JPH01312475A - Testing apparatus for close-contact image sensor - Google Patents

Testing apparatus for close-contact image sensor

Info

Publication number
JPH01312475A
JPH01312475A JP63143499A JP14349988A JPH01312475A JP H01312475 A JPH01312475 A JP H01312475A JP 63143499 A JP63143499 A JP 63143499A JP 14349988 A JP14349988 A JP 14349988A JP H01312475 A JPH01312475 A JP H01312475A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image sensor
contact image
test
chart
close
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63143499A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Motoki Tokura
都倉 基紀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP63143499A priority Critical patent/JPH01312475A/en
Publication of JPH01312475A publication Critical patent/JPH01312475A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To improve reliability in testing by moving a chart table to which a chart is stuck under the state wherein a close-contact image sensor is originally positioned and fixed from a close-contact image-sensor mounting stage, and performing the test. CONSTITUTION:A close-contact image sensor 1 is positioned, mounted and fixed on a close-contact image-sensor mounting stage 10. A chart table 13 is moved back and forth with a linear motor 14 so that a test chart 4a matches the sensor 1. Thereafter, the sensor mounting stage is lowered along a guide rod 12 with an air cylinder 11. The sensor 1 and the test chart 4a are brought into close contact, and the specified test is conducted. After the test, the sensor mounting stage 10 is lifted with the air cylinder 11. Then, the chart table 13 is moved to a specified position so that a next test chart 4b matches the sensor 1 with the linear motor 14. Then, the test is repeated again.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention] 【産業上の利用分野】[Industrial application field]

この発明は密着イメージセンサを検査するための密着イ
メージセンサ試験装置に関するものである。
The present invention relates to a contact image sensor testing device for testing a contact image sensor.

【従来の技術】[Conventional technology]

第3図は従来の密着イメージセンサ試験装置を示す斜視
図であり、図において、1は密着イメージセンサ、2は
密着イメージセンサlを載置する密着イメージセンサ載
置台、3a、3b、3cは密着イメージセンサ載置台2
上に突設された密着イメージセンサlの位置決めピン、
4a、4b。 4Cは密着イメージセンサ載置台2上に貼着されたテス
トチャートで、これは密着イメージセンサlを機械的、
電気的に試験する。 次に動作について説明する。 密着イメージセンサ1を密着イメージセンサ載置台2に
設けられた位置決めピン3aによりテストチャート4a
の上の試験位置にセットし、押工機構(図示せず)によ
り密着イメージセンサ1をテストチャート4aに密着さ
せる。そして、この状態で密着イメージセンサ1の所定
の試験を行ない、試験終了後は押工機構により密着イメ
ージセンサi31置台2に密着されていた密着イメージ
センサlの密着状態を外し、次のテストチャート4bの
位置に密着イメージセンサ1を移動させ”C位置決めピ
ン3bにより、試験位置にセットして同様の試験を行う
。このように繰返し密着イメージセンサ1を密着イメー
ジセンサ載置台2に着脱させて試験を行う。
FIG. 3 is a perspective view showing a conventional contact image sensor testing device. In the figure, 1 is a contact image sensor, 2 is a contact image sensor mounting table on which a contact image sensor l is placed, and 3a, 3b, and 3c are contact image sensor mounting tables. Image sensor mounting table 2
The positioning pin of the contact image sensor l protruding from the top,
4a, 4b. 4C is a test chart pasted on the contact image sensor mounting base 2, which is used to test the contact image sensor l mechanically,
Test electrically. Next, the operation will be explained. The contact image sensor 1 is placed on the test chart 4a using the positioning pin 3a provided on the contact image sensor mounting base 2.
The contact image sensor 1 is set in the test position above the test chart 4a, and the contact image sensor 1 is brought into close contact with the test chart 4a by a pressing mechanism (not shown). Then, in this state, a predetermined test is performed on the contact image sensor 1, and after the test is completed, the contact state of the contact image sensor l, which was in close contact with the contact image sensor i31 mounting base 2, is removed by the pressing mechanism, and the next test chart 4b is performed. The contact image sensor 1 is moved to the "C" positioning pin 3b to set it in the test position and the same test is performed. In this way, the contact image sensor 1 is repeatedly attached to and removed from the contact image sensor mounting base 2 and the test is performed. conduct.

