JPH0210979A - Time base correction device - Google Patents
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Landscapes
- Television Signal Processing For Recording (AREA)
- Signal Processing Not Specific To The Method Of Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ビデオテープレコーダ(VTR)などの信号
再生装置における、再生信号の時間軸変動を補正する時
間軸補正装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a time axis correction device for correcting time axis fluctuations of a reproduced signal in a signal reproducing apparatus such as a video tape recorder (VTR).
従来の技術
近年、放送用VTRなどの信号再生装置において、再生
信号の時間軸変動を補正するため、ディジタル式の時間
軸補正装置が広く用いられている。2. Description of the Related Art In recent years, digital time axis correction devices have been widely used in signal reproducing apparatuses such as broadcasting VTRs to correct time axis fluctuations of reproduced signals.
以下に図面を参照しながら、上述した従来の時間軸補正
装置の一例について説明する。An example of the above-mentioned conventional time axis correction device will be described below with reference to the drawings.
第6図は従来の時間軸補正装置の概略的な構成図である
。入力端子1から時間軸変動を含む信号が入力される。FIG. 6 is a schematic diagram of a conventional time axis correction device. A signal including time axis fluctuation is input from input terminal 1 .
書込みクロック発生回路2では入力信号の時間軸変動に
追従したクロックを発生し、AD変換器3、メモリ制御
回路5などに供給する。The write clock generation circuit 2 generates a clock that follows the time axis fluctuation of the input signal and supplies it to the AD converter 3, memory control circuit 5, and the like.
AD変換器3では、入力端子1からの入力信号を書込み
クロック発生回路2で発生された入力信号の時間軸変動
に追従したクロックで標本化し、ディジタル信号に変換
してメモリ4に一端記憶する。The AD converter 3 samples the input signal from the input terminal 1 using a clock that follows the time axis fluctuation of the input signal generated by the write clock generation circuit 2, converts it into a digital signal, and temporarily stores it in the memory 4.
一方、読み出しクロック発生回路7では時間軸変動のな
い固定クロックを発生し、この固定クロックに同期して
メモリ4に記憶した信号を読み出し、DA変換器6にて
再びアナログ信号に変換し、出力端子8より出力する。On the other hand, the read clock generation circuit 7 generates a fixed clock with no time axis fluctuation, reads out the signal stored in the memory 4 in synchronization with this fixed clock, converts it back to an analog signal in the DA converter 6, and outputs it to the output terminal. Output from 8.
なおメモリ制御回路5は、書込みクロックと読出しクロ
ックの2つの非同期のクロック信号で、見掛は上書込み
と読出しが独立し、かつ並行して行われるようメモリを
制御する。Note that the memory control circuit 5 controls the memory using two asynchronous clock signals, a write clock and a read clock, so that overwriting and reading are apparently performed independently and in parallel.
つぎに、第7図を用いて時間軸変動が補正される原理を
時間軸上で説明する。第7図(a)は時間軸変動のない
原信号であり、この信号が記録・再生された信号は同図
働)のように時間軸変動を有し、これが第6図の入力端
子1に入力される。AD変換器3では時間軸変動に追従
したクロックで第7図い)の160〜172の点(・で
示す)を標本化し、メモリに一端記憶したのち、これを
時間軸変動のない固定クロックで読み出すことにより、
第7図(C)のように、時間軸変動の補正された信号を
得ることができる。(例えば、日本放送協会績rVTR
技術」、(昭57.10.20)、日本放送出版協会、
P、118)
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記のような構成では、入力信号の時間軸
変動に追従したクロックを発生するためのアナログ手段
が必要である。このため、アナログ回路素子のばらつき
や温度変化などにより、時間軸補正の精度が影響を受け
てしまう。また、装置全体を半導体化する際の障害とな
る。さらに、書込みクロックと読出しクロックの2つの
非同期のクロック信号で制御されるため、他のディジタ
ル処理回路との結合において障害となる。そのうえ、2
つの非同期のクロック信号で見掛は上書込みと続出しが
独立し、かつ並行して行われるようメモリを制御する必
要があり、メモリ構成、メモリ制御が複雑になり、回路
が大規模になるなどの問題点を有していた。Next, the principle by which time axis fluctuations are corrected will be explained on the time axis using FIG. Figure 7(a) shows the original signal with no time axis fluctuations, and the signal recorded and reproduced from this signal has time axis fluctuations as shown in Figure 6. is input. The AD converter 3 samples points 160 to 172 (indicated by .) in Figure 7) using a clock that follows time axis fluctuations, temporarily stores them in memory, and then samples them using a fixed clock that does not have time axis fluctuations. By reading,
