JPH02108956A - 向流原理によるガス分析法 - Google Patents
向流原理によるガス分析法Info
- Publication number
- JPH02108956A JPH02108956A JP1221857A JP22185789A JPH02108956A JP H02108956 A JPH02108956 A JP H02108956A JP 1221857 A JP1221857 A JP 1221857A JP 22185789 A JP22185789 A JP 22185789A JP H02108956 A JPH02108956 A JP H02108956A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pump
- molecular pump
- gas
- analysis method
- gas analysis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims abstract description 16
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 15
- 238000004868 gas analysis Methods 0.000 claims description 14
- 239000012491 analyte Substances 0.000 claims description 4
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims description 4
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 239000012634 fragment Substances 0.000 abstract description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 5
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical compound CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 abstract description 3
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000001294 propane Substances 0.000 abstract description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 5
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N methanoic acid Natural products OC=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N n-butane Chemical compound CCCC IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 4-(3-methoxyphenyl)aniline Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001273 butane Substances 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 235000019253 formic acid Nutrition 0.000 description 1
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 description 1
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000000752 ionisation method Methods 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N n-pentane Natural products CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000006276 transfer reaction Methods 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/24—Vacuum systems, e.g. maintaining desired pressures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0011—Sample conditioning
- G01N33/0016—Sample conditioning by regulating a physical variable, e.g. pressure or temperature
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0027—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、分子ポンプの吸入側に配設した質量分析器管
を包含し前記分子ポンプの出口側には1次真空ポンプと
被分析ガス人口との両方を接続した、向流原理に従うガ
ス分析法に関する。
を包含し前記分子ポンプの出口側には1次真空ポンプと
被分析ガス人口との両方を接続した、向流原理に従うガ
ス分析法に関する。
イオン化処理を行なうために、質量分析器を用いるガス
分析法には重大な欠点がある。このためこのガス分析法
はいくつかの課題に対して適用するには不適当ないしは
