JPH0210228A - 電子天びん - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は校正用分銅を内蔵した電子天びんに関する。

〈従来の技術〉 電子天びんの校正は、一般に、荷重センサを含む荷重検
出機構にひょう量近傍の質ｆｆｉ既知の分銅を負荷し、
その杖態での計量表示値が分銅ＴｔＭに一致するよう、
校正係数を更新する等によって行われる。

ところで、このような校正は、電子天びんの設置時のみ
ならず電子天びんの構成部材の経年変化等によるスパン
変化等を解消すべく、必要に応じてもしくは定期的に、
ユーザサイドにおいて頻繁に行なうことが望ましい。

そこで、従来、この校正動作を容易にすることを目的と
して、天びんハウジング内に専用の校正用分銅を内蔵さ
せることにより、精密な基準分銅を別途用意することな
く校正を可能にした電子天びんがある。

〈発明が解決しようとする課題〉 ところで、校正用の分銅を内蔵するためには、内蔵分銅
とその加除機構を収容するスペースがハウジング内に必
要となるが、大ひょう量の電子天びんでは分銅の体積が
大きくなる関係上、実現が困難であった。

この対策として、従来、レバーを用いて小質量の分銅で
大ひょう量を校正する方法がある。しかし、この方法で
は、天びん輸送時におけるレバー比の変化や、雰囲気温
度によるレバー比の変化等を避は難く、正確さの点で問
題がある。

本発明はこの点に鑑みてなされたもので、ハウジング内
のスペースを大きくとることなく、従来よりも大質量の
分銅を内蔵させることを可能とした電子天びんの提供を
目的としている。

く課題を解決するための手段〉 上記の目的を達成するため、本発明では、実施例に対応
する第１図に示すように、天びんハウジング１の上面と
試料皿２との間に形成された空間に校正用分銅４を配設
するとともに、その校正用分銅４を試料皿２もしくは受
感部材３上端部近傍に形成された分銅受け５に対して負
荷／負荷解除するための機構（例えば押上げ棒６ａ、６
ｂ）を設けている。

ここで、校正用分銅４の配設される空間を、前記したハ
ウジング１の上面と試料皿２の間に形成される空間に代
えて、第５図に示すように、ハウジング１の上面を試料
皿２の下面凹部内に突出させて形成されたハウジング１
内部上端部の空間とすることもできる。

なお、本明細占でいう試料皿２とは、単一の部材で一体
的に形成されたもののほか、例えば第３図に示すように
皿２ａと皿受け２ｂに分離されてなるものをも含む。

〈作用〉 天びんに内蔵する校正用分銅としては、通常の測定時に
は荷重検出機構の受感部材およびこれに接合された試料
皿等の感応部に非接触の状態を保ち、かつ、校正時には
この悪名部以外の部材に非接触の状態で負荷される必要
がある。また、前記したようにレバー等を介さずに受感
部材の中心に直接負荷されることが望ましい。

校正用分銅４を例えば環状にして、受感部材３の略中心
線上のハウジング１上面と試料皿２の間の空間に置くと
ともに、試料皿２、もしくは受感部材３上端部近傍の分
銅受け５に負荷するよう構成することで、ハウジング１
内の荷重検出機構等に干渉することなく、かつ、ハウジ
ング１内体の寸法を大きくすることな、く、大体積の校
正用分銅４の使用が可能となる。

なお、第５図のように、ハウジング１の上面を試料皿２
の下面の凹部内に突出させることによって作られたハウ
ジング１内の空間に校正用分銅４を配置しても、ハウジ
ング１内の他の構成部材との干渉を考慮する必要がなく
、突出部以外のハウジングスペースを太き（することな
く、大体積の校正用分銅４の使用が可能となる。

〈実施例〉 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。

第１図は本発明実施例の要部構造を示す中央縦断面図で
、（ａｌは通常の測定状態を、（ｂ）は校正用分銅４の
負荷状態を示している。

ハウジング１内には、電磁力平衡機構等の荷重センサを
含む公知の荷重検出機構が配設されており、この荷重検
出機構は受感部材３に作用する荷重を検出することがで
きる。

受感部材３は鉛直線に沿って直立する部材であって、そ
の上端部はハウジング１の上面に穿たれた孔１ａから外
部に臨んでいる。そして、この受感部材３の先端に試料
皿２が支承される。受感部材３の上端部近傍、例えば試
料皿２の支承部位の直下には、カップ状の分銅受け５が
形成されている。

