JPH02113708A - 掃引周波数発振器 - Google Patents
掃引周波数発振器Info
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- JPH02113708A JPH02113708A JP26735188A JP26735188A JPH02113708A JP H02113708 A JPH02113708 A JP H02113708A JP 26735188 A JP26735188 A JP 26735188A JP 26735188 A JP26735188 A JP 26735188A JP H02113708 A JPH02113708 A JP H02113708A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
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- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
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- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
未発明は一定の周波数範囲内を繰り返して掃引すると共
に、掃引時に発振周波数を基準信号で校正した掃引周波
数発振器に関する。
に、掃引時に発振周波数を基準信号で校正した掃引周波
数発振器に関する。
第６図は例えば特公昭６］−］１００３号公報に示され
た従来の掃引周波数信号器を示すブロック図であり、図
において、（１ンは可変周波数発振器ｃ以下ＶＣＯとい
う）、（２）は基準信号、（３）は位相比較器、（４１
は位相比較器の出力電圧を保持するサンプルホールド回
路、（５）はサンプルホールド回路ヘホールドするタイ
ミングを指示する制御回路、（６）はランプ（傾斜）電
圧発生回路、（７）はそれぞれの電圧を加算してＶＣＯ
ｆｌｌに制御電圧を印加する加算回路である。
た従来の掃引周波数信号器を示すブロック図であり、図
において、（１ンは可変周波数発振器ｃ以下ＶＣＯとい
う）、（２）は基準信号、（３）は位相比較器、（４１
は位相比較器の出力電圧を保持するサンプルホールド回
路、（５）はサンプルホールド回路ヘホールドするタイ
ミングを指示する制御回路、（６）はランプ（傾斜）電
圧発生回路、（７）はそれぞれの電圧を加算してＶＣＯ
ｆｌｌに制御電圧を印加する加算回路である。
次に動作について説明する。掃引を開始する直前にＶＣ
Ｏ（１）の発振周波数を基準信号（２）に位相ロック動
作を行って周波数を基準信号に合致させて安定化を図る
。従って、基準信号（２）としてはシンセサイザ、又は
水晶発振器のように高安定な単一周波数が得られるもの
を用いている。まず、ＶＣＯ（ＩＪの掃引前の周波数と
基準信号（２）の周波数との周波数誤差（又は位相誤差
）を位相比較器（３）を用いて検出する。この誤差信号
はサンプルホールド回路（４）へ導びかれる。ここでは
サンプル状態になっているので誤差信号はここをそのま
ま通り加算回路（７）へ至る。掃引開始前であるのでラ
ンプ電圧発生回路（６）からは一定状態の電圧が出力さ
れており、この電圧と上記誤差信号とが加算回路（７）
で合成されてＶＣＯ（１７へ負帰還される。すると、こ
れら−巡の動作を経てＶＣＯｔｌＪの周波数は基準信号
の周波数と同じになるよう制御され、一定時間経過後に
はその動作も安定し、誤差信号も一定の安定電圧状態に
保たれる。以上が掃引開始前の位相ロック動作作であり
、所定時間内にこれら一連の動作が完了するよう設定さ
れている。
Ｏ（１）の発振周波数を基準信号（２）に位相ロック動
作を行って周波数を基準信号に合致させて安定化を図る
。従って、基準信号（２）としてはシンセサイザ、又は
水晶発振器のように高安定な単一周波数が得られるもの
を用いている。まず、ＶＣＯ（ＩＪの掃引前の周波数と
基準信号（２）の周波数との周波数誤差（又は位相誤差
）を位相比較器（３）を用いて検出する。この誤差信号
はサンプルホールド回路（４）へ導びかれる。ここでは
サンプル状態になっているので誤差信号はここをそのま
ま通り加算回路（７）へ至る。掃引開始前であるのでラ
ンプ電圧発生回路（６）からは一定状態の電圧が出力さ
れており、この電圧と上記誤差信号とが加算回路（７）
で合成されてＶＣＯ（１７へ負帰還される。すると、こ
れら−巡の動作を経てＶＣＯｔｌＪの周波数は基準信号
の周波数と同じになるよう制御され、一定時間経過後に
はその動作も安定し、誤差信号も一定の安定電圧状態に
保たれる。以上が掃引開始前の位相ロック動作作であり