【発明が解決しようとする課題】[Problem to be solved by the invention]

従来の密着イメージセンサ試験装置は以上のように構成
されているので、異なるテストチャート4a、4b、4
cにより密着イメージセンサ1の試験を行うごとに密着
イメージセンサ1を移動させねばならず、密着イメージ
センサlがテストチャート4a、4b、4cに摺接した
り、密着イメージセンサ1が位置決めビン3a、3b、
3cに接したりするために密着イメージセンサ1に傷が
付いたり、テストチャート4a、4b、4cにごみや傷
を付けたりしてしまい、次の密着イメージセンサ1の試
験の信顧性が損なわれてしまうという問題点があった。 この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、密着イメージセンサやテストチャートに傷を
付けないようにした密着イメージセンサ試験装置を得る
ことを目的とする。
Since the conventional contact image sensor testing device is configured as described above, different test charts 4a, 4b, 4
c, the contact image sensor 1 must be moved every time the contact image sensor 1 is tested, and the contact image sensor 1 may slide into contact with the test charts 4a, 4b, 4c, or the contact image sensor 1 may slide against the positioning bins 3a, 3b. ,
3c, the contact image sensor 1 may be scratched, and the test charts 4a, 4b, and 4c may be dusted or scratched, which may impair the credibility of the next test of the contact image sensor 1. There was a problem with this. The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a contact image sensor testing device that does not damage the contact image sensor or the test chart.

【課題を解決するための手段】[Means to solve the problem]

この発明に係る密着イメージセンサ試験装置は、密着イ
メージセンサを位置決め、載置する密着イメージセンサ
載置台を直線的に移動させる第1の移動機構を設けると
共に、この第1の移動機構の移動方向に対してほぼ直角
方向にテストチャートが位置するように複数のテストチ
ャートが貼着されたチャート台を移動させる第2の移動
機構を設けたものである。
The contact image sensor testing device according to the present invention is provided with a first moving mechanism that linearly moves a contact image sensor mounting table on which a contact image sensor is positioned and placed; A second moving mechanism is provided for moving the chart stand on which a plurality of test charts are attached so that the test charts are positioned substantially perpendicular to the chart.

【作用】[Effect]

この発明における密着イメージセンサ試験装置は、密着
イメージセンサ載置台に密着イメージセンサを位置決め
、載置し、密着イメー・ジセンナに対してテストチャー
トを対応させた状態で密着イメージセンサ載置台をテス
トチャートに密着さ・けるようにするので、試験の前後
に密着イメージセンサとテストチャートとが摺接せず、
傷が付いたり、ごみが付着したりすることがなくなった
The contact image sensor testing device of the present invention positions and places the contact image sensor on the contact image sensor mounting base, and places the contact image sensor mounting base on the test chart with the test chart corresponding to the contact image sensor. Since the image sensor and the test chart are placed in close contact with each other, there is no sliding contact between the image sensor and the test chart before and after the test.
No more scratches or dirt adhering to it.

【発明の実施例】[Embodiments of the invention]

