JPH02110746A - Adapter tester - Google Patents
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- JPH02110746A JPH02110746A JP63264892A JP26489288A JPH02110746A JP H02110746 A JPH02110746 A JP H02110746A JP 63264892 A JP63264892 A JP 63264892A JP 26489288 A JP26489288 A JP 26489288A JP H02110746 A JPH02110746 A JP H02110746A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、例えば、分散コンピュータ、ワークステーシ
ョン等の情報処理装置に接続されて外部とのインタフェ
ースを提供するアダプタ、例えば、通信網（ネットワー
ク）に接続するためのアダプタのテスト装置に関し、特
にアダプタ・パッケージを一度に複数枚テスト可能なア
ダプタテスト装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to an adapter that is connected to an information processing device such as a distributed computer or a workstation and provides an interface with the outside, such as a communication network (network). The present invention relates to a test device for an adapter for connection to an adapter, and particularly to an adapter test device capable of testing a plurality of adapter packages at once.
［従来の技術］
従来、ネットワークに接続される装置のテストは、例え
ばその装置がワークステーションならば、テスト済みの
ネットワークを構成（例えば、ＬＡＮ用ケーブルをセッ
ト）し、実際のワークステーションを２台以上そのネッ
トワークに組込み、あるいは接続して、オペレーション
プログラム（ＯＳ）の実行により実施する実機テストが
主流であった。[Prior Art] Conventionally, when testing a device connected to a network, for example, if the device is a workstation, the tested network is configured (for example, a LAN cable is set), and two actual workstations are connected. As mentioned above, the mainstream has been to perform actual machine tests by incorporating or connecting to the network and executing an operation program (OS).
また、この種の実機テスト方式として、特開昭６０−１
９２４３号公報に記載のように、中央処理装置を介在せ
ず、端末制御装置と複数の端末装置との間で折り返しテ
ストを行う方式も公知である。In addition, as an actual machine test method of this kind, JP-A-60-1
As described in Japanese Patent No. 9243, a method is also known in which a return test is performed between a terminal control device and a plurality of terminal devices without intervening a central processing unit.
［発明が解決しようとする課題］
ところで、一般に、情報処理装置には、外部とのインタ
フェースのために、基板単位に構成さ九た種々のアダプ
タが用意されており、所望のアダプタ基板を、情報処理
装置のスロットに差し込むことにより、目的のインタフ
ェース機能が選択できるようになっている。前述のよう
な端末装置でなく、このようなアダプタ自体のテストに
ついても、従来、実機テス１−が主流であり、テスト用
の情報処理装置を２台以上必要とした。特に、アダプタ
量産時のテストでは、テスト用情報処理装置を多数台用
意するか、あるいは１．２台のテスト用情報処理装置に
対して、アダプタ・パッケージを１枚１枚挿抜しながら
同一テストを繰り返さなければならなかった。また、テ
スト項目によっては、例えば、各種障害テスト、すなわ
ち、瞬断、切断、回線ループテスト等は、テスト項目ご
とに人手を介して実行する必要があり、テストの自動化
、効率化の点で問題があった。[Problems to be Solved by the Invention] In general, information processing devices are provided with various adapters configured for each board in order to interface with the outside. By inserting it into the slot of the processing device, the desired interface function can be selected. Conventionally, testing of the adapter itself, rather than the terminal device as described above, has been mainly conducted using actual machine testing, which requires two or more information processing devices for testing. In particular, for testing during mass production of adapters, it is necessary to prepare a large number of test information processing devices, or to perform the same test on 1.2 test information processing devices while inserting and removing adapter packages one by one. Had to repeat. In addition, depending on the test item, for example, various failure tests, such as instantaneous interruption, disconnection, and line loop tests, each test item must be manually executed, which poses a problem in terms of test automation and efficiency. was there.