、所定時間内にこれら一連の動作が完了するよう設定さ
れている。
所定時間経過後には位相比較器（３）からは制御回路（
５）に対して、位相ロックが完了した旨の信号が出力さ
れ制御回路（５）はこれを確認した後、ランプ電圧発生
回路（６）に対して掃引の開始を指示する。
５）に対して、位相ロックが完了した旨の信号が出力さ
れ制御回路（５）はこれを確認した後、ランプ電圧発生
回路（６）に対して掃引の開始を指示する。
するとランプ電圧が加算回路（７）へ至り、更にＶＣＯ
（１〕に印加されてＶＣＯ（１，１の発振周波数は掃引
される。
（１〕に印加されてＶＣＯ（１，１の発振周波数は掃引
される。
一方、制御回路（５）はサンプルホールド回路（４）に
対しても、サンプル状態からホールド状態への変更を同
時に指示しており、位相比較器（３）からの誤差信号が
安定電圧状態になったものをサンプルホールド回路（４
）内にあるコンデンサによって記憶（あるいは保持）し
ている。従って、掃引時にはランプ電圧発生回路（６）
からのランプ（傾斜）電圧と掃引前に位相ロック動作で
得られたＶＣＯ（１）の発振周波数を補正する電圧とが
同時にＶＣＯ（ＩＪへ印加されるので、周波数補償され
た掃引を行うことができる。
対しても、サンプル状態からホールド状態への変更を同
時に指示しており、位相比較器（３）からの誤差信号が
安定電圧状態になったものをサンプルホールド回路（４
）内にあるコンデンサによって記憶（あるいは保持）し
ている。従って、掃引時にはランプ電圧発生回路（６）
からのランプ（傾斜）電圧と掃引前に位相ロック動作で
得られたＶＣＯ（１）の発振周波数を補正する電圧とが
同時にＶＣＯ（ＩＪへ印加されるので、周波数補償され
た掃引を行うことができる。
従来の掃引周波数発振器は以上のように構成されていた
ので、掃引開始前は位相ロックを行って良好な周波数安
定度が得られるが、掃引中は閉回路動作となっていない
ので、ｖＣＯの持っ掃引電圧対掃引周波数の非直線特性
は補償されていす、ｖＣＯとしてバラクタダイオード等
を用いる場合は一般に非直線特性は顕著である。また、
木掃引周波数発信器の主要用途であるスペクトラム・ア
ナライザ等では掃引の中心周波数を読み取ることが目的
であるにもかかわらず、掃引開始前の校正しか行えない
という問題点であった。
ので、掃引開始前は位相ロックを行って良好な周波数安
定度が得られるが、掃引中は閉回路動作となっていない
ので、ｖＣＯの持っ掃引電圧対掃引周波数の非直線特性
は補償されていす、ｖＣＯとしてバラクタダイオード等
を用いる場合は一般に非直線特性は顕著である。また、
木掃引周波数発信器の主要用途であるスペクトラム・ア
ナライザ等では掃引の中心周波数を読み取ることが目的
であるにもかかわらず、掃引開始前の校正しか行えない
という問題点であった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、掃引の中心周波数そのものを校正する掃引周
波数発振器を得ることを目的とする。
たもので、掃引の中心周波数そのものを校正する掃引周
波数発振器を得ることを目的とする。
この発明に係る掃引周波数発振器は掃引中心周波数にお
ける帯域通過フィルタ（以下ＢＰＦという）を有し、Ｖ
ＣＯが周波数掃引を行ってこの通過帯域を横切ったＷＲ
間にランプ電圧をサンプルホールドして電圧を記憶し、
この記憶された電圧とランプ電圧の最大電圧と最小電圧
とのほぼ平均電圧に等しい基準電圧との比較を行って、
その誤差を校正するようにしたものである。
ける帯域通過フィルタ（以下ＢＰＦという）を有し、Ｖ
ＣＯが周波数掃引を行ってこの通過帯域を横切ったＷＲ
間にランプ電圧をサンプルホールドして電圧を記憶し、
この記憶された電圧とランプ電圧の最大電圧と最小電圧
とのほぼ平均電圧に等しい基準電圧との比較を行って、
その誤差を校正するようにしたものである。
本来ランプ電圧は掃引の中心８波数において掃引開始電
圧（最小電圧）と掃引終了電圧（最大電圧）との丁度半
分の電圧Ｃ以下平均ランプ電圧という）になるべきであ
る。この誤差はスペクトラム・アナライザでは中心周波
数の読み取り誤差となって影響するからである。
圧（最小電圧）と掃引終了電圧（最大電圧）との丁度半
分の電圧Ｃ以下平均ランプ電圧という）になるべきであ
る。この誤差はスペクトラム・アナライザでは中心周波
数の読み取り誤差となって影響するからである。
この発明における掃引周波数発振器はＶＣＯの持つ非直
線性をＢＰＦで校正するフィードバック回路を持つ。
線性をＢＰＦで校正するフィードバック回路を持つ。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、（８）はＢＰＦ 、 （９１は包絡線検波
