JPH02102483A - Area monitor for automatic calibration - Google Patents

Area monitor for automatic calibration

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Publication number
JPH02102483A
JPH02102483A JP25569188A JP25569188A JPH02102483A JP H02102483 A JPH02102483 A JP H02102483A JP 25569188 A JP25569188 A JP 25569188A JP 25569188 A JP25569188 A JP 25569188A JP H02102483 A JPH02102483 A JP H02102483A
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JP
Japan
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calibration
channel
counter
actual measurement
detector
Prior art date
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Pending
Application number
JP25569188A
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Japanese (ja)
Inventor
Masaaki Yamaguchi
正明 山口
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

PURPOSE:To calibrate a detector automatically and to improve measurement accuracy by providing an SSD type detector, a light emitting element, and a multiplexer. CONSTITUTION:A pulse signal from the SSD type detector 11 is counted by a counter 16 for actual measurement and the counted valueis converted into a dosage rate by using conversion constants corresponding to channels, so that the dosage rate is displayed in order. In calibration mode, one channel is selected by the multiplexer 14 under the command of a calibration mode execution part 18 and the output of the detector 11 of the channel is inputted to the counter 17 for calibration. At the same time, a pulsating current is sent from the circuit 18 to the light emitting element 12 incorporated in the detector 11 to make the element 12 emits light with constant brightness. The sensor of the detector 11 is excited to send the pulse signal. This signal is counted by the counter 17, whose counted value is inputted to the circuit 20; and the circuit 20 subtracts the measured value in actual measurement mode from the last counted value of the circuit 20 to find the counted value of light emission by the element 12.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、原子力施設の建屋内における放射線量を監視
するエリアモニタに関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Field of Industrial Application) The present invention relates to an area monitor that monitors the radiation dose within a building of a nuclear facility.

(従来の技術) 従来のエリアモニタを第4図に示す。図中、(1)は、
SSD形検出器、(2)はパルス増幅器、(3)はマル
チプレクサ、(4)は実測定用カウンタ、(5)はモニ
タユニットである。
(Prior Art) A conventional area monitor is shown in FIG. In the figure, (1) is
An SSD type detector, (2) a pulse amplifier, (3) a multiplexer, (4) an actual measurement counter, and (5) a monitor unit.

このエリアモニタにおいては、測定している放射線線量
率[a+R/h)とSSO形検出器(1)の計数率(c
ps)の換算定数を設定し、SSD形検出器(1)から
実測定用カウンタ(4)に入力されるパルスの数に比例
した線量率の表示に変換している。
In this area monitor, the radiation dose rate [a+R/h] being measured and the count rate (c
ps) is set, and the dose rate is displayed in proportion to the number of pulses input from the SSD type detector (1) to the actual measurement counter (4).

従来、この換算定数の値を決定するためには、基準とな
る校正用線源を用いて放射線をSSD形検出器(1)に
照射し、その時の計数率を求めて算出していた。
Conventionally, in order to determine the value of this conversion constant, it has been calculated by irradiating radiation onto the SSD type detector (1) using a reference calibration radiation source and determining the count rate at that time.

(発明が解決しようとする課題) 上記のような換算定数決定方法の場合、 SSD形検出
器(1)を校正室に持って行くか、あるいは校正用線源
を検出器の所まで運んで来る必要があり、校正作業が大
変であった。また、校正中はエリアモニタとしての機能
を喪失するという問題もあった。
(Problem to be solved by the invention) In the case of the method for determining the conversion constant as described above, the SSD type detector (1) is brought to the calibration room, or the radiation source for calibration is brought to the detector. The calibration work was difficult. There is also the problem that the area monitor loses its function during calibration.