本発明の目的は、アダプタのテストを自動化し、かつ、
複数のアダプタの一括テストを可能とすることにより、
各アダプタごとのあるいは各テスト項目ごとの人手介在
の必要性を軽減するとともに、テスト用情報処理装置等
の余分な設備を不要とするアダプタテスト装置を提供す
ることにある。The purpose of the invention is to automate the testing of adapters and
By allowing you to test multiple adapters at once,
An object of the present invention is to provide an adapter test device that reduces the need for manual intervention for each adapter or for each test item, and eliminates the need for extra equipment such as a test information processing device.
［課題を解決するための手段］
上記目的を達成するために、本発明によるアダプタテス
ト装置は、情報処理装置に接続されて外部とのインタフ
ェースを提供するアダプタをテストする装置であって、
同時に複数のアダプタを接続可能な複数のスロットを有
するテスト用情報処理装置と、このテスト用情報処理装
置の複数のスロットに接続された複数のアダプタを相互
に折り返しテスト可能に接続するテスト用経路手段とを
備えることを特徴とするものである。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, an adapter test device according to the present invention is a device for testing an adapter that is connected to an information processing device and provides an interface with the outside.
A test information processing device having a plurality of slots to which a plurality of adapters can be connected at the same time, and a test path means that connects the plurality of adapters connected to the plurality of slots of this test information processing device so as to be able to perform a loop test with each other. It is characterized by comprising the following.
さらに、好ましくは、複数のアダプタを収納可能な筐体
を設け、この筐体を電気的にテスト用情報処理装置に接
続する。テスト項目にアダプタの電源電圧変動を含む場
合には、この筐体に、テスト用情報処理装置により制御
されるアダプタ用電源を付設してもよい。Furthermore, preferably, a casing capable of accommodating a plurality of adapters is provided, and this casing is electrically connected to the test information processing device. If the test items include power supply voltage fluctuations of the adapter, the casing may be provided with an adapter power supply controlled by the test information processing device.
テスト用情報処理装置は、好ましくは、順次、複数のア
ダプタのうちの異なる１対の組み合わせを選択し、この
選択された各アダプタ対について、テストを実行する制
御手段を有するものである。The test information processing device preferably has control means for sequentially selecting different pairs of adapters from among the plurality of adapters and executing a test for each selected pair of adapters.
リング方式ＬＡＮ用アダプタのテスト装置においては、
テスト用経路手段として、既存の分岐装置を利用できる
。この分岐装置の通信網への接続端子は、短絡されるか
、あるいは、テスト用情報処理装置により制御される擬
似障害発生手段に接続される。In the test equipment for ring type LAN adapters,
An existing branching device can be used as a test route means. The connection terminal of this branching device to the communication network is either short-circuited or connected to pseudo-fault generating means controlled by the test information processing device.
なお、本発明は、リング型ＬＡＮアダプタに限らず、バ
ス型ＬＡＮ用アダプタ、モデム等、他のインタフェース
用アダプタにも適用可能である。Note that the present invention is applicable not only to ring-type LAN adapters but also to other interface adapters such as bus-type LAN adapters and modems.
［作用］
一般に、情報処理装置には、機能拡張用のスロットが複
数用意されており、通常、その最大数は８ないし１６で
ある。本発明では、このような複数のスロットを有する
情報処理装置をテスト用情報処理装置として利用する。[Operation] Generally, an information processing device has a plurality of slots for function expansion, and the maximum number of slots is usually 8 to 16. In the present invention, an information processing apparatus having such a plurality of slots is used as a test information processing apparatus.
勿論、テスト専用の情報処理装置として、さらに多数の
スロットを増設してもよい。本発明では、また、複数の
アダプタの各対について折り返しテスト可能なテスト用
経路手段を設けている。好ましくは、さらに、複数のア
ダプタを収納する筐体を設けることにより、電源電圧の
変動テストを容易に行うことができる。Of course, a larger number of slots may be added as an information processing device exclusively for testing. The present invention also provides a test path means that can perform a loop test for each pair of a plurality of adapters. Preferably, by further providing a housing that accommodates a plurality of adapters, a power supply voltage fluctuation test can be easily performed.
