まず、マーキングすべき位とに感光剤2が塗布されたウ
ェハ1をX−Y軸方向に移動可能なテーブル3上に載殿
し、システムコントローラ5の指令により、テーブルコ
ントローラ4を介してウェハlを所定の位置に配置する
。次に、システムコントローラ5の指令によつて、パル
スモータ6を駆動して1文字、数字1図形等のパターン
が打ち抜かれているロータリマスク7を回転させてマー
キングすべき文字等のパターンを選択する。そして、シ
ステムコントローラ5の指令により、シャッタ9が開い
て、ランプ13の光が楕円集光鏡12からレンズ11.
反射鏡lOを介して照射される。そして選択されたパタ
ーンの露光がされ、シャッタ9か閉じる。1文字の露光
が終わると、システムコントローラ5の指令により、再
びチーツル3及びロータリマスク7をそれぞれテーブル
コントローラ4及びパルスモータ6によって駆動して後
、シャッタ9を開いて次の文字を露光する。以下、同じ
動作を繰り返して必要な文字をマーキング位置に露光す
る。露光が終わったウェハlはテーブル3から取り外さ
れて、搬出されて現像工程エッチング工程を経てマーキ
ングかでき丘がる。First, a wafer 1 coated with a photosensitive agent 2 at a position to be marked is placed on a table 3 that is movable in the X-Y axis directions. in place. Next, according to a command from the system controller 5, the pulse motor 6 is driven to rotate the rotary mask 7 on which a pattern such as one character, one number, one figure, etc. is punched out, and a pattern such as a character to be marked is selected. . Then, in response to a command from the system controller 5, the shutter 9 is opened, and the light from the lamp 13 is transmitted from the elliptical condenser mirror 12 to the lens 11.
It is irradiated via a reflecting mirror IO. Then, the selected pattern is exposed and the shutter 9 is closed. When the exposure of one character is completed, the cheatle 3 and the rotary mask 7 are driven again by the table controller 4 and the pulse motor 6, respectively, according to a command from the system controller 5, and then the shutter 9 is opened to expose the next character. Thereafter, the same operation is repeated to expose necessary characters at the marking positions. After exposure, the wafer 1 is removed from the table 3, carried out, and subjected to a developing process and an etching process to form markings.
また、第3図は基板にバーコード等をマーキングするた
めの従来の露光装置の主要部の概略を示す図である。Further, FIG. 3 is a diagram schematically showing the main parts of a conventional exposure apparatus for marking a bar code or the like on a substrate.
第3図において、液晶等からなる基板31の所定箇所に
露光するために、バーコードパターンが打ち抜かれたロ
ールフィルム32を、パルスモータ34によって歯車3
5.36を介して移動させ、基板31のマーキングすべ
き所定箇所とロールフィルム32上のバーコードパター
ンとか重なる位置になるように配置する。そして、露光
用鏡筒37から光を照射してバーコード33の打ち抜か
れた孔から基板31の所定箇所へ露光を行う。In FIG. 3, a roll film 32 on which a barcode pattern has been punched is moved to a gear wheel 3 by a pulse motor 34 in order to expose a predetermined location of a substrate 31 made of liquid crystal or the like.
5.36, and arrange it so that the predetermined location on the substrate 31 to be marked and the barcode pattern on the roll film 32 overlap. Then, light is irradiated from the exposure lens barrel 37 to expose a predetermined location of the substrate 31 through the punched hole of the barcode 33.
[発明が解決しようとする課題]
上記のような従来の露光装置及びその装置を用いる方法
では、次のような欠点がある。[Problems to be Solved by the Invention] The conventional exposure apparatus and method using the apparatus described above have the following drawbacks.