そこで本発明は、測定中にも検出器の校正可能で換算定
数が常に更新されることから、測定精度も向上する自動
校正形エリアモニタを実現することを課題とし1本発明
の目的もそこにある。
Therefore, it is an object of the present invention to realize an automatically calibrated area monitor that improves measurement accuracy since the detector can be calibrated even during measurement and the conversion constant is constantly updated. be.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(課題を解決するための手段) 本発明の自動校正形エリアモニタは、検出部に発光素子
を内蔵したSSO形検出器を用い、また、この検出器か
らのパルス信号を計数するカウンタとして実測定用カウ
ンタと校正用カウンタを切換回路を介して設け、実測定
モードの処理周期中の空き時間を利用した校正モード時
に複数チャンネルの内から成るチャンネルを選択してそ
の検出器からのパルス信号を実測定用カウンタから切換
えて校正用カウンタへ入力させるようにするとともに同
時に当該検出器に内蔵されている発光素子へパルス状の
電流を送って発光素子を発光させる機能を備えた校正モ
ード実行回路を設け、さらに、チャンネル毎に測定用カ
ウンタの計数値および校正用カウンタの計数値を用いて
当該チャンネルの換算定数を求める校正処理を、全チャ
ンネルの測定を一巡する処理周期の都度、校正モード実
行回路から指定されたチャンネルに対して実行し、更新
された最新の各チャンネル毎の換算定数を用いて各チャ
ンネル毎に実測定カウンタの計数値を線量率に換算して
出力する演算回路を設けるように構成される。
(Means for Solving the Problems) The automatic calibration type area monitor of the present invention uses an SSO type detector with a built-in light emitting element in the detection part, and also uses a counter to count pulse signals from this detector for actual measurement. A counter for calibration and a counter for calibration are provided via a switching circuit, and a channel consisting of multiple channels is selected during calibration mode, which utilizes free time during the processing cycle of actual measurement mode, and the pulse signal from that detector is executed. A calibration mode execution circuit is provided that has the function of switching from the measurement counter to input to the calibration counter and at the same time sending a pulsed current to the light emitting element built in the detector to cause the light emitting element to emit light. , Furthermore, the calibration mode execution circuit performs a calibration process for calculating the conversion constant for each channel using the count value of the measurement counter and the count value of the calibration counter for each channel. It is configured to include an arithmetic circuit that converts the counted value of the actual measurement counter into a dose rate for each channel using the latest updated conversion constant for each channel, and outputs the converted value. be done.

(作 用) 本発明の自動校正形エリアモニタにおいては。(for production) In the automatic calibration type area monitor of the present invention.

実測定モード時には、一定の処理周期で各チャンネルか
ら順次得られたSSD形検出器からのパルス信号を実測
定用カウンタで計数し、演算回路でチャンネル毎に対応
する換算定数を用いて線量率に変換して順次表示する。
In the actual measurement mode, the pulse signals from the SSD type detector obtained sequentially from each channel at a fixed processing cycle are counted by the actual measurement counter, and converted into a dose rate using the conversion constant corresponding to each channel in the arithmetic circuit. Convert and display sequentially.

各チャンネルを走査し終った処理周期の終末時点での校
正モード時には。
In calibration mode at the end of the processing cycle after each channel has been scanned.

校正モード実行回路からの指令で各チャンネルから成る
一つのチャンネルを選択し、このチャンネルの検出器の
出力を校正用カウンタに入力させるように切換えるとと
もに、同時に当該検出器に内蔵されている発光素子へ校
正モード実行回路から4パルス状の電流を送って発光素
子を一定の輝度で発光させる。SSD形検出器のセンサ
ーはこの発光の光エネルギーに励起されてパルス信号を
発する。
One channel of each channel is selected by a command from the calibration mode execution circuit, and the output of the detector of this channel is switched to be input to the calibration counter, and at the same time, the output of the detector of this channel is input to the light emitting element built in the detector. A four-pulse current is sent from the calibration mode execution circuit to cause the light emitting element to emit light at a constant brightness. The sensor of the SSD type detector is excited by the light energy of this emitted light and emits a pulse signal.