本発明のアダプタテスト装置においては、１台の情報処
理装置の全スロットを有効に利用し、複数のアダプタか
ら順次具なる１対を選択して、両アダプタ間で相互にテ
ストデータの伝送を行い、送受信データの照合を行うこ
とにより、アダプタが正常に動作するか否かをテストす
る。これにより、実際のネッ１〜ワークシステム等を利
用する必要なく、テスト用情報処理装置単独で、複数の
アダプタを一括して効率よくテストすることが可能にな
る。特に、ノイズシミュレータを利用すれば、筐体に収
納されたアダプタについては、障害テストも含めてほと
んどすべてのテスト工程を自動化できる。In the adapter test device of the present invention, all slots of one information processing device are effectively used, a specific pair is selected from a plurality of adapters in sequence, and test data is mutually transmitted between both adapters. , to test whether the adapter operates normally by checking the transmitted and received data. This makes it possible to efficiently test a plurality of adapters at once using the test information processing device alone, without the need to use an actual network system or the like. In particular, by using a noise simulator, it is possible to automate almost all testing processes, including fault tests, for adapters housed in a housing.
このように、本発明によれば、アダプタテストに要する
時間および設備を削減できる。特に、多数のアダプタを
テストするときに、顕著な効果がある。Thus, according to the present invention, the time and equipment required for adapter testing can be reduced. This is particularly effective when testing a large number of adapters.
［実施例］
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳細
に説明する。[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第１図に、情報処理装置をトークンリングネットワーク
に接続するためのアダプタ、すなわちトークンリングＬ
ＡＮ用アダプタに本発明を適用した実施例を示す。本実
施例の構成を説明する前に、まず、トークンリングＬＡ
Ｎについて簡単に説明する。FIG. 1 shows an adapter for connecting an information processing device to a token ring network, that is, a token ring L
An embodiment in which the present invention is applied to an AN adapter will be shown. Before explaining the configuration of this embodiment, we will first explain the token ring LA.
N will be briefly explained.
トークンリングＬＡＮは、一般に、第５図に示すように
、リング状の伝送路５０に分岐装置８を介して複数の情
報処理装置１が接続される。分岐装置８（例えば、日立
層ＨＮ−１１１１−１型）は、リング状伝送路５０をス
ター状に分岐して複数の情報処理装置１を伝送路５０に
接続するための装置である。In a token ring LAN, generally, as shown in FIG. 5, a plurality of information processing devices 1 are connected to a ring-shaped transmission path 50 via a branching device 8. The branching device 8 (for example, Hitachi layer HN-1111-1 type) is a device for branching the ring-shaped transmission path 50 into a star shape and connecting a plurality of information processing devices 1 to the transmission path 50.
さて、第１図の実施例のアダプタテスト装置は、第５図
に示したような１組の情報処理装置１および分岐装置８
を利用するとともに、複数の被テストアダプタ・パッケ
ージ６を収納可能な収納筐体５を新たに設けたものであ
る。Now, the adapter test device of the embodiment shown in FIG. 1 consists of a set of information processing device 1 and branching device 8 as shown in FIG.
In addition, a storage casing 5 that can accommodate a plurality of adapter packages 6 to be tested is newly provided.
情報処理装置１は、例えば、外部記憶手段としてのフロ
ッピーディスク装置ＦＤ、表示手段としてのコンソール
デイスプレィＣＲＴ、入力手段としてのキーボードＫＢ
等を有するワークステーションであり、外部とのインタ
フェースのためのアダプタを装着する複数のスロット４
を有するものである。情報処理装置１内の主メモリ１３
には、テスト用モニタ２およびテスト用ソフトウェア３
がロードされており、これらの支配下で、制御部１４が
入出力を含む種々の制御を実行する。キーボードＫＢか
らは各種テスト項目の実行指示等が行え、エラーメツセ
ージ等がデイスプレィＣＲＴに出力表示される。The information processing device 1 includes, for example, a floppy disk device FD as an external storage means, a console display CRT as a display means, and a keyboard KB as an input means.
A workstation with a plurality of slots 4 for installing adapters for external interfaces.
It has the following. Main memory 13 in information processing device 1
includes test monitor 2 and test software 3.
are loaded, and under the control of these, the control unit 14 executes various controls including input/output. From the keyboard KB, execution instructions for various test items can be given, and error messages and the like are output and displayed on the display CRT.