試料皿２は全体として円盤状をした一体形の皿であり、
その周縁部は下方に屈曲するとともに下面中央に受感部
材３先端を嵌挿するための孔が形成されている。そして
、この試料皿２の下面とハウジング１の上面との間の空
間に、受感部材３の軸心を中心として円環状の校正用分
銅４が配設されている。

ハウジング百の内部には、例えばカム機構やクランク機
構等の公知の簡単な上下機構によって互いに連動して上
下動する押上げ棒６ａ、６ｂが配設されている。この押
上げ棒６ａ、６ｂは、その上昇端に位置している状態で
は、第１図（ａｌに示すように、校正用分銅４の下面に
当接してこれを押し上げ、ハウジング１の上面に配設さ
れた分銅当り７との間で校正用分銅４を挟着保持するこ
とができる。なお、分銅当り７は下方に開くテーパ面を
有しており、このテーパ面が校正用分銅４の外周面上方
に形成されたテーパ面と当接することで、押上げ棒５ａ
、５ｂによる押し上げ時に校正用分銅４の中心が受感部
材３の軸心と一致するよう、位置決めされる。この状態
では、校正用骨ｗ４４は試料皿２、受感部材３および分
銅受け５のいずれにも接触せず、試料皿２上に載せられ
た荷重のみが荷重検出機構によって検出される。

押上げ棒６ａ、６ｂが下降端に位置している状態では、
第１図（ｂｌに示すように、校正用分銅４との接触が解
かれる。すなわち、押上げ棒ｆ３　ａ、５　ｂの先端部
の高さは、その下降端においては分銅受け５の上面より
も低く、従って、この状態では校正用分銅４は分銅受け
５の上面に乗ることになる。

この状態において校正用分銅４は、分銅当り７との接触
も解かれ、その全質量が分銅受け５および受感部材３を
介して荷重検出機構に伝達される。

第２図は第１図の実施例に防塵対策を施した例を示す中
央縦断面図である。

すなわち、この例では、分銅当り７を上方に延長させ、
更に内側に延びる防塵カバー７ａを一体形成している。

これにより、雰囲気中の塵埃やこぼれた試料等による校
正用分銅４の汚れを防止することができる。なお、第２
図において第１図と同一の部材については同一の番号を
付している。

第３図に示す例は、第２図の防塵対策の変形例で、組立
ての作業性等を考慮した極めて実用的な例である。なお
、この例では、試料皿２を皿２ａと血受け２ａに分離し
たタイプを示している。

この第３図の例では、ハウジング１の上面の孔１ａを大
きくし、その孔１ａを覆うように下側防塵カバー１０を
設けている。更に、その上方には分銅当りを兼ねる上側
防塵カバー７１を被せ、この上側防塵カバー７１と下側
防塵カバー１０との間に形成された空間内に校正用分銅
４を配設している。そして、押上げ棒６ａは下側防塵カ
バー１０を貫通して校正用分銅４を上下動させるように
構成している。なお、６０は押上げ棒ガイドである。

この例においては、校正用分銅４の受感部材３の軸心に
対する位置決めは、校正用分銅４の下面に、押上げ棒６
　ａ　（６ｂ）の配設位置に対応させて溝４ａを形成す
ることによって対処している。

上側防塵カバー７１のハウジング１に対する組み付けは
、例えばハウジング１の孔１ａの周縁を立ち上がらせ、
その外周に数箇所の突起１）を設けておくとともに、カ
バー７１にはＬ字形の切欠きを設けておき、カバー７１
をハウジング１の立ち上がり部に被せてねじることによ
ってワンタッチで行えるように工夫している。第４図（
ａ）にカバー側の切欠き７１ａの例を示し、同図（ｂ）
にハウジング１側の突起１）の例を示す。なお、下側防
塵カバー１０についても同様の構造を採ることができる
。