器、αＯは検波器（９）からの信号を量子化しサンプル
ホールド回路（４）を制御する信号を作成するとともに
ランプ電圧出力を行う為のデジタル信号をも作成する制
御回路で、コンパレータ０３、システムクロックαく、
バイナリカウンタ（ト）、ＣＡＲＲＹ端子０Ｑ１Ｄ−フ
リップフロップ０乃及びマルチバイブレータ（ト）から
成る。αＤはランプ電圧をデジタル信号がら作成するラ
ンプ電圧発生回路、０のは掃引開始電圧（最小電圧＝Ｖ
Ｂ、）と掃引終了電圧（最大電圧＝ＶＨ）のほぼ平均的
な値の負電圧（負の平均ランプ電圧−−−ＶＭ吻−１／
２ （ＶＬ＋ＶＨ））を出力する電圧源である。
図において、（８）はＢＰＦ 、 （９１は包絡線検波
器、αＯは検波器（９）からの信号を量子化しサンプル
ホールド回路（４）を制御する信号を作成するとともに
ランプ電圧出力を行う為のデジタル信号をも作成する制
御回路で、コンパレータ０３、システムクロックαく、
バイナリカウンタ（ト）、ＣＡＲＲＹ端子０Ｑ１Ｄ−フ
リップフロップ０乃及びマルチバイブレータ（ト）から
成る。αＤはランプ電圧をデジタル信号がら作成するラ
ンプ電圧発生回路、０のは掃引開始電圧（最小電圧＝Ｖ
Ｂ、）と掃引終了電圧（最大電圧＝ＶＨ）のほぼ平均的
な値の負電圧（負の平均ランプ電圧−−−ＶＭ吻−１／
２ （ＶＬ＋ＶＨ））を出力する電圧源である。
次に動作について説明する。
ＶＣＯＬｌ＋で発生しｔこＲＦ倍信号一部はＢＰＦ ［
８１に至り、ここで狭帯域周波数範囲の信号成分だけが
抜き出される。このＢＰＦ ＋８１は水晶フィルタ等の
ように狭帯域で且つ非常に温度安定度の高いものであり
、その通過帯域の中心周波数はＶＣＯ（１１が掃引する
周波数の丁度中心周波数でもある。従って、ＶＣＯ（１
，１の掃引がＢＰＦ ＋８１の通過帯域を横切った瞬間
だけ、そのＲＦ小出力取り出され、検波器（９）に至る
。検波器（９）はこのＲＦ倍信号包絡線検波して電圧信
号に変換する。制御回路００ではこの検波電圧を量子化
してパルス信号にし、サンプルホールド回路（４）にラ
ンプ電圧を瞬時にサンプル（抽出）してホールド（記憶
）するようトリガ信号として出力する。
８１に至り、ここで狭帯域周波数範囲の信号成分だけが
抜き出される。このＢＰＦ ＋８１は水晶フィルタ等の
ように狭帯域で且つ非常に温度安定度の高いものであり
、その通過帯域の中心周波数はＶＣＯ（１１が掃引する
周波数の丁度中心周波数でもある。従って、ＶＣＯ（１
，１の掃引がＢＰＦ ＋８１の通過帯域を横切った瞬間
だけ、そのＲＦ小出力取り出され、検波器（９）に至る
。検波器（９）はこのＲＦ倍信号包絡線検波して電圧信
号に変換する。制御回路００ではこの検波電圧を量子化
してパルス信号にし、サンプルホールド回路（４）にラ
ンプ電圧を瞬時にサンプル（抽出）してホールド（記憶
）するようトリガ信号として出力する。
一方、制卸回路００はデジタル的な掃引（掃引周波数が
不連続なスポット周波数で行われる方式であるが近年こ
の方式が多くなっている）の場合には、例えば】０桁バ
イナリカウンタ等から得られる１０ビツトのデジタルデ
ータをランプ電圧発生回路α力へ送る方式について示し
ている。掃引開始時は％ｏｏｏｏｏｏｏｏｏｏ’の状態
から始ｔｂ、掃引終了時には１１１．１１１１１１１’
となる１０桁の２通信号（全カウント数で１０２４
）を順次送り出している。
不連続なスポット周波数で行われる方式であるが近年こ
の方式が多くなっている）の場合には、例えば】０桁バ
イナリカウンタ等から得られる１０ビツトのデジタルデ
ータをランプ電圧発生回路α力へ送る方式について示し
ている。掃引開始時は％ｏｏｏｏｏｏｏｏｏｏ’の状態
から始ｔｂ、掃引終了時には１１１．１１１１１１１’
となる１０桁の２通信号（全カウント数で１０２４
）を順次送り出している。
ランプ電圧の発生方法としては従来例で挙げたアナログ
的な発生手段等色々な方法が行われているが、近年はデ
ジタル技術の進歩によって、例えばＲＯＭ （読み出し
専用メモリ）やＰＡＬ （プログラム可能アレイロジッ
ク）等を用いて簡単に回路を構成することは容易である
。
的な発生手段等色々な方法が行われているが、近年はデ
ジタル技術の進歩によって、例えばＲＯＭ （読み出し
専用メモリ）やＰＡＬ （プログラム可能アレイロジッ
ク）等を用いて簡単に回路を構成することは容易である
。
ランプ電圧発生回路α力はデジタル的】Ｏビットのデー
タをアナログのランプ（傾斜）電圧に変換する機能を持
っており、具体的に言えばデジタルアナロク（Ｄ／Ａ）
変換器である。このランプ出力は加算回路（７）へ送ら
れるとともにサンプルホールド回路（４）にも出力され
、ここで前記トリガ信号が到来ｔ、 ｆ： 時刻ニその