アダプタ収納筐体５は、複数の被テストアダプタ６を、
コネクタ７ａ、７ｂに接続した状態で収納する。本実施
例では、このアダプタ６はトークンリングＬＡＮ用アダ
プタである。−度に収納できるアダプタ数は情報処理装
置１の利用できるスロット４の数によって決まる。コネ
クタ７ｂは、アダプタ６が１対１にいずれかのスロット
４に接続されるよう、ケーブル９ｂにより情報処理装置
１の対応するスロット４に接続される。一方、各アダプ
タ６は、コネクタ７ａを介して、通常の接続状態でケー
ブル９ａにより分岐装置８のコネクタ１２ｃに接続され
る。筐体５には、電源ユニット１１が付設され、これに
よりアダプタ６へ電力を供給するようになっている。電
源ユニット１１は、１つのスロット４からケーブル１０
を経由して、情報処理装置１の制御部１４に接続され、
テスト用ソフトウェア３による電圧変動あるいは電源切
断等の診断コマンドに応答して、アダプタ６へ供給する
電圧を制御する。The adapter storage case 5 stores a plurality of adapters 6 to be tested.
It is stored connected to the connectors 7a and 7b. In this embodiment, this adapter 6 is a token ring LAN adapter. The number of adapters that can be stored at one time is determined by the number of slots 4 available in the information processing device 1. The connector 7b is connected to the corresponding slot 4 of the information processing device 1 by a cable 9b so that the adapter 6 is connected to any one of the slots 4 on a one-to-one basis. On the other hand, each adapter 6 is connected to a connector 12c of the branching device 8 via a cable 9a in a normal connection state via a connector 7a. A power supply unit 11 is attached to the housing 5 to supply power to the adapter 6. The power supply unit 11 connects one slot 4 to the cable 10
is connected to the control unit 14 of the information processing device 1 via
The voltage supplied to the adapter 6 is controlled in response to voltage fluctuations by the test software 3 or diagnostic commands such as power cutoff.
なお、図では、電源ユニット１１を筐体５の外部に示し
ているが、筐体５に内蔵される構造としてもよい。また
、アダプタの電源電圧のテストを行わない場合には、電
源ユニット１１は必要なく、スロット４を介した電源供
給で足りる。あるいは、アダプタ６を情報処理装置１内
に収納するようにすれば、筐体５自体も必ずしも必要で
はない。Note that although the power supply unit 11 is shown outside the housing 5 in the figure, it may have a structure built into the housing 5. Further, when the power supply voltage of the adapter is not tested, the power supply unit 11 is not necessary, and power supply via the slot 4 is sufficient. Alternatively, if the adapter 6 is housed within the information processing device 1, the housing 5 itself is not necessarily required.
分岐装置８については、その本来の使用方法とは異なり
、それ自体を擬似的なリング状伝送路として使用可能な
ように、本来のリング状伝送路を接続すべき１対のＩＮ
コネクタ１２ａおよびＯＵＴコネクタ１２ｂをリングケ
ーブル１５により短絡している。Concerning the branching device 8, unlike its original usage, it connects a pair of INs to which the original ring-shaped transmission line should be connected so that it can be used as a pseudo ring-shaped transmission line.
Connector 12a and OUT connector 12b are short-circuited by ring cable 15.
本実施例では、テスト用経路手段として、既存の分岐装
置８を利用したが、筐体５内に同様な接続を行う配線を
設けてもよい。但し、ケーブル９ａを利用して、手動に
よりループテスト中のループ切断や外乱等を与える場合
には、第１図の構成が好ましい。In this embodiment, the existing branching device 8 is used as the test route means, but wiring for making similar connections may be provided within the casing 5. However, if the cable 9a is used to manually cut the loop during a loop test or apply disturbances, the configuration shown in FIG. 1 is preferable.
