JPH02108909A - 測長機器検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、ダイヤルゲージ、インジケータ、ノギス等
の測長機器の精度を検査する装置に関する。

［従来の技術］ 従来、測長機器の精度を検査する場合には、その被検測
長機器より分解能の高い、例えばテコ式ダイヤルゲージ
を用意し、両者の変位検出子（測定子）を係合させてか
ら変位させ、測長装置と被検測長機器との変位量を読み
比べることによって精度の検査を行なっていた。

［発明が解決しようとする課題］ 上述した従来の測長機器の精度の検査では、変位量を測
定する際に被検測定機器の移動測定子、つまり例えばス
ピンドルを測長機器本体に対して送り移動させるが、そ
の送り移動は手動で行なっていた。このために、送り移
動に時間が多くかかり作業性が悪いという問題があった
。殊に、信頼性を求めるために、連続して複数回測定子
を送り移動させる、つまり反復の検査をおこなう場合に
は、問題はより深刻であった。

又、被検測長機器の測定値の表示と検査装置の測定値の
表示を検査者が読取る構成であるために、作業が煩雑で
あった。特に、測定ポイントが多くなればなるほど煩雑
さは深刻であった。

加えて、変位量の表示がアナログ量である場合には、読
取り上の誤差である視差が生じ易く、従って検査に対し
ての信頼性が低いという問題があった。

この発明は上記の事情に鑑みてなされたものであり、作
業性がよく、しかも誤差の発生しにくい測長機器検査装
置を提供するものである。

［課題を解決するための手段］ この発明は、被検測長機器より分解能が高く、且つその
測定値がレーザ式測長装置と記憶手段とによって実質的
に検定される測長手段に被検測長機器を係合させた状態
で自動送りさせ、被検測長機器の測定値を自動読取りし
て被検測長機器の測定値の精度を検査する測長機器の検
査装置がある。

その詳細な構成は、ダイヤルゲージ、インジケータ、ノ
ギス等の測長機器の精度を検査するものであって、スラ
イダと、そのスライダを直線方向に案内して移動するス
ライド手段と、分解能が上記測長機器の分解能より高く
、且つ前記スライダに係合され、更にスライダと共に直
線移動された際にその移動の量を測定する測長手段と、
スライダが連続的に移動されその移動時のスライダの移
動量が、前記測長手段とレーザ式測長装置によってそれ
ぞれ測定される際に、測長手段によって測定される移動
多位置での測定値とレーザ式測長装置によって測定され
る前記移動多位置での測定値との差を記憶する記憶手段
と、被検測長機器によって測定される値を所望の電気信
号に変換する変換手段と、スライダに被検測長機器の測
定子が係合された状態でスライダが移動された際、被検
測長機器によって測定され、変換手段を経て得られる測
定の値と、測長手段によって測定された値が前述の記憶
手段に記憶された移動多位置で対応する差によって補正
されて得られる値とを比較演算して表示する演算表示手
段とからなる測長機器検査装置である。

［作用コ スライダに被検測長機器の測定子を係合させてスライド
手段を作動させると、被検測長機器の測定子と測長手段
の測定子は同じ量だけ変位する。

被検測長機器が測定した値は、変換手段によって所望の
電気信号に変換されて演算表示手段に送られる。

［実施例コ この発明を、第１〜５図に示す実施例に基づき詳述する
。しかし、これによってこの発明が限定されるものでは
ない。

測長機器検査装置１は第１図に示すように、スライダ２
と、スライド手段３と、測長手段４と、記憶手段５と、
変換手段６と、演算表示手段７を備えて構成されている
。

スライダ２には第２〜４図に示すように、測長手段４の
メインスケール８が上下の方向（矢印Ａ方向）で取付は
固定されると共に、上部に被検測長機器９の測定子１０
と連結する連結体１１が付設されている。尚、メインス
ケール８は、装置本体３４の上部に配設したホルダ１３
に被検測長機器９を保持させた際、メインスチール８の
前面１２が被検測長機器９の測定子１０と一直線上に位
置してＡｂｂｅの原理を満足するように、スライダ２に
取付は固定されている。

スライド手段３は、スライダ２をメインスケール８の長
手方向、つまり矢印Ａ方向に案内移動するものである。

スライド手段は第２〜４図に示すように、装置本体３４
の前面に長手方向を矢印Ａ方向に配設したガイドレール
１４と、ガイドレール１４に並列状態でスライダ２の両
側部に配設されたスライド部材１５と、回転駆動モータ
１６と、回転駆動モータ１６からの回転駆動力を矢印Ａ
方向にスライドする力に変えるボールねじ１７とから主
に構成されている。