第５図に示す例は、第１図における分銅当り７と、第２
図における防塵カバー７ａをそれぞれハウジング１の壁
体によって兼用させた例である。

この例では、試料皿２の下面に形成される凹部内に、孔
１ａを中心としてハウジング１の上面の壁体を突出させ
、この突出によって形成されたハウジング１の内部の上
端部の空間に、校正用分銅４を配設している。そして、
押上げ棒５ａ、６ｂの上昇端では、校正用分銅４はハウ
ジング１の突出部１２の下面に形成された平坦面１７’
Ｃ当接する。つまりハウジング１の平坦面１７が分銅当
りとなる。また、押上げ棒６ａ、６ｂの下降端では第１
図と同様に受感部材３の上端部に設けられた分銅受け５
上に校正用分銅４が乗る。なお、校正用分銅４の受感部
材３の軸心に対する位置決めは、第３図の例と同様、校
正用分銅４の下面に押げ棒５ａ、５ｂの配設位置に対応
させて溝もしくは凹所４ａ、４ｂを設けることによって
対処している。

この第５図の例では、校正用分銅４はハウジング１内に
収容されるものの、その収容位置は試料皿２下方の凹部
内にハウジング１を突出させることによって得られる内
部上端の空間であるから、ハウジング１内の荷重検出機
構等に対する干渉を考慮する必要がなく、また、突出部
１２以外にハウジング１の容積を大きくすることなく大
体積の校正用分銅４を使用できる。また、ハウジング１
内体が分銅当りと校正用分銅４の防塵カバーの機能を備
えることになり、部品点数を削減できる。

なお、以上説明した各実施例において、押上げ棒６ａ、
６ｂの数は３本以上でもよく、また、例えば第６図に示
すように、フォーク状のレバー６０等を用いることで１
本の押上げ棒６によって校正用分銅４の上下動が可能で
ある。更に、第３図に示したようにカバー７１と溝４ａ
を存する場合には、押上げ棒６ａが１本であっても分銅
４を上下させることができる。この場合、押上げ棒６ａ
に対する分銅４の偏心量が大きくなって上下動しにくい
ときには、それに応して分銅４の形状を半円環状、ない
しは円環の一部を切欠いた形状にする等、適宜の対処を
採ることができる。

第７図に示す例は、分銅受け５を試料皿２に設け、校正
用分！１４４を試料皿２の内部に収納した例を示してい
る。この図において中心線より左側は通常の測定状態を
、右側は分銅負荷状態を示している。

この例においては、試料皿２の周縁の下方への屈曲端に
、試料皿２の中心部を除いてその下面をほぼ全面に亘っ
て覆うような分銅受け５が固着されており、この分銅受
け５と試料皿２との間の空間に、校正用分銅４を配置し
ている。そして、ハウジング１内にはこの分銅受け５の
中央開口部を介して校正用分ｗ４４を押し上げることの
できる押上げ部材６ｄが配設されており、通常の測定状
態においては校正用分銅４はこの押上げ部材６ｄにのみ
接触してその上方に乗る。また、分銅負荷状態において
は押上げ部材６ｄが下降し、校正用分銅４は分銅受け５
にのみ接触してその上に乗る。

この例によれば、第２図、第３図または第５図に示した
例と同様、校正用分銅４の汚染を防止できるという利点
がある。

第８図に示す例は、校正用分銅４を上下動させる機構を
よりシンプルなものとし、更にこの機構をもハウジング
１の外部に設けた例を示している。

この例においては、ハウジング１の孔１ａを中心にして
その上面に波状端面を持つ円筒状の突起６１を設け、こ
れに嵌合する波状凹部を持つリング状の分銅支え６２を
設けている。

第９図に突起６１と分銅支え６２の分解斜視図を示す、
突起６１に形成された波形と分銅支え６２に形成された
波形とは互いに諮問−のピッチを有しており、分銅支え
６２に設けられた把手６２ａにより分銅支え６２を回転
させると、分銅支え６２が上下に動くよう構成されてい
る。

そして、校正用分銅４はこの分銅支え６２の上方に配置
される。また、この例において分銅受け５は、試料皿２
側に固着されている。

この例において、分銅支え６２の上方への変位端では、
第６図に示すように校正用分銅４はこの分銅支え６２の
上面に支持され、試料皿２、受感部材３および分銅受け
５のいずれにも接触しない。

その状態から把手６２ａによって分銅支え６２を回動さ
せて下方に変位させると、校正用分銅４もそれにつれて
下方に変位してゆくが、分銅支え６２が下方の変位端に
達するまでに分銅受け５上に乗り、分銅支え６２が下方
の変位端にある状態では校正用分銅４は分銅受け５にの
み接触し、その全質量が受感部材３に伝達される。

