JPH02105079A - Multicontact type probe - Google Patents
Multicontact type probeInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野］
本発明は、トランジスタ、ＩＣ等の電子部品用のマルチ
コンタクト式プローブに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a multi-contact probe for electronic components such as transistors and ICs.
従来のプローブとしては、第５図の一点コンタクト式プ
ローブあるいは第６図のマルチコンタクト式プローブの
２つのものが知られている。Two types of conventional probes are known: a single-point contact type probe shown in FIG. 5 and a multi-contact type probe shown in FIG. 6.
第５図は、前記したように一点コンタクト式プローブを
示し、３１はＩＣで、該ＩＣは本体２及び該本体２の両
側より導出するリード端子３３を有しており、プローブ
は、一方の接触ビン３４の端部にリード端子３に接触部
３４ａを接触させるようにしている。この従来例におい
ては、前記のリード端子３３と各プローブ端子３５の接
触部３４ａの接触は一点での接触であり、その上、リー
ド端子３３に対する接触ピッ３４０作用方向は、一方向
に限定されるため、リード端子上の汚れ、塵埃、封止材
のパリ等により接触不良を生じるという欠点があった。FIG. 5 shows a single point contact type probe as described above, 31 is an IC, the IC has a main body 2 and lead terminals 33 led out from both sides of the main body 2, and the probe has one contact point. A contact portion 34a is brought into contact with the lead terminal 3 at the end of the bottle 34. In this conventional example, the contact between the lead terminal 33 and the contact portion 34a of each probe terminal 35 is at one point, and furthermore, the direction in which the contact pin 340 acts on the lead terminal 33 is limited to one direction. Therefore, there is a drawback that poor contact occurs due to dirt, dust, flakes on the sealing material, etc. on the lead terminals.
また、実開昭６１−１７３０７３号公報には、マルチコ
ンタクト式プローブが示されており、これはプローブ端
子４１．４２は積層状とされるとともに、絶縁基Ｆｉ、
４４によって支持され、該両プローブ端子４１゜４２の
先端の自由端部４１ａ、４２ａは、ＩＣ３１の本体３２
の両側より導出するリード端子３３に向けて屈曲され、
リード端子３３への接触部が形成されている。Further, Japanese Utility Model Application No. 61-173073 discloses a multi-contact type probe, in which probe terminals 41 and 42 are laminated, and insulating bases Fi,
44, and the free ends 41a and 42a of the probe terminals 41 and 42 are connected to the main body 32 of the IC 31.
is bent toward the lead terminal 33 led out from both sides of the
A contact portion to the lead terminal 33 is formed.
そして、ＩＣ３１が測定位置に供給されたときシリンダ
４５を作動して、ピストンロッド４６の前進によって前
記両プローブ端子４１．４２を移動させ、この移動によ
って接触部４１ａ、４２ａをリード端子３３に接触せし
めるものである。When the IC 31 is supplied to the measurement position, the cylinder 45 is actuated to move the probe terminals 41 and 42 by advancing the piston rod 46, and this movement brings the contact portions 41a and 42a into contact with the lead terminal 33. It is something.
そして、この従来例においては、前記した第５図に示す
１点コンタクト式の例に比べると、接触不良を回避する
確立は大きいが、接触部４１ａ、４２ａの作用方向は、
一方向に限定されるので、例えば４２ａが接触するリー
ド端子３３上に異物が存在すると前記の両接触部４１ａ
、４２ａともリード端子３３に接触することが困難にな
る。また、リード端子３３のフォーミング形状より多点
接触を行うにはスペース的に制約があり、リード端子３
３とプローブ端子４１．’ ４２を接触させるためにシ
リンダ装置４５も必要となり装置全体が大型になるとい
う欠点もあった。In this conventional example, there is a greater probability of avoiding contact failure than in the one-point contact type example shown in FIG.
Since it is limited to one direction, for example, if a foreign object is present on the lead terminal 33 that 42a contacts, both the contact portions 41a
, 42a become difficult to contact the lead terminal 33. In addition, due to the forming shape of the lead terminal 33, there is a space constraint for making multi-point contact.
3 and probe terminal 41. ' There was also a drawback that the cylinder device 45 was also required to bring the 42 into contact, making the entire device large.