電圧が記憶され、サンプルホールド出力として出力され
る。ＶＣＯ（１１の掃引電圧対掃引周波数の関係が理想
的な直線性を持っていないので、サンプルホールド回路
（４）の出力電圧は平均う：／ ７’！圧： ＶＭ （
＝１／２ （ＶＬ＋ＶＨＮニハｊ、にらず、ｖｓとして
得られる。従って、加算回路（７）によって電圧源＠か
ら得られる負の平均ランプ電圧（＝−Ｖ、）とサンプル
ホールド回路（４）の電圧（−Ｖ５）とが加算される（
Ｖｓ−ＶＭ）とこれは誤差電圧であり、これをＶＣＯ（
υへ負帰還することによってＶＣＯ（１）の非直線性を
補正することができる。第２図は第１図をより具体的に
示す詳細ブロック図、第３図（ａ）〜（ｇ）は第２図の
各部の電圧波形を示す波形図である。第２図において、
ＲＦ倍信号周波数がＢＰＦ ［８１の通過帯域と合った
時だけ信号第３図（ａ、）が出力され検波器（９）の出
力では電圧信号すに変換される。検波出力第３図（ｂ）
はコンパレータ斡で量子化されデジタルパルス信号第３
図（０）となる。
タをアナログのランプ（傾斜）電圧に変換する機能を持
っており、具体的に言えばデジタルアナロク（Ｄ／Ａ）
変換器である。このランプ出力は加算回路（７）へ送ら
れるとともにサンプルホールド回路（４）にも出力され
、ここで前記トリガ信号が到来ｔ、 ｆ： 時刻ニその
電圧が記憶され、サンプルホールド出力として出力され
る。ＶＣＯ（１１の掃引電圧対掃引周波数の関係が理想
的な直線性を持っていないので、サンプルホールド回路
（４）の出力電圧は平均う：／ ７’！圧： ＶＭ （
＝１／２ （ＶＬ＋ＶＨＮニハｊ、にらず、ｖｓとして
得られる。従って、加算回路（７）によって電圧源＠か
ら得られる負の平均ランプ電圧（＝−Ｖ、）とサンプル
ホールド回路（４）の電圧（−Ｖ５）とが加算される（
Ｖｓ−ＶＭ）とこれは誤差電圧であり、これをＶＣＯ（
υへ負帰還することによってＶＣＯ（１）の非直線性を
補正することができる。第２図は第１図をより具体的に
示す詳細ブロック図、第３図（ａ）〜（ｇ）は第２図の
各部の電圧波形を示す波形図である。第２図において、
ＲＦ倍信号周波数がＢＰＦ ［８１の通過帯域と合った
時だけ信号第３図（ａ、）が出力され検波器（９）の出
力では電圧信号すに変換される。検波出力第３図（ｂ）
はコンパレータ斡で量子化されデジタルパルス信号第３
図（０）となる。
制御回路ＯＧにおいて掃引に関する動作はシステムクロ
ック０４を】Ｏビットのバイナリカウンタ（至）で計数
することによって行われる。カウンタ（２）は常にカウ
ントアツプしているが掃引終了時である’ １１１１１
１１１１１’の状態になると、ＣＡＲＲＹ端子αＱから
桁上げ信号が出力される。そして、次のクロックでカウ
ンタ（ト）は’ ｏｏｏｏｏｏｏｏｏｏ’の状態に戻る
とともに、Ｄ−フリップフロップ（１７）で桁上げが読
み取られる。そして同時に単安定マルチバイブレータ（
至）もトリガされるので、そのＱ端子から一定期間掃引
停止信号が出力されてクロックＱ→がカウンタ（２）に
入るのを止めるので、計数は初期状態で停止し、掃引開
始の待機状態になる。一定期間経過すると、単安定マル
チバイブレーク（至）からの掃引停止は解除され、再び
、掃引が始まり、同様にして掃引を繰り返えすことにな
る。Ｄ−フリップフロップ０７）のＱ端子の出力第３図
（ｄ）は掃引の終了から初期状態へ戻る期間中に発生す
るパルス信号Ｃを禁止し、サンプル信号ｅを得るための
ものである。このサンプル信号第３図（６１を用いて、
ランプ電圧発生回路０◇からのランプ電圧第３図（ｆ）
をサンプルホールドして出力第３図（ｇ）を得る。
ック０４を】Ｏビットのバイナリカウンタ（至）で計数
することによって行われる。カウンタ（２）は常にカウ
ントアツプしているが掃引終了時である’ １１１１１
１１１１１’の状態になると、ＣＡＲＲＹ端子αＱから
桁上げ信号が出力される。そして、次のクロックでカウ
ンタ（ト）は’ ｏｏｏｏｏｏｏｏｏｏ’の状態に戻る
とともに、Ｄ−フリップフロップ（１７）で桁上げが読
み取られる。そして同時に単安定マルチバイブレータ（
至）もトリガされるので、そのＱ端子から一定期間掃引
停止信号が出力されてクロックＱ→がカウンタ（２）に
入るのを止めるので、計数は初期状態で停止し、掃引開
始の待機状態になる。一定期間経過すると、単安定マル
チバイブレーク（至）からの掃引停止は解除され、再び
、掃引が始まり、同様にして掃引を繰り返えすことにな
る。Ｄ−フリップフロップ０７）のＱ端子の出力第３図
（ｄ）は掃引の終了から初期状態へ戻る期間中に発生す
るパルス信号Ｃを禁止し、サンプル信号ｅを得るための
ものである。このサンプル信号第３図（６１を用いて、
ランプ電圧発生回路０◇からのランプ電圧第３図（ｆ）
をサンプルホールドして出力第３図（ｇ）を得る。
