JP2689241B2 - Automatic analyzer for gas analyzer - Google Patents

Automatic analyzer for gas analyzer

Info

Publication number
JP2689241B2
JP2689241B2 JP11658190A JP11658190A JP2689241B2 JP 2689241 B2 JP2689241 B2 JP 2689241B2 JP 11658190 A JP11658190 A JP 11658190A JP 11658190 A JP11658190 A JP 11658190A JP 2689241 B2 JP2689241 B2 JP 2689241B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
calibration
gas
analyzer
range
concentration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP11658190A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0412261A (en
Inventor
忠生 中村
教夫 嘉田
剛 青木
Original Assignee
株式会社 堀場製作所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社 堀場製作所 filed Critical 株式会社 堀場製作所
Priority to JP11658190A priority Critical patent/JP2689241B2/en
Publication of JPH0412261A publication Critical patent/JPH0412261A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2689241B2 publication Critical patent/JP2689241B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はガス分析計の自動スパン校正を行うための自
動校正装置の改良に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an improvement in an automatic calibration device for performing automatic span calibration of a gas analyzer.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に、ガス分析計などの各種分析計は検出部、増幅
部などの温度ドリフトあるいは経時変化によって生ずる
誤差を補正するために、測定を行うに際してはその測定
作業に先立って、分析計のゼロ調整およびスパン校正を
行う必要がある。而して、従来からのゼロ調整およびス
パン校正は次のような手段で行われていた。
In general, various analyzers such as gas analyzers are used to correct errors caused by temperature drift or aging of detectors, amplifiers, etc. Span calibration is required. Therefore, the conventional zero adjustment and span calibration have been performed by the following means.

即ち、先ず、分析計にゼロガスを導入し、そのときの
分析計における表示器の表示値がゼロとなるようにゼロ
調整を行う。次いで分析計に連設されたマイクロコンピ
ュータを含む自動校正装置に校正用ガス(所定の既知濃
度の測定対象ガス)の濃度設定を行うとともに分析計の
校正レンジを校正用ガス濃度に適したレンジに設定し、
その後校正用ガスを分析計に供給する。そして、校正用
ガスを供給するガスボンベは製造上の問題から、全く同
一の濃度のものを多数製作することは、困難であり、製
作できたとしても多大のコストがかかり、高価である。
そのため、一般には、校正用ガスを供給するガスボンベ
にラベルが貼られており、そこに該ガスボンベの正確な
濃度が示されている。したがって、スパン校正を行うに
あたり、校正用ガスのガスボンベの正確な濃度を、ガス
ボンベに貼られてあるラベルに表示のある、ガスボンベ
内容物の濃度を見ることによって知り、その濃度をガス
ボンベの校正用ガスの濃度としてキーボード等により設
定し、次に、操作者が分析計の校正レンジを校正用ガス
濃度に適したレンジに、操作者の判断により設定し、そ
の後校正用ガスを分析計に供給していた。
That is, first, zero gas is introduced into the analyzer, and zero adjustment is performed so that the display value on the display of the analyzer at that time becomes zero. Next, set the concentration of the calibration gas (measurement target gas of a predetermined known concentration) in the automatic calibration device that includes the microcomputer connected to the analyzer and set the calibration range of the analyzer to the range suitable for the calibration gas concentration. Set,
After that, the calibration gas is supplied to the analyzer. Due to manufacturing problems, it is difficult to manufacture a large number of gas cylinders that supply the calibration gas with the same concentration, and even if the gas cylinders can be manufactured, it is very costly and expensive.
Therefore, in general, a label is attached to the gas cylinder that supplies the calibration gas, and the accurate concentration of the gas cylinder is indicated there. Therefore, when performing span calibration, know the exact concentration of the gas cylinder of the calibration gas by observing the concentration of the gas cylinder contents on the label attached to the gas cylinder, and confirm the concentration. Then, the operator sets the analyzer's calibration range to a range suitable for the calibration gas concentration at the operator's discretion, and then supplies the calibration gas to the analyzer. It was