本発明は、上述した従来装置の欠点を解消し、ＩＣ等の
被検体の各リード端子への確実な接触を可能としたマル
チコンタクト式プローブを提供することをその目的とす
るものである。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a multi-contact type probe that eliminates the drawbacks of the conventional devices described above and enables reliable contact with each lead terminal of a test object such as an IC.
〔課題を解決するための手段］
本発明に係るマルチコンタクト式プローブは、前記の目
的を達成するために、本体と該本体より導出されるリー
ド端子とよりなる被検体の前記リード端子に接触して電
気的特性を検査する多点接触型プローブの多点接触端子
が弾性材で構成され、前記の被検体の垂直方向及び水平
方向にそれぞれ少なくとも１個の端子が接触するように
なし、前記各端子が相互に非接触状態を保持するよう、
各端子間に所要の間隙を形成したことをその特徴とする
ものである。[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above-mentioned object, the multi-contact probe according to the present invention includes a main body and a lead terminal led out from the main body. A multi-point contact terminal of a multi-point contact probe for testing electrical characteristics is made of an elastic material, and at least one terminal is in contact with each of the vertical and horizontal directions of the test object. so that the terminals remain in a non-contact state with each other.
The feature is that a required gap is formed between each terminal.
（作用〕
本発明に係るマルチコンタクト式プローブは、被検体の
垂直方向及び水平方向にそれぞれ少なくとも１個の端子
が接触するように構成されるとともに、前記の各端子が
相互に接触しないように、各端子間に所要の間隙が形成
され、しかも前記の端子が弾性材で構成されているので
、被検体の作用方向に対し、水平方向に接触する端子が
先に被検体のリード端子に接触する。そして、前記端子
の自由端部がリード端子と接触状態を保持しながら、接
触端子が撓むので、その撓みにより、上記の端子と所定
の間隙を保持し一体的に設けられている他方の端子も被
検体の垂直方向に接触するので、被検体のリード端子に
両接触端子が確実に接触し、試験機とリード端子とは電
気的に接続され、被検体の特性が試験されることとなる
。(Function) The multi-contact probe according to the present invention is configured such that at least one terminal contacts each of the vertical and horizontal directions of the test object, and the terminals are configured so that they do not contact each other. A required gap is formed between each terminal, and since the terminals are made of an elastic material, the terminals that contact in the horizontal direction with respect to the direction of action of the test object contact the lead terminals of the test object first. The contact terminal flexes while the free end of the terminal maintains contact with the lead terminal, so that the flexure causes the other terminal, which is integrally provided with a predetermined gap with the terminal, to flex. Since the terminals also make contact in the vertical direction of the test object, both contact terminals will surely contact the lead terminals of the test object, and the tester and lead terminals will be electrically connected and the characteristics of the test object will be tested. Become.
試験終了後、被検体の荷重がな（なり、これに伴い両接
触端子はリード端子より離れ、弾性によって元の位置に
復帰するものである。After the test is finished, the load on the test object decreases, and as a result both contact terminals separate from the lead terminals and return to their original positions due to their elasticity.
第１図及び第２図は、本発明の第１実施例を示し、第３
図及び第４図はそれぞれ本発明の第２実施例及び第３実
施例を示すものである。1 and 2 show a first embodiment of the present invention, and a third embodiment of the present invention is shown in FIG.
FIG. 4 shows a second embodiment and a third embodiment of the present invention, respectively.
本発明の第１実施例を第１図、第２図に基づいて説明す
る。A first embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1 and 2.
図において、■は本体２及び該本体２の両側から導出さ
れたリード端子３からなるトランジスタ、ＩＣ等の被検
体である。In the figure, ■ is an object to be tested, such as a transistor or an IC, consisting of a main body 2 and lead terminals 3 led out from both sides of the main body 2.
５及び６は内側及び外側の接触ピンで、該接触ピン５及
び６のそれぞれは、絶縁板４に支持される水平基部５′
より所要の間隙を隔てて斜上方に突出せしめられ、これ
ら水平基部５′、接触ピン５及び６は弾性を有する部材
で一体的に構成され、該接触ピン５及び６は同一材料で
も、また異種材料でもよ（、要は水平基部５′が弾性を
有していればよいものである。5 and 6 are inner and outer contact pins, each of which is mounted on a horizontal base 5' supported on an insulating plate 4.