即ち、ロータリマスクを用いる場合、特定のロータリマ
スクを使うためにマーキングされるパターンが限定され
てしまい、その結果、より多種類の文字等のパターンの
転写には都合が悪い。その上、ロータリマスクの制御機
構か複雑て高価になるという問題もある。That is, when using a rotary mask, the patterns that can be marked are limited because a specific rotary mask is used, and as a result, it is not convenient for transferring patterns such as a wider variety of characters. Furthermore, there is also the problem that the control mechanism for the rotary mask is complicated and expensive.
また、ロールフィルムを用いる場合、そのフィルムの持
つ文字やパターンの配列されたものしか転写できないと
いう欠点がある。従って、多品種少量生産のためには沢
山のフィルムを準備しなければならずコストが高くなる
という問題がある。Further, when using a roll film, there is a drawback that only the arranged characters and patterns of the film can be transferred. Therefore, for high-mix, low-volume production, a large number of films must be prepared, resulting in an increase in cost.
特に、ロット番号のマーキング等のようにワーク(被マ
ーキング物)1つ1つに異ったパターンをマーキングす
る場合には、ロータリマスクを用いる場合てもロールフ
ィルムを用いる場合でも。Particularly, when marking different patterns on each workpiece (object to be marked), such as lot number marking, etc., whether using a rotary mask or a roll film.
いずれにしてもパターンの選択に時間がかかり、スルー
プウドか悪い。In any case, it takes time to select a pattern, and it is a slow process.
また、被マーキング物かプリント基板等の回路パターン
の場合、異なった種類の生産に対してはレチクルを交換
しなければならず、煩わしく、その上、品種毎に異なる
レチクルをそれぞれ用意することはコストか高くなると
いう問題がある。In addition, in the case of circuit patterns such as printed circuit boards or objects to be marked, the reticle must be replaced for different types of production, which is cumbersome, and furthermore, it is costly to prepare different reticles for each type. The problem is that the cost is high.
この発明はかかる課題を解決するためになされたものて
、多品種少量生産にも適し、スループットの良い低コス
トのパターン転写のための露光装置及びこの露光装置を
用いたマーキング方法を提供することを目的とする。The present invention has been made to solve these problems, and it is an object of the present invention to provide an exposure device for pattern transfer that is suitable for high-mix low-volume production, has good throughput, and is low in cost, and a marking method using this exposure device. purpose.
[課題を解決するための手段]
上記の目的を達成するために、第1番目の発明の露光装
置は露光光源と、レクチルとして用いる液晶表示板と、
この液晶表示板に液晶駆動回路を介して露光すべきパタ
ーンの表示信号を送るシステムコントローラとを具備し
たものであり、第2番目の発明はこの露光装置を用いて
マーキングすべきパターンを露光し、その後現像しエッ
チングを行うことにより前記被マーキング物にパターン
をマーキングするものである。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the exposure apparatus of the first invention includes an exposure light source, a liquid crystal display plate used as a reticle,
This liquid crystal display board is equipped with a system controller that sends a display signal of a pattern to be exposed via a liquid crystal drive circuit, and the second invention uses this exposure device to expose a pattern to be marked, Thereafter, a pattern is marked on the object by developing and etching.
[作用]
上記の装置を用いることによって、異なった種類の基板
に対してもレチクルを交換する必要がなく、所望のパタ
ーンマーキングを簡単に行うことができる。[Operation] By using the above-mentioned apparatus, there is no need to change the reticle even for different types of substrates, and desired pattern marking can be easily performed.
[実施例]
第1図はこの発明の露光装置の主要部の概略構成を示す
図である。[Embodiment] FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of the main parts of an exposure apparatus of the present invention.