なお、上記実施例では掃引毎に中心周波数の校正を行う
構成の場合を示し１こが、実際には掃引は繰り返して行
われ、且つ校正する量は急激には変化せず殆ど定常的な
ものであるから帰還量を時間的に積分し１こ結果で行う
方が校正の精度を向上させることができる。この実施例
を第４図に示す。
構成の場合を示し１こが、実際には掃引は繰り返して行
われ、且つ校正する量は急激には変化せず殆ど定常的な
ものであるから帰還量を時間的に積分し１こ結果で行う
方が校正の精度を向上させることができる。この実施例
を第４図に示す。
サンプルホールド回路（４）の出力電圧を積分回路０１
で積分するが、この時定数の選定は掃引期間中に値が変
化しない程度の切回に設定する必要がある。
で積分するが、この時定数の選定は掃引期間中に値が変
化しない程度の切回に設定する必要がある。
具体的な積分回路α１の例としては第５図のように演算
増幅器を用いて抵抗（２）とコンデンサ囚で簡単に構成
ができるが、もちろんデジタル的な方法も可能であり、
詳細は省略する。
増幅器を用いて抵抗（２）とコンデンサ囚で簡単に構成
ができるが、もちろんデジタル的な方法も可能であり、
詳細は省略する。
以上のように、この発明によれば掃引周波数範囲の中心
周波数でｖＣＯの校正を行うように構成したので、ＶＣ
Ｏの掃引電圧対掃引周波数特性の非直線性を校正して掃
引できスペクトラムアナライザ等のように掃引の中心周
波数を読み取るような装置に対してその精度を向上させ
ることができる効果がある。
周波数でｖＣＯの校正を行うように構成したので、ＶＣ
Ｏの掃引電圧対掃引周波数特性の非直線性を校正して掃
引できスペクトラムアナライザ等のように掃引の中心周
波数を読み取るような装置に対してその精度を向上させ
ることができる効果がある。
第１図はこの発明の一実施例による掃引周波数発振器を
示すブロック図、第２図は第１図の詳細ブロック図、第
３図は第２図の動作説明の為に要部電圧波形を示す波形
図、第４図はこの発明の他の実施例の構成を示すブロッ
ク図、第５図は第４図に用いる周知の積分回路の一実施
例を示す回路図、第６図は従来の掃引周波数発振器の構
成を示すブロック図である。 図において、（１）は電圧制御可変周波数発振器、１４
）はサンプルホールド回路、（７）は加算回路、（８）
は帯域通過フィルタ、（９）は包絡線検波器、００は制
御回路、θカはランプ電圧発生回路、（２）は定電圧源
である。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
示すブロック図、第２図は第１図の詳細ブロック図、第
３図は第２図の動作説明の為に要部電圧波形を示す波形
図、第４図はこの発明の他の実施例の構成を示すブロッ
ク図、第５図は第４図に用いる周知の積分回路の一実施
例を示す回路図、第６図は従来の掃引周波数発振器の構
成を示すブロック図である。 図において、（１）は電圧制御可変周波数発振器、１４
）はサンプルホールド回路、（７）は加算回路、（８）
は帯域通過フィルタ、（９）は包絡線検波器、００は制
御回路、θカはランプ電圧発生回路、（２）は定電圧源
である。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 周波数制御信号に応じて掃引周波数信号を発生する電圧
制御可変周波数発振器と、この電圧制御可変周波数発振
器の出力を受けてある程度狭帯域の周波数信号成分のみ
を通すように設定された帯域通過フィルタと、上記掃引
周波数信号が上記狭帯域周波数を横切つた時点に電圧パ
ルス信号を作り出すように構成された検波器と、上記電
圧制御可変周波数発振器への周波数制御信号用のランプ
信号を発生するランプ電圧発生回路と、上記電圧パルス
信号の発生時点に上記ランプ信号の瞬時値を記憶するサ
ンプルホールド回路と、このサンプルホールド回路に記
憶された上記ランプ信号の瞬時値と上記ランプ信号と所
要の定電圧とを加算して上記周波数制御信号として上記
電圧制御可変周波数発振器へ送出する加算回路とを備え
た掃引周波数発振器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26735188A JPH02113708A (ja) | 1988-10-24 | 1988-10-24 | 掃引周波数発振器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26735188A JPH02113708A (ja) | 1988-10-24 | 1988-10-24 | 掃引周波数発振器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02113708A true JPH02113708A (ja) | 1990-04-25 |
