JPH01310491A - 画像識別装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は図面処理等の分野で入力される紙面上に描かれ
ている図形を識別する装置に関する。

〔従来の技術〕

画像を識別する従来の方式の一例について、文献〔ラフ
アニル　シー　ゴンザレス、ポール　ウィンツ、「デジ
タル　イメージ　プロセッシング」。

アディンン　ウニスリー　パブリッシング　カンパニー
、１９７７年、　ＰＰ、　３８３．　：　Ｒａｆａｅｌ
　Ｃ。

Ｇｏｎｚａｌｅｓ　　、　　Ｐａｕｌ　　Ｗｉｎｔｚ　
　、　　　”Ｄｉｇｉｔａｌ　　ＩｍａｇｅＰｒｏｃｅ
ｓｓ　ｉｎｇ　”　、　Ａｄｄｉｓｏｎ　−Ｗｅｓｌｅ
ｙ　Ｐｕｂｌ　１ｓｈ−＋ｎｇ　Ｃａｍｐａｎｙ、　１
９７７、Ｐ２Ｓ５．）に記載されている方式について説
明する。

例えば第５図（Ａ）に例示する、値が零である背景の中
で、値がゝゝ１“である同図に斜線で示す長方形１と正
方形２が写っている入力画像３から、上記正方形２の中
心の位置座標（７１６）を見つけるのに、従来の方式で
は、第１段階として同図（Ｂ）に例示する値が零である
背景の中で、同図に示す点７を中心として値がゝゝ１“
である同図に斜線で示す正方形４が写っている部分画像
５と、前記入力画像３と同じ大きさですべての画素に予
め零を代入した同図（Ｃ）に例示する出力画像６を生成
する。

次に、第２段階として、上記入力画像３をｆ　（ｘ　、
　ｙ　）　　　　　　　　　　　　　　　（１）と表わ
し、上記部分画像５を ω（ｕ　、　ｖ　）　　　　　　　　　　　　　　　（
２）と表わし、上記出力画像６を Ｒ（Ｘ　、　Ｙ　）　　　　　　　　　　　　　　　（
３）と表わしたとき、 で同図（Ｄ）に例示する出方画像６の各画素値を算出す
る。

第３段階として上記出力画像６の各画素値のうち値が最
大である同図（Ｅ）に例示する最大画素８みつけ、第４
段階として上記最大画素８の位置（７、６）を中心とし
て正方形が写っていると判断していた。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら上述した従来の方式を用いて、例えば破損
している紙面に描かれている画像を識別する場合、破損
している部分の画素値を正しく入力できないため、上記
紙面に描かれている画像を識別するのは困難であった。

本発明の目的は、例えば破損したり汚濁している紙面に
描かれている画像を識別できる画像識別装置を提供する
ことにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の第１の発明の画像識別装置は、紙面で反射する
光を画像として出力する反射光入力手段と、上記反射光
入力手段が出力する画像を記憶する画像記憶手段と、上
記画像記憶手段が記憶する画像を構成する画素群のうち
画素値が閾値よりも大きな画素群を選択する第１照合領
域算出手段と、上記第１照合領域算出手段が選択する画
素群を記憶する照合領域記憶手段と、標準パタンを記憶
する標準パタン記憶手段と、上記標準パタン記憶手段が
記憶する前記画像記憶手段が記憶する画像を構成する画
素群のうち、前記照合領域記憶手段が記憶する画素群だ
けを用いて上記画像を前記標準パタン記憶手段が記憶す
る標準パタンと照合する照合手段を具備することを特徴
とし、前記画像記憶手段が記憶する画像の中から前記標
準パタン記憶手段が記憶する標準パタンの位置をみつけ
る画像識別装置。

本発明の第２の発明の画像識別装置は、請求項（１）記
載の画像識別装置において、反射光入力手段。

第１照合領域算出手段を、それぞれ、紙面を透過する光
を画像として検出する透過光入力手段２画像記憶手段が
記憶する画像を構成する画素群のうち画素値が閾値よシ
も小さな画素群を選択する第２照合領域算出手段とした
画像識別装置。

本発明の第３の発明の画像識別装置は、紙面で反射する
光を反射光画像として出力し同時に紙面を透過する光を
透過光画像として出力する画像入力手段と、上記画像入
力手段が出力する反射光画像を記憶する反射光画像記憶
手段と、前記画像入力手段が出力する透過光画像を記憶
する透過光画像記憶手段と、前記反射光画像記憶手段が
記憶する反射光画像を構成する画素群のうち画素値が閾
値よりも大きい画素群と前記透過光画像記憶手段が記憶
する透過光画像を構成する画素群のうち画素値が閾値上
りも小さな画素に対応する上記反射光画像を構成する画
素群を選択する第３照合領域算出手段と、上記第３照合
領域算出手段が選択する画素群を記憶する照合領域記憶
手段と、標準パタンを記憶する標準パタン記憶手段と、
前記反射光画像記憶手段が記憶する反射光画像を構成す
る画素群のうち、前記照合領域記憶手段が記憶する画素
群だけを用いて上記反射光画像を前記標準パタン記憶手
段が記憶する標準パタンと照合する反射光照合手段を具
備することを特徴とし°、前記反射光画像記憶手段が記
憶する反射光の中から前記標準パタン記憶手段が記憶す
る標準パタンの位置をみつける画像識別装置。