このパルス信号は校正用カウンタで計数され、計数値が
演算回路に入力される。演算回路では、記憶されている
当該チャンネルの先行した実測定モード時の計数値を呼
び出し、今回の校正用カウンタの計数値から前記の実測
定モード時の計数値を減算して発光素子の発光による計
数値を求める。
This pulse signal is counted by a calibration counter, and the counted value is input to an arithmetic circuit. The arithmetic circuit calls the stored count value of the previous actual measurement mode of the relevant channel, subtracts the count value of the actual measurement mode from the count value of the current calibration counter, and calculates the count value due to the light emission of the light emitting element. Find the count value.

そして、この計数値の過去のデータを用いて移動平均を
求め、これに基いて換算定数を算出して換算定数を更新
する。そして、次回の実測定モード時には、この更新さ
れた換算定数を用いて計数値の線量率への換算を行なう
Then, a moving average is obtained using past data of this count value, a conversion constant is calculated based on this, and the conversion constant is updated. Then, in the next actual measurement mode, the counted value is converted into a dose rate using this updated conversion constant.

(実施例) 以下1図面に示した実施例に基いて本発明の詳細な説明
する。
(Example) The present invention will be described in detail below based on an example shown in one drawing.

第1図に本発明一実施例の自動校正形エリアモニタを示
す、第1図において、(11)は発光素子(12)を内
蔵したSSD形検出器で、1チヤンネルから32チヤン
ネルまで設けられている。発光素子(12)としては例
えばL E Dが使用される。(13)はパルス増幅器
で、SSD形検出器からのパルス信号を増幅する。 (
14)はマルチプレクサで、各チャンネルのSSD形検
出器(11)からのパルス増幅器(13)を介したパル
ス信号を所定時間間隔で切換えて出力する。 (16)
は実測定用カウンタ、(17)は校正用カウンタで、切
換回路(15)を介してマルチプレクサ(14)の出力
端に接続され、前記SSD形検出器(it)からのパル
ス信号を計数する。 (18)は校正モード実行回路で
、各チャンネルの実測定が終った処理周期の残り時間を
利用した校正モード時には、プログラムに基き複数チャ
ンネルから成るチャンネルをマルチプレクサ(14)で
選択させ、そのSSD形検出器(11)からのパルス信
号を実測定用カウンタ(16)から切換えて校正用カウ
ンタ(17)へ入力させるように切換回路(15)へ指
令するとともに、同時に当該SSD形検出器(11)に
内蔵されている発光素子(12)へのリードと接続する
ようにスイッチング回路(19)を制御し当該発光素子
(12)へパルス状の電流を送って発光させる機能を備
えている。そして、このパルス状の電流は、発光素子(
12)の発光によりSSD形検出器(11)から出力さ
れるパルス信号が校正用線源からの放射線を受けたとき
にSSD形検出器(11)から出力されるパルス信号と
等価になるように予め検定を行なって所定値に設定され
ている。(20)は演算回路で、チャンネル毎に測定用
カウンタ(16)の計数値および校正用カウンタ(17
)の計数値を用いて当該チャンネルの換算定数を求める
校正処理を、全チャンネルの測定を一巡する処理周期の
都度、校正モード実行回路(18)から指定されたチャ
ンネルに対して実行し、更新された最新の各チャンネル
毎の換算定数を用いて各チャンネル毎に実測定用カウン
タ(16)の計数値を線量率に換算して出力する。この
出力は、図示してない指示・記録計器に送られて指示・
記録される。
Fig. 1 shows an automatic calibration type area monitor according to an embodiment of the present invention. In Fig. 1, (11) is an SSD type detector with a built-in light emitting element (12), and is provided with channels from 1 to 32. There is. For example, an LED is used as the light emitting element (12). (13) is a pulse amplifier that amplifies the pulse signal from the SSD type detector. (
14) is a multiplexer which switches and outputs the pulse signal from the SSD type detector (11) of each channel via the pulse amplifier (13) at predetermined time intervals. (16)
is an actual measurement counter, and (17) is a calibration counter, which is connected to the output terminal of the multiplexer (14) via the switching circuit (15) and counts the pulse signals from the SSD type detector (it). (18) is a calibration mode execution circuit, which selects a channel from a plurality of channels based on a program using a multiplexer (14) in a calibration mode that utilizes the remaining time of the processing cycle after the actual measurement of each channel is completed, and selects the SSD type. A command is given to the switching circuit (15) to switch the pulse signal from the detector (11) from the actual measurement counter (16) and input it to the calibration counter (17), and at the same time, the SSD type detector (11) It has a function of controlling a switching circuit (19) so as to be connected to a lead to a light emitting element (12) built in the light emitting element (12), and sending a pulsed current to the light emitting element (12) to cause it to emit light. This pulsed current then flows through the light emitting element (
12) so that the pulse signal output from the SSD type detector (11) due to the light emission is equivalent to the pulse signal output from the SSD type detector (11) when receiving radiation from the calibration radiation source. It is verified in advance and set to a predetermined value. (20) is an arithmetic circuit that calculates the count value of the measurement counter (16) and the calibration counter (17) for each channel.
) Calibration processing for calculating the conversion constant of the channel using the counted value of Using the latest conversion constant for each channel, the count value of the actual measurement counter (16) is converted into a dose rate for each channel and output. This output is sent to an indicating/recording instrument (not shown) for indicating/recording.
recorded.