そして、表示器に表示されたガス濃度が自動校正装置
に入力した校正用ガスの既知濃度に対応する値となるよ
うに前記マイクロコンピュータにおいて演算処理され、
自動的にスパン校正をおこなっていた。
Then, the gas concentration displayed on the display is arithmetically processed in the microcomputer so as to be a value corresponding to the known concentration of the calibration gas input to the automatic calibration device,
The span was automatically calibrated.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

ところで一般に、校正用ガスを供給するガスボンベは
製造上の問題から全く同一の濃度のものを製作すること
は不可能であるため、ガスボンベを交換するごとに新し
い校正用ガスの濃度設定と分析計の校正レンジの設定を
それぞれ独立して行っていた。このため、校正用ガスの
ガスボンベが代わるときにおいて、代わる前のガスボン
ベでは、校正用ガスの濃度が、例えば、9.2ppmであった
のに対し、代わった後のガスボンベでは、例えば、12pp
mであった場合、本来ならば、操作者は、分析計の校正
レンジを10ppmから15ppmへ切換えて設定すべきであると
ころ、操作者のミスにより、分析計の校正レンジを切換
えるのを忘れて10ppmのままにしたり、20ppmで良いと判
断して、校正レンジを20ppmに設定し、最適な校正レン
ジが設定されないといった様なことが起こる。このよう
に従来法によると、校正レンジの設定ミスによる校正精
度の低下あるいは校正不能といった事態が起こることが
あった。
By the way, in general, it is not possible to manufacture a gas cylinder that supplies the calibration gas with exactly the same concentration due to manufacturing problems.Therefore, each time the gas cylinder is replaced, a new calibration gas concentration setting and analyzer The calibration range was set independently. For this reason, when the gas cylinder for the calibration gas is replaced, the concentration of the calibration gas was, for example, 9.2 ppm in the gas cylinder before replacement, whereas it was 12 pp in the gas cylinder after replacement.
If it is m, the operator should normally set the analyzer calibration range by switching from 10 ppm to 15 ppm, but forget to switch the analyzer calibration range due to operator error. If you leave it at 10ppm, or decide that 20ppm is good, set the calibration range to 20ppm, and the optimal calibration range will not be set. As described above, according to the conventional method, the calibration accuracy may be lowered or the calibration may not be possible due to the setting error of the calibration range.

本発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、そ
の目的とするところは、簡単な操作によって確実にスパ
ン校正が行えるガス分析計の自動校正装置を提供するこ
とにある。
The present invention has been made in consideration of the above matters, and an object of the present invention is to provide an automatic calibration device for a gas analyzer that can reliably perform span calibration by a simple operation.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

上述の目的を達成するため、本発明に係るガス分析計
の自動校正装置は、ガスボンベからの校正用ガスをガス
分析計に供給することにより前記ガス分析計の自動スパ
ン校正を行うガス分析計の自動校正装置において、前記
校正用ガスの濃度設定に連動して自動的に校正時の最適
レンジを選択する校正レンジ自動設定手段を設けた点に
特徴がある。
In order to achieve the above object, an automatic calibration device for a gas analyzer according to the present invention is a gas analyzer for performing automatic span calibration of the gas analyzer by supplying a calibration gas from a gas cylinder to the gas analyzer. The automatic calibration device is characterized in that it is provided with a calibration range automatic setting means for automatically selecting the optimum range for calibration in conjunction with the concentration setting of the calibration gas.

〔作用〕[Action]