As shown in FIG. 7(C), a signal with time axis fluctuations corrected can be obtained. (For example, Japan Broadcasting Corporation record rVTR
"Technology", (October 20, 1982), Japan Broadcasting Publishing Association,
P, 118) Problems to be Solved by the Invention However, the above configuration requires analog means for generating a clock that follows the time axis fluctuations of the input signal. Therefore, the accuracy of time axis correction is affected by variations in analog circuit elements, temperature changes, and the like. Moreover, it becomes an obstacle when converting the entire device into a semiconductor. Furthermore, since it is controlled by two asynchronous clock signals, a write clock and a read clock, it becomes an obstacle in coupling with other digital processing circuits. Moreover, 2
It is necessary to control the memory so that overwriting and subsequent writing are performed apparently independently and in parallel using two asynchronous clock signals, which complicates the memory configuration and memory control, making the circuit large-scale, etc. It had the following problems.
本発明は上記問題点に着目し、回路素子のばらつきや温
度変化などによる影響を受けることなく、安定して高精
度の時間軸補正が行える時間軸補正装置を提供すること
を目的とする。またさらに、装置全体を半導体化するこ
とができるとともに、時間軸変動を持たないl系統のク
ロックのみで動作する時間軸補正装置を提供することを
も目的とする。The present invention has focused on the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a time axis correction device that can perform stable and highly accurate time axis correction without being affected by variations in circuit elements or temperature changes. A further object of the present invention is to provide a time axis correction device that can be made entirely of semiconductors and that operates only with one system of clocks without time axis fluctuations.
課題を解決するための手段
上記目的を達成するため本発明の時間軸補正装置は、入
力信号を一定の時間間隔で標本化しディジタル信号に変
換するAD変換器と、前記AD変換器によって得たディ
ジタル信号から時間軸誤差を検出して時間軸誤差情報を
出力する時間軸誤差検出手段と、前記AD変換器によっ
て得たディジタル信号から前記時間軸誤差情報にもとず
いて信号振幅を補間して得る補間手段と、前記補間手段
の出力信号をアナログ信号に変換するDA変換器とを備
えたものである。Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, the time axis correction device of the present invention includes an AD converter that samples an input signal at regular time intervals and converts it into a digital signal, and a digital signal obtained by the AD converter. time-base error detection means for detecting a time-base error from a signal and outputting time-base error information; and a signal amplitude obtained by interpolating the digital signal obtained by the AD converter based on the time-base error information. The apparatus includes an interpolation means and a DA converter that converts the output signal of the interpolation means into an analog signal.
作用
本発明は上記した構成によって、時間軸変動を持たない
クロックで標本化した信号から、時間軸変動を補正した
信号を補間して得る構成となっているため、入力信号の
時間軸変動に追従したクロックは必要とせず、装置全体
が時間軸変動を持たない一系統のクロックのみで動作す
る。またこのため、入力信号の時間軸変動に追従したク
ロックを発生するためのアナログ手段は必要ない。Operation The present invention has the above-described configuration to obtain a signal whose time axis fluctuations have been corrected by interpolating from a signal sampled by a clock that does not have time axis fluctuations, so that it can follow the time axis fluctuations of the input signal. There is no need for a separate clock, and the entire device operates with only one system of clocks with no time axis fluctuations. Further, for this reason, analog means for generating a clock that follows the time axis fluctuations of the input signal is not required.
実施例
以下に本発明の時間軸補正装置の一実施例について説明
する。Embodiment An embodiment of the time axis correction device of the present invention will be described below.