上記のように構成された本発明一実施例の自動校正形エ
リアモニタの作用を以下に述べる。このエリアモニタは
、第2図に示すように、300m5ecの処理周期で1
チヤンネルから32チヤンネルまでの測定を行なってい
るが、実測定に費やしている時間は約280ssecで
あり、残りの20m5ecは空き時間となっている。こ
の実施例のエリアモニタではこの空き時間を利用して校
正を行なう。
The operation of the automatic calibration type area monitor according to one embodiment of the present invention configured as described above will be described below. As shown in Figure 2, this area monitor has a processing cycle of 300m5ec.
Measurements are being made from channels 32 to 32, but the time spent on actual measurement is approximately 280 ssec, and the remaining 20 m5 ec is idle time. The area monitor of this embodiment uses this free time to perform calibration.

実測定モード時には、第3図に示すように、1チヤンネ
ルから32チヤンネルまで順次測定する。
In the actual measurement mode, as shown in FIG. 3, measurements are performed sequentially from channel 1 to channel 32.

その間は、各チャンネルのSSD形検出器(11)から
のパルス増幅器(13)を介したパルス信号を順次マル
チプレクサ(14)で1チヤンネルずつ実測定用カウン
タ(16)に入力させ、実測定用カウンタ(16)で計
数した計数値を演算回路(20)でチャンネル毎に対応
する換算定数を用いて線量率に変換して出力し、チャン
ネル毎の線量率を順次表示および記録させる。
During that time, the pulse signal from the SSD type detector (11) of each channel via the pulse amplifier (13) is sequentially input to the actual measurement counter (16) one channel at a time using the multiplexer (14). The count value counted in (16) is converted into a dose rate using a conversion constant corresponding to each channel in the arithmetic circuit (20) and output, and the dose rate for each channel is sequentially displayed and recorded.