The horizontal base 5' and the contact pins 5 and 6 are integrally made of an elastic member, and the contact pins 5 and 6 may be made of the same material or of different materials. It may be made of any material as long as the horizontal base 5' has elasticity.
前記した接触ピン５及び６の自由端部５ａ、６ａは、前
記したように被検体１のリード端子３に向けて斜め上方
に突出して形成され、リード端子３への接触部を構成し
ている。そして、前記した接触ピン５及び６は、各接触
部５ａ、６ａがリード端子３と接触するときも、また、
接触していないときも接触ピン５及び６が相互に接触し
ないように平行四辺形の一部か、又は台形の一部に近い
形状とされているので、被検体１との作用方向に対して
水平方向に前記した内側の接触ピン５の自出端部５ａが
被検体１のリード端子３に接触し、垂直方向に外側の接
触ピン６の自由端部６ａがリード端子３が接触するよう
に構成されている。As described above, the free ends 5a and 6a of the contact pins 5 and 6 are formed to protrude obliquely upward toward the lead terminal 3 of the subject 1, and constitute a contact portion to the lead terminal 3. . The above-mentioned contact pins 5 and 6 also have
Since the contact pins 5 and 6 are shaped like a part of a parallelogram or a part of a trapezoid so that they do not touch each other even when they are not in contact with each other, The protruding end 5a of the inner contact pin 5 mentioned above contacts the lead terminal 3 of the subject 1 in the horizontal direction, and the free end 6a of the outer contact pin 6 contacts the lead terminal 3 in the vertical direction. It is configured.
本発明の第１実施例は、以上のように構成されているの
で、その作動について、第２図を参照して説明するに、
被検体ｌがその被検体保持部の荷重により測定位置Ｃに
達すると、両接触ビン５及び６の自由端部５ａ及び６ａ
は、被検体１のリード端子３側に移動する。そして、こ
の移動に伴い、先ず、被検体１の作用方向に対し水平方
向に接触する内側の接触ピン５の自由端部５ａが先に前
記の被検体１のリード端子３に接触し、該接触ピン５は
その自由端部５ａがリード端子３と接触した状態を保持
しながら接触ピン５の水平基部５′に１尭みｄが生ずる
とともに、その撓みｄにより、これら水平基部５′及び
接触ピン５と一体として形成されている外側の接触ピン
６は傾斜状態となり、被検体ｌの作用方向に対して垂直
方向に前記の接触ピン６の自由端６ａがリード端子３に
接触する。Since the first embodiment of the present invention is configured as described above, its operation will be explained with reference to FIG.
When the subject l reaches the measurement position C due to the load of its subject holding part, the free ends 5a and 6a of both contact bottles 5 and 6
moves to the lead terminal 3 side of the subject 1. As a result of this movement, first, the free end portion 5a of the inner contact pin 5 that contacts in the horizontal direction with respect to the acting direction of the test object 1 first contacts the lead terminal 3 of the test object 1, and the contact pin 5 contacts the lead terminal 3 of the test object 1. While the free end 5a of the pin 5 is kept in contact with the lead terminal 3, a dent d is generated at the horizontal base 5' of the contact pin 5, and due to the deflection d, the horizontal base 5' and the contact pin The outer contact pin 6, which is integrally formed with the test object 5, is tilted so that the free end 6a of said contact pin 6 contacts the lead terminal 3 in a direction perpendicular to the direction of action of the subject 1.
上記のようにして、被検体■のリート端子３に両接触ピ
ン５，６が接触させられると、試験機（図示省略）とリ
ード端子３とが電気的に接続され、被検体１の特性が試
験されることとなる。試験が終了とともに前記の両接触
ビン５．６の自由端５ａ、６ａには、被検体保持部の荷
重が無くなり被検体１のリード端子３から離れ、両接触
ビン５゜６はその水平基部５′の弾力により元の位置に
復帰する。その後、被検体１は次工程の分類部へと自重
落下又は強制落下するとともに、前記した測定位置Ｃに
別の被検体が供給され、前記と同様の動作が繰り返えさ
れるものである。When both the contact pins 5 and 6 are brought into contact with the lead terminal 3 of the test object (■) as described above, the tester (not shown) and the lead terminal 3 are electrically connected, and the characteristics of the test object 1 are It will be tested. When the test is finished, the free ends 5a, 6a of both contact bottles 5.6 are freed from the load of the test object holding part and are separated from the lead terminals 3 of the test object 1, and both contact bottles 5.6 move away from their horizontal bases 5. It returns to its original position due to the elasticity of . Thereafter, the specimen 1 falls under its own weight or is forced to fall to the classification section in the next step, and another specimen is supplied to the measurement position C, and the same operation as described above is repeated.