第1図は本発明の時間軸補正装置の一実施例を示す構成
図である。第1図において、入力端子1から時間軸変動
を含む再生信号が入力される。クロック発生回路107
では時間軸変動を持たない一定周期のクロックが発生さ
れ、AD変換器103、DA変換器106、時間軸誤差
検出回路102などに供給される。AD変換器103で
は、入力端子1からの入力信号をクロック発生回路10
7で発生された一定周期のクロックで標本化し、ディジ
タル信号に変換する。このディジタル信号は、時間軸誤
差検出回路102および補間回路104に導かれる0時
間軸誤差検出回路102では、入力されたディジタル信
号の同期信号やバースト信号などから時間軸誤差が検出
され、時間軸誤差情報を補間回路104に入力する。一
方、補間回路104では、時間軸誤差検出回路102か
ら得た時間軸誤差情報をもとに、AD変換器103でデ
ィジタル化された信号から時間軸誤差の補正された信号
を補間して得る0時間軸誤差を補正された信号は、DA
変換器106に供給されてアナログ信号に変換され、出
力端子8から出力される。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the time axis correction device of the present invention. In FIG. 1, a reproduced signal including time axis fluctuations is input from an input terminal 1. Clock generation circuit 107
In this case, a clock having a constant period without time axis fluctuation is generated and supplied to the AD converter 103, the DA converter 106, the time axis error detection circuit 102, and the like. In the AD converter 103, the input signal from the input terminal 1 is sent to the clock generation circuit 10.
The signal is sampled using a constant cycle clock generated in step 7 and converted into a digital signal. This digital signal is guided to a time axis error detection circuit 102 and an interpolation circuit 104. In the time axis error detection circuit 102, a time axis error is detected from the synchronization signal, burst signal, etc. of the input digital signal, and the time axis error is detected. The information is input to interpolation circuit 104. On the other hand, the interpolation circuit 104 interpolates a signal whose time axis error has been corrected from the signal digitized by the AD converter 103 based on the time axis error information obtained from the time axis error detection circuit 102. The signal with time axis error corrected is DA
The signal is supplied to the converter 106, converted into an analog signal, and outputted from the output terminal 8.
つぎに、先の従来例の場合と同様に第7図を用いて時間
軸変動が補正される原理を時間軸上で説明する。第7図
(a)の時間軸変動のない原信号に対し、VTRなどに
より再生された信号は同図ら)のように時間軸変動を有
し、これが第1図の入力端子1に入力される。AD変換
器103では時間軸変動のない一定周期のクロックで第
7図[有])の180〜193の点(口で示す)を標本
化する。標本化された信号から、補間回路104におい
て入力信号の時間軸変動に同期した標本位置の標本値、
すなわち第7図[有])の従来例における標本化点と同
じ160〜172(・で示す)の標本値を補間して求め
る。その結果、第7図(C)のように、時間軸変動の補
正された信号を得ることができる。Next, as in the case of the prior art example, the principle of correcting time axis fluctuations will be explained on the time axis using FIG. In contrast to the original signal shown in FIG. 7(a), which has no time axis variation, the signal reproduced by a VTR etc. has time axis variation as shown in FIG. . The AD converter 103 samples points 180 to 193 (indicated by the numbers) in FIG. From the sampled signal, the interpolation circuit 104 calculates a sample value at a sample position synchronized with the time axis fluctuation of the input signal,
That is, sample values of 160 to 172 (indicated by *), which are the same as the sampling points in the conventional example shown in FIG. 7, are obtained by interpolation. As a result, as shown in FIG. 7(C), a signal with time axis fluctuations corrected can be obtained.
ここで、補間回路】04における補間原理について説明
する。いま、入力端子1に入力される信号をv (tl
、標本化周期をTとしたとき、AD変換器103におい
て標本化された信号はv(kT)(kは整数)で表され
る。v(t)は標本化定理を満たすよう標本化周波数の
1/2以下の周波数に帯域制限されているため、標本化
定理により任意の時刻にτにおける信号V(τ)を標本
化した信号から次の0式により求めることができる。Here, the interpolation principle in interpolation circuit [04] will be explained. Now, the signal input to input terminal 1 is expressed as v (tl
, when the sampling period is T, the signal sampled by the AD converter 103 is expressed as v(kT) (k is an integer). Since v(t) is band-limited to a frequency less than 1/2 of the sampling frequency to satisfy the sampling theorem, the sampling theorem allows the signal V(t) at τ to be sampled at any time. It can be determined by the following equation 0.