第１０図乃至第１８図に示す例は、校正用分銅４自体を
回すことによってこの校正用分銅４を上下動させ、分銅
受け５への負荷／負荷解除を実現しようとするものであ
る。

第１０図に中央縦断面図を、第１）図にその要部分解斜
視図を示す例では、ハウジング１の上面に孔１ａを中心
として波状端面を持つ円筒状の固定型分銅支え６３を形
成している。この分銅支え６３の山部６３ａの頂部に１
個づつ切欠６３ｂを形成し、この切欠６３ｂ・・・６３
ｂに対応させて、校正用骨ｔｉ４４の外周面からピン４
１〜４３を突出させている。なお、そのうち１本のピン
４１は把手を兼ねるべく他よりも長くしである。

そして、通常の測定状態においては、第１０図に示すよ
うに、ピン４１〜４３がそれぞれ切欠き４３ｂ・・・４
３ｂ上に乗った状態で分銅支え６３に支承される。その
状態から、ピン４１を持って校正用分銅４を回すことに
より、校正用分銅４は分銅支え６３の端面波形に従って
徐々に下降してゆき、やがて分銅受け５上に乗る。この
状態ではピン４１〜４３が分銅支え６３に接触しないよ
うに、波形の谷部の深さが定められている。

第１２図は上述の例の変形例で、同様に波形端面を持つ
固定型の分銅支え６４をハウジング１の上面に形成し、
校正用骨ｗ４４の外周面に複数のピン４４を突出させて
いる。この例の特徴は、校正用分銅４を回動させるため
の専用の把手４５を校正用分銅４に固着するとともに、
その先端部４５ａをヒンジ等によって折りたためるよう
にし、試料皿２の下方内部に収納できるようにした点に
ある。

この例によれば、校正用分銅４の加除を必要とする場合
に限って１巴手４５の先端部４５ａを試料皿２の外方に
引き出せばよく、測定作業が妨げられないという利点が
ある。

第１３図に示す例は、校正用分銅４を回動させる手段を
更に変形したものである。

すなわち、固定型の分銅支え６４と校正用分銅４のピン
４４は先の例と同じであるが、校正用分銅４を防塵カバ
ー７２を介して回動させるよう構成している。防塵カバ
ー７２は、試料皿２の下方から外部に突出する把手７２
ａを有しているとともに、分銅支え６４に連接形成され
た円筒状のカバー支え６４ａ上に回動自在に支承されて
いる。

また、この防塵カバー７２の下面には第１４図に斜視図
を示すようなフォーク７２ｂを突出させている。そし”
ζ、校正用分銅４に設けられたピン４４は、このフォー
ク７２ｂの凹所に嵌め込まれ、把手７２ａにより防塵カ
バー７２を回動させることによってフォーク７２ｂを介
して校正用分銅４が回動し、上下動するわけである。ピ
ン４４およびフォーク７２ｂは複数個、例えば３個づつ
設けることが好ましい。なお、フォーク７２ｂの凹所の
幅は、ピン４４の外径よりも広くしておき、校正用分銅
４の分銅受け５上への負荷時には、ピン４４とフォーク
７２ｂとの接触を絶つべく、防塵カバー７２を微動反転
させる必要がある。

第１５図および第１６図に示す例は、防塵カバー７２と
校正用分銅４との保合関係と、校正用分銅４の回動を上
下動に変換する機構とを、それぞれ変形させた例を示し
、更に、上述した防塵カバー７２の微動反転を半自動化
した対策をも施したものである。なお、第１５図は中央
縦断面図で、第１６図はその校正用分銅４の上面直上で
切断して示す要部平面断面図である。

この例においては、校正用分銅４の外周部に例えば３箇
所程度の切欠き部４６を設けるとともに、防塵カバー７
２の下面にはこの各切欠き部４６内に挿入されるピン７
２Ｃを突出させている。防塵カバー７２は第１３図の例
と同様にカバー支え６４ａ上に回動自在に支承されてお
り一１把手７２ａによって防塵カバー７２を回動させる
ことによって、ピン７２ｃが切欠き部４６の端面に当接
しつつ校正用分銅４を回動させる。