・第1図において、20はレチクルとして用いる液晶表
示板(以下LCDという)、13はショートアーク型の
超高圧水銀灯(以下ランプという)、14は熱線を透過
し紫外線のみを反射するコールドミラーからなる楕円集
光鏡、15はコールドミラーからなる第1の平面反射鏡
、16はランプ13がらの光のうちレチクルとしてのL
CD20を劣化させる光をカットしワークの露光処理に
有効な波長(例えばレジストてあれば436.付近)の
光を選択的に透過させるためのフィルタ、17はインチ
クレータレンズ、18は第2の平面反射鏡、19はコン
デンサレンズ、21はLCD20を駆動させる液晶駆動
回路、22はシステムコントローラ、23はテーブル3
を駆動させるテーブルコントローラ、24はワーク25
に対しLCD20を透過して光を結像させる結像レンズ
である。- In Figure 1, 20 is a liquid crystal display plate (hereinafter referred to as LCD) used as a reticle, 13 is a short arc type ultra-high pressure mercury lamp (hereinafter referred to as lamp), and 14 is a cold mirror that transmits heat rays and reflects only ultraviolet rays. An elliptical condensing mirror; 15 is a first plane reflecting mirror made of a cold mirror; 16 is L as a reticle out of the light from the lamp 13;
17 is an inch crater lens; 18 is a second plane A reflecting mirror, 19 a condenser lens, 21 a liquid crystal drive circuit for driving the LCD 20, 22 a system controller, and 23 a table 3.
24 is a workpiece 25
This is an imaging lens that transmits light through the LCD 20 and forms an image.
第1図の露光装置において、まず、第2図と同様にワー
ク25をX−Y軸方向に移動可能なテーブル3に載せ、
システムコントローラ22の指令により、テーブルコン
トローラ23を駆動してワーク25を所定位置に配置す
る。それと同時に液晶駆動回路21を駆動してLCD2
0上にマーキングするべきパターンを形成してこのパタ
ーンに応じてランプ13からの光の透過を制御する。In the exposure apparatus of FIG. 1, first, as in FIG. 2, the workpiece 25 is placed on the table 3 movable in the X-Y axis directions,
In response to a command from the system controller 22, the table controller 23 is driven to place the workpiece 25 at a predetermined position. At the same time, the LCD 2 is driven by driving the liquid crystal drive circuit 21.
0, and the transmission of light from the lamp 13 is controlled according to this pattern.
そして、写真方式の場合は、感光剤か塗布されたワーク
25がLCD20上に形成されたパターンを透過した光
によって露光され、これを現像してマーキングがなされ
る。また、ワーク25が例えばLCD基板、プリント基
板等のように、被マーキング物か回路パターン形成工程
を有するものである場合は、レジストの塗布されたワー
ク25が回路パターン形成のための露光工程の前または
後で、LCD20上に形成されたマーキングパターンを
透過した光によって露光し、その後は回路パターン形成
のための露光工程の後処理として行われる現像エッチン
グ工程によって回路パターン形成と共にマーキングがさ
れる。In the case of the photographic method, the workpiece 25 coated with a photosensitive agent is exposed to light that has passed through a pattern formed on the LCD 20, and is developed and marked. Furthermore, if the workpiece 25 is an object to be marked, such as an LCD board or a printed circuit board, or has a circuit pattern forming process, the workpiece 25 coated with resist may be exposed before the exposure process for forming the circuit pattern. Alternatively, later, the marking pattern formed on the LCD 20 is exposed to transmitted light, and then marking is performed along with the formation of the circuit pattern through a development and etching process performed as a post-processing of the exposure process for forming the circuit pattern.
この発明の露光装置は、IC,LSI等の回路パターン
形成のための露光等には必ずしも適当ではない。しかし
、最近市販されているドツトピッチの短い、高コントラ
ストである光吸収方式のT N (Twisted N
ematic)型LCD等をレチクルとして用いれば、
結像レンズによってレチクルとしてのLCDの各ドツト
間の間隔をボカすことにより、プリント基板の回路パタ
ーン形成に、この露光装置を使用することがてき、多品
種少l生産を行う試作段階には有効である。The exposure apparatus of the present invention is not necessarily suitable for exposure for forming circuit patterns of ICs, LSIs, etc. However, Twisted N (Twisted N
If you use an LCD (ematic) type LCD etc. as a reticle,
This exposure device can be used to form circuit patterns on printed circuit boards by blurring the intervals between the dots on the LCD as a reticle using an imaging lens, making it effective in the prototyping stage for high-mix, low-volume production. It is.