上記特徴構成によれば、スパン校正を行うにあたり、
校正用ガスのガスボンベの正確な濃度を、ガスボンベに
貼られてあるラベルに表示のある、ガスボンベ内容物の
濃度を見ることによって知り、その濃度をガスボンベの
校正用ガスの濃度としてキーボード等によりマイクロコ
ンピュータに入力する。この校正用ガスの濃度をマイク
ロコンピュータで処理して校正レンジの最適レンジを判
断し、所定の信号を校正レンジ設定部に送信することに
より、校正用ガス濃度に適したレンジを選択する。この
ように、自動校正装置に設定するのは校正用ガス濃度の
みでよく、分析計の校正レンジの設定の必要がないた
め、校正レンジの設定ミスによる校正精度の低下あるい
は校正不能といった事態が無くなるため、常に高精度な
測定が可能となる。
According to the above characteristic configuration, when performing span calibration,
The exact concentration of the gas cylinder of the calibration gas can be known by looking at the concentration of the gas cylinder contents on the label attached to the gas cylinder, and the concentration can be used as the concentration of the calibration gas of the gas cylinder by a computer such as a keyboard. To enter. The concentration of the calibration gas is processed by the microcomputer to determine the optimum calibration range, and a predetermined signal is transmitted to the calibration range setting unit to select the range suitable for the calibration gas concentration. In this way, only the calibration gas concentration needs to be set in the automatic calibration device, and it is not necessary to set the calibration range of the analyzer, so there is no case where the calibration accuracy is reduced or calibration is impossible due to an incorrect calibration range setting. Therefore, highly accurate measurement can always be performed.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示し、同図において、1
は校正用ガスKを供給するためのガスボンベであり、3
は例えば赤外線ガス分析計(以下、分析計と云う)にお
ける分析部であって、校正用ガス供給路2を介して校正
用ガスKが導入される。4はR1〜R4等の抵抗を介して
例えば5/10/20/50ppmといった測定レンジを設けて、分
析部3に設けられた検出器(図示せず)からの信号量
(即ち、ガス濃度)に適したレンジを設定するための校
正レンジ設定部である。そしてここから出力される信号
は自動校正装置9に内蔵されるA/D変換器6を介してマ
イクロコンピュータ7に入力される。そしてこのマイク
ロコンピュータ7において演算処理を行いスパン校正が
自動的に行われる。そして本発明では校正用ガス濃度設
定に連動して自動的に校正時の最適レンジを選択する手
段(校正レンジ自動設定手段)を備えている。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. In FIG.
Is a gas cylinder for supplying the calibration gas K, and 3
Is an analysis unit in, for example, an infrared gas analyzer (hereinafter referred to as an analyzer), and a calibration gas K is introduced through the calibration gas supply path 2. 4 is provided with a measurement range such as 5/10/20/50 ppm via resistances such as R 1 to R 4, and a signal amount (that is, gas) from a detector (not shown) provided in the analysis unit 3 is provided. It is a calibration range setting unit for setting a range suitable for (density). The signal output from here is input to the microcomputer 7 via the A / D converter 6 incorporated in the automatic calibration device 9. Then, the microcomputer 7 performs arithmetic processing to automatically perform span calibration. The present invention is provided with means (calibration range automatic setting means) for automatically selecting the optimum range at the time of calibration in conjunction with the calibration gas concentration setting.

而して、上記構成による自動校正装置9の作用を説明
すると、先ず、分析部3にゼロガス(窒素または精製空
気)を導入し、表示器10の表示値がゼロとなるようにゼ
ロ点調整を行う。次いで、スパン校正を行うにあたり、
校正用ガスのガスボンベ1の正確な濃度を、ガスボンベ
1に貼られてあるラベルに表示のある、ガスボンベ内容
物の濃度を見ることによって知り、その濃度をガスボン
ベ1の校正用ガスKの濃度としてキーボード8等により
マイクロコンピュータ7に入力する。この校正用ガスK
の濃度をマイクロコンピュータ7で処理して校正レンジ
の最適レンジを判断し、所定の信号を校正レンジ設定部
4に送信することにより、校正用ガス濃度に適したレン
ジを選択する。
The operation of the automatic calibration device 9 having the above-described configuration will be described. First, zero gas (nitrogen or purified air) is introduced into the analysis unit 3, and the zero point is adjusted so that the display value on the display 10 becomes zero. To do. Next, when performing span calibration,
The accurate concentration of the gas cylinder 1 of the calibration gas can be known by looking at the concentration of the gas cylinder contents on the label attached to the gas cylinder 1, and the concentration can be used as the concentration of the calibration gas K of the gas cylinder 1 as a keyboard. Input to the microcomputer 7 by 8 This calibration gas K
The optimum range of the calibration range is determined by the microcomputer 7 processing the concentration of No. 1, and a predetermined signal is transmitted to the calibration range setting unit 4 to select a range suitable for the calibration gas concentration.

