JPH0136579B2 - - Google Patents

Description

請求の範囲 １ 加熱炉の中に置かれ、試験標本が充される容
器３と、試験標本４に接触する電気物理的特性伝
達器７と、加熱炉２に連結され、かつ相互に接続
される加熱炉温度測定ユニツト９と、試験標本容
器３に連結されるスタート・ストツプ・ユニツト
１０と、電気物理的特性伝達器７に電気的に接続
される電気物理的特性値指示器１２を含む試験標
本電気物理的特性測定ユニツト１１とを備える粘
結剤と中子砂との硬化時間を決定する測定装置で
あつて、試験標本電気物理的特性測定ユニツト１
１には、電気物理的特性値指示器１２、電気物理
的特性伝達器７、スタート・ストツプ・ユニツト
１０、および加熱炉温度測定ユニツト９に電気的
に接続される電気物理的特性変換器１３が更に設
けられることを特徴とする粘結剤と中子砂との硬
化時間を決定する測定装置。

２ 請求の範囲の第１項に記載の装置であつて、
電気物理的特性変換器１３は、電気物理的特性伝
達器７に接続される信号変換ユニツト１５と、試
験標本硬化時間記録ユニツト１６と、蓄積ユニツ
ト１７と、それらの各ユニツトに接続されるデー
タ表示ユニツト１９と、試験標本硬化時間記録ユ
ニツト１６に接続される電気物理的特性標本化時
間ユニツト１８と、試験標本硬化時間記録ユニツ
ト１６と電気物理的特性標本化時間ユニツト１８
に接続されるパルス発生器２０と、信号変換ユニ
ツト１５に接続される制御ユニツト２１と、試験
標本硬化時間記録ユニツト１６と蓄積ユニツト１
７に接続される電気物理的特性値比較ユニツト２
２とを備え、前記信号変換ユニツト１５と試験標
本硬化時間記録ユニツト１６および蓄積ユニツト
１７は互いに直列に接続され、試験標本硬化時間
記録ユニツト１６と電気物理的特性標本化時間ユ
ニツト１８は相互に接続され、制御ユニツト２１
は試験標本硬化時間記録ユニツト１６と蓄積ユニ
ツト１７にも接続され、蓄積ユニツト１７は信号
変換ユニツト１５に接続されることを特徴とする
装置。

３ 請求の範囲の第２項に記載の装置であつて、
信号変換ユニツト１５は、電気物理的特性伝達器
７に接続される主変換器２３と、制御ユニツト２
１に接続されるアナログ−デジタル変換器２５と
相互に接続して備えることを特徴とする装置。

４ 請求の範囲の第２項に記載の装置であつて、
試験標本硬化時間記録ユニツト１６は、単一パル
ス整形器３１と、フリツプフロツプ３２と、主ア
ンド回路３５と、試験標本硬化時間計３６と、補
助アンド回路３７と、現在時間計４０と、主スイ
ツチング・ユニツト４１と、データ出力制御回路
４３とを備え、前記単一パルス整形器３１と、前
記フリツプフロツプ３２と、前記主アンド回路３
５と、前記試験標本硬化時間計３６とは互いに直
列接続され、前記補助アンド回路３７と、前記主
スイツチング・ユニツト４１と、前記データ出力
制御回路４３とは互いに直列接続され、前記補助
アンド回路３７の１つの入力端子３８は主アンド
回路３５の別の入力端子３９といつしよにパルス
発生器２０へ接続され、データ出力制御回路４３
の別の入力端子５３は単一パルス整形器３１の入
力端子５１および試験標本硬化時間計３６の別の
入力端子５２といつしよに制御ユニツト２１へ接
続され、データ出力制御回路４３のもう１つの入
力端子４５は補助スイツチング・ユニツト４６に
接続され、補助スイツチング・ユニツト４６の１
つの入力端子４８は主スイツチング・ユニツト４
１の別の入力端子４７といつしよに時間記録計５
０に接続され、フリツプフロツプ３２の別の入力
端子５５と、補助アンド回路３７の別の入力端子
５６と、現在時間計４０の別の入力端子５７とは
制御ユニツト２１へ接続され、フリツプフロツプ
３２の出力端子は蓄積ユニツト１７へ接続され、
時間記録計５０の入力端子５９と、補助スイツチ
ング・ユニツト４６の別の入力端子５８と、デー
タ出力制御回路４３の最後の入力端子６０とは電
気物理的特性標本化時間ユニツト１８と、信号変
換ユニツト１５と、電気物理的特性値比較ユニツ
ト２２とにそれぞれ接続されることを特徴とする
装置。

