JPH0138502Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 (1) 考案の技術分野 この考案は、加熱炉内物体の温度を測定する装
置に関するものである。

(2) 従来技術 密閉された加熱炉内の物体の温度を測定するに
は放射温度計を利用して非接触にて測定する方法
がある。この場合、炉壁から放射される放射エネ
ルギーが物体を反射して放射温度計に入射する等
のため、正確な物体の温度を測定することは困難
であつた。この為、従来炉壁の温度を測定して補
正を行う方法が提案されているが、装置が複雑に
なる欠点があつた。

(3) 考案の目的 この考案の目的は、以上の点に鑑み、走査型放
射温度計を用いて加熱炉内の測定物体の正しい温
度を測定するようにした加熱炉内物体の測温装置
を提供することである。

(4) 考案の実施例 第１図は、この考案の一実施例を示す構成説明
図である。

図において、１は加熱炉、２は加熱炉１内に位
置し、図示しない加熱体により加熱される測定物
体、３は測定物体２の両側に設けられ水冷等で低
温とされ低放射率の基準体、４は、測定物体２、
基準体３を有効走査角θで一次元走査し、その走
査位置に対応して測定物体２、基準体３の測定温
度信号を出力する走査型放射温度計、５は走査型
放射温度計の出力信号の補正演算を行い測定物体
の正しい温度信号を出力端子６より出力する演算
装置である。

つまり、走査型放射温度計４の出力温度パター
ン波形は第２図のＡで示すように、波高値Ｖの測
定物体２の温度、その両側のＢで示すように低い
波高値V′の基準体３の温度に対応するようなも
のとなる。

ここで、測定物体２の温度をＴ、放射率をε、
基準体の温度をTo、放射率をε′、加熱炉１の温
度をTω、放射率をεω、温度Ｔにおける物体の黒
体相当の放射エネルギーをＲ（Ｔ）とすれば、次
式が成り立つ。

Ｖ＝εR（Ｔ）＋（１−ε）εωR（Tω） ……(1) V′＝εR（To）＋（１−ε′）εωR（Tω） ……(2) (1)式の第１項は、測定物体２からの放射エネル
ギー、第２項は加熱炉１の炉壁から放射されるエ
ネルギーが測定物体２で反射して走査型放射温度
計４に入射する放射エネルギー、(2)式の第１項
は、基準体３の放射エネルギー、第２項は基準体
３で反射された炉壁の放射エネルギーである。

ところで、基準体３の温度Toは測定物体２の
温度Ｔより十分小さいものとされているので(2)式
の第１項は無視でき、次式が成り立つ。

εωR（Tω）＝V′／１−ε′ ……(3) これを(1)式に代入すると、 Ｖ＝εR（Ｔ）＋１−ε／１−ε′V′ ……(4) となり、これより Ｒ（Ｔ）＝Ｖ／ε−１−ε／１−ε′V′ ……(5) が成り立つ。ここで放射率ε，ε′はあらかじめ測
定されて既知であり、Ｖ，V′は走査型放射温度
計４により求まるので、演算装置５により、(5)式
のような演算を行うことにより、測定物体２の正
しい温度Ｔが求まることになる。

(5) 考案の要約 以上述べたように、この考案は、加熱炉内物体
およびその両側に設けられた低温の基準体を走査
型放射温度計で走査し、演算装置により、測定物
体の測定信号を基準体の測定信号により補正演算
し、測定物体の正しい温度を測定するようにした
加熱炉内物体の測温装置である。

(6) 考案の効果 従つて、低温の基準体と測定物体とを１個の走
査型放射温度計により走査して測温の後、補正演
算をするという簡単な構成により、加熱炉内の物
体の実際の温度である実体温度の測定が容易かつ
正確に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この考案の一実施例を示す構成説明
図、第２図は、動作説明用の波形図である。 １……加熱炉、２……測定物体、３……基準
体、４……走査型放射温度計、５……演算装置。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 加熱炉内の測定物体およびこの測定物体の両側
   に設けられた低温とされ低放射率の基準体を走査
   する走査型放射温度計と、この走査型放射温度計
   の測定物体の測定信号Ｖを、基準体の測定信号
   V′ならびに測定物体の放射率εおよび基準体の
   放射率ε′に基き次式の補正演算をし（Ｒ（Ｔ）は
   温度Ｔの物体の黒体相当の放射エネルギー）、 Ｒ（Ｔ）＝Ｖ／ε −（１−ε）V′／（１−ε′） 前記測定物体の正しい温度Ｔを演算する演算装
   置とを備えたことを特徴とする加熱炉内物体の測
   温装置。