以下、この発明の一実施例を図について説明する。 第1図はこの発明の一実施例を示す斜視図であって、第
1図において第3図と同一または均等な構成部分には同
一符号を付して重複説明を省略する。第1図において、
10は密着イメージセンサ1を位置決め、載置する密着
イメージセンサ載置台、11は密着イメージセンサ@置
台10を上下移動させる第1の移動機構としてのエアシ
リンダ、12は密着イメージセンサ載置台10の上下移
動時のガイド棒、13は2種以上のテストチャート4a
、4b、4cを貼り付けたチャート台、14はチャート
台13を前後移動させる第2の移動機構としてのリニア
ードモータである。 次に動作について説明する。 密着イメージセンサ1を密着イメージセンサ載置台10
上に位置決め、載置し、次いで密着イメージセンサ1を
押工機構(図示せず)により密着イメージセンサ載置台
10に固定する。そして、チャート台13をリニアード
モータ14により前後移動させて密着イメージセンサl
にテストチャート4aを対応させる。しかるのち、密着
イメージセンサ載置台10をエアシリンダ11によりガ
イド棒12に沿って下降させ、密着イメージセンサlと
テストチャート4aとを密着させて所定の試験を行なう
。試験終了後は、エアシリンダ11によって密着イメー
ジセンサ載置台10を上昇させ、次いでリニアードモー
タ14により、次のテストチャート4bと密着イメージ
センサ1とが対応するようにチャート台13を所定の位
置に移動し、再度試験を繰返す。 このようにして全ての試験が終了した後は密着イメージ
センサ載置台lOを上昇させ、押工機構(図示せず)を
外し、密着イメージセンサ載置台lOに載置されている
密着イメージセンサ1を別の被試験対象物である密着イ
メージセンサ1と交換する。 なお、上記実施例では1台の密着イメージセンサ宛試験
する場合について説明したが、2台以上の密着イメージ
センサを平行に密着イメージセンサ載置台10に!!2
置し、テストチャート4aが1番目の密着イメージセン
サ1の試験終了後にテストチャート4bによって密着イ
メージセンサ1を′試験するようにチャート台13を移
動すると、テストチャート4aが2番目の密着イメージ
センサIと対応させることによって、同時に複数の密着
イメージセンサlの試験が可能となる。 また、上記実施例では、平面状のチャート台を前後移動
させて、各チャートについての密着イメージセンサの試
験を行う場合について説明したが、第3図に示すように
多面柱のチャート台15の各面にテストチャート4a、
4b、4cを貼着し、多面柱のチャート台15を回転移
動させることにより密着イメージセンサ1の試験を行う
ようにしても上記実施例と同様の効果が得られる。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention. In FIG. 1, the same or equivalent components as in FIG. In Figure 1,
10 is a contact image sensor mounting table for positioning and placing the contact image sensor 1; 11 is an air cylinder as a first moving mechanism for vertically moving the contact image sensor @ mounting table 10; 12 is an upper and lower part of the contact image sensor mounting table 10; Guide rod during movement, 13 is 2 or more types of test charts 4a
, 4b and 4c are attached to the chart stand, and 14 is a linear motor as a second moving mechanism for moving the chart stand 13 back and forth. Next, the operation will be explained. The close-contact image sensor 1 is placed on the close-contact image sensor mounting table 10
Then, the contact image sensor 1 is fixed to the contact image sensor mounting table 10 by a pressing mechanism (not shown). Then, the chart stand 13 is moved back and forth by the linear motor 14, and the contact image sensor l
The test chart 4a is made to correspond to the test chart 4a. Thereafter, the contact image sensor mounting table 10 is lowered along the guide rod 12 by the air cylinder 11, and the contact image sensor 1 and the test chart 4a are brought into close contact with each other to perform a predetermined test. After the test, the contact image sensor mounting table 10 is raised by the air cylinder 11, and then the chart table 13 is moved to a predetermined position by the linear motor 14 so that the next test chart 4b and the contact image sensor 1 correspond to each other. Move and repeat the test again. After all tests are completed in this way, the contact image sensor mounting table 10 is raised, the pressing mechanism (not shown) is removed, and the contact image sensor 1 placed on the contact image sensor mounting table 10 is removed. The contact image sensor 1 is replaced with another test object, ie, the contact image sensor 1. In the above embodiment, a case was explained in which a single contact image sensor is tested, but two or more contact image sensors can be placed in parallel on the contact image sensor mounting table 10! ! 2
When the test chart 4a tests the first contact image sensor 1 and then moves the chart stand 13 so that the test chart 4b tests the contact image sensor 1, the test chart 4a passes the second contact image sensor I. By making it correspond to the above, it becomes possible to test a plurality of contact image sensors l at the same time. Furthermore, in the above embodiment, a case was described in which a planar chart stand was moved back and forth to test the contact image sensor for each chart. However, as shown in FIG. Test chart 4a on the side,
4b and 4c and the test of the contact image sensor 1 is carried out by rotating and moving the polygonal columnar chart stand 15, the same effect as in the above embodiment can be obtained.