本発明の第４の発明の画像識別装置は、請求項（３）記
載の画像識別装置において、反射光照合手段を、透過光
記憶手段が記憶する透過光画像を構成する画素群のうち
、照合領域記憶手段が記憶する画素群だけを用いて標準
パタン記憶手段が記憶する標準パタンと照合する透過光
照合手段にした画像識別装置。

本発明の第５の発明の画像識別装置は、請求項（３）記
載の画像識別装置において、標準パタン記憶手段を、同
一のパタンに関する複数個の記述群を記憶する複数標準
パタン記憶手段にし、また反射光照合手段を、透過光記
憶手段が記憶する透過光画像と反射光記憶手段が記憶す
る反射光画像を構成する画素群のうち照合領域記憶手段
が記憶する画素群だけを用いて複数標準パタン記憶手段
が記憶する記述群と照合する複数画像照合手段にした画
像識別装置。

〔作用〕

第１の本発明の原理は、まず光源光を吸収する台の上に
置かれた紙面を、上記紙面に上記光源から採光された光
の反射光を検出する反射光入力手段で反射光画像として
入力する。次に、上記入力画像の各画素値を調べて、例
えば予め設定されている閾値 Ｔ　Ｉ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（５
）よシも値の小さい画素に対応する上記紙面の部分は破
損していると判断して照合には用いないようにするもの
である。即ち、上記反射光入力手段で入力した反射光画
像を ｆｈ（ｘ、ｙ）　　　　　　　　　　　　　　　（６）
と表わし、標準パタン画像を ａｌｌ　（ｕ、ｖ）、　　（ｕ、ｙ）εＤω１　　　　
　（７）Ｄ−Ｉ’ｍ準パタン画像の定義域 と表わし、出力画像を 凡ｈ（Ｘ、Ｙ）　　　　　　　　　　　　　　　（８）
と表わしたとき、本第１の原理は で出力画像の各画素値を算出した後、例えば前記従来の
方式の第３段階以降と同様にして処理するものである。

第２の本発明の原理は、まず紙面を、上記紙面に光源か
ら投光された光の透過光を検出する透過光入力手段で透
過光画像として入力する。次に、上記入力画像の各画素
値を調べて例えば予め設定されている閾値 Ｔ　２（１２） よりも値の大きな画素に対応する上記紙面の部分は破損
していると判断して照合には用いないようにするもので
ある。即ち、上記透過光入力手段で入力した透過光画像
を ｆ　ｔ　（ｘ　、　ｙ　）　　　　　　　　　　　　　
　　（１３）と表わし、標準パタン画像を ω２（ｕ、ｖ）、　　（ｕ、ｖ）ＥＤ（、ｚ　　　　　
　（１４）ω２　＝標準パタン画像の定義域 と表わし、出力画像を 几ｔ（Ｘ、Ｙ）　　　　　　　　　　　　　　　（１ｓ
）と表わしたとき、本第２の原理は α６） ＝０　　（ｊｔ（、入＋ｕ　、　Ｘ　＋ｖ　）　＞’ｌ
’ｚ）ｄ２＝Σ　　　ｄ　ｚ　（ｕ　、　ｖ　）　　　
　　　　　　　　（１８）（ｕ、ｖ）εＤω２ で出力画像の各画素値を算出した後、例えば前記従来の
方式の第３段階以降と同様にして処理するものである。

第３の本発明の原理は、まず紙面を、前記反射光入力手
段と前記透過光入力手段でそれぞれ反射光画像と透過光
画像として入力する。次に、上記反射光画像の各画素値
を調べて例えば前記式（５）に示す８イ直よりも値が小
さい画素で、かつ上記画素に対応する透過光画像の画素
値が例えば前記式へ９に示す閾値上りも値が大きい画素
に対応する上記紙面の部分は破損していると判断して反
射光画像の照合には用いないようにするものである。即
ち、上記反射光画像を前記式（６）で表わし、上記透過
光画像を前記式（至）で表わし、標準パタン画像を前記
式（７）で表わし、出力画像を 几′ｈ＝　（Ｘ　、　Ｙ　）　　　　　　　　　　　　
　　　（１９）と表わしたとき、本第３の原理は ＠） ただし ｄａ　（ｕ、Ｖ）＝１　　（ｊ’ｈ（Ｘ＋ｕ、Ｙ＋ｖ）
≧Ｔ、又はｆ　ｔ　（Ｘ＋ｕ　、　Ｙ＋ｖ　）≦Ｔり＝
Ｏ（ｆｈ（Ｘ＋ｕ、Ｙ＋ｖ）＜Ｔｔか−）ｆｔ（Ｘ＋ｕ
、Ｙ＋ｖ）＞Ｔｚ）で出力画像の各画素値を算出した後
、例えば前記従来の方式の第３段階以降と同様にして処
理するものである。

