JPH0161676U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0161676U JPH0161676U JP15675987U JP15675987U JPH0161676U JP H0161676 U JPH0161676 U JP H0161676U JP 15675987 U JP15675987 U JP 15675987U JP 15675987 U JP15675987 U JP 15675987U JP H0161676 U JPH0161676 U JP H0161676U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- holding member
- circuit board
- guide column
- fixed plate
- pin board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 4
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims 3
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を示す回路基板検査
装置の正面図、第２図は第１図の右側面図、第３
図は第２図の要部拡大部分断面図である。 １……支持ベース、２……案内支柱、３……固
定板、４，８……コンタクトピン、５……上部ピ
ンボード、６……下部ピンボード、７……可動板
、９……保持部材、１０……下部圧縮ばね、１１
……上部圧縮ばね、１６……引出板、２１……固
定軸、２２……ガイド孔、２３……規制手段、２
３ａ……ストツパ、２３ｂ……クツシヨン材、２
５……逃げ孔、Ｗ……回路基板、Ｇ……上下間隔
。
装置の正面図、第２図は第１図の右側面図、第３
図は第２図の要部拡大部分断面図である。 １……支持ベース、２……案内支柱、３……固
定板、４，８……コンタクトピン、５……上部ピ
ンボード、６……下部ピンボード、７……可動板
、９……保持部材、１０……下部圧縮ばね、１１
……上部圧縮ばね、１６……引出板、２１……固
定軸、２２……ガイド孔、２３……規制手段、２
３ａ……ストツパ、２３ｂ……クツシヨン材、２
５……逃げ孔、Ｗ……回路基板、Ｇ……上下間隔
。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ 支持ベースに複数の案内支柱を植設し、各案
内支柱の上部に、下向きのコンタクトピンを有す
る上部ピンボードを備えた固定板を支持し、この
固定板の下位の前記案内支柱に、上向きのコンタ
クトピンを有する下部ピンボードを備えた可動板
を上方に向かつて移動自在に支持し、この下部ピ
ンボードの上位でしかも前記上部ピンボードの下
位において、前記各案内支柱に上下摺動自在に保
持部材を嵌装し、固定板と保持部材との間に上部
圧縮ばねを、可動板と保持部材との間に下部圧縮
ばねをそれぞれ介装して保持部材を浮動状態にし
、かつ保持部材に、上下両面に被検査部を有する
回路基板を着脱自在に保持する手段を設けた回路
基板検査装置において、前記固定板に、下方向に
垂直に延びて保持部材をスライド可能に貫通する
固定軸を設け、かつこの固定軸に、保持部材の下
方への移動を規制する規制手段を設けたことを特
徴とする回路基板検査装置。 ２ 規制手段は、ストツパとストツパの上面に配
されたクツシヨン材とを備え、クツシヨン材と保
持部材下面との間には、狭い上下間隔が設けられ
ていることを特徴とする実用新案登録請求の範囲
第１項記載の回路基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15675987U JPH0624783Y2 (ja) | 1987-10-15 | 1987-10-15 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15675987U JPH0624783Y2 (ja) | 1987-10-15 | 1987-10-15 | 回路基板検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0161676U true JPH0161676U (ja) | 1989-04-19 |
| JPH0624783Y2 JPH0624783Y2 (ja) | 1994-06-29 |
Family
ID=31435587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15675987U Expired - Lifetime JPH0624783Y2 (ja) | 1987-10-15 | 1987-10-15 | 回路基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0624783Y2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006051643A1 (ja) * | 2004-11-15 | 2006-05-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 基板検査装置 |
| CN110940540A (zh) * | 2019-12-25 | 2020-03-31 | 厦门弘信电子科技股份有限公司 | 测试标记一体治具 |
-
1987
- 1987-10-15 JP JP15675987U patent/JPH0624783Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006051643A1 (ja) * | 2004-11-15 | 2006-05-18 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | 基板検査装置 |
| JP2006138808A (ja) * | 2004-11-15 | 2006-06-01 | Mitsubishi Electric Corp | 基板検査装置 |
| CN110940540A (zh) * | 2019-12-25 | 2020-03-31 | 厦门弘信电子科技股份有限公司 | 测试标记一体治具 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0624783Y2 (ja) | 1994-06-29 |
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