各チャンネルの実測定を終った都度、残りの20vas
ecの間に、処理周期毎に一つのチャンネルを選択し、
1チヤンネルから順次校正を行なう、この校正モード時
には、校正モード実行回路(18)からの指令によりマ
ルチプレクサ(14)で選択して1チヤンネルのSSD
形検出器(11)からのパルス信号を出力させ、切換回
路(15)へも指令してマルチプレクサ(14)の出力
を実測定用カウンタ(16)から切換えて校正用カウン
タ(17)へ接続させる。同時に、校正モード実行回路
(18)はスイッチング回路(19)を制御して1チヤ
ンネルのSSD形検出器(11)の発光素子(12)へ
のリードを校正モード実行回路(18)へ接続させ、パ
ルス状の電流を発光素子(12)へ送って発光素子(1
2)を一定の輝度で発光させる。これにより、1チヤン
ネルのSSD形検出器(11)のセンサーは発光した光
電素子(12)の光エネルギーに励起されてパルス信号
を発する。このパルス信号は校正用カウンタ(17)で
計数され、計数値が演算回路(20)に入力される。演
算回路(20)では、記憶されている1チヤンネルの先
行した実測定モード時の計数値C1を呼び出し、今回の
校正用カウンタ(17)の計数値に工からC1を減算し
て発光素子(12)の発光による計数値n 1= (K
ニーC工)を求める。さらに、統計変動による測定誤差
を小さくするため、この計数値n工の移動平均(10デ
ータ)を計算し、それに基いて換算定数を求め、換算定
数を更新する。そして、次回の1チヤンネルの実測定モ
ード時には、この更新された換算定数を用いて計数値を
線量率へ変換して出力する。この1チヤンネルの線量率
は表示および記録される。
Each time the actual measurement of each channel is completed, the remaining 20 vas
During ec, select one channel per processing cycle,
In this calibration mode, in which calibration is performed sequentially from one channel, the multiplexer (14) selects the SSD of one channel based on a command from the calibration mode execution circuit (18).
A pulse signal is output from the shape detector (11), and a command is also given to the switching circuit (15) to switch the output of the multiplexer (14) from the actual measurement counter (16) and connect it to the calibration counter (17). . At the same time, the calibration mode execution circuit (18) controls the switching circuit (19) to connect the lead to the light emitting element (12) of the one-channel SSD type detector (11) to the calibration mode execution circuit (18), A pulsed current is sent to the light emitting element (12) and the light emitting element (1
2) to emit light at a constant brightness. As a result, the sensor of the one-channel SSD type detector (11) is excited by the light energy of the emitted photoelectric element (12) and emits a pulse signal. This pulse signal is counted by a calibration counter (17), and the counted value is input to an arithmetic circuit (20). The arithmetic circuit (20) calls the stored count value C1 of the previous actual measurement mode of one channel, subtracts C1 from the current count value of the calibration counter (17), and calculates the value of the light emitting element (12). ) count value n 1= (K
Knee C engineering) is found. Furthermore, in order to reduce measurement errors due to statistical fluctuations, a moving average (10 data) of this count value n is calculated, a conversion constant is determined based on it, and the conversion constant is updated. Then, in the next one-channel actual measurement mode, the updated conversion constant is used to convert the count value into a dose rate and output it. This single channel dose rate is displayed and recorded.

以上で1回の処理周期が終り、第3図に示すように、次
の処理周期では2チヤンネルの校正1次の処理周期では
3チヤンネルの校正をそれぞれ行なうというように順次
処理を進め、32チヤンネルの校正を終った時点で全チ
ャンネルの校正が一巡する。
This completes one processing cycle, and as shown in Figure 3, the next processing cycle is to calibrate 2 channels, and the first processing cycle is to calibrate 3 channels, and so on. Once the calibration of all channels is completed, the calibration of all channels will be completed.

この実施例においては、最初に10データの移動平均を
算出するに要する時間は、1チャンネル当り300m5
ec X IO= 3 secとなり、32チヤンネル
までの同様な校正を行なうためには、合計約100se
c必要である。すなわち、1チヤンネルから32チヤン
ネルまでの最初の校正に要する時間は、約100sec
となる。
In this example, the time required to first calculate the moving average of 10 data is 300 m5 per channel.
EC
c is necessary. In other words, the time required for the first calibration from channel 1 to channel 32 is approximately 100 seconds.
becomes.

しかし、その後繰り返して行なわれる校正の場合は、過
去の9デ一タ分は記憶されているので1チャンネル当り
300m5ecで済むことから、1チヤンネルから32
チヤンネルまでの校正が約10secで完了する。
However, in the case of repeated calibrations, the past 9 data are stored, so it only takes 300m5ec per channel.
Calibration up to the channel is completed in about 10 seconds.