本実施例においては、上記したように両接触ピン５．６
の自由端部５ａ、６ａは両者とも確実に被検体１のリー
ド端子３と接触させることが可能となるものであり、ま
た、例えば、被検体１の作用方向に対して水平方向に接
触する接触ピン５の自由端部５ａに対するリード端子３
上に異物が存在すると、接触ピン５，６が水平基部５′
を介して一本の弾性体で構成されているので、被検体ｌ
の作用方向に対してリード端子３に垂直方向に接触する
接触ピン６の自由端部６ａが異物の大きさだけリード端
子３に強く接触することができるものである。これは、
前記の自由端部６ａに接触するリード端子３上に異物が
存在する場合も同様自由端部５ａが異物の大きさだけリ
ード端子３に強（接触することができる。更に、前記し
た自由端部５ａ、６ａが接触する両方に対するリード端
子３上に異物が存在するときは、自由端部５ａ、６ａが
一本のタングステン、ベリリウム銅等の弾性体で構成さ
れているため相互にもとに戻ろうとする力が働き、リー
ド端子３上の異物を破壊し、リード端子３と接触するこ
ともでき、従って、信頼性の高い測定が可能となる。In this embodiment, as described above, both contact pins 5.6
Both of the free ends 5a and 6a can be reliably brought into contact with the lead terminal 3 of the subject 1, and for example, the free ends 5a, 6a can be brought into contact in a horizontal direction with respect to the direction of action of the subject 1. Lead terminal 3 to free end 5a of pin 5
If a foreign object is present on the top, the contact pins 5, 6 will move against the horizontal base 5'.
Since it is composed of one elastic body through the
The free end 6a of the contact pin 6, which contacts the lead terminal 3 in a direction perpendicular to the acting direction of the contact pin 6, can contact the lead terminal 3 strongly by the size of the foreign object. this is,
Similarly, if there is a foreign object on the lead terminal 3 that contacts the free end 6a, the free end 5a can contact the lead terminal 3 as strongly as the size of the foreign object. If there is a foreign object on the lead terminals 3 for both of which 5a and 6a are in contact, they will not return to their original positions because the free ends 5a and 6a are made of a piece of elastic material such as tungsten or beryllium copper. The force acting on the lead terminal 3 causes the foreign matter to break down and come into contact with the lead terminal 3, thus making it possible to perform highly reliable measurements.
また、第３図に示す第２実施例においては、第１実施例
と同一部品に対しては同一符号を付し、その説明は省略
する。そして、第１実施例では２本の接触ピン５．６が
示されているが、第３図に示す第２実施例では、被検体
１との作用方向に対して、水平方向に２個の接触ピン１
３．１４がリード端子３に接触し、垂直方向に１個の接
触ピン１５がリード端子３に接触するものである。また
、第４図に示す第３実施例も第１実施例と同一部品に対
しては同一符号で示し、その説明は省略する。そして、
第３実施例においては、被検体１との作用方向に対して
水平方向に１個の接触ピン１６がリード端子３に接触し
、垂直方向に２個の接触ピン１７゜１８がリード端子３
に接触するものである。Furthermore, in the second embodiment shown in FIG. 3, the same parts as those in the first embodiment are given the same reference numerals, and their explanations will be omitted. In the first embodiment, two contact pins 5.6 are shown, but in the second embodiment shown in FIG. Contact pin 1
3.14 contacts the lead terminal 3, and one contact pin 15 contacts the lead terminal 3 in the vertical direction. Also, in the third embodiment shown in FIG. 4, the same parts as in the first embodiment are designated by the same reference numerals, and their explanations will be omitted. and,
In the third embodiment, one contact pin 16 contacts the lead terminal 3 in the horizontal direction with respect to the direction of action with the subject 1, and two contact pins 17° 18 contact the lead terminal 3 in the vertical direction.