５ 請求の範囲の第４項に記載の装置であつて、
蓄積ユニツト１７は、主単一パルス整形器６１
と、主オア回路６２と、主遅延素子６７と、フリ
ツプフロツプ６８と、補助単一パルス整形器７６
と、主蓄積レジスタ７７と、補助遅延素子７２
と、２つの蓄積レジスタ８１および８２とを備
え、主単一パルス整形器６１の入力端子は試験標
本硬化時間記録ユニツト１６のフリツプフロツプ
３２へ接続され、主蓄積レジスタ７７の別の入力
端子８３は補助オア回路６６へ接続され、この補
助オア回路６６の１つの入力端子６４は主遅延素
子６７の入力端子６５へ接続され、主単一パルス
整形器６１と、主オア回路６２と、主遅延素子６
７と、フリツプフロツプ６８と、補助単一パルス
整形器７６とは互いに直列に接続され、補助遅延
素子７２の入力端子７１はフリツプフロツプの別
の入力端子７０といつしよに電気物理的特性標本
化時間ユニツト１８へ接続され、一方の補助蓄積
レジスタ１つの入力端子７９は主単一パルス整形
器６１へ接続され、他方の補助蓄積レジスタの１
つの入力端子８４は補助オア回路６６へ接続さ
れ、他方の補助蓄積レジスタの別の入力端子８０
は補助遅延素子７２の入力端子７１に接続され、
主および補助の蓄積レジスタ７７，８１，８２の
他の入力端子８７，８６，８８は信号変換ユニツ
ト１５のアナログ−デジタル変換器２５へいつし
よに接続され、主オア回路６２のもう１つの入力
端子９２と補助遅延素子７２の出力端子は電気物
理的特性値比較ユニツト２２へ接続され、補助オ
ア回路６６の入力端子９３は制御ユニツト２１へ
接続されることを特徴とする装置。

６ 請求の範囲の第５項に記載の装置であつて、
電気物理的特性標本化時間ユニツト１８は、直列
接続されたアンド回路９４とカウンタ９５および
デコーダ９９ならびに単一パルス整形器１０１を
備え、アンド回路９４の入力端子１０３，１０４
はパルス発生器２０と蓄積ユニツト１７のフリツ
プフロツプ６８にそれぞれ接続され、カウンタ９
５は基準入力素子９８へ接続され、カウンタ９５
の別の入力端子１０５は蓄積ユニツト１７の補助
オア回路６６へ接続されることを特徴とする装
置。

７ 請求の範囲の第６項に記載の装置であつて、
制御ユニツト２１は、主アンド回路１１０の１つ
の入力端子１０８に接続される主しきい値素子１
０６と、主アンド回路１１０の別の入力端子１０
９と補助アンド回路１１５の１つの入力端子１１
４に接続される補助しきい値素子１０７と、主ア
ンド回路１１０のもう１つの入力端子１１１に接
続される単一パルス整形器１１２と、この単一パ
ルス整形器１１２の入力端子１１６と補助アンド
回路１１５の他の入力端子１１７に出力端子が接
続されるフリツプフロツプ１１８と、このフリツ
プフロツプ１１８の１つの入力端子１１９といつ
しよに１つの入力端子１２１がスタート・ストツ
プ・ユニツト１０へ接続されるオア回路１２３と
を備え、オア回路１２３の他の入力端子１２２は
電気物理的特性値比較ユニツト２２へ接続され、
主および補助しきい値素子１０６，１０７の入力
端子は加熱炉温度測定ユニツト９と信号変換ユニ
ツト１５の主変換器２３とに接続されることを特
徴とする装置。

技術分野 本発明は鋳造工場の業務に関するものであり、
更に詳しくいえば粘結剤および中子砂の硬化時間
を決定するための測定装置に関するものである。

背景技術 粘結剤と中子砂との性質を評価する場合には、
その硬化時間を決定することがしばしば問題であ
る。

中子砂が詰められる容器と、中子砂に接触する
中子砂電気物理的特性伝達器と、加熱炉に連結さ
れ、かつ相互に接続される加熱炉温度測定ユニツ
トと、中子砂容器に連結されるスタート・ストラ
ツプ・ユニツトと、中子砂電気物理的特性伝達器
に電気的に接続された中子砂電気物理的特性指示
器を含む中子砂電気物理的特性測定ユニツトとを
備える、中子砂の硬化時間を決定する測定装置が
知られている（1977年３月９日付のソ連邦発明者
証第563609号参照）。