不可能とさえなるのである。
分析法には重大な欠点がある。このためこのガス分析法
はいくつかの課題に対して適用するには不適当ないしは
不可能とさえなるのである。
これらの欠点の中にはイオン化中に分子の崩壊があり、
これは当初に存在していた分子の検出を面倒なものとし
てしまう。何故ならばほとんど同じような断片分子が全
く異なった材料からし生じ得るからである。
これは当初に存在していた分子の検出を面倒なものとし
てしまう。何故ならばほとんど同じような断片分子が全
く異なった材料からし生じ得るからである。
イオン化の間、電子は一般に少なくとも70eVの動力
学的エネルギにまで高められる。このエネルギレベルに
おいては、実効横断面積およびイオン化効率が有効な値
となるものの、これでは分子が断片化してしまい、これ
が決定的な欠点となるのである。たとえば、二酸化炭素
と一酸化炭素との電子によるイオン化は実際上全く同じ
断片分子を生じてしまいこれらふたつのガスの分離検出
は困難となる。
学的エネルギにまで高められる。このエネルギレベルに
おいては、実効横断面積およびイオン化効率が有効な値
となるものの、これでは分子が断片化してしまい、これ
が決定的な欠点となるのである。たとえば、二酸化炭素
と一酸化炭素との電子によるイオン化は実際上全く同じ
断片分子を生じてしまいこれらふたつのガスの分離検出
は困難となる。
成る限界内であれば、質1分析器の主ピークを評価する
ことばかりでなく、一般に質量分析器のフィンガープリ
ントと称せられている断片により生じた側部ピークを含
む全スペクトルを評価することによって良好な結果が達
成できる(たとえば定期雑誌Vakuum16巻67号
(1966年)の論文“真空計測における質量スペクト
ルの解釈”参照)。しかしながら、断片の多くはその区
別が不可能となる位に似たものである。たとえばn−ブ
タンの主ピーク(質1158)は質量43のところに位
置し、これに続くピークが質量29のところにある。一
方、アセトンは主ピークが質量43にありその2次ピー
クのひとつが質量29にある。
ことばかりでなく、一般に質量分析器のフィンガープリ
ントと称せられている断片により生じた側部ピークを含
む全スペクトルを評価することによって良好な結果が達
成できる(たとえば定期雑誌Vakuum16巻67号
(1966年)の論文“真空計測における質量スペクト
ルの解釈”参照)。しかしながら、断片の多くはその区
別が不可能となる位に似たものである。たとえばn−ブ
タンの主ピーク(質1158)は質量43のところに位
置し、これに続くピークが質量29のところにある。一
方、アセトンは主ピークが質量43にありその2次ピー
クのひとつが質量29にある。
スペクトルの解釈におけるこれらの困難をさけるために
、いわゆる軟イオン化を行なうことが従来提案されてい
た。これによってできるだけ断片の生成を減少せしめよ
うとするのである。軟イオン化とは2段階のイオン化、
すなわちまず電子によって不活性ガスの1次イオン雲を
生成し、次いで、この1次イオンを電荷移転反応によっ
て被分析ガスに混合して被分析ガスの異なった分子をイ
オンに変換する。二とである。被分析ガスのイオン化電
位よりもわずかに高いだけのイオン化電位をaする1次
イオンを適宜選択することにより、実質的に断片化を生
ずることなく中性分子をイオンに変換することが可能と
なるのである。
、いわゆる軟イオン化を行なうことが従来提案されてい
た。これによってできるだけ断片の生成を減少せしめよ
うとするのである。軟イオン化とは2段階のイオン化、
すなわちまず電子によって不活性ガスの1次イオン雲を
生成し、次いで、この1次イオンを電荷移転反応によっ
て被分析ガスに混合して被分析ガスの異なった分子をイ
オンに変換する。二とである。被分析ガスのイオン化電
位よりもわずかに高いだけのイオン化電位をaする1次
イオンを適宜選択することにより、実質的に断片化を生
ずることなく中性分子をイオンに変換することが可能と
なるのである。
しかしながらこの方法は日常的な作業とするには余りに
も複雑である。
も複雑である。
発明の概要
本発明の目的は軟イオン化を用いずに多くの場合同じよ
うな構造のフィンガープリントの間ではっきりとした区
別を可能とするような方法を提供するにある。
うな構造のフィンガープリントの間ではっきりとした区
別を可能とするような方法を提供するにある。
すなわち本発明は、分子ポンプの吸入側に配設した質量
分析器管を包含し、前記分子ポンプの出口側には1次真
空ポンプと被分析ガス用の入口との両方を接続した、向
流原理によるガス分析法において、前記分子ポンプの圧
縮比を、基本的には不明瞭な質量分析表示が低分子量の
ガスからのみ由来しそれ自体同様な質量分析表示を生じ
させるより高い分子量のガスからはもはや由来しないよ
うに制御することを特徴とする、向流原理によるガス分
析法にある。
分析器管を包含し、前記分子ポンプの出口側には1次真
空ポンプと被分析ガス用の入口との両方を接続した、向
流原理によるガス分析法において、前記分子ポンプの圧
縮比を、基本的には不明瞭な質量分析表示が低分子量の
ガスからのみ由来しそれ自体同様な質量分析表示を生じ
させるより高い分子量のガスからはもはや由来しないよ
うに制御することを特徴とする、向流原理によるガス分
析法にある。
本発明は、向流ガス分析のフレームにおいて軽い分子は
分子ポンプのポンピング方向に抗して高い確立をもって
分析セルに到達するという事実に基くものである。ター
ボ分子ポンプの場合には、比較的高い圧縮比と比較的低
い圧縮比との間に比較的鋭い限界が観察される一方、ホ
ルウヱック(Holweck)型ポンプがより高い圧力
でより高い制御範囲を確保している。
分子ポンプのポンピング方向に抗して高い確立をもって
分析セルに到達するという事実に基くものである。ター
ボ分子ポンプの場合には、比較的高い圧縮比と比較的低
い圧縮比との間に比較的鋭い限界が観察される一方、ホ
ルウヱック(Holweck)型ポンプがより高い圧力
でより高い制御範囲を確保している。