この校正用分銅４の回動は、円環状の校正用分銅４の内
周面側に固着された波状板４７と、これと対偶関係にあ
る分銅支え６５によって上下動に変換される。すなわち
、ハウジング１の上面には孔１ａの周囲に波状端面を有
する円筒状の分銅支え６５が配設されており、波状板４
７の凹凸と共働して校正用分銅４の回動に応じてこれを
上下動させる。そして、校正用分銅４が下降したときに
は、この波状板４７を介して分銅受け５上に載るように
構成されている。

この例では更に、ハウジング１の上面に把手７２ａを介
して防塵カバー７２を微動反転させるための戻し機構８
を設けている。この戻し機構８は、シリンダ８１内に圧
縮コイルばね８２を介してピストン８３を設けてなって
おり、回動時の把手７２ａの軌跡上に配設されている。

すなわち、把手７２ａにより防塵カバー７２を回動させ
、校正用分銅４を分銅受け５上に負荷した状態で、把手
７２ａの側面がピストン８３をシリンダ８１内に押し込
む位置に戻し機構８を配設している。この状態では、第
１６図に二点鎖線で示すように、ピン７２Ｃが校正用分
銅４の切欠き部４６の一側面に接触している。この状態
で把手７２ａをはなすと、圧縮コイルばね８２の弾性力
によってピストン８３が突出し、把手７２ａを介して防
塵カバー７２がわずかに反転する。これにより、ピン７
２ｃと校正用分銅４との接触が解かれるわけである。従
って測定者は、校正用分銅４の負荷時に把手７２ａをピ
ストン８３に押し付けた後にはなすだけで、自動的に防
塵カバー７２が微小量反転し、校正用分銅４は分銅受け
５にのみ接触してその全質量が受感部材３に伝達される
ことになる。

第１７図および第１８図に示す例は、ハウジング１の上
面に試料皿２の下面凹部内への突出部１２を設けて、そ
の突出部１２の内側に校正用分銅４を配設した第５図の
例に、校正用分銅４の回動に基づく上下動で負荷／負荷
解除を行なう方式を適用したものである。

この例では、ハウジング１の突出部１２内の校正用弁ｊ
１．ｉ　４に第１５図、第１６図の例と同様に複数箇所
の切欠き部４６を設け、この切欠き部４６内に専用の回
動用部材９の爪９ａを挿入し、この爪９ａを介して校正
用分鋼４を回動させるよう構成している。

また、ハウジング１の内側に波状端面を持つ円筒状の分
銅支え６ｂを配設するとともに、校正用分銅４には、そ
の下面に円環状の溝４８を設け、その溝４８より外側の
部分の下面に波状部４９を設けＣいる。そして、この波
状部４９が分銅支え６６の波状端面の上方に載り、これ
らの回転位相関係に応じて校正用分銅４が上下動するよ
う構成されている。

さて、第１９図と第２０図にそれぞれ中央縦断面図で示
す例は、校正用分銅４を負荷／負荷解除する機構として
、分銅受け５を上下動させる機構を採用した例で、それ
ぞれ中心線より左側に通常の測定状態を、右側に分銅負
荷状態を示している。

第１９図に示す例では、試料皿２の下面中央のボスの外
周に雄ねじ２１を刻設し、分銅受け５にはその中心部に
雌ねじ５１を刻設してこれを試料皿２１の雄ねじ２１に
ねじ込んでいる０分銅支け５には、また、試料皿２の下
方から外側に伸びる把手５２が形成されており、この把
手５２を持って分銅受け５を回動させることによって、
分銅受け５が試料皿２に対して上下動するよう構成して
いる。

この例においては、ハウジング１の上面に孔１ａを中心
に円筒状の分銅支え１ｂが形成されており、分銅受け５
が下降状態にあるときには、校正用分銅４はその下面外
縁部において分銅支え１ｂにのみ接触してその上に乗る
０校正用分銅４を負荷するときには、分銅受け５を上昇
させる。これにより、校正用分銅４は分銅支え１ｂから
外れ、試料皿２の下面と分銅受け５の間に挟着固定され
、試料皿２と一体化してその全質量が受感部材３に伝達
される。