しかし、上記の装置は導電度の記録されている
値に対して硬化プロセスを視覚的にモニタするだ
けである。

更に、上記の装置を用いる際には、測定時間の
処理と硬化時間の決定は、電気物理的特性値指示
計上の導電度変化カーブの代表的な点を測定する
ことにより手動で行われているが、そのために測
定確度がかなり損われ、測定プロセスに時間と人
手がかかる。

発明の開示 求められているものは、測定確度を高くすると
ともに、測定プロセスにかかる時間をかなり短縮
するような種類の補助ユニツトを含む、粘結剤と
中子砂の硬化時間を決定する測定装置である。

本発明は、加熱炉の中に置かれ、試験標本が充
される容器と、試験標本に接触する電気物理的特
性伝達器と、加熱炉に連結され、かつ相互に接続
される加熱炉温度測定ユニツトと、試験標本容器
に連結されるスタート・ストツプ・ユニツトと、
電気物理的特性伝達器に電気的に接続される電気
物理的特性値指示器を含む試験標本電気物理的特
性測定ユニツトとを備える粘結剤と中子砂との硬
化時間を決定する測定装置であつて、試験標本電
気物理的特性測定ユニツトには電気物理的特性値
指示器と、電気物理的特性伝達器と、スタート・
ストツプ・ユニツトと、加熱炉温度測定ユニツト
とに電気的に接続される電気物理的特性変換器が
更に設けられる、粘結剤と中子砂との硬化時間を
決定する測定装置を提供するものである。

電気物理的特性変換器には、電気物理的特性伝
達器に接続される信号変換ユニツトと、試験標本
硬化時間記録ユニツトと、蓄積ユニツトと、それ
らの各ユニツトに接続されるデータ表示ユニツト
と、試験標本硬化時間記録ユニツトに接続される
電気物理的特性標本化時間ユニツトと、試験標本
硬化時間記録ユニツトと電気物理的特性標本化時
間ユニツトに接続されるパルス発生器と、信号変
換ユニツトに接続される制御ユニツトと、試験標
本硬化時間記録ユニツトと蓄積ユニツトに接続さ
れる電気物理的特性値比較ユニツトとが適当に設
けられ、前記信号変換ユニツトと試験標本硬化時
間記録ユニツトおよび蓄積ユニツトは互いに直列
に接続され、試験標本硬化時間記録ユニツトと電
気物理的特性標本化時間ユニツトは相互に接続さ
れ、制御ユニツトは試験標本硬化時間記録ユニツ
トと蓄積ユニツトにも接続され、蓄積ユニツトは
信号変換ユニツトにも接続される。

信号変換ユニツトは相互に接続された主変換器
とアナログ−デジタル変換器をなるべく備えるよ
うにする。主変換器は電気物理的特性伝達器に接
続され、アナログ−デジタル変換器は制御ユニツ
トに接続される。

試験標本硬化時間記録ユニツトは、単一パルス
整形器と、フリツプフロツプと、主アンド回路
と、試験標本硬化時間計と、補助アンド回路と、
現在時間計と、主スイツチング・ユニツトと、デ
ータ出力制御回路とをなるべく備え、前記単一パ
ルス整形器と、前記フリツプフロツプと、前記主
アンド回路と、前記試験標本硬化時間計とは互い
に直列接続され、前記補助アンド回路と、前記主
スイツチング・ユニツトと、データ出力制御回路
とは互に直列に接続され、前記補助アンド回路の
１つの入力端子は主アンド回路の別の入力端子と
いつしよにパルス発生器に接続され、データ出力
制御回路の別の入力端子は単一パルス整形器の入
力端子および試験標本硬化時間計の別の入力端子
といつしよに制御ユニツトに接続され、データ出
力制御回路のもう１つの入力端子は補助スイツチ
ング・ユニツトに接続され、補助スイツチング・
ユニツトの１つの入力端子は主スイツチング・ユ
ニツトの別の入力端子といつしよに時間記録計へ
接続され、フリツプフロツプの別の入力端子と、
補助アンド回路の別の入力端子と、現在時間計の
別の入力端子とは制御ユニツトへ接続され、フリ
ツプフロツプの出力端子は蓄積ユニツトへ接続さ
れ、時間記録計の入力端子と、補助スイツチン
グ・ユニツトの別の入力端子と、データ出力制御
回路の最後の入力端子とは電気物理的標本化時間
ユニツトと、信号変換ユニツトと、電気物理的特
性値比較ユニツトとにそれぞれ接続される。