上述したように本実施例によれば、エリアモニタの検出
器のオンライン自動校正が可能となり、これにより、以
下の効果が得られる。
As described above, according to this embodiment, on-line automatic calibration of the area monitor detector is possible, and thereby the following effects can be obtained.

C83a室中にも常時校正可能となり、換算定数が常に
更新されることから測定精度が向−ヒする。
Calibration can be performed at any time even in the C83a room, and measurement accuracy is improved because the conversion constant is constantly updated.

(b)校正のために検出器を校正室に持って行くかある
いは校正用線源を検出器の所まで運んで来る等の作業が
不要となり、作業量が低減される。
(b) It is not necessary to carry the detector to the calibration room for calibration or to carry the calibration radiation source to the detector, and the amount of work is reduced.

(c)エリアモニタの測定を中断することなく校正が可
能となり、モニタリング機能喪失状態発生の不都合が解
消される。
(c) Calibration can be performed without interrupting the measurement of the area monitor, and the inconvenience of the occurrence of a state in which the monitoring function is lost is eliminated.

なお、上述した実施例では、チャンネル数が32の場合
を例示したが、チャンネル数は特に限定されない。
In addition, although the example mentioned above illustrated the case where the number of channels was 32, the number of channels is not particularly limited.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上詳述したように本発明によれば、エリアモニタの検
出器のオンライン自動校正が可能となり。
As described in detail above, according to the present invention, online automatic calibration of the area monitor detector becomes possible.

これにより以下の効果が得られる。This provides the following effects.

(a) ’114定中にも常時校正可能となり、換算定
数が常に更新されることから811定精度が向上する9
(b1校正のために検出器を校正室に持って行くかある
いは校正用線源を検出器の所まで運んで来る等の作業が
不要となり、作業量が低減される。
(a) Calibration is possible at all times even during '114 calibration, and the conversion constant is constantly updated, improving 811 calibration accuracy.9
(b1 It is not necessary to carry the detector to the calibration room or carry the calibration radiation source to the detector for calibration, and the amount of work is reduced.

