JPH02115736A - フォト・センサの試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はフォト・センサの試験方法に係り、特に物体の
位置検出等に使用している発光側のタングステンランプ
を検査する方法に関する。

〔従来の技術〕

従来、フォトセンサーの劣化は予知てれておらず、タン
グステン・ランプが切れたり、フォトセンサの出力電圧
が変化しなくなった時に、交換を行なっていた。

〔発明が解決しようとする課題〕

フォト・センサのタングステン・ランプが切れたり、フ
ォト・センサの出力電圧が変化しなくなった時に初めて
、タングステン・ランプの交換を行なっていたので、フ
ォト・センサを使用している装置が誤動作を起してしま
ったり、その誤動作によるトラブルや、物品を破損させ
てしまうという欠点があった。

本発明の目的は、前記欠点が解決され、誤動作を未然に
防ぐことができるようにしたフォト・センサの試験方法
を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の構成は、タングステン・ラップを投光側、フォ
ト・トランジスタを受光側に使用しているフォト・セン
サの試験方法において、前記フォト・トランジスタの出
力電圧を検出することにより前記タングステン・ランプ
の劣化を予知することを特徴とする。

〔実施例〕

次に本発明について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の実施例のフォト・センサの試験方法で
使用されるフォト・センサを示す回路図、第２図は第１
図のフォト・センサの試験装置を示すブロック図である
。これら図において、投光側のタングステン・ランプ１
ｇと、受光側のフォト・トランジスタｌｂと、この受光
側の出力端子Ａ。

Ｂに各々接続されたチエツク端子２と、テスタ棒３を有
するデジタル・テスタ４とが示されている。

さて、タングステン・ランプ１ａからフォト・トランジ
スタｌｂに投光した時の端子Ａ、Ｂ間の出力電圧をデジ
タル・テスタ４にて測定して、第３図に示すように、毎
月グラフに記入する。

第３図において、限界電圧とはこれ以上になるとロウ（
ＬＯＷ）レベルになれない電圧で、誤動作となる。劣化
予知電圧は実験結果からこれ以上になるとＩＩ！１Ｎ製
作したりしなかつたりする電圧である。

ここで、フォト・センサの出力電圧が、劣化予知電圧を
越えたらタングステン・ランプ劣化と判断して１週間以
内に、タングステン・ランプを交換する。デジタル・テ
スタ４による電圧確認は、刃間隔で実施することが最も
好ましいが、隔月や、月２回でもよい。

〔発明の効果〕

以上説明したように１本発明は、定期的にフォト・セン
サの出力電圧を確認することにより、タングステン・ラ
ンプの劣化を予知でき、装置の誤動作、及び誤動作によ
る物の破損を防止できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例のフォト・センサの試験方法で
使用するフォト・センサの回路図、第２図は第１図のフ
ォト・センサの試験装置を示すブロック図、第３図は第
２図の試験装置の試験結果を示す特性図である。 ｌａ−・°タングステン・ランプ、１ｂ・・・・・・フ
ォト・センサ、２・・・・・・チエツク端子、３・・・
・・・テスタ棒、４・・・・・−デジタル・テスタ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. タングステン・ランプを投光側、フォト・トランジスタ
   を受光側に使用しているフォト・センサの試験方法にお
   いて、前記フォト・トランジスタの出力電圧を検出する
   ことにより前記タングステン・ランプの劣化を予知する
   ことを特徴とするフォト・センサの試験方法。