蓄積ユニツトは主単一パルス整形器と、主オア
回路と、主遅延素子と、フリツプフロツプと、補
助単一パルス整形器と、主蓄積レジスタと、補助
遅延素子と、２つの補助蓄積レジスタとをなるべ
く備え、主単一パルス整形器と、主オア回路と、
主遅延素子と、フリツプフロツプと、補助単一パ
ルス整形器と、主蓄積レジスタとは直列に接続さ
れ、主単一パルス整形器の入力端子は試験標本硬
化時間記録ユニツトのフリツプフロツプへ接続さ
れ、主蓄積レジスタの別の入力端子は補助オア回
路へ接続され、この補助オア回路の１つの入力端
子は主遅延素子の入力端子に接続され、補助遅延
素子の入力端子はフリツプフロツプの別の入力端
子といつしよに電気物理的特性標本化時間ユニツ
トへ接続され、一方の蓄積レジスタの１つの入力
端子は主単一パルス整形器へ接続され、他方の蓄
積レジスタの１つの入力端子は補助オア回路へ接
続され、前記他方の蓄積レジスタの別の入力端子
は補助遅延素子の入力端子に接続され、主蓄積レ
ジスタの別の入力端子と補助蓄積レジスタの別の
入力端子は信号変換ユニツトのアナログ−デジタ
ル変換器へいつしよに接続され、主オア回路のも
う１つの入力端子と補助遅延素子の出力端子は電
気物理的特性値比較ユニツトへ接続され、補助オ
ア回路の入力端子は制御ユニツトへ接続され、回
路の出力端子は補助蓄積レジスタの出力端子およ
び補助遅延素子の入力端子といつしよに電気物理
的特性標本化時間ユニツトへ接続される。

電気物理的特性標本化時間ユニツトはアンド回
路と、カウンタと、デコーダと、単一パルス整形
器とを直列接続にしてなるべく備え、アンド回路
の入力端子はパルス発生器と蓄積ユニツトのフリ
ツプフロツプにそれぞれ接続され、カウンタは基
準入力素子へ接続され、カウンタの別の入力端子
は蓄積ユニツトの補助オア回路へ接続される。

制御ユニツトは主アンド回路の１つの入力端子
に接続される主しきい値素子と、主アンド回路の
別の入力端子と補助アンド回路の１つの入力端子
に接続される補助しきい値素子と、主アンド回路
のもう１つの入力端子に接続される単一パルス整
形器と、出力端子が単一パルス整形器の入力端子
と補助アンド回路の別の入力端子へ接続されるフ
リツプフロツプと、オア回路とをなるべく備え、
オア回路の１つの入力端子はフリツプフロツプの
１つの入力端子といつしよにスタート・ストツ
プ・ユニツトに接続され、フリツプフロツプの別
の入力端子は電気物理的特性値比較ユニツトへ接
続され、主しきい値素子と補助しきい値素子との
入力端子は加熱炉温度測定ユニツトと信号変換ユ
ニツトの主変換器へそれぞれ接続される。

本発明により粘結剤と中子砂の硬化時間を自動
的に決定することが可能となり、したがつて測定
プロセスに要する時間を短くし、その測定確度を
高くすることが可能となる。

また、本発明により、得られたデータを処理の
ためにコンピユータに入れることができるととも
に、中子砂の用意プロセスと中子製作プロセスと
の制御装置に用いることができる。

本発明により、得た全てのデータを処理し、最
終結果をすぐに使用できる形で示すことができ
る。

【図面の簡単な説明】

以下、図面を参照して本発明を実施例について
更に説明する。

第１図は加熱炉の断面図とともに示されている
粘結剤および中子砂の硬化時間を決定するための
測定装置の機能的線図、第２図は電気物理的特性
変換器のブロツク図、第３図は信号変換ユニツト
のブロツク図、第４図は試験標本硬化時間記録ユ
ニツトのブロツク図、第５図は蓄積ユニツトのブ
ロツク図、第６図は電気物理的特性標本化時間ユ
ニツトのブロツク図、第７図は制御ユニツトのブ
ロツク図である。

発明を実施する好適なモード 図面とくに第１図を参照して、粘結剤と中子砂
の硬化時間を決定する測定装置は、ベース１の上
に設置される加熱炉２を有する。この加熱炉２の
中には試験標本４（たとえば中子砂）が充されて
いる容器３（殻３とも呼ぶ）が入れられる。試験
標本４に接触する電気物理的特性伝達器７が炉２
のカバー５と殻３のカバー６とに設けられている
穴を通つて延ばされる。炉２は炉２のボデー内に
設けられている加熱素子８により加熱される。炉
２の内面に加熱炉温度測定ユニツト９が連結され
る。ベース１の上には殻３にリンクされたスター
ト・ストツプ・ユニツト１０がとりつけられる。
この測定装置は試験標本電気物理特性測定ユニツ
ト１１も有する。このユニツト１１は電気物理的
特性値指示器１２と、この指示器１２に接続され
る電気物理的特性変換器１３とを有する。この変
換器１３は伝達器７とユニツト９，１０に電気的
に接続される。指示器１２は記録器（図示せず）
に接続するための別の出力端子１４を有する。