分子ポンプの圧縮比の変更は1次真空全圧を変えること
により本発明の第1の実施例によって達成することがで
きる。
により本発明の第1の実施例によって達成することがで
きる。
本発明方法の他の実施例では、圧縮比は分子ポンプの速
度変更によって変えられる。しかしながら、ホルウェッ
ク型ポンプを分子ポンプとして用いるぬらば、ステータ
に対するロータの相対的軸線方向移動またはステータ壁
の弾性変形によって実効ポンピング面積の長さまたは環
状ギャップの幅を変更することができる。
度変更によって変えられる。しかしながら、ホルウェッ
ク型ポンプを分子ポンプとして用いるぬらば、ステータ
に対するロータの相対的軸線方向移動またはステータ壁
の弾性変形によって実効ポンピング面積の長さまたは環
状ギャップの幅を変更することができる。
以下添付図面に例示した本発明の好適な実施例について
詳述する。
詳述する。
好ましい実施例の説明
第1図に示す質量分析装置は、1次真空ポンプlとホル
ウェック型の分子ポンプ2と、この分子ポンプ2の吸入
側に配設した質量分析器セル3と包含するポンピングセ
ットから成るものである。
ウェック型の分子ポンプ2と、この分子ポンプ2の吸入
側に配設した質量分析器セル3と包含するポンピングセ
ットから成るものである。
この分子ポンプの放出側またはこれに対する中間入口に
おいては、被分析ガスは入口弁4を介して供給される。
おいては、被分析ガスは入口弁4を介して供給される。
分子ポンプ2は回転速度設定用レギュレータ6をそなえ
たモータによって駆動される。
たモータによって駆動される。
分子ポンプ2の圧縮比はこのポンプの回転速度に依存す
ることは知られているところである。この回転速度を増
加すると、軽い分子はポンピング方向とは向流をなして
質量分析器セルに移送される。
ることは知られているところである。この回転速度を増
加すると、軽い分子はポンピング方向とは向流をなして
質量分析器セルに移送される。
このように回転速度は、分圧と1次真空圧との間の比が
所定の比である時プロパンは依然として質量分析器セル
に到達し得るが、二酸化炭素または蟻酸またはブタンま
たはアセトンまたは酢酸またはポンプ油などの質量43
でピークを有しまた質144でもうひとつのピークを有
する同じような断片を生ずるすべての物質はもはや質量
分析器セルに到達することができないようにするのであ
る。
所定の比である時プロパンは依然として質量分析器セル
に到達し得るが、二酸化炭素または蟻酸またはブタンま
たはアセトンまたは酢酸またはポンプ油などの質量43
でピークを有しまた質144でもうひとつのピークを有
する同じような断片を生ずるすべての物質はもはや質量
分析器セルに到達することができないようにするのであ
る。
分子ポンプの圧縮比を選択的に変更するもうひとつの可
能性は、1次真空圧力を変えることにある。第2図はタ
ーボ分子ポンプの1法具空圧Pv(ミリバール)と圧縮
比にとの関係を示す典型的なグラフである。1次真空圧
が高いと良好な1次真空の場合よりも大きな質量の分子
がターボ分子ポンプを通って質量分析器セルへと拡散さ
れることがこのグラフかられかる。
能性は、1次真空圧力を変えることにある。第2図はタ
ーボ分子ポンプの1法具空圧Pv(ミリバール)と圧縮
比にとの関係を示す典型的なグラフである。1次真空圧
が高いと良好な1次真空の場合よりも大きな質量の分子
がターボ分子ポンプを通って質量分析器セルへと拡散さ
れることがこのグラフかられかる。
逆拡散の選択性を制御する他の可能性はポンプの平滑な
壁とホルウェック溝を含む壁との間の半径方向のギャッ
プを増減することである。らせん状のホルウェック溝は
ロータに切られており、−方円筒形のステータの壁は弾
性のある鋼で作ったダイヤフラムで構成して、このステ
ータの壁の直径を液圧的に変更するのである。この技術
はいわゆる液圧膨張スリーブから知られているところで
ある。
壁とホルウェック溝を含む壁との間の半径方向のギャッ
プを増減することである。らせん状のホルウェック溝は
ロータに切られており、−方円筒形のステータの壁は弾
性のある鋼で作ったダイヤフラムで構成して、このステ
ータの壁の直径を液圧的に変更するのである。この技術
はいわゆる液圧膨張スリーブから知られているところで
ある。
他方、分子ポンプの圧縮比はステータをロータに対して
軸線方向に移動せしめることによって達成することがで
きる。これによってポンピング領域が増減されて圧縮比
を変えることができるのである。
軸線方向に移動せしめることによって達成することがで
きる。これによってポンピング領域が増減されて圧縮比
を変えることができるのである。
第1図は本発明方法を実施する装置の構成図、第2図は
ターボ分子ポンプと異なったガスの1次真空圧との圧縮
比の間の相互依存関係を示すグラフである。 1・・1次真空ポンプ、2・・ホルウェック型分子ポン
プ、3・・質量分析器セル、4・・入口弁、6・・レギ
ュレータ。
ターボ分子ポンプと異なったガスの1次真空圧との圧縮
比の間の相互依存関係を示すグラフである。 1・・1次真空ポンプ、2・・ホルウェック型分子ポン
プ、3・・質量分析器セル、4・・入口弁、6・・レギ
ュレータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 分子ポンプの吸入側に配設した質量分析器管を包含
し、前記分子ポンプの出口側には1次真空ポンプと被分
析ガス用の入口との両方を接続した、向流原理によるガ
ス分析法において、前記分子ポンプの圧縮比を、基本的
には不明瞭な質量分析表示が低分子量のガスからのみ由
来しそれ自体同様な質量分析表示を生じさせるより高い
分子量のガスからはもはや由来しないように制御するこ
とを特徴とする、向流原理によるガス分析法。 2 請求項1記載のガス分析法において、前記分子ポン
プの圧縮比の変更を、1次真空全圧を変更するという事
実によって得ることを特徴とするガス分析法。 3 請求項1または2に記載のガス分析法において、前