v (T)−Σ v (kT) ・s (r −k
t) −■に=−■
ここで5(t)は補間関数であって、入力信号v(t)
の最大周波数fm、標本化周波数をfs−1/Tとした
とき、その伝達関数5(f)(fは周波数)が少なくと
も、
を満たすフィルタのインパルス応答に等しい0例えば、
S Cf>として周波数特性が第2図に示す理g低域フ
ィルタとしたとき、そのインパルス応答である補間関数
S (t”)は、次式で表される。v (T)−Σ v (kT) ・s (r −k
t) −■=−■ Here, 5(t) is an interpolation function, and the input signal v(t)
When the maximum frequency fm and the sampling frequency are fs-1/T, the transfer function 5(f) (f is the frequency) is at least equal to the impulse response of the filter that satisfies 0. For example,
When a low-pass filter whose frequency characteristics are shown in FIG. 2 is used as S Cf>, the interpolation function S (t''), which is the impulse response, is expressed by the following equation.
(π/T) ・ t
ところで、0式によればV(τ)を求めるためには、k
−−ω〜+ψについて演算する必要があり、この演算を
実行することはできない。しかしながら、本発明におい
ては信号をディジタル信号として扱うため、(1量子化
ステツプ)72以内の誤差でV(τ)が求めまれば実用
上全く問題がない、そこで、次の0式を用いる。(π/T) ・t By the way, according to formula 0, in order to find V(τ), k
It is necessary to calculate −−ω to +ψ, and this calculation cannot be performed. However, in the present invention, since the signal is treated as a digital signal, there is no problem in practice as long as V(τ) can be determined with an error within (1 quantization step) 72. Therefore, the following equation 0 is used.
v(r)# Σ v (kT) ・s (t −kt
) −■ここで、NおよびMは有限の値の整数であり、
上述のように求まるV(τ)の誤差が十分小さくなるよ
う設定すればよい、これにより、時間軸誤差検出回路1
02によって得られた時間軸誤差情報から入力信号の時
間軸変動に同期した標本位置の時刻τを得て、0式によ
ってこの時刻の標本値を求めることができる。v(r)# Σ v (kT) ・s (t −kt
) −■where N and M are integers of finite value,
It is only necessary to set the error of V(τ) determined as described above to be sufficiently small.
The time τ of the sample position synchronized with the time axis fluctuation of the input signal can be obtained from the time axis error information obtained by 02, and the sample value at this time can be obtained using the equation 0.
さて次に、上述した補間を行う補間回路104の具体的
実施例について説明する。Next, a specific embodiment of the interpolation circuit 104 that performs the above-mentioned interpolation will be described.
第3図は補間回路104の構成例を示すものであり、こ
こでは0式のMおよびNが、N−M+1−4を満たす場
合、すなわち4つの標本点から補間出力を得る場合につ
いて述べる。また、各信号線は簡単のため1本の線で示
しているが、実際には複数ビットの信号を伝送するもの
である。第3図において、補間回路の入力端子111か
ら入力された信号は、複数のD−フリップフロップから
なるシフトレジスタ112に入力される。シフトレジス
タ112からは、それぞれのD−フリップフロップから
クロック単位で遅延された信号が取り出され、113〜
118で示される連続する4つの標本値からなる標本点
対として選択回路119に導かれる。選択回路119で
は、後述するクロック周期単位の誤差情報134にもと
ずいて、113〜118で示される標本点対から1つを
選択し、標本点対120に接続する。FIG. 3 shows an example of the configuration of the interpolation circuit 104, and here we will discuss the case where M and N in equation 0 satisfy N-M+1-4, that is, the case where interpolated output is obtained from four sample points. Furthermore, although each signal line is shown as one line for simplicity, it actually transmits a plurality of bits of signals. In FIG. 3, a signal input from an input terminal 111 of the interpolation circuit is input to a shift register 112 consisting of a plurality of D-flip-flops. From the shift register 112, signals delayed in clock units are taken out from the respective D-flip-flops, and the signals 113-
The sample points are guided to the selection circuit 119 as a sample point pair consisting of four consecutive sample values indicated by 118. The selection circuit 119 selects one of the sample point pairs 113 to 118 based on error information 134 in units of clock cycles, which will be described later, and connects it to the sample point pair 120 .