電気物理的特性変換器１３は信号変換ユニツト
１５（第２図）と、試験標本硬化時間記録ユニツ
ト１６と、蓄積ユニツト１７と、電気物理的特性
標本化時間ユニツト１８とを有する。これらのユ
ニツト１５，１６，１７，１８は互いに直列接続
される。ユニツト１５，１６，１７にデータ表示
ユニツト１９が接続される。ユニツト１５はユニ
ツト１７へ接続され、ユニツト１６はユニツト１
８へ接続される。パルス発生器２０がユニツト１
６，１８に接続される。

変換器１３は制御ユニツト２１と、電気物理的
特性値比較ユニツト２２も有する。これらのユニ
ツト２１と２２は互いに接続される。ユニツト２
１はユニツト１５，１６，１７へ接続され、ユニ
ツト２２はユニツト１６，１７へ接続される。

信号変換ユニツト１５（第２，３図）は主変換
器２３を有する。この主変換器２３の出力端子２
４はアナログ−デジタル変換器２５の入力端子２
６へ接続される。変換器２３の入力端子２７が伝
達器７へ接続され、変換器２３の出力端子２４と
変換器２５の入力端子２８は変換器１３のユニツ
ト２１へ接続される。変換器２５の出力端子２９
はユニツト１９へ接続され、出力端子３０はユニ
ツト１６，１７に接続される。

試験標本硬化時間記録ユニツト１６はフリツプ
フロツプ３２の入力端子３３に接続される単一パ
ルス整形器３１（第４図）を有する。トリガ３２
の出力端子はアンド回路３５の入力端子３４へ接
続される。アンド回路３５の出力端子は試験標本
硬化時間計３６に接続される。ユニツト１６は補
助アンド回路３７も有する。このアンド回路３７
の入力端子３８はアンド回路３７の入力端子３９
といつしよにパルス発生器２０に接続される。ア
ンド回路３７はメータ４０に接続される。このメ
ータの出力端子は主スイツチング・アセンブリ４
１の入力端子４２へ接続される。データ出力制御
回路４３の入力端子４４が主スイツチング・ユニ
ツト４１に接続される。補助スイツチング・ユニ
ツト４６が回路４３の入力端子４５へ接続され
る。ユニツト４１，４６のそれぞれの入力端子４
７，４８は接続点４９へいつしよに接続される。
この点４９には時間記録計５０が接続される。形
成器３１と、メータ３６と、回路４３とのそれぞ
れの入力端子５１，５２，５３は接続点５４へい
つしよに接続される。フリツプフロツプ３２と、
アンド回路３７と、メータ４０とのそれぞれの入
力端子５５，５６，５７はユニツト２１へ接続さ
れる。ユニツト４６と、メータ５０と、回路４３
とのそれぞれの入力端子５８，５９，６０はユニ
ツト１５，１８，２２へそれぞれ接続される。

蓄積ユニツト１７はオア回路６２の入力端子６
３へ接続される主単一パルス整形器６１（第５
図）を有する。オア回路６２へは補助オア回路６
６と主遅延素子６７のそれぞれの入力端子６４，
６５がいつしよに接続される。素子６７はフリツ
プフロツプ６８の入力端子６９へ接続され、フリ
ツプフロツプ６８の入力端子７０は、ユニツト１
８に接続されている点７３に、補助遅延素子７２
の入力端子７１といつしよに接続される。フリツ
プフロツプ６８の出力端子７４は補助単一パルス
整形器７６の入力端子７５へ接続される。この整
形器７６は主蓄積レジスタ７７の入力端子７８へ
接続される。整形器６１と点７３は補助蓄積レジ
スタ８１，８２のそれぞれの入力端子７９，８０
へそれぞれ接続される。レジスタ７７，８２のそ
れぞれの入力端子８３，８４は点８５にいつしよ
に接続されるとともに、オア回路６６へ接続され
る。レジスタ８１，７７，８２のそれぞれの入力
端子８６，８７，８８は点８９と変換器２５の入
力端子３０にいつしよに接続される。レジスタ８
１，８２のそれぞれの入力端子９０，９１はユニ
ツト１９へ接続される。オア回路６２，６６の入
力端子９２，９３はユニツト２２，２１へそれぞ
れ接続される。