第１図のテスト装置によるループテストでは、複数のア
ダプタ６から順次具なる２枚が選択され、この２枚１組
について、通信プロトコルに従って相互にデータ伝送が
行われる。伝送データは、本実施例では、第２図に示す
ように、使用中トークン、宛先アドレス、送信元アドレ
スおよびテスト用データ部からなる。テスト用データ部
のテストデータパターンは、例えば、オール０、オール
１．１０１０・・１０１０等、任意のパターンを選択で
きる。選択された２枚のアダプタ６に対応する２つのス
ロットの一方から出力されたデス１〜用データは、対応
するアダプタ６から送信され、分岐装置８を経由して、
他方のアダプタ６により受信される。この受信データは
、対応するスロット４を介して制御部１４に戻され、こ
こで送信データと照合されて受信データの可否が判定さ
れる。同様に逆方向のデータ伝送についてのテストも実
行される。データ伝送中にアダプタの電源電圧を変動さ
せ、あるいは、ケーブル９による外乱を加えることもで
きる。また、テスト回数も指定できる。このようなテス
トが筐体５内のアダプタ６のすべての組み合わせについ
て繰り返され、その結果はデイスプレィＣＲＴに表示さ
れる。In a loop test using the test device shown in FIG. 1, two adapters are sequentially selected from a plurality of adapters 6, and data is transmitted to each other in accordance with the communication protocol for each pair of adapters. In this embodiment, the transmission data consists of a token in use, a destination address, a source address, and a test data section, as shown in FIG. As the test data pattern of the test data section, any pattern such as all 0, all 1.1010, . . . 1010, etc., can be selected, for example. The data for Des 1~ outputted from one of the two slots corresponding to the two selected adapters 6 is transmitted from the corresponding adapter 6, via the branching device 8,
It is received by the other adapter 6. This received data is returned to the control unit 14 via the corresponding slot 4, where it is compared with the transmitted data to determine whether or not the received data is acceptable. Tests for data transmission in the reverse direction are also performed. It is also possible to vary the power supply voltage of the adapter during data transmission, or to add disturbance via the cable 9. You can also specify the number of tests. Such a test is repeated for all combinations of adapters 6 in the housing 5, and the results are displayed on the display CRT.
第３図に、第１図のテスト装置におけるテストの一例の
フローチャートを示す。FIG. 3 shows a flowchart of an example of a test performed by the test apparatus shown in FIG.
まず、電源オン後、外部記憶装置から主メモリ２内にモ
ニタ部およびテスト用ソフトウェアがロードされる（２
１．２２）。次に、操作者がデイスプレィ画面上に表示
された実行モードの選択メ二二一から所望の実行モード
を選択する（２３）。First, after the power is turned on, the monitor section and test software are loaded from the external storage device into the main memory 2 (2
1.22). Next, the operator selects a desired execution mode from the execution mode selection menu 221 displayed on the display screen (23).
ここでは、オートテストモードとマニュアルモードとが
選択できる。オートテストモードが選択されたときはコ
ンソールからの指示不要と判断されて（２４）、オート
テストモード設定（３０）が行われた後、あらかじめ定
められたテスト項目について、順次すべてのアダプタの
組み合わせに対するループテストが自動的に実行される
（３１）。Here, you can select between auto test mode and manual mode. When auto test mode is selected, it is determined that instructions from the console are not required (24), and after auto test mode setting (30) is performed, all adapter combinations are sequentially tested for predetermined test items. A loop test is automatically performed (31).
この間のテストに要するデータおよびコマンドは、モニ
タおよびテスト用プログラムの制御下で発行される。テ
スト中に、エラーが発生した場合には（３２）、エラー
データのロギングが行われる（３４）。その後、テスト
再実行または終了の選択（３３）に応じて、再実行の場
合にはステップ２３に戻る。そうでない場合には終了す
る。Data and commands required for the test during this time are issued under the control of the monitor and test program. If an error occurs during the test (32), logging of error data is performed (34). Thereafter, depending on the selection (33) of re-execution or termination of the test, the process returns to step 23 in the case of re-execution. Otherwise, terminate.