一方、時間軸誤差情報入力端子135からは、第1図の
時間軸誤差検出回路102により得られた時間軸誤差情
報が入力される0時間軸誤差情報は、時間軸誤差処理回
路133においてクロック周期単位の誤差情報134と
1クロック周期内の誤差情報132に変換される。この
クロック周期単位の誤差情報134と1クロック周期内
の誤差情報132について、第4図を用いて説明する。On the other hand, from the time axis error information input terminal 135, the time axis error information obtained by the time axis error detection circuit 102 of FIG. It is converted into unit error information 134 and error information 132 within one clock period. The error information 134 per clock cycle and the error information 132 within one clock cycle will be explained using FIG. 4.
第4図は横軸に時間、縦軸に入力信号振幅を示すもので
ある0口で示される140〜14日は標本点であり、シ
フトレジスタ112の各D−フリップフロップから出力
されるものであり、また・で示す150は補間して求め
るべき標本点である。In FIG. 4, the horizontal axis shows time and the vertical axis shows the input signal amplitude. Days 140 to 14, indicated by 0, are sample points, which are output from each D-flip-flop of the shift register 112. 150, which is indicated by "Yes" and ".", is a sample point to be obtained by interpolation.
ここでクロック単位の誤差情報134は、補間して求め
るべき標本点150を両側からはさむ142〜145で
示す4つの標本点からなる標本点対を選択回路119に
おいて選択するための制御信号となる。また1クロック
周期内の誤差情報132は、第4図においてΔtて示さ
れる1クロック周期内の時間軸誤差を示すものである。Here, the error information 134 in units of clocks becomes a control signal for the selection circuit 119 to select a sample point pair consisting of four sample points 142 to 145 sandwiching the sample point 150 to be obtained by interpolation from both sides. Furthermore, the error information 132 within one clock period indicates a time axis error within one clock period, which is indicated by Δt in FIG.
さて、第3図における選択回路の出力標本点対120の
4つの標本値は、それぞれ乗算回路121〜124に導
かれる。一方、1クロック周期内の誤差情報132は係
数発生回路131に入力され、係数信号127〜130
がそれぞれ乗算回路121〜124のもう一方の入力端
子に入力される。係数信号127〜130は、それぞれ
■式におけるS(τ−T)、s(τ−27)s(τ−3
7) s (τ−4T)、を表す信号であって、係数発
生回路131ばROMなどにより構成される。乗算回路
121〜124の出力信号は加算回路125において加
算され、出力端子126より補間出力として出力される
。Now, the four sample values of the output sample point pair 120 of the selection circuit in FIG. 3 are guided to multiplication circuits 121 to 124, respectively. On the other hand, error information 132 within one clock cycle is input to the coefficient generation circuit 131, and the coefficient signals 127 to 132 are input to the coefficient generation circuit 131.
are input to the other input terminals of multiplication circuits 121 to 124, respectively. The coefficient signals 127 to 130 are respectively S(τ-T) and s(τ-27)s(τ-3
7) A signal representing s (τ-4T), which is constituted by the coefficient generation circuit 131, ROM, etc. The output signals of the multiplier circuits 121 to 124 are added in an adder circuit 125 and output from an output terminal 126 as an interpolated output.
上記のようにして、■式で示される補間出力を得る補間
回路104が構成できる。In the manner described above, the interpolation circuit 104 that obtains the interpolation output shown by equation (2) can be constructed.
なお、ここでは簡単のためN−M+1−4の場合につい
て説明したが、補間による誤差が十分小さくなるようN
およびMが設定される。またシフトレジスタの段数は、
必要とされる時間軸補正範囲に応じて決めればよい。Note that here we have explained the case of N-M+1-4 for simplicity, but N
and M are set. Also, the number of stages of the shift register is
It may be determined according to the required time axis correction range.