電気物理的特性標本化時間ユニツト１８はカウ
ンタ９５（第６図）の入力端子９６へ接続される
アンド回路９４を有する。カウンタ９５の入力端
子９７は基準入力素子９８へ接続される。メータ
９５はデコーダ９９の入力端子１００へ接続さ
れ、デコーダ９９は単一パルス整形器１０１の入
力端子１０２へ接続される。アンド回路９４の入
力端子１０３，１０４がパルス発生器２０と、フ
リツプフロツプ６８（第５図）の出力端子７４へ
それぞれ接続される。メータ９５（第６図）の入
力端子１０５が点８５でオア回路６６（第５図）
の出力端子へ接続される。

制御ユニツト２１は、主アンド回路１１０（第
７図）の入力端子１０８，１０９へそれぞれ接続
される主および補助しきい値素子１０６，１０７
を有する。アンド回路１１０の入力端子１１１に
単一パルス整形器１１２が接続される。素子１０
７がアンド回路１１５の入力端子１１４へ接続さ
れ、アンド回路１１０の入力端子１０９が点１１
３にいつしよに接続される。アンド回路１１５の
入力端子１１７といつしよに接続されている整形
器１１２の入力端子１１６がフリツプフロツプ１
１８へ接続される。このフリツプフロツプ１１８
は入力端子１１９，１２０を有し、その入力端子
１１９はオア回路１２３の入力端子１２１，１２
２の最初のものにいつしよに接続される。

次に、粘結剤と中子砂の硬化時間を決定するこ
の測定装置の動作を説明する。

試験標本４（中子砂）が充されている殻３（第
１図）が加熱炉２の中に置かれると、スタート・
ストツプ・ユニツト１０が動作し、試験標本電気
物理的特性測定ユニツト１１が割込まされる。こ
の場合には、ユニツト１０から電気物理的特性変
換器１３へ信号が与えられる。それと同時に、電
気物理的特性伝達器７と加熱炉温度測定ユニツト
９から変換器１３へ信号が与えられる。変換器１
３で不完全に処理されたデータは電気物理的特性
値指示器１２と、装置出力端子である変換器１３
の１つの出力端子に同時に現われる。それらのデ
ータは、中子砂の用意と、中子を製作するプロセ
スとを制御するためにコンピユータにおいて更に
使用できる。装置の他の出力端子である変換器１
３の他の出力端子からは、中子砂の硬化プロセス
をモニタするために用いられる完全に処理された
データが与えられる。

電気物理的特性変換器は次のように動作する。

ユニツト１０（第１，２図）からの信号が制御
ユニツト２１へ与えられる。この制御ユニツトは
測定プロセスを開始させる命令を発生する。この
命令は信号変換ユニツト１５へ与えられる。伝達
器７からの信号によりユニツト１５は測定プロセ
スと測定データの変換プロセスを開始する。ユニ
ツト１５からの信号が試験標本硬化時間記録ユニ
ツト１６と、データ表示ユニツト１９へ与えられ
る。ユニツト２１からの命令によりユニツト１６
は試験標本４の電気物理的特性の初期値を記録
し、データをユニツト１９と蓄積ユニツト１７へ
送り、更に必要があれば、プロセス制御測置にお
いてデータを用いるためにコンピユータへ送る。
ユニツト１７が試験標本４の電気物理的特性の測
定の最初の結果を受けて蓄積した後で、ユニツト
１７は計時を開始させる命令を発生してその命令
を電気物理的特性標本化時間ユニツト１８へ送
る。その時間が切れると、ユニツト１８は試験標
本４の電気物理的特性の新しい値を貯えさせる指
令を発生して、その指令をユニツト１７へ与え
る。その後で、ユニツト１７は電気物理的特性値
比較ユニツト２２をトリガする。試験標本４の硬
化プロセスがまだ終つていなければ、比較された
測定の第１と第２の結果は互いに異なる。この場
合には、差信号が発生され、その差信号はユニツ
ト１６へ与えられ、そのためにユニツト１６はリ
セツト指令を発生する。

ユニツト１７は試験標本４の電気物理的特性の
第１の新しい値を貯え、ユニツト１８は再びトリ
ガされて、予め設定されている時間間隔を計る。
それから、ユニツト１７は試験標本４の電気物理
的特性の第２の値を貯え、ユニツト２２は新しい
測定結果対を比較する。