[発明の効果]
以上説明したとおり、この発明によれば1つのレチクル
によって、種々のパターンを自由に露光することができ
、かつこの装置を用いて高スループツト、かつ低コスト
のマーキングが行えるのて、多品種の生産に最適である
。[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, various patterns can be freely exposed using one reticle, and marking can be performed at high throughput and at low cost using this apparatus. , ideal for producing a wide variety of products.
第1図はこの発明の露光装置の主要部の概略構成を示す
図、第2図は半導体、ウェハにマーキングをするための
従来の露光装置の主要部の概略を示す図、第3図は基板
にバーコード等をマーキングするための従来の露光装置
の主要部の概略を示す図である。
図中。
3:テーブル lコニランプ
14:楕円集光鏡 15.18:平面反射鏡16:
フィルタ
17:インチクレータレンズ
19:コンデンサレンズ
20:LCD
21:液晶駆動回路
22:
23=
24:
25ニ
システムコントローラ
テーブルコントローラ
結像レンズ
ワーク
代理人 弁理士 1)北 嵩 晴
第
図FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of the main parts of the exposure apparatus of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing the outline of the main parts of a conventional exposure apparatus for marking semiconductors and wafers, and FIG. 3 is a diagram showing the outline of the main parts of the exposure apparatus of the present invention. 1 is a diagram schematically showing the main parts of a conventional exposure apparatus for marking barcodes and the like on objects. In the figure. 3: Table l-coni lamp 14: Elliptical condensing mirror 15.18: Plane reflecting mirror 16:
Filter 17: Inch crater lens 19: Condenser lens 20: LCD 21: Liquid crystal drive circuit 22: 23= 24: 25 system controller table controller imaging lens work agent patent attorney 1) Haru Kitatake Diagram
Claims (2)
、この液晶表示板に液晶駆動回路を介して露光すべきパ
ターンの表示信号を送るシステムコントローラとを具備
したことを特徴とする露光装置。(1) An exposure apparatus comprising an exposure light source, a liquid crystal display plate used as a reticle, and a system controller that sends a display signal of a pattern to be exposed to the liquid crystal display plate via a liquid crystal drive circuit.
請求項(1)に記載の露光装置を用いてマーキングすべ
きパターンを露光し、その後現像し、エッチングを行う
ことにより前記被マーキング物にパターンをマーキング
することを特徴とするマーキング方法。(2) For the object to be marked coated with resist,
A marking method, comprising: exposing a pattern to be marked using the exposure apparatus according to claim 1, and then developing and etching the pattern to mark the object to be marked.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63273119A JPH02120741A (en) | 1988-10-31 | 1988-10-31 | Aligner and marking method using such device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63273119A JPH02120741A (en) | 1988-10-31 | 1988-10-31 | Aligner and marking method using such device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02120741A true JPH02120741A (en) | 1990-05-08 |
Family
ID=17523395
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63273119A Pending JPH02120741A (en) | 1988-10-31 | 1988-10-31 | Aligner and marking method using such device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02120741A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02260517A (en) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Yamaha Corp | Letter transcription device |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60208832A (en) * | 1984-04-02 | 1985-10-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Photomask and manufacture of semiconductor device using the same |
JPS61219954A (en) * | 1985-03-26 | 1986-09-30 | Fujitsu Ltd | Formation of pattern by liquid crystal panel |
JPS61235838A (en) * | 1985-04-11 | 1986-10-21 | Casio Comput Co Ltd | Exposure device for forming pattern of conductive body |
JPS62222256A (en) * | 1986-03-25 | 1987-09-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Exposing device |
-
1988
- 1988-10-31 JP JP63273119A patent/JPH02120741A/en active Pending
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