第２０図に示す例では、試料皿２の周縁の下方への屈曲
部の内側に雌ねじ２２を刻設し、分銅受け５を円盤状に
してその外周部に雄ねじ５３を刻んでいる。そしてこの
雄ねじ５３を試料皿２の雌ねじ２２にねじ込み、分銅受
け５の試料皿２に対する上下動を可能としている。

この例では、分銅支え１ｂは孔１ａの直近に設けられ、
第１９図に示した例と同様、分銅受け５の下降状態にお
いて校正用分銅４はこの分銅支え１ｂ上に乗る。また、
分銅受け５の回動による上ｙ、により、校正用分銅４は
試料皿２と分銅受け５間に挟着固定されて一体化する。

以上の第１９図、第２０図に示す例によれば、校正用分
銅４の負荷／ｆ′を前解除機構が極めてシンプルな機構
となって、ハウジング１の外側に配設されるとともに、
部品点数が少なく、かつ、加工も容易であって故障しに
くいという利点がある。

また、分銅受け５を上昇させた負荷状態においては、校
正用分銅４は試料皿２と分銅受け５間に密に挟着され、
輸送時における分銅ロック機構としても利用できる。更
に、第２０図に示す例では、分銅受け５が防塵カバーと
しての機能をも持つ。

なお、第１９図、第２０図の各側において、ねじ２１と
５１、ねじ２２と５３を多条ねじとすることによっであ
るいはねじに代えてヘリコイドを採用することによって
、回転角当たりの上下動の量を増大でき、操作性が向上
する。

第２１図乃至第２５図に示す例は、試料皿２を受感部材
３に対して上下動させることによって校正用分銅４を負
荷／負荷解除するよう構成した例を示している。

第２１図に示す例では、受感部材３に、外周に雄ねじ３
１ａを刻設した皿支持体３１を支承するとともに、試料
皿２（皿受け２ｂ）の中央部のボスには雌ねじ２３を設
けてこの雄ねじ３１ａにねじ込んでいる。つまり、試料
皿２は皿支持体３１を介して受感部材３に支承されるわ
けで、試料皿２と皿支持体３１とを相対的に回動させる
ことによって、試料皿２を受感部材３に対して上下動さ
せ得るよう構成し°ζいる。また、分銅受け５は試料皿
２のボスの外周に固着されている。

この例においては、ハウジング１の上面に孔１ａを中心
とする円筒状の分銅支え１ｂが設けられているとともに
、その上面には例えば３箇所の突起Ｐが配設されており
、試料皿２が受感部材３に対して下降状態にあるときに
は、校正用分銅４は突起Ｐ上に載って支持される。そし
て、試料皿２を受感部材３に対して上昇させることによ
り、校正用分銅４が分銅受け５上に載り、分銅負荷状態
となる。ここで、例えば３個中２個の突起Ｐを電気的に
接続しておけば、校正用分銅４の負荷／負６ｊ解除を電
気的に検出することもできる。

第２２図に示す例は、第２１図の例に防塵対策を施すと
ともに、試料皿２の持ち上げ構造等をより実用的にした
例を示している。

この例においては、ハウジング１の孔１ａを大きくして
その周縁に円筒状のカバー支え１Ｃを形成し、防塵カバ
ー７３を支持している。そして、校正用分銅４はこの防
塵カバー７３の下側に配設され、通常の測定状態では孔
１ａの内周に突出された複数個の分銅支え１ｄによって
支承される。

また、受感部材３の先端に雄ねじ３ａが刻まれており、
この雄ねじ３ａに、中心に・雌ねじ３２ａが刻まれた筒
状の皿支持体３２がねじ込まれている。試料皿２（皿受
け２ｂ）は、そのボスの中央に孔が穿たれており、この
孔に皿支持体３２の外周を挿入した状態で、受感部材３
に支承される。また、分銅受け５は皿支持体３２に固着
されている・従って、皿支持体３２を回動させて受感部
材３に対して上下動させることによって、試料皿２およ
び分銅受け５が受感部材３に対して上下動することにな
り、その上昇時に校正用分銅４が分銅受け５上に乗るよ
う構成されている。

なお１、この実施例では、受感部材３の上端面に抜は止
め３ｂを固着することで、皿支持体３２の上昇端を規制
し、その抜は落ちを防止することができる。

第２３図に示す例は、第２２図の例と同様に防塵対策を
施したものであるが、分銅受け５に防塵カバーを兼用さ
せた例を示している。

すなわち、第２１図の例と同様−に試料皿２（皿受け２
ｂ）の中心に雌ねじ２３を設けるとともに、受感部材３
の先、端部には第２２図の例と同様の雄ねじ３ａを刻設
して、これらで試料皿２の回動による受感部材３に対す
る上下動を可能としたものにおいて、第７図と同様に、
試料皿２の下面をその中心部を除いて全面に覆うような
分銅受け５を、試料皿２の外縁の下方への屈曲端に固着
している。

この場合、通常の測定状態において校正用分銅４を支承
する分銅支え１ｅは、ハウジング１の孔１ａの周縁を円
筒状に立ち上がらせておけばよい。

第２１図に示した試料皿２と皿支持１体３１、第２２図
に示した皿支持体３２と受感部材３、もしくは第２３図
に示した試料皿２と受感部材３との上下動機構は、第１
９図および第２０図に示した例と同様、ねじを多条ねじ
とし、あるいはへリコイドに置換することができ、更に
は、第２４図に例示するように、一方何に略り字形のガ
イド溝Ｇを形成し、他方にはこのガイド溝Ｇ内に嵌り込
む突起を設けて、試料皿２もしくは皿支持体３２を上方
に持ち上げて少し回転させることによって突起がガイド
溝Ｇの水平部に案内されて下に降りなくなるよう構成す
ることもできる。

更には、上下方向に機能するノック式うヂエット機構を
採用し、上方に試料皿等の所定高さまで持ち上げること
によってその位置でロックされ、その状態からもう一度
持ち上げて放すと試料皿等が下降するよう構成する等、
種々の変形が可能である。

第２５図に示す例は、試料皿２の受感部材３に対する上
下動を、受感部材３の皿受軸３３を可動にすることで達
成した例を示している。

すなわち、皿受軸３３を受感部材３に対して上下方向に
慴動自在に支承し、その皿受軸３３を、受感部材３内に
組み込まれたカム９の回動によって上下動させる。この
皿受軸３３の先端に支承される試料皿２にはハウジング
１の外側において分銅受け５を固着するとともに、ハウ
ジング１と成料皿２の間の空間に校正用分銅４を配置し
ている。

この実施例によると、ｎ構的にはやや複雑上なるが、カ
ム９をスイッチ操作等によって電気的に回動させる等に
より、校正用分銅４の加除の操作性を向上させることが
できる。

なお、以上説明した各実施例において、試料皿２は円形
に限らずに角形であってもよく、その場合、校正用分銅
４は円環状等に代えて角形の環状等とすることが、試料
皿２とハウジング１間の空間を有効に利用できる点で好
ましい。

更に、大形の電子天びんの場合は、受感部材を複数化し
°ζ試料皿を支承することで、校正用分銅を環状にする
ことなく試料皿とハウジング上面との間に収納すること
もできる。その措造例を第２６図（８１および（ｂ）に
試料皿近傍の縦断面図および平面図で示す。なお、第２
６図（ａｌは同図（ｂ）のＡ−Ａ断面図である。この例
においては、荷重センサ１００に装着された受感部材３
を４本の支柱３０ａ〜３０ｄに分岐させてそれぞれをハ
ウジング１から突出させ、その先端部で試料皿２を支承
している。そして、校正用分銅４をこの支柱３０ａ〜３
０ｄの内側の試料皿２とハウジング１上面間に収納し、
４木の連動する押上げ棒６０ａ〜６０ｄによって上下動
するよう構成している。各支柱３０ａ〜３０ｄにはそれ
ぞれ分銅受け５０ａ〜５０ｄが突出形成されており、押
上げ棒６０ａ〜６０ｄが下降端にあるときには、校正用
分銅４はその四隅において分銅受け５０ａ〜５０ｄに支
承されてその全質量が荷重センサ１００に伝達される。

また、通常の測定状態では押上げ棒６０ａ〜６０ｄが上
昇端に位置し、校正用分銅４はこの押上げ棒６０ａ〜６
０ｄにのみ当接してこれに支承される。

また、本発明は以上の各実施例に限定されることなく、
例えば各実施例の構成の一部を互いに置換し合う等、種
々の変形が可能である。

〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によれば、校正用分銅をハ
ウジングの上面と試料皿との間に配置して受感部材に対
して負荷／負荷解除可能としたから、校正用分銅の収納
のためのスペースをハウジング内に設ける必要がなく、
大体積の、従って大質挺の校正用分銅の内蔵が可能とな
り、天びん全体をコンパクトにまとめることができる。

特に、大ひょう量の天びんに対しては、ひょう量よりも
大幅に軽い分銅で校正せざるを得なかった従来の分銅内
蔵型の天びんに比して、校正精度を向上させることがで
きる。

また、ハウジングの上面壁体を試料皿の下面凹部内に突
出させて、その突出によって形成されるハウジング内部
上端の空間に校正用分銅を収納することによっても、ハ
ウジング内部の他の機構との干渉を考慮することなく校
正用分銅の収容が可能であり、しかも、校正用分銅収納
スペースは実質的に試料皿下方の無駄な空間であること
から、この構造によっても上記と同等の効果が得られる
。

更に、分銅受けないしは試料皿を受感部材に対してねじ
等によって上下動させることで校正用分銅の負荷／負荷
解除を行なうよう校正した場合、校正用分銅のみならず
その加除機構をも実質的にハウジング内部から排除でき
ることになり、校正用分銅を内蔵しない天ぴんと同等の
ハウジングによって分銅内蔵型の天びんが得られ、コン
パクト化に寄与するところ大であり、かつ、機構的にも
極めてシンプルとなって故障削減および低コスト化を達
成できるという利点もある。

このことは、ハウジング上面に波状の分銅受えを備える
タイプについても同様である。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第２５は本発明の詳細な説明図であり、 第１図は基本的構造例を示す中央縦断面図、第２図およ
び第３図はその変形例を示す中央縦断面図、 第４図は第３図の要部説明図である。 第５図は校正用分銅４をハウジング突出部１２の空間内
に配置した実施例を示す中央縦断面図、第６図は校正用
分銅４の上下動機構の他の実施例の説明図、 第７図は校正用分銅４を試料皿２内に収納した例の中央
縦断面図、 第８図は校正用分銅４の上下動機構を変形した例の中央
縦断面図、 第９図はその要部分解斜視図、 第１０図は校正相分り１）４の上下動機構を更に変形し
た例の中央断面図、 第１）図はその要部分解斜視図、 第１２図乃至第１５図は更にまたその変形例を示す中央
縦断面図、 第１６図は第１５図の要部平面断面図、第１７図は更に
その変形例を示す中央縦断面図、第１８図はその要部平
面図である。 第１９図および第２０図は分銅受け５を上下動させる機
構を用いた実施例を示す中央縦断面図である。 第２１図乃至第２５図は試料皿２を上下動させるＪａ横
を用いた実施例を示す図で、第２１図はその基本的構造
例を示す中央縦断面図、 第２２図および第２３図はその変形例を示す中央Ｓ１断
面図、 第２４図は更にその変形例の要部縦断面図、第２５図は
更にまたその変形例を示す中央縦断面図である。 第２６図は環状以外の校正用分銅を使用した実施例の説
明図である。 １・・・ハウジング １ａ・・・孔 １２・・・突出部 ２・・・試料皿 ２ａ・・・皿 ２ｂ・・・皿受け ３・・・受感部材 ４・・・校正用分銅 ５・・・分銅受け ６ａ、５ｂ・・・押上げ棒 第２図 第３図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）ハウジング内に配設された荷重検出機構の受感部
   材が、上記ハウジング上面に形成された孔を介して外部
   に臨み、その受感部材に、上記ハウジング外部に配設さ
   れた試料皿が係合されてなる天びんにおいて、上記ハウ
   ジングの上面と上記試料皿との間に形成された空間に校
   正用分銅を配設するとともに、その校正用分銅を上記試
   料皿もしくは受感部材上端部近傍に形成された分銅受け
   に対して負荷／負荷解除するための機構を備えたことを
   特徴とする、電子天びん。
2. （２）請求項第１項記載の電子天びんにおいて、上記校
   正用分銅を、上記ハウジング上面と試料皿の間に形成さ
   れる空間に代えて下記の空間に配設したことを特徴とす
   る電子天びん。 上記試料皿の直下のハウジング壁体を、上記試料皿の下
   面に形成された凹部内に突出させ、その突出によって形
   成されたハウジング内部上端の空間。