引き続く２つの測定結果は互いに異なり、硬化
プロセスが終るまでこのサイクルがくり返えされ
る。試験標本４の硬化プロセスの終了は、試験標
本４の電気物理的特性の１つの測定サイクルの第
１の結果と第２の結果が等しくなることにより示
される。この場合には、その等しいことを示す信
号がユニツト２２により発生されて、その信号は
ユニツト２１へ与えられる。そして、ユニツト２
１は試験標本電気物理的特性測定ユニツト１１の
動作の終了を制御する。

全測定サイクルの間に、ユニツト１９は試験標
本４の電気物理的特性の最初の値と現在の値を表
示し、硬化プロセスが終つた時に、硬化プロセス
終了に対応する特性値を表示する。また、ユニツ
ト１９は硬化プロセス終了時刻と現在の時刻を表
示する。試験標本４の特性の類似データをコンピ
ユータへ入れるために出力させることができる。
硬化プロセスが終つた後はそれらのデータは与え
られ続け、試験標本４の品質特性の判定を可能に
する。試験標本４の特性データの記録は、ユニツ
ト１０により発生されてユニツト２１により与え
られる命令により完全に終了させられる。その結
果、この装置はリセツトされる。

信号変換ユニツト１５は次のように動作する。
試験標本４の電気物理的特性に比例する信号が伝
達器７（第１，２，３図）からユニツト１５（第
２，３図）の入力端子２７へ与えられる。この信
号は主変換器２３により処理される。その変換器
の出力端子には、アナログ−デジタル変換器２５
の入力パラメータに一致する電気的パラメータを
有する信号が生ずる。変換器２５は、制御ユニツ
ト２１から変換器の入力端子２８へ可能化信号が
与えられた時に得た信号の数値コードへの変換を
行い、その数値コードは出力端子２９，３０から
ユニツト１６，１７，１９へそれぞれ与えられ、
出力端子２４からの信号もユニツト２１へ与えら
れる。

試験標本硬化時間記録ユニツト１６は次のよう
に動作する。

ユニツト２１（第２，４図）からフリツプフロ
ツプ３２の入力端子５５へ与えられた信号により
フリツプフロツプ２１は動作させられ、その出力
端子に信号が発生される。その信号はユニツト１
７とアンド回路３５の入力端子３４へ与えられ
る。パルス発生器２０により発生されたパルスは
アンド回路３５の入力端子３９へ連続して与えら
れる。したがつてアンド回路３５の入力端子３４
に与えられた信号は、試験標本硬化時間計３６へ
のパルスの通過を制御する。この場合には、時間
計３６により信号が発生され、その信号はユニツ
ト１９へ与えられてそのユニツトにより表示され
る。ユニツト２１から単一パルス整形器３１の入
力端子５１へ信号が与えられると、パルス整形器
３１はトリガされ、その入力端子に１個のパルス
が現れる。そのパルスはフリツプフロツプ３２の
入力端子３３へ与えられてそのフリツプフロツプ
３２を最初の状態へトリガし、時間計３６の動作
を停止させる。ユニツト２１からの信号がアンド
回路３７（第４図）の入力端子５６へ与えられる
と、アンド回路３７はその入力端子３８へパルス
発生器２０から与えられるパルスの現在時間計４
０への通過を開始する。この時間計４０の状態は
ユニツト１９へ送られてそこで表示されるととも
に、スイツチング・ユニツト４１を介してデータ
出力制御回路４３の入力端子４４へ与えられる。
信号がアンド回路３７の入力端子５６へ与えられ
るまで時間計４０は動作し、時間計４０の入力端
子５７に与えられた信号によつてリセツトされ
る。スイツチング・ユニツト４６の入力端子５８
から信号が回路４３の入力端子４５へ与えられ
る。それはアナログ−デジタル変換器２５（第３
図）の出力端子３０に接続される。時間記録計５
０または制御ユニツト２１（入力端子５３を介し
て）と比較ユニツト（入力端子６０を介して）か
ら与えられる信号によりユニツト４３（第４図）
は動作させられる。

時間記録計５０の入力端子５９へユニツト１８
から信号が与えられ、その出力端子には、予め設
定されている数の標本化時間中に信号が発生され
る。

試験標本４（第１図）の特性についての情報
と、動作の開始時におけるこの値（初期値）に対
応する時間についての情報（それらの情報はコン
ピユータまたはプリンタ（図示せず）へ入れられ
る）は、時間記録計５０により決定される時間間
隔で、ユニツト２２からその入力端子６０へ信号
が与えられた時に、回路４３により発生される。