記分子ポンプの圧縮比を前記分子ポンプの回転速度の変
更によって得ることを特徴とするガス分析法。 4 請求項1記載のガス分析法において、ホルウェック
型ポンプとして設計された前記分子ポンプの圧縮比の変
更を、この分子ポンプのロータとステータとの間の環状
ギャップの幅を変えることによって得ることを特徴とす
るガス分析法。 5 請求項1ないし3のいずれかに記載のガス分析法に
おいて、ホルウェック型ポンプとして設計された前記分
子ポンプの圧縮比の変更を、ステータに対して軸線方向
に関係的に配設されたポンピング領域の長さを変えるこ
とによって得ることを特徴とするガス分析法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3831258.1 | 1988-09-14 | ||
DE3831258A DE3831258C1 (ja) | 1988-09-14 | 1988-09-14 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02108956A true JPH02108956A (ja) | 1990-04-20 |
Family
ID=6362949
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1221857A Pending JPH02108956A (ja) | 1988-09-14 | 1989-08-30 | 向流原理によるガス分析法 |
JP010620U Pending JP2001000038U (ja) | 1988-09-14 | 1998-12-25 | 向流原理によるガス分析装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP010620U Pending JP2001000038U (ja) | 1988-09-14 | 1998-12-25 | 向流原理によるガス分析装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4983829A (ja) |
EP (1) | EP0359124A3 (ja) |
JP (2) | JPH02108956A (ja) |
DE (1) | DE3831258C1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0674855A (ja) * | 1992-07-08 | 1994-03-18 | Hitachi Bill Shisetsu Eng Kk | 真空漏洩検出方法、および同装置 |
DE4228148A1 (de) * | 1992-08-25 | 1994-03-03 | Leybold Ag | Vakuum-Lecksuchgerät für die Testgaslecksuche mit leichten Gasen |
DE4326264A1 (de) * | 1993-08-05 | 1995-02-09 | Leybold Ag | Testgasdetektor mit Vakuumpumpe sowie Verfahren zum Betrieb eines Testgasdetektors dieser Art |
DE19735250A1 (de) * | 1997-08-14 | 1999-02-18 | Leybold Vakuum Gmbh | Verfahren zum Betrieb eines Heliumlecksuchers und für die Durchführung dieses Verfahrens geeigneter Heliumlecksucher |
DE10156205A1 (de) * | 2001-11-15 | 2003-06-05 | Inficon Gmbh | Testgaslecksuchgerät |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA864652A (en) * | 1971-02-23 | Becker Willi | Leak detection system | |
GB242084A (en) * | 1924-11-13 | 1925-11-05 | Radions Ltd | Improvements in vacuum pumps |
DE1648648C3 (de) * | 1967-04-12 | 1980-01-24 | Arthur Pfeiffer-Hochvakuumtechnik Gmbh, 6330 Wetzlar | Anordnung zur Lecksuche nach dem Massenspektrometer-Prinzip |
FR2244370A5 (ja) * | 1973-09-14 | 1975-04-11 | Cit Alcatel | |
BE859352A (fr) * | 1977-10-04 | 1978-02-01 | Organisation Europ De Rech S S | Appareil de detection de fuite de gaz |
DE3133781A1 (de) * | 1981-08-26 | 1983-03-10 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Fuer die durchfuehrung der gegenstrom-lecksuche geeignete turbomolekularpumpe |
DE3247975A1 (de) * | 1982-12-24 | 1984-06-28 | Balzers Hochvakuum Gmbh, 6200 Wiesbaden | Verfahren und vorrichtung zur auffindung von lecks in waenden |