尚、ガイドレール１４とガイド部材１５との間にはクロ
スローラ（図示省略）が介在され、クロスローラガイド
が構成されている。又、ボールねじ　１７のねじ棒１８
はボールベアリング１９で枢支され、ボールねじ１７の
ナツト２０とスライダ２との間にはボールベアリング２
１が介在されている。

以上の構成により、ボールねじ１７のねじ棒１８が回転
する際に、その回転で生じる振動は極力吸収され、前述
した被検測長機器９の測定子１０と測長手段４のメイン
スチール８との間でＡｂｂｅの定理がより満たされ得る
ようになっている。又、２２は、回転駆動モータ１６が
発生する熱をボールねじ１７及びスライダ２側に伝わる
のを防ぐための部材であって、熱容量の大きい金属から
つくられている。

測長手段４は、メインスケール８と、装置本体３４から
伸びるアーム体２３に配置されたインデックススケール
２４と、発光素子及び受光素子（共に図示省略）とから
主に構成されている。測長手段４は、メインスケール８
側、つまりスライダ２が移動した際その移動量を求める
ものである。

測長手段４の分解能は、０．１μｍである。尚、測長手
段４は、検査すべき測長機器の分解能より１〜２桁程高
い分解能を持つように構成される。

記憶手段５は、スライド手段３を出力させてスライダ２
を連続的に移動変位させ、このスライダ２の移動各位置
、つまり各移動の世を示す測定値をレーザ式測長装置３
５（但し、第２〜５図において、図示省略）と測長手段
４によって測定させる際、測定される二つの値の差を記
憶するものである。記憶手段５は又、前述の記述した差
に基づき測長手段４が測定する値を補正する機能を有す
るものである。記憶手段５は、コントロールボックス２
５に組込んだコンピュータ２６と、記憶媒体であるフロ
ッピディスク２７とから主に構成されている。

変換手段６は第５図に示すように、被検測長機器９に測
定結果の表示部３７を覆って装着され、表示部３７に表
示される測定結果、つまり測定値を光で読取ってからそ
の光の値を電気信号に変換して演算表示手段７に出力す
るものである。

尚、３６は変換手段６の本体の被検測長機器９への装着
一体止を保持するフックで、矢印り方向に弾性的に回転
する。

演算表示手段７は、被検測長機器９の測定する値と、測
長手段４によって測定された値が記憶手段５で補正され
たものと比較演算し、その結果をＣＲＴ２８及びプリン
タ２９に表示するものである。演算表示手段７の比較演
算は、コンピュータ２６によって行なう。コンピュータ
２６の裏面にはキーボード（図示省略）が配設されてお
り、使用の際には蝶番３ｏを中心に矢印Ｂ方向にコンピ
ュータ２６を回転する。回転されたコンピュータ２６は
、キーボードがほぼ水平状態となって位置する。

３１はスライド手段３、測長手段４等を操作するための
操作パネルである。３２及び３３はそれぞれ、スライダ
２の移動の上限と下限を決めるリミットスイッチである
。

以下に、測長機器検査装置１の使用を説明する。

まず予め、スライダ２の移動量を測定する位置にレーザ
式測長装置３５を配置し、その測定値の出力端子を記憶
手段５に接続する。次に、操作パネル３１を操作しこの
状態でスライド手段３を出力させてスライダ２を連続的
に移動させ、この移動の際に移動各位置での移動量をレ
ーザ式測長装置３５及び測長手段４で測定させると、記
憶手段５は移動各位置での対応するレーザ式測長装置３
５及び測長手段４が測定した値の差を連続的に記憶する
。

ここで、被検測長機器９をホルダ１３に保持させ、被検
測長機器９に表示部２８を覆って変換手段６を装着する
。尚、被検測長機器９は具体的にはインジケータであっ
て、その分解能は１０μｍである。

次に、スライド手段３を作動させると、スライダ２は矢
印Ａ方向に移動し、このスライダ２の移動に伴って、ス
ライダ２に取付は固定されている測長手段４のメインス
ケール８及び連結体１１を介してスライダ２に連結され
ている被検測長機器９の測定子１０がスライダ２と同じ
方向に同じ距離だけ移動する。この移動によって、測長
手段４は移動した距離を測定しその値を記憶手段５に電
気信号で出力する。記憶手段５に入力された電気信号と
なっている測定値は、その値に対応する、既に記憶され
ているレーザ式測長装置３５による測定値との差によっ
て補正される。更に、補正された値は、演算表示手段７
に電気信号で出力される。一方、被検測長機器９は移動
した距離、つまり測定値を表示部３７に表示する。変換
手段６は、その測定値を読取って測長手段４と対応する
電気信号に変換し、その信号を演算表示手段７に出力す
る。