Family
ID=17443607
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26735188A Pending JPH02113708A (ja) | 1988-10-24 | 1988-10-24 | 掃引周波数発振器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02113708A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7123798B2 (en) | 2002-03-29 | 2006-10-17 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical device and method of producing the same |
| US7195402B2 (en) | 2002-12-20 | 2007-03-27 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical device |
| US7308174B2 (en) | 2002-12-20 | 2007-12-11 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical device including a filter member for dividing a portion of signal light |
| US7321703B2 (en) | 2002-12-20 | 2008-01-22 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical device |
| US7324729B2 (en) | 2003-06-02 | 2008-01-29 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical device |
| US7489841B2 (en) | 2000-12-22 | 2009-02-10 | Schleifring Und Apparatebau Gmbh | Device for transferring optical signals by means of planar optical conductors |
-
1988
- 1988-10-24 JP JP26735188A patent/JPH02113708A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7489841B2 (en) | 2000-12-22 | 2009-02-10 | Schleifring Und Apparatebau Gmbh | Device for transferring optical signals by means of planar optical conductors |
| US7123798B2 (en) | 2002-03-29 | 2006-10-17 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical device and method of producing the same |
| US7195402B2 (en) | 2002-12-20 | 2007-03-27 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical device |
| US7308174B2 (en) | 2002-12-20 | 2007-12-11 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical device including a filter member for dividing a portion of signal light |
| US7321703B2 (en) | 2002-12-20 | 2008-01-22 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical device |
| US7324729B2 (en) | 2003-06-02 | 2008-01-29 | Ngk Insulators, Ltd. | Optical device |
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