ステップ２４でマニュアルモードが選択された場合には
、コンソールからの指示が必要と判断される。そこで操
作者が、この例では、テスト電圧を選択しく２５）、あ
るいは被テストアダプタ対を選択する（２６）ことがで
きる。テスト回数が指定された場合には（２７）、その
指定回数だけ、指定されたアダプタ対についてテストを
繰り返す。If the manual mode is selected in step 24, it is determined that instructions from the console are required. The operator can then select a test voltage (25) or a pair of adapters to be tested (26) in this example. If the number of tests is specified (27), the test is repeated for the specified adapter pair the specified number of times.
また、ステップ２５のテスト電圧設定により、アダプタ
への供給電圧を変動させることができ、例えば、直流電
圧について規定値より±１０％の変化を組み合わせるこ
とができる。回数指定がない場合には、操作者の介入要
求があるまで、ヒートランニングテスト（２９）を継続
実行する。いずれの場合にもテスト中にエラーが発生し
た場合には、オートテストモードの場合と同様、エラー
データのロギング処理（３４）に移行する。Further, by setting the test voltage in step 25, it is possible to vary the voltage supplied to the adapter, and for example, it is possible to combine changes of ±10% from the specified value for the DC voltage. If there is no designation of the number of times, the heat running test (29) continues to be executed until the operator requests intervention. In either case, if an error occurs during the test, the process moves to error data logging processing (34), as in the auto test mode.
次に第４図に、本発明のアダプタテスト装置の第２の実
施例を示す。この実施例が第１の実施例と異なる点は、
分岐装置８の伝送路接続端子にノイズシミュレータ（例
えば、三基電子工業社製高周波ノイズシミュレータＥＮ
Ｓ−２４Ｐ） １６が接続されていることである。ノイ
ズシミュレータ１６は、制御部１４により制御されて、
伝送路に瞬断、ノイズ等の擬似的な障害を発生させるも
のである。Next, FIG. 4 shows a second embodiment of the adapter test device of the present invention. This embodiment differs from the first embodiment in the following points:
A noise simulator (for example, high frequency noise simulator EN manufactured by Sanki Denshi Kogyo Co., Ltd.) is connected to the transmission line connection terminal of the branching device 8.
S-24P) 16 is connected. The noise simulator 16 is controlled by the control unit 14, and
This causes pseudo-failures such as instantaneous interruptions and noise in the transmission path.
第１の実施例では、この障害発生を自動的に実行するこ
とができなかったが、本実施例ではこれが可能となる。In the first embodiment, this failure occurrence could not be automatically executed, but in the present embodiment, this is possible.
以上の実施例では、リング型ＬＡＮ用アダプタを例とし
て説明したが、本発明は、バス型ＬＡＮ用アダプタ、モ
デム等、その他の通信用あるいはインタフェース用アダ
プタにも容易に適用することができる。例えば、バス型
ＬＡＮ用アダプタでは、分岐装置８の配線を単なるバス
とするとともに、通信プロトコルを変更すればよい。モ
デムの場合には、分岐装置８が若干複雑となり、選択さ
れた１対のアダプタの間の回線を確立するような回線切
替制御を行う必要があるが、この変更は当業者には容易
に実行できよう。Although the above embodiments have been explained using a ring type LAN adapter as an example, the present invention can be easily applied to other communication or interface adapters such as a bus type LAN adapter and a modem. For example, in the case of a bus-type LAN adapter, the wiring of the branching device 8 may be made into a simple bus, and the communication protocol may be changed. In the case of a modem, the branching device 8 is a little more complicated and requires line switching control to establish a line between a selected pair of adapters, but this change can be easily carried out by those skilled in the art. I can do it.
［発明の効果コ
以上述べたように、本発明によれば、情報処理装置のス
ロットに装着されるような外部装置とのインタフェース
用アダプタを一度に複数まとめてテストできるので、従
来人手で行っていた作業を大幅に削減し、高効率、高精
度の検査を実現可能となる。特に、本発明のアダプタテ
スト装置は、量産用自動検査システムとして好適である
。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, multiple adapters for interface with external devices, such as those installed in the slots of an information processing device, can be tested at once, which eliminates the need for manual testing in the past. This greatly reduces the amount of work involved, making it possible to perform highly efficient and highly accurate inspections. In particular, the adapter test device of the present invention is suitable as an automatic inspection system for mass production.