例えば、校正用ガス濃度が4ppmであれば5ppmレンジ
を、また、校正用ガス濃度が18ppmであれば20ppmレンジ
というように常に最大の感度でスパン校正が行えるよう
に自動的に選択されるのである。
For example, if the calibration gas concentration is 4 ppm, the 5 ppm range is selected, and if the calibration gas concentration is 18 ppm, the 20 ppm range is automatically selected so that span calibration can always be performed with maximum sensitivity. .

更に詳しくは、レンジ選択基準は、次の通りに行う。 More specifically, the range selection criterion is as follows.

例えば、校正用ガス濃度が4ppmのとき、 5 ppmレンジ→4/5→フルスケールの80% 10ppmレンジ→4/10→フルスケールの40% 20ppmレンジ→4/20→フルスケールの20% 50ppmレンジ→4/50→フルスケールの8% となるが、 スケールオーバーをしない最大目盛値の最大値となる
レンジを選択する。つまり、フルスケール(FS)の100
%を越えない最大値、5ppmレンジを選択する。
For example, when the calibration gas concentration is 4 ppm, 5 ppm range → 4/5 → 80% of full scale 10 ppm range → 4/10 → 40% of full scale 20 ppm range → 4/20 → 20% of full scale 50 ppm range → 4/50 → 8% of full scale, but select the range with the maximum scale value that does not cause scale over. In other words, 100 of full scale (FS)
Select the maximum value that does not exceed%, the 5 ppm range.

同様にして、校正用ガス濃度が、18ppmであれば、20p
pmレンジを選択する。
Similarly, if the calibration gas concentration is 18ppm, 20p
Select the pm range.

なお、フルスケール90%を越えない値で選択する場合
もありえる。
In addition, it may be possible to select a value that does not exceed 90% of full scale.

次いで、ガスボンベ1から校正用ガスKを分析部3に
導入することにより、表示器10に表示される検出信号が
マイクロコンピュータ7に入力しておいた校正用ガスK
の濃度に対応する値となるようにマイクロコンピュータ
7において演算処理され、自動的にスパン校正をおこな
うのである。
Next, by introducing the calibration gas K from the gas cylinder 1 into the analysis unit 3, the detection signal displayed on the display 10 is input to the microcomputer 7 for the calibration gas K.
The microcomputer 7 performs arithmetic processing to obtain a value corresponding to the density of, and the span is automatically calibrated.

なお、上述したようにキーボード8により、マイクロ
コンピュータ7に校正用ガスKの濃度設定を行う他に、
スパン校正周期も入力できるようにし、ある一定周期で
自動的にスパン校正を行えるようにしてもよい。
In addition to setting the concentration of the calibration gas K in the microcomputer 7 using the keyboard 8 as described above,
The span calibration cycle may also be input, and the span calibration may be automatically performed at a certain fixed cycle.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように、本発明によれば、自動校正装置
に校正用ガス濃度のみを設定するだけで、分析計の校正
レンジの設定操作の必要がないため、校正レンジの設定
ミスによる校正精度の低下あるいは校正不能といった事
態が無くなり、常に高精度な測定が可能となる。
As described above, according to the present invention, since only the calibration gas concentration is set in the automatic calibration device and the calibration range setting operation of the analyzer is not required, the calibration accuracy due to the calibration range setting error can be improved. There is no problem of deterioration or inability to calibrate, and highly accurate measurement is always possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明に係るガス分析計の自動校正装置の一実
施例を示す全体構成図である。 1……ガスボンベ、4……校正レンジ、9……自動校正
装置、K……校正用ガス。
FIG. 1 is an overall configuration diagram showing an embodiment of an automatic calibration device for a gas analyzer according to the present invention. 1 ... Gas cylinder, 4 ... Calibration range, 9 ... Automatic calibration device, K ... Calibration gas.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 青木 剛 京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地 株式会社堀場製作所内 (56)参考文献 特公 昭61−40936(JP,B2) 特公 昭58−6128(JP,B2) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Tsuyoshi Aoki 2 Higashi-cho, Kichijoin Miya, Minami-ku, Kyoto City, Kyoto Prefecture (56) References Japanese Patent Publication No. 61-40936 (JP, B2) Japanese Patent Publication No. Sho 58-6128 (JP, B2)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ガスボンベからの校正用ガスをガス分析計
に供給することにより前記ガス分析計の自動スパン校正
を行うガス分析計の自動校正装置において、前記校正用
ガスの濃度設定に連動して自動的に校正時の最適レンジ
を選択する校正レンジ自動設定手段を設けてあるガス分
析計の自動校正装置。
1. An automatic calibration device of a gas analyzer for performing automatic span calibration of the gas analyzer by supplying a calibration gas from a gas cylinder to the gas analyzer, interlocking with the concentration setting of the calibration gas. An automatic calibration device for a gas analyzer equipped with automatic calibration range setting means that automatically selects the optimum range for calibration.
JP11658190A 1990-05-01 1990-05-01 Automatic analyzer for gas analyzer Expired - Fee Related JP2689241B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11658190A JP2689241B2 (en) 1990-05-01 1990-05-01 Automatic analyzer for gas analyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11658190A JP2689241B2 (en) 1990-05-01 1990-05-01 Automatic analyzer for gas analyzer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0412261A JPH0412261A (en) 1992-01-16
JP2689241B2 true JP2689241B2 (en) 1997-12-10