DE3616319C1 (de) * | 1986-05-15 | 1987-07-02 | Cit Alcatel Gmbh | Heliumlecksuchanlage |
FR2604522B1 (fr) * | 1986-09-26 | 1989-06-16 | Cit Alcatel | Installation de detection de fuite a gaz traceur et procede d'utilisation |
-
1988
- 1988-09-14 DE DE3831258A patent/DE3831258C1/de not_active Expired
-
1989
- 1989-08-28 US US07/400,171 patent/US4983829A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-08-30 JP JP1221857A patent/JPH02108956A/ja active Pending
- 1989-09-07 EP EP19890116535 patent/EP0359124A3/de not_active Withdrawn
-
1998
- 1998-12-25 JP JP010620U patent/JP2001000038U/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3831258C1 (ja) | 1989-10-12 |
EP0359124A2 (de) | 1990-03-21 |
US4983829A (en) | 1991-01-08 |
JP2001000038U (ja) | 2001-11-30 |
EP0359124A3 (de) | 1991-05-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2480295C (en) | Apparatus and method for mobility separation of ions utilizing an ion guide with an axial field and counterflow of gas | |
US5672868A (en) | Mass spectrometer system and method for transporting and analyzing ions | |
CA2658041C (en) | Method of mass spectrometry and a mass spectrometer | |
JPH11230085A (ja) | 真空ポンプの改良 | |
EP2113128B1 (en) | Mass spectrometer | |
JP2005330967A (ja) | 軽量気体用真空ポンプシステム | |
WO2014127683A1 (zh) | 离子产生装置以及离子产生方法 | |
JPH02108956A (ja) | 向流原理によるガス分析法 | |
US6508631B1 (en) | Radial flow turbomolecular vacuum pump | |
JP2009129868A (ja) | 質量分析装置及びその調整方法 | |
JP2007506903A (ja) | ポンピングされた流体中の汚染物の検出 | |
US6672827B2 (en) | Vacuum pump | |
Anderson et al. | Determination of ion-ligand bond energies and ion fragmentation energies of electrospray-produced ions by collision-induced dissociation threshold measurements | |
Zhang et al. | Characterisation and optimisation of ion discrimination in a mini ion funnel for a miniature mass spectrometer | |
US20210233759A1 (en) | Ion guide for mass spectrometer and ion source using same | |
US8393854B2 (en) | Vacuum pump | |
EP1225619A2 (en) | Concave electrode ion pipe | |
Sugnaux et al. | Direct liquid introduction micro-liquid chromatography—mass spectrometry coupling: Optimization of droplet desolvation and instrumental parameters for high sensitivity | |
US11694887B2 (en) | Mass spectrometer, mass spectrometry method and detection system | |
FR2590026A1 (fr) | Procede pour l'analyse d'un melange gazeux | |
CN107706081A (zh) | 质谱系统、色谱‑质谱系统及二者的使用方法 | |
Henion et al. | Recent developments in electrospray mass spectrometry including implementation on an ion trap | |
WO2023007820A1 (ja) | 質量分析装置 | |
JPS647269Y2 (ja) | ||
Smith et al. | Ribbon storage techniques for liquid chromatography-mass spectrometry |