第１図は本発明の第１の実施例のブロック図、第２図は
第１の実施例の伝送データの説明図、第３図は第１の実
施例のテスト処理の一例のフローチャート、第４図は本
発明の第２の実施例のブロック図、第５図は第１の実施
例に関する通信網の説明図である。FIG. 1 is a block diagram of the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of transmission data in the first embodiment, FIG. 3 is a flowchart of an example of test processing in the first embodiment, and FIG. FIG. 4 is a block diagram of a second embodiment of the present invention, and FIG. 5 is an explanatory diagram of a communication network related to the first embodiment.
Claims (1)
を提供するアダプタをテストする装置であって、 同時に複数のアダプタを接続可能な複数のスロットを有
するテスト用情報処理装置と、 該テスト用情報処理装置の複数のスロットに接続された
複数のアダプタを相互に折り返しテスト可能に接続する
テスト用経路手段とを 備えることを特徴とするアダプタテスト装置。 ２、上記複数のアダプタを収納可能な筐体を設け、該筐
体を電気的に上記テスト用情報処理装置に接続したこと
を特徴とする請求項１記載のアダプタテスト装置。 ３、上記筐体に、上記テスト用情報処理装置により制御
されるアダプタ用電源を付設したことを特徴とする請求
項２記載のアダプタテスト装置。 ４、上記テスト用情報処理装置は、順次、上記複数のア
ダプタのうちの異なる１対の組み合わせを選択し、該選
択された各アダプタ対について、テストを実行する制御
手段を有することを特徴とする請求項１記載のアダプタ
テスト装置。 ５、リング方式ＬＡＮ用アダプタのテスト装置において
、上記テスト用経路手段は分岐装置である請求項１記載
のアダプタテスト装置。 ６、上記分岐装置は、通信網への接続端子を短絡したこ
とを特徴とする請求項５記載のアダプタテスト装置。 ７、上記テスト用情報処理装置により制御される擬似障
害発生手段を、上記分岐装置に接続した請求項５記載の
アダプタテスト装置。[Claims] 1. A device for testing an adapter connected to an information processing device to provide an interface with the outside, the test information processing device having a plurality of slots to which a plurality of adapters can be connected at the same time. . A test path means for connecting a plurality of adapters connected to a plurality of slots of the test information processing device to each other so as to be able to perform a loop test. 2. The adapter test device according to claim 1, further comprising a casing capable of accommodating the plurality of adapters, and the casing is electrically connected to the test information processing device. 3. The adapter test device according to claim 2, wherein the casing is provided with an adapter power source controlled by the test information processing device. 4. The test information processing device is characterized by having a control means that sequentially selects a different pair of combinations among the plurality of adapters and executes a test for each selected pair of adapters. The adapter test device according to claim 1. 5. The adapter test device according to claim 1, wherein the test route means is a branch device. 6. The adapter test device according to claim 5, wherein the branching device short-circuits a connection terminal to a communication network. 7. The adapter test device according to claim 5, wherein a pseudo-failure generation means controlled by the test information processing device is connected to the branch device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63264892A JPH02110746A (en) | 1988-10-20 | 1988-10-20 | Adapter tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63264892A JPH02110746A (en) | 1988-10-20 | 1988-10-20 | Adapter tester |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02110746A true JPH02110746A (en) | 1990-04-23 |
Family
ID=17409677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63264892A Pending JPH02110746A (en) | 1988-10-20 | 1988-10-20 | Adapter tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02110746A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012168769A (en) * | 2011-02-15 | 2012-09-06 | Nec Computertechno Ltd | Interface failure management system, information processor, and interface failure management method |
Citations (5)
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| JPS5816320A (en) * | 1981-07-21 | 1983-01-31 | Nec Corp | Pseudo fault generator |
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-
1988
- 1988-10-20 JP JP63264892A patent/JPH02110746A/en active Pending
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