蓄積ユニツト１７は次のように動作する。

信号がフリツプフロツプ３２の出力端子から単
一パルス発生器６１（第２，５図）へ与えられる
と、そのパルス整形器はトリガされて蓄積レジス
タ８１を動作させ、その入力端子８６に変換器２
５の入力端子３０の状態を記録させる。それと同
時に、信号がオア回路６２を通つてオア回路６６
の入力端子６４と、遅延素子６７の入力端子６５
へ与えられる。オア回路６６を通つて信号が蓄積
レジスタ７７，８２のそれぞれの入力端子８３，
８４へ与えられ、素子５６からフリツプフロツプ
６８の入力端子６９へ与えられてそのフリツプフ
ロツプの状態を変えさせ、したがつて出力端子７
４に信号を発生させる。この信号は単一パルス整
形器７６を通つてレジスタ７７の入力端子７８へ
与えられ、レジスタ７７のその入力端８７の状態
を記録させ、それからユニツト２２へ与えられ
る。ユニツト１８からの信号が点７３へ与えられ
ると同時に、フリツプフロツプ６８の入力端子７
０へ与えられてそのフリツプフロツプ６８を初期
状態にリセツトするとともに、レジスタ８２の入
力端子８０へ与えられてその入力端子８８の状態
をそれに記録させ、更に入力端子７１へ与えられ
て素子７２をトリガする。この場合には、レジス
タ８２からの信号が、素子７２からの信号と同じ
やり方で、ユニツト２２へ与えられる。オア回路
６２の入力端子９２へ整形器６１からだけでなく
ユニツト２２からも信号が与えられる場合には、
オア回路６２，６６と、素子６７，７２と、フリ
ツプフロツプ６８と、整形器７６と、レジスタ７
７，８２とのトリガ・サイクルは前記したのと同
様のやり方で行われる。

電気物理的特性標本化時間ユニツト１８は次の
ように動作する。

パルス発生器２０からのパルスがアンド回路９
４（第２，６図）の入力端子１０３へ連続して与
えられるが、回路９４の入力端子１０４に信号が
存在する時のみそれらのパルスはメータ９５へ通
過できる。上記の信号が与えられると、メータ９
５は計時を開始し、予め設定されている信号値に
達したら命令を発生する。その命令はデコーダ９
９と単一パルス整形器１０１を通つてユニツト１
７（第５図）へ与えられる。メータ９５（第６
図）がデコーダ９９へ与える信号を発生した時の
信号値はデコーダ９９の動作時間を決定し、それ
は基準入力素子９８によりプリセツトされる。メ
ータ９５は、オア回路６６（第５図）に接続され
るその入力端子１０４に与えられた信号によりク
リヤさせられる。

制御ユニツト２１は次のように動作する。

この装置を動作準備するために、加熱炉２（第
１図）は指定温度まで加熱される。この場合に
は、加熱炉温度測定ユニツト９からしきい値素子
１０６（第７図）へ対応する信号が与えられる。
その信号がプリセツト値以下でなければ、その出
力端子に信号が発生される。この信号はしきい値
素子１０７（第７図）の入力端子へ与えられてそ
のしきい値素子をトリガし、その出力端子に信号
を発生させる。更に、試験標本４が充されている
殻３が加熱炉２の中に置かれると、ユニツト１０
が動作する。そして、ユニツト１０からの信号フ
リツプフロツプ１１８の入力端子１２０へ与えら
れる。そうするとこのフリツプフロツプは状態を
変え、信号がその出力端子から単一パルス整形器
１１２を通つてアンド回路１１０の入力端子１１
１へ与えられる。この時までに、素子１０６，１
０７から信号が入力端子１０８，１０９へそれぞ
れ与えられる。そのために、アンド回路１１０の
出力端子にもパルス信号が現われる。同時に、ア
ンド回路１１５の出力端子１１４，１１７へ素子
１０７とフリツプフロツプ１１８からそれぞれ信
号が与えられるから、アンド回路１１５の出力端
子にも信号が現われる。フリツプフロツプ１１８
の入力端子１１９へ信号が与えられると（これは
この装置がユニツト１０により動作を停止させら
れた時に起る）、そのフリツプフロツプは初期状
態にリセツトされる。この場合には、オア回路１
２３がトリガされ、その出力端子にリセツト命令
が発生される。そのリセツト命令は、比較された
値が等しいことを示す信号がユニツト２２から与
えられるやり方と同じやり方で、オア回路６６
（第５図）へ与えられる。

本発明により測定プロセスを自動化することが
可能になり、したがつて測定確度を高くできる。

商業的応用 本発明は、硬化プロセス中に電気物理的特性が
変化する材料、たとえばプラスチツク、から製品
を製造するのに用いてうまくいくものである。