以上説明してきたように、本実施例によれば時間軸変動
を持たないクロックで標本化した信号から、時間軸変動
を補正した信号を補間して得るため、装置全体を時間軸
変動を持たない一系統のクロックのみで動作させること
ができる。また、すべてディジタル回路によって構成さ
れており、アナログ回路は必要としない。さらに、時間
軸補正される前の信号から時間軸誤差情報を得る構成と
したため、フィードフォワード制御となり、時間軸変動
に対して高束に応答することができる。As explained above, according to this embodiment, a signal with time axis fluctuations corrected is obtained by interpolating a signal sampled by a clock that does not have time axis fluctuations, so that the entire device has no time axis fluctuations. It can be operated with only one clock system. Furthermore, it is constructed entirely of digital circuits and does not require analog circuits. Furthermore, since the configuration is such that time axis error information is obtained from a signal before time axis correction, feedforward control is performed, and it is possible to respond to time axis fluctuations with high flux.
なおここで、先の実施例では補間関数として理想低域フ
ィルタのインパルス応答である0式を示したが、入力信
号の最大周波数fmが標本化周波数を「Sの1/2より
も小さい場合には、第5図に示すように、0式を満たし
、かつfm〜(fs−fm)を滑らかに変化する周波数
特性のフィルタのインパルス応答、例えば次の0式に示
す補間関数を用いてもよい。In addition, in the previous example, equation 0, which is the impulse response of an ideal low-pass filter, was shown as the interpolation function, but if the maximum frequency fm of the input signal is smaller than 1/2 of S, As shown in FIG. 5, the impulse response of a filter that satisfies the equation 0 and has a frequency characteristic that smoothly changes fm ~ (fs - fm) may be used, for example, the interpolation function shown in the following equation 0 may be used. .
5(t) = ・sin ((g/l
) ・tlπ ・ L
X cos (x(2fm−1/T)・t lX
1 / (14(2fm−1/T)”・L2)これ
により、補間による誤差を十分小さくするための■式に
おけるN−M+1の値、すなわち補間に必要な標本点の
数を大幅に減らすことができ、その結果補間回路の回路
規模を小さくすることができる。5(t) = ・sin ((g/l
)・tlπ・L X cos (x(2fm-1/T)・tlX
1/(14(2fm-1/T)"・L2) This greatly reduces the value of N-M+1 in formula (■) to sufficiently reduce the error caused by interpolation, that is, the number of sample points required for interpolation. As a result, the circuit scale of the interpolation circuit can be reduced.
また本実施例の補間回路では、遅延手段にシフトレジス
タを、また選択手段として選択回路を用いたが、本発明
はこれに限るものではない、すなわち、遅延手段として
ランダムアクセス・メモリ(RAM)を、選択手段とし
てメモリのアドレス回路を用いてもよい。Further, in the interpolation circuit of this embodiment, a shift register is used as the delay means, and a selection circuit is used as the selection means, but the present invention is not limited to this. In other words, a random access memory (RAM) is used as the delay means. , a memory address circuit may be used as the selection means.
発明の効果
以上のように本発明は、時間軸変動を持たないクロック
で標本化した信号から、時間軸変動を補正した信号を補
間して得る構成となっている。このため、入力信号の時
間軸変動に追従したクロックを得るためのアナログ手段
を必要とせず、すべてディジタル回路によって構成でき
る。これにより、回路素子のばらつきや温度変化などに
よる影響を受けることなく、安定して高精度の時間軸補
正が行える。またさらに、装置全体を半導体化すること
ができるため、小型化、コストダウンなどが可能になる
。さらに、時間軸変動を持たない1系統のクロックのみ
で動作するため、2系統のクロックによる複雑なメモリ
制御が不要であるとともに、他のディジタル処理回路と
の結合が容易である。これらに加えフィードフォワード
制御であるため、時間軸変動に対して高速に応答するこ
とができるなど、優れた効果がある。Effects of the Invention As described above, the present invention is configured to interpolate and obtain a signal with time axis fluctuations corrected from a signal sampled with a clock having no time axis fluctuations. Therefore, there is no need for analog means for obtaining a clock that follows the time-base fluctuations of the input signal, and the entire system can be constructed using digital circuits. As a result, stable and highly accurate time axis correction can be performed without being affected by variations in circuit elements or temperature changes. Furthermore, since the entire device can be made into a semiconductor, it becomes possible to reduce the size and cost. Furthermore, since it operates with only one system of clocks having no time axis fluctuations, complicated memory control using two systems of clocks is not necessary, and it is easy to connect with other digital processing circuits. In addition to these, since it is a feedforward control, it has excellent effects such as being able to respond quickly to time axis fluctuations.