【発明の効果】【Effect of the invention】

以上のように、この発明によれば、密着イメージセンサ
を最初に位置決め固定した状態のままチャートが貼着さ
れたチャート台を密着イメージセンサ載置台より離間さ
せた状態で移動させて試験を行なうように構成したので
、密着イメージセンサやテストチャートが傷付いたり、
テストチャートにごみが付着することがなくなり、試験
の信頼性が向上したものが得られる効果がある。
As described above, according to the present invention, the test is performed by moving the chart stand on which the chart is attached to a position separated from the contact image sensor mounting stand while the contact image sensor is initially positioned and fixed. Because the structure is designed to prevent damage to the close-contact image sensor or test chart,
This has the effect of preventing dust from adhering to the test chart and improving the reliability of the test.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例による密着イメージセンサ
試験装置の斜視図、第2図はこの発明に係る密着イメー
ジセンサ試験装置の他の実施例を示す斜視図、第3図は
従来の密着イメージセンサ試験装置の一例を示す斜視図
である。 lは密着イメージセンサ、4a、4b、4cはテストチ
ャート、IOは密着イメージセンサ載置台、11は第1
の移動機構(エアシリンダ) 、13゜15はチャート
台、14は第2の移動機構(リニアードモータ)。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 5a    qQ
FIG. 1 is a perspective view of a close contact image sensor testing device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing another embodiment of the close contact image sensor testing device according to the present invention, and FIG. 3 is a perspective view of a conventional close contact image sensor testing device. FIG. 1 is a perspective view showing an example of an image sensor testing device. l is a contact image sensor, 4a, 4b, 4c are test charts, IO is a contact image sensor mounting table, 11 is the first
A moving mechanism (air cylinder), 13° 15 a chart stand, and 14 a second moving mechanism (linear motor). In addition, in the figures, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts. 5a qQ

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 被試験対象物である密着イメージセンサを位置決め、載
置する密着イメージセンサ載置台と、この密着イメージ
センサ載置台を直線的に移動させる第1の移動機構と、
上記密着イメージセンサを試験するための複数のテスト
チャートが貼着されたチャート台と、上記第1の移動機
構の移動方向に対してほぼ直角方向に上記テストチャー
トのいずれかが位置するように上記チャート台を移動さ
せる第2の移動機構とを備えた密着イメージセンサ試験
装置。
a contact image sensor mounting table for positioning and placing a contact image sensor as a test object; a first moving mechanism for linearly moving the contact image sensor mounting table;
a chart stand on which a plurality of test charts for testing the contact image sensor are attached; A contact image sensor testing device comprising a second moving mechanism for moving a chart stand.
JP63143499A 1988-06-13 1988-06-13 Testing apparatus for close-contact image sensor Pending JPH01312475A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63143499A JPH01312475A (en) 1988-06-13 1988-06-13 Testing apparatus for close-contact image sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63143499A JPH01312475A (en) 1988-06-13 1988-06-13 Testing apparatus for close-contact image sensor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01312475A true JPH01312475A (en) 1989-12-18

Family

ID=15340142

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63143499A Pending JPH01312475A (en) 1988-06-13 1988-06-13 Testing apparatus for close-contact image sensor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01312475A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5087878A (en) Top-accessible system, and related methods, for simultaneously testing the opposite sides of printed circuit board
JPS62191814A (en) Slide sample placing device
JP2019035757A (en) Circuit board mounting device
US11402420B2 (en) Capacitor testing device and testing method thereof
JPH08304509A (en) Semiconductor tester
KR920015498A (en) Inspection device and inspection method of semiconductor device
JPH01312475A (en) Testing apparatus for close-contact image sensor
JPH11344539A (en) Circuit board inspection device
KR100202934B1 (en) Examination apparatus of ferrite cores for electronic appliances
CN214407521U (en) Shadow test machine
JPH0480347B2 (en)
JP2017211212A (en) Electric inspection device
KR19980016601A (en) Reliability Test Control Device
JPH06300818A (en) Inspecting apparatus of flexible board
JPH082622Y2 (en) Semiconductor device inspection equipment
JPH0717023Y2 (en) Function Tester
KR200148496Y1 (en) Inspection apparatus for the film of crt
JP3239479B2 (en) Liquid crystal panel connection device and connection method
KR930008223Y1 (en) Apparatus for burn-in unloading
JP2001215258A (en) Inspection jig for circuit module
JPH0476605B2 (en)
JPS6275358A (en) Circuit board inspecting device
JPH0878497A (en) Transferring apparatus
JPH02301920A (en) Inspection device for switch
JPH05107293A (en) Inspecting device for printed circuit board