演算表示手段７は、予め設定した演算方法に基づき記憶
手段５からの電気信号の値に対する変換手段６からの電
気信号の値を比較演算し、その結果をＣＲＴ２８及びプ
リンタ２９に表示する。

上述したように、測長機器検査装置１では、被検測長機
器９の測定子１０と検査側である測長手段４のメインス
ケール８をスライダ２に係合させてスライダ２を移動す
ると、測定子１０とメインスケール８はスライダ２と同
じ方向に同じ量だけ移動する。しかも、スライダ２はス
ライド手段３によって自動的に送り移動できるから、測
定子１０とメインスケール８は自動的に共に同じ量だけ
所望どうりに送り移動でき、手動による送り移動に比べ
て極めて作業性がよい。殊に、所定量だけ測定子１０と
メインスケール８を反復して送り移動させて信頼性を求
める場合には、より高い効果が得られる。

又、被検測長機器９の測定した値は、変換手段６が光電
式に読取るので読取りに要する時間も少なく読取り誤差
も生じないから、簡便で正しい読取りが行なわれる。又
、読取られた被検測長機器９及び測長手段４の二つの測
定値は、電気信号に変換されて直接に演算表示手段７に
出力され、検査者の作業を必要としない。従って、測定
値を読取るのに要する時間も少なく、演算表示手段７に
出力される値は信頼性が高い。

尚、上述してきた実施例では被検測長機器９はデジタル
表示タイプのインジケータであるが、測長機器検査装置
１は適宜ホルダ１３及び変換手段を交換してアナログ表
示タイプのインジケータ、ダイヤルゲージ、ノギス等を
検査する構成とすることができる。

測長機器検査装置１のスライド手段３の回転駆動モータ
１６は、具体的にはＤＣサーボモータ、パルスモータ、
ブラシレスＤＣモータのいずれでもよい。

測長機器検査装置１は、スライド手段３に高速回転用の
回転駆動モータと低速回転用の回転駆動モータを設ける
ことで、スライダ２を高速送り及び低速送りができる構
成とすることが可能である。

測長機器検査装置１では、測長手段４のメインスケール
は被検測長機器の測定子の移動範囲、いわゆるストロー
クに適合する長さのものにしてもよく、又リミットスイ
ッチ３２．３２の取付は位置を移動することでスライダ
２の移動範囲を測定子の移動範囲に対応させることがで
きる。

測定機器検査装置１は、所望により演算表示手段７が演
算した結果を記憶できる構成としてもよい。

［発明の効果］ この発明は、被検側の測定子と検査側の測定子を同じ方
向に同じ量だけ自動送りができ、且つ被検側の測定値と
検査側の測定値が自動読取りされて演算側に出力される
構成であることにより、測電子の送り移動が簡便であっ
て殊に反復の送り移動は簡便が作業性がよく、又測定値
の読取りに多くの時間を必要とせずしかも読取りに誤差
がなく従って信頼性の高い演算結果が得られる測長機器
検査装置である。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図、
第２図はこの実施例の斜視図、第３図は第２図のＩ−１
断面図、第４図は第２図のｌｌ−Ｔｌ端面図、第５図は
この実施例の変換手段の斜視図である。 １・・・測長機器検査装置、 ２・・・スライダ、　　　　　３・・・スライド手段、
４・・・測長手段、　　　　５・・・記憶手段、６・・
・変換手段、　　　　７・・・演算表示手段、８・・・
メインスケール、　９・・・被検測長機器、２４・・・
インデックススケール、 ３１・・・操作パネル。 手続打口正書 （自発） 昭和６３年 ２、考案の名称 特許願 第２６２１４４号 測長機器検査装置 ３、補正をする者 事件との関係

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、ダイヤルゲージ、インジケータ、ノギス等の測長機
   器の精度を検査するものであって、スライダと、そのス
   ライダを直線方向に案内して移動するスライド手段と、
   分解能が上記測長機器の分解能より高く、且つ前記スラ
   イダに係合され、更にスライダと共に直線移動された際
   にその移動の量を測定する測長手段と、スライダが連続
   的に移動されその移動時のスライダの移動量が、前記測
   長手段とレーザ式測長装置によってそれぞれ測定される
   際に、測長手段によって測定される移動各位置での測定
   値とレーザ式測長装置によって測定される前記移動各位
   置での測定値との差を記憶する記憶手段と、被検測長機
   器によって測定される値を所望の電気信号に変換する変
   換手段と、スライダに被検測長機器の測定子が係合され
   た状態でスライダが移動された際、被検測長機器によっ
   て測定され、変換手段を経て得られる測定の値と、測長
   手段によって測定された値が前述の記憶手段に記憶され
   た移動各位置で対応する差によって補正されて得られる
   値とを比較演算して表示する演算表示手段とからなる測
   長機器検査装置。