It is something that comes into contact with.
本発明に係る一体型マルチコンタクト式プローブによれ
ば、被検体に対するプローブの作用方向若しくは、プロ
ーブに対する被検体の作用方向が一方向にもかかわらず
、該作用方向に対して水平方向及び垂直方向の両方向か
ら被検体のリード端子に対してプローブを接触させるこ
とが可能となり測定の信頼性が向上するものであり、ま
た、本発明によれば、リード端子に水平方向、垂直方向
の両方向からプローブの接触が確実に行われ、従って、
高い信頼性を有する被検体の特性試験を行うことが可能
となるものである。According to the integrated multi-contact type probe according to the present invention, although the direction of action of the probe on the subject or the direction of action of the subject on the probe is one direction, there are It is possible to bring the probe into contact with the lead terminal of the test object from both directions, which improves the reliability of measurement.Furthermore, according to the present invention, the probe can be brought into contact with the lead terminal from both the horizontal and vertical directions. Contact is ensured and therefore
This makes it possible to conduct characteristic tests of a subject with high reliability.
第１図は本発明の第１実施例を示す正面図、第２図は第
１図の第１実施例の作動状態を示す説明図、第３図は本
発明の第２実施例を示す正面図、第４図は本発明の第３
実施例を示す正面図、第５図は従来の１点コンタクト式
プローブの説明図、第６図は従来のマルチコンタクト式
プローブの説明図である。
ｌ；被検体 ２：本 体
３：リード端子
５、 ６． ７．１３．１４．１５．１６．１７． ｔ
ａ：接触ピン特許出願人 旭化成電子株式会社
二
第１図
第２図
第３図
第５図
第６図Fig. 1 is a front view showing the first embodiment of the present invention, Fig. 2 is an explanatory view showing the operating state of the first embodiment of Fig. 1, and Fig. 3 is a front view showing the second embodiment of the invention. Figure 4 is the third embodiment of the present invention.
A front view showing an embodiment, FIG. 5 is an explanatory diagram of a conventional single-point contact type probe, and FIG. 6 is an explanatory diagram of a conventional multi-contact type probe. l; Subject 2: Main body 3: Lead terminals 5, 6. 7.13.14.15.16.17. t
a: Contact pin patent applicant Asahi Kasei Electronics Co., Ltd. Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 5 Figure 6
Claims (1)
体の前記リード端子に接触して電気的特性を検査する多
点接触型プローブの多点接触端子が弾性材で構成され、
前記の被検体の垂直方向及び水平方向にそれぞれ少なく
とも１個の端子が接触するようになし、前記各端子が相
互に非接触状態を保持するよう、各端子間に所要の間隙
を形成したことを特徴とするマルチコンタクト式プロー
ブ。A multi-point contact terminal of a multi-point contact probe that tests electrical characteristics by contacting the lead terminal of a subject, which is composed of a main body and a lead terminal led out from the main body, is made of an elastic material,
At least one terminal is brought into contact with each of the vertical and horizontal directions of the test object, and a required gap is formed between each terminal so that the terminals are kept in a non-contact state. Features a multi-contact probe.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63257096A JPH0711557B2 (en) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | Multi-contact probe |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63257096A JPH0711557B2 (en) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | Multi-contact probe |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02105079A true JPH02105079A (en) | 1990-04-17 |
| JPH0711557B2 JPH0711557B2 (en) | 1995-02-08 |
Family
ID=17301681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63257096A Expired - Lifetime JPH0711557B2 (en) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | Multi-contact probe |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0711557B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04332872A (en) * | 1991-05-09 | 1992-11-19 | Rohm Co Ltd | Measurement terminal unit |
| JP2013170930A (en) * | 2012-02-21 | 2013-09-02 | Toyota Motor Corp | Electronic component inspection method, electric characteristic inspection device therefor, and terminal of electronic component |
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| JPS54118881U (en) * | 1978-02-08 | 1979-08-20 | ||
| JPS6211508U (en) * | 1985-07-04 | 1987-01-24 |
-
1988
- 1988-10-14 JP JP63257096A patent/JPH0711557B2/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0711557B2 (en) | 1995-02-08 |
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