[c]エリアモニタの測定を中断することなく校正が可
能となり、モニタリング機能喪失状態発生の不都合が解
消される。
[c] Calibration is possible without interrupting the measurement of the area monitor, and the inconvenience of the monitoring function loss state is eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明一実施例の自動校正形エリアモニタの構
成を示すブロック図、第2図は第1図のエリアモニタの
処理周期の内訳を示す説明図、第3図は同じく測定およ
び校正処理のタイムチャート、第4図は従来のエリアモ
ニタの構成を示すブロック図である。 11・・・SSOS横形器 13・・・パルス増@器 15・・・切換回路 17・・・校正用カウンタ 19・・・スイッチング回路 12・・・発光素子 14・・・マルチプレクサ 16・・・実測定用カウンタ 18・・・校正モード実行回路 20・・・演算回路 編 1 シ 巷二(20mSeC) ましL 第  2 因 代理人 弁理士 大 胡 典 夫 第  3  図
Fig. 1 is a block diagram showing the configuration of an automatic calibration type area monitor according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram showing a breakdown of the processing cycle of the area monitor shown in Fig. Processing time chart FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a conventional area monitor. 11... SSOS horizontal device 13... Pulse multiplier 15... Switching circuit 17... Calibration counter 19... Switching circuit 12... Light emitting element 14... Multiplexer 16... Actual Measurement counter 18...Calibration mode execution circuit 20...Arithmetic circuit section 1.2 (20mSeC) 2nd cause Agent Patent attorney Norihiro Ogo Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 発光素子を内蔵したSSD形検出器を複数チャンネル備
えた検出部と、これら各検出器毎に設けられたパルス増
幅器と、前記各SSD形検出器からのパルス増幅器を介
したパルス信号を所定時間間隔で切換えて出力するマル
チプレクサと、このマルチプレクサの出力端に切換回路
を介して接続され前記SSD形検出器からのパルス信号
を計数する実測定用カウンタおよび校正用カウンタと、
実測定モード時には前記マルチプレクサの出力端を実測
定用カウンタに接続するように切換回路を制御し且つ校
正モード時には前記切換回路を制御してマルチプレクサ
の出力端を前記校正用カウンタに接続させるとともにプ
ログラムに基きマルチプレクサに指令して或るチャンネ
ルを選択させ同時に選択されたチャンネルのSSD形検
出器に内蔵されている発光素子へのリードと接続するよ
うにスイッチング回路を制御し当該発光素子へパルス状
の電流を送ってこの発光素子を発光させる校正モード実
行回路と、チャンネル毎に前記実測定用カウンタの計数
値および校正用カウンタの計数値を用いて当該チャンネ
ルの換算定数を求める校正処理を全チャンネルの測定を
一巡する処理周期の都度前記校正モード実行回路から指
定されたチャンネルに対して実行し、更新された最新の
各チャンネル毎の換算定数を用いて各チャンネル毎に実
測定カウンタの計数値を線量率に換算して出力する演算
回路とを具備して成る自動校正形エリアモニタ。
A detection unit includes a plurality of channels of SSD type detectors with built-in light emitting elements, a pulse amplifier provided for each of these detectors, and a pulse signal from each of the SSD type detectors via the pulse amplifier at a predetermined time interval. an actual measurement counter and a calibration counter connected to the output terminal of the multiplexer via a switching circuit and counting pulse signals from the SSD type detector;
In the actual measurement mode, the switching circuit is controlled to connect the output end of the multiplexer to the actual measurement counter, and in the calibration mode, the switching circuit is controlled to connect the output end of the multiplexer to the calibration counter, and the program Based on this, the multiplexer is commanded to select a certain channel, and at the same time, the switching circuit is controlled to connect the lead to the light emitting element built in the SSD type detector of the selected channel, and a pulsed current is sent to the light emitting element. A calibration mode execution circuit that sends a signal to cause this light emitting element to emit light, and a calibration process that calculates a conversion constant for each channel using the count value of the actual measurement counter and the count value of the calibration counter for each channel. is executed for the specified channel from the calibration mode execution circuit at each processing cycle, and the count value of the actual measurement counter is converted to the dose rate for each channel using the latest conversion constant for each channel. An automatic calibration type area monitor that is equipped with an arithmetic circuit that converts and outputs.
JP25569188A 1988-10-11 1988-10-11 Area monitor for automatic calibration Pending JPH02102483A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009028161A1 (en) * 2007-08-24 2009-03-05 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiation monitor and method for confirming operation of the same
JP2014202689A (en) * 2013-04-09 2014-10-27 Agcテクノグラス株式会社 Fluoroglass dosimeter measuring apparatus, and calibration method of fluoroglass dosimeter measuring apparatus
EP4421536A1 (en) * 2023-02-21 2024-08-28 Rigaku Corporation Radiation detector, radiation measuring apparatus, and method for setting radiation detector

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009028161A1 (en) * 2007-08-24 2009-03-05 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiation monitor and method for confirming operation of the same
JP2009052926A (en) * 2007-08-24 2009-03-12 Toshiba Corp Radiation monitor and method for confirming operation of the same
EP2180341A1 (en) * 2007-08-24 2010-04-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiation monitor and method for confirming operation of the same
US8637827B2 (en) 2007-08-24 2014-01-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiation monitor and method for checking operation of the same
EP2180341A4 (en) * 2007-08-24 2015-01-21 Toshiba Kk Radiation monitor and method for confirming operation of the same
JP2014202689A (en) * 2013-04-09 2014-10-27 Agcテクノグラス株式会社 Fluoroglass dosimeter measuring apparatus, and calibration method of fluoroglass dosimeter measuring apparatus
EP4421536A1 (en) * 2023-02-21 2024-08-28 Rigaku Corporation Radiation detector, radiation measuring apparatus, and method for setting radiation detector

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