第1図は本発明の時間軸補正装置の実施例の構成図、第
2図および第5図は本発明の実施例の補間回路における
補間関数の周波数特性図、第3図は本発明の実施例にお
ける補間回路の構成図、第4図は第3図に示す補間回路
の動作説明図、第6図は従来の時間軸補正装置の構成図
、第7図は従来および本発明の実施例の動作説明図であ
る。
103・・・・・・AD変換器、104・・・・・・補
間回路、102・・・・・・時間軸誤差検出回路、10
7・・・・・・DA変換器。
代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 はか1名図
第
図
第
図
?
第
図FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the time axis correction device of the present invention, FIGS. 2 and 5 are frequency characteristic diagrams of the interpolation function in the interpolation circuit of the embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram of the implementation of the present invention. FIG. 4 is an explanatory diagram of the operation of the interpolation circuit shown in FIG. 3, FIG. 6 is a configuration diagram of a conventional time axis correction device, and FIG. 7 is a diagram of the conventional and embodiments of the present invention. It is an operation explanatory diagram. 103... AD converter, 104... Interpolation circuit, 102... Time axis error detection circuit, 10
7...DA converter. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao Diagram
Claims (2)
信号に変換するAD変換器と、前記AD変換器によって
得たディジタル信号から時間軸誤差を検出して時間軸誤
差情報を出力する時間軸誤差検出手段と、前記AD変換
器によって得たディジタル信号から前記時間軸誤差情報
にもとずいて信号振幅を補間して得る補間手段と、前記
補間手段の出力信号をアナログ信号に変換するDA変換
器とを備えた時間軸補正装置。(1) An AD converter that samples an input signal at regular time intervals and converts it into a digital signal, and a time axis error that detects a time axis error from the digital signal obtained by the AD converter and outputs time axis error information. a detection means, an interpolation means for interpolating the signal amplitude from the digital signal obtained by the AD converter based on the time axis error information, and a DA converter for converting the output signal of the interpolation means into an analog signal. A time axis correction device equipped with.
連続する複数の標本点における標本値を得る遅延手段と
、前記複数の標本点の標本値から所定の数の標本値を時
間軸誤差情報にもとずいて選択して出力する選択手段と
、前記選択された所定の数の標本値に前記時間軸誤差情
報にもとずいた複数の係数を得る係数発生手段と、前記
複数の係数をそれぞれ乗ずる複数の乗算手段と、前記複
数の乗算手段の出力を加算してこの補間手段の補間出力
を得る加算手段とを備えたことを特徴とする請求項(1
)記載の時間軸補正装置。(2) The interpolation means includes a delay means for delaying the input signal of the interpolation means to obtain sample values at a plurality of consecutive sample points, and a predetermined number of sample values from the sample values at the plurality of sample points on a time axis. selection means for selecting and outputting based on error information; coefficient generation means for obtaining a plurality of coefficients based on the time axis error information for the selected predetermined number of sample values; Claim 1 characterized in that it comprises a plurality of multiplication means for multiplying coefficients, and an addition means for adding the outputs of the plurality of multiplication means to obtain an interpolated output of the interpolation means.
) Time axis correction device described.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63160072A JP2506948B2 (en) | 1988-06-28 | 1988-06-28 | Time axis correction device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP63160072A JP2506948B2 (en) | 1988-06-28 | 1988-06-28 | Time axis correction device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0210979A true JPH0210979A (en) | 1990-01-16 |
JP2506948B2 JP2506948B2 (en) | 1996-06-12 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP63160072A Expired - Fee Related JP2506948B2 (en) | 1988-06-28 | 1988-06-28 | Time axis correction device |
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JP (1) | JP2506948B2 (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62169592A (en) * | 1986-01-21 | 1987-07-25 | Sony Corp | Correcting device for phase of sampling signal |
-
1988
- 1988-06-28 JP JP63160072A patent/JP2506948B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS62169592A (en) * | 1986-01-21 | 1987-07-25 | Sony Corp | Correcting device for phase of sampling signal |
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Publication number | Publication date |
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JP2506948B2 (en) | 1996-06-12 |
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