Family

ID=14690672

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11658190A Expired - Fee Related JP2689241B2 (en) 1990-05-01 1990-05-01 Automatic analyzer for gas analyzer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2689241B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5204532A (en) * 1989-01-19 1993-04-20 Futrex, Inc. Method for providing general calibration for near infrared instruments for measurement of blood glucose
JP2008220235A (en) * 2007-03-12 2008-09-25 Sanyo Electric Co Ltd Culture apparatus

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52106796A (en) * 1976-03-03 1977-09-07 Kett Electric Lab Measuring apparatus for moisture contents
JPS531043A (en) * 1976-06-25 1978-01-07 Toshiba Corp Automatic range setter of automatic exhausting gas analyzer
JPS586128A (en) * 1981-07-03 1983-01-13 Hitachi Ltd Method and apparatus for correcting defect of photo-mask
JPS5992337A (en) * 1982-11-18 1984-05-28 Mitaka Kogyo Kk Gas analyzer
JPS6140936A (en) * 1984-07-31 1986-02-27 末松 大吉 Block for culvert

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0412261A (en) 1992-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4218746A (en) Method and apparatus for calibrating ion concentration measurement
US3960497A (en) Chemical analyzer with automatic calibration
US4525069A (en) Optical absorption analyzer
EP0400342B1 (en) Method of infra red analysis
JPH0746074B2 (en) Vacuum gauge
JP2689241B2 (en) Automatic analyzer for gas analyzer
JPH0915139A (en) Method for alarming uncorrectable state of analyzer
US3946229A (en) Gain control for a quadrupole mass spectrometer
JP3226974B2 (en) Measurement condition determination device for dynamic weighing device
US5065613A (en) Method for the direct presentation of a differential measured quantity in terms of its correct physical unit
JPH11183240A (en) Measuring device with metal detector and method for computing parameter of this device
EP0296354B1 (en) Gas analyzer
JP3432343B2 (en) Plant monitoring equipment
JPH05119006A (en) Device for measuring concentration of hydrogen carbide
GB1532381A (en) Method and apparatus for determining accuracy of radiation measurements made in the presence of background radiatio
JPH06281607A (en) Continuously analyzing device for gas concentration
EP0592520B1 (en) Method for calibrating an x-ray layer thickness measuring apparatus
JPS59178341A (en) Infrared gas analyzer
JPH0692960B2 (en) Method for measuring pH of electric plating solution
JPH01235834A (en) Signal processing system of laser system gas sensor
JPH0688784A (en) Method for calibrating gas analyzer
JPS62121383A (en) Radiant ray measuring instrument
JPH0429083A (en) Sensitivity calibrator for radiation detector
JPS6327643B2 (en)
JPH0249459B2 (en) KYUKOBUNSEKIKEI

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees