JPH0197365A - エネルギー分析器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は、固体試料の表面分析の為のＳＮＭＳ（Ｓｅｃ
ｏｎｄａｒｙ　　ＮｅｗｔｒａｌＭａｓｓ　　　５ｐｅ
ｃｔｒｏ、ｍｅｔｒｙ）。

ＳＩＭＳ（Ｓｅｃｏｎｄａｒｙ　　ＩｏｎＭａｓｓ　　
Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ）。

ＥＳＣＡ（Ｅｒｅｃｔｒｏｎ　　５ｐｅｃｔｒｏ−ｓｃ
ｏｐｙ　　ｆｏｒ　　ＣｈａｍｉｃａｌＡｎａｌｙｓｉ
ｓ）等において用いられるエネルギー分析器に関する。

（ロ）従来の技術 第２図に示すエネルギー分析器は、分析器内の電位分布
がＢｅ５ｓｅｌ関数で表わせることからｒＢｅｓｓｅｌ
型エネルギー分析器」と称されている。本図において、
２１及び２２は夫々円環状スリット２３．２４を有する
スリット板であり、２５は円筒電極、２６は円筒電極２
５に電圧を供給する電源である。イオン源２７から出射
したイオン２８は円環状スリット２３を通って分析器内
に入射し、円筒電極２５内の電場の作用でその軌道が曲
げられる。２８ａ、２８ｂ、２８ｃはイオンの軌道を示
し、印加電圧との関係で軌道２８ａをとるイオンはスリ
ット２４を通って検出器２９に達し、そこで焦点を結ぶ
が、これよりも高い工ネルギーのイオン、低いエネルギ
ーのイオンは夫々軌道２８ｂ、２８ｃをとってスリット
板２２に阻止される。従って印加電圧を掃引することに
よって入射した荷電粒子のエネルギースペクトルを求め
ることができる。

ところがこのエネルギー分析器では軌道２８ｄをとって
検出器２つに達する低エネルギーのイオンが存在し、こ
れがノイズとなってエネルギー分離性能を劣化させてい
た。第３図はこの問題点を解決した、改良Ｂｅ５ｓｅｌ
型工ネルギー分析器であり、米国特許第４１４６７８７
号に示されている。

第３図において３１及び３２は夫々入射孔３３、出射孔
３４を有する入射板及び出射板であり、３５は円筒電極
、３６は電源、３７はストッパー、３８はメツシュであ
り、ストッパー３７はメツシュ３８に支持されて円筒電
極の中心軸上に配置されている。円筒電極３５及びメツ
シュ３８には電源３６から電圧が供給されている。スＩ
・ツバ−は中心軸上を通過するイオンを阻止する作用を
しく３） ており、入射板３１．出射板３２と合せて第２図の円環
状スリット２３．２４と同様の効果を奏している。２８
ｅはイオンの軌道を表す。

この第３図のエネルギー分析器においてはメツシュ３８
が低エネルギーのイオンに対して阻止電極として働くの
で、第２図の２８ｄのようなイオン軌道は存在せず、エ
ネルギー分離が完全に行なえる。

（ハ）解決しようとする問題点 第４図はこのようなエネルギー分析器を用いたＳＮＭＳ
装置の一例を示す。本図の装置においては、イオン銃４
］からイオンビーム４２を出射して試料４３を照射（ス
パッター）し、試料上の一点から出射する中性粒子４４
をイオン化部４５においてイオン化し、エネルギー分析
器４６．質量分析器４７を通して検出器４８で検出する
。

イオン化部においては中性粒子４４に電子ビームを照射
して粒子の軌道上でイオン化を行う。（イオン化部の出
口に引出し電極を設ける方法が一般に行われているが、
イオン化部内でイオン化された残留ガスを排除するには
スパッター粒子の軌道上でイオン化すること、即ち引出
し電極を設けないことが望ましい。この方法を用いたＳ
ＮＭＳ装置としては、エネルギー分析器としてＥＬＣＯ
レンズを用いたものが報告されているが、ＥＬＣＯレン
ズは効率が良くないので、（改良）Ｂｅｓｓｅｌ型エネ
ルギー分析器を用いることを考えた。） エネルギー分析器４６として（改良）Ｂｅｓｓｅｌ型エ
ネルギー分析器をもちいると、イオン軌道は入射側と出
射側が対称であるから、質量分析器４７の位置で結像さ
せるためには質量分析器４７をエネルギー分析器４６か
ら離して配置せねばならず、装置の寸法が大きくなって
しまう。本発明は以上の問題点を解決することを第一の
目的としている。

（ニ）問題点を解決するための手段 前記問題点を解決するため、本発明においては円筒電極
を２つに分割し、これら第１．第２の円筒電極に相異な
る電圧を印加できるようにした。

（ホ）作用 荷電粒子が出射する側の第２円筒電極に入射側の第１円
筒電極よりも高い電圧を印加することにより、結像位置
をエネルギー分析器に近付けることができる。

（へ）実施例 第１図は本発明の１実施例のエネルギー分析器を示す断
面図である。本図において、１は分析しようとする荷電
粒子が入射する孔３を有する入射板、２は入射した荷電
粒子が出射する孔４を有する出射板、５は第１円筒電極
、６は第２円筒電極、７はメツシュ電極、８はストッパ
ー、Ｖｌは第１円筒電極５とメツシュ電極７に電圧を供
給する電源、Ｖ２は第２円筒電極６に電圧を印加する電
源であり、入射板１と出射板２は接地している。

本図の分析器において一点Ｓから出射した荷電粒子９は
Ｖ１＝Ｖ２のときは軌道９ｂを通って点Ｐに収束するが
、Ｖｌ＜Ｖ２のときは軌道９ａをとって分析器に近い点
Ｐ−に収束（結像）する。

このエネルギー分析器においては、メツシュ電極７とこ
れより左側が荷電粒子に対してエネルギー・バイパス作
用をし、メツシュ電極７の右側がローパス作用とともに
収束作用をしていると言える。

第１図のエネルギー分析器を用いてエネルギースペクト
ルを測定するには、ＶｌとＶ２の比を一定に保ちＶ２（
またはＶｌ）を掃引する。第５図はこのようにして測定
したエネルギースペクトルの一例で、入射板から７０ｍ
ｍの距離においたエネルギー約２５ｅＶのＮａイオンを
測定した。Ｖ１／ｖ２を０．６，０．９，１．０の各々
に設定してＶ２を掃引し、結像点に置いた検出器（ファ
ラデーカップ）の電流■を測定した結果を示す。

このグラフから明らかなように、Ｖｌ＜Ｖ２の場合には
エネルギー分析器の感度が向上しているが、これは収束
性が良くなったためと思われる。

第６図は第１図のエネルギー分析器をＳＮＭＳに適用し
た一例を示す構成図である。本図においては、イオン銃
６１からイオンビーム６２を出射して試料６３をスパッ
タリングし、スパッター粒子６４をイオン化部６５でそ
の軌道上でイオン化し、エネルギー分析器６６に導く。

エネルギー分析器を通過したイオンは分析器６６のすぐ
後段に配置した質量分析器（四重極質量分析器）６７で
質量弁別して検出器６８によって検出する。

（ト）効果 第６図と第４図を比較すれば明らかなように、本発明を
適用すると極めてコンパクトでかつ感度及び分解能の良
いＳＮＭＳ装置が実現する。（ＳＮＭＳはＳＩＭＳと切
替えて実施できるよう設計するのが通常である。） 本発明における他の効果は、エネルギー分析器の感度の
向上と、印加電圧により結像位置を調節できることであ
る。これらの効果に着目すれば、本発明の適用範囲はＳ
ＮＭＳ、ＳＩＭＳに限定されず、ＥＳＣＡその他の荷電
粒子エネルギー分析器として種々の応用が可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す断面図、第２図及び第
３図は各々従来のエネルギー分析器を示す断面図、第４
図および第６図は本発明の効果を示すためのＳＮＭＳ装
置構成図、第５図は本発明のエネルギー分析器により測
定したエネルギースペクトルの一例を示す図である。 １・・・・・・入射板　　２・・・・・・出射板３．４
・・・・・・孔　　５・・・・・・第１円筒電極６・・
・・・・第２円筒電極　　７・・・・・・メツシュ電極
８・・・・・・ストッパー　　９・・・・・・荷電粒子
９ａ、９ｂ・・・・・・軌道　　Ｖ２．Ｖｌ・・・・・
・電源Ｓ・・・・・・イオン出射点 Ｐ、Ｐ−・・・・−・結像点（収束点）Ｖ２　　（Ｖ）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）荷電粒子が入射する孔を有する入射板と、入射し
   た荷電粒子が出射する孔を有する出射板と、これら入射
   板と出射板との間に配置した円筒電極と、円筒電極中央
   部に配置したメッシュ電極と、円筒電極の中心軸上に配
   置したストッパーとによって構成される荷電粒子のエネ
   ルギー分析器において、 前記円筒電極を第１及び第２の円筒電極に分割して構成
   し、これら第１、第２の円筒電極に相異なる電圧を印加
   できるようにしたことを特徴とするエネルギー分析器。