第４の本発明の原理は、前記第３の原理と同様にしてみ
つけた紙面の破損部分を透過光画像の照合には用いない
ようにするものである。即ち、前記第３の原理と同様に
して反射光画像と透過光画像を表わし、標準パタン画像
を前記式（ロ）で表わし、出力画像を Ｒ’（Ｘ、Ｙ）　　　　　　　　　　　　　　　（２）
）と表わしたとき、上記第４の原理は前記式■）と（２
２）を用いて （２４＞ で出力画像の各画素値を算出した後、例えば前記従来の
方式の第３段階以降と同様にして処理するものである。

第５の本発明の原理は、前記第３の原理と同様にしてみ
つけた紙面の破損部分を反射光画像と透過光画像の照合
には用いないようにするものである。即ち、前記第３の
原理と同様にして反射光画像と透過光画像を表わし、反
射光画像の標準パタン画像を前記式（７）で表わし、透
過光画像の標準パタン画像を前記式（６）で表わし、出
力画像をＲｂｉ　（Ｘ、Ｙ）　　　　　　　　　　　　
　　　（２５）と表わしたとき、上記第５の原理は前記
式＠）と（２）を用いて Ｒｈ＋　（Ｘ＋Ｙ）＝ ｘａ３　（ｕ　、ｖ’）　　　　　　　　　　　　　　
　（２１ｉ）で出力画像の各画素値を算出した後、例え
ば前記従来の方式の第３段階以降と同様にして処理する
ものである。

〔第１の実施例〕 以下第１の発明の実施例について図面を用いて詳細に説
明する。

第１図は第１の原理を用いて入力画像の中から標準パタ
ンの位置を見つける、第１の本発明の一実施例を示すブ
ロック図であシ、反射光入力手段３０、画像記憶手段３
１．第１照合領域算出手段３２、照合領域手段３３．照
合手段３４．標準パタン記憶手段３５２表示手段３６お
よび制御手段３７から成る。

本発明を用いて、第２図（Ａ）に反射率の高い部分とし
て例示する図形２０と図形２１が描かれている紙面２２
と同じ紙面であり、かつ同図（Ｂ）の斜線で示す破損部
２３に穴が空いている紙面２４から前記図形２１が描か
れている位置を出力する例を説明する。

まず、処理に先たち、標準パタン記憶手段３５には第２
図（Ｃ）に例示する反射光標準パタン２５を記憶してお
く。動作は制御手段３７が反射光入力手段３０を起動し
て始まる。

起動された反射光入力手段３０は、紙面２４を走査して
、例えば第３図（Ａ）に例示する反射光画像２６を画像
記憶手段３１に記憶して処理を終了する。反射光入力手
段３０が処理を終了すると、制御手段３７は第１照合領
域算出手段３２を起動する。

起動された第１照合領域算出手段３２は画像記憶手段３
１が記憶する反射光画像２６の各位置（ｘ　、ｙ）にお
ける画素値 ”　ｂ　（８＋　ｙ　）　　　　　　　　　　　　　　
　’２７）を、例えば閾値を５として で閾値処理した第３図（Ｂ）に例示する照合領域画像２
７を照合領域記憶手段３３に記憶して処理を終了する。

第１照合領域算出手段３２が処理を終了すると制御手段
３７は照合手段３４を起動する。

起動された照合手段３４は第１段階として第４図（Ａ）
に例示する予めすべての画素に零を代入した出力画像４
０を用意し、第２段階として出力画像４０の位置（２，
２）の画素値 Ｒ（２、２＞　　　　　　　　　　　　　　　　（２９
）を算出するため、画像記憶手段３１が記憶する反射光
画像２６と照合領域記憶手段３３が記憶する照合領域画
像２７のそれぞれに対して、同図（Ｂ）に例示する部分
領域４１に対応する同図（Ｃ）に例示する部分反射光画
像４２と同図（Ｄ）に例示する部分照合領域画像４３を
切り出し、第３段階として部分反射光画像４２を ｆｈ（ｘ、ｙ）　　　　　　　　　　　　　　　（３Ｄ
）と表わし、部分照合領域画像４３を ｄ：（ｘ、ｙ）　　　　　　　　　　　　　　（３１）
と表わし、標準パタン２５を ω”＞　（ｘ、ｙ）　　　　　　　　　　　　　　（閾
と表わしたとき、 で算出して値１５５６を求めて同図（Ｅ）に例示する出
力画像４０の画素４４に記憶し、第４段階として上記第
２段階と第３段階で説明した手順と同様の手順で出力画
像４０の各画素値を算出して第５図（人）に示す出力画
像４５を求め、第５段階として出力画像４５の各画素値
の中から値が最大である画素として同図（Ｂ）に例示す
る最大画素４６をみつけ、第６段階として上記最大画素
４６の位置（８、８）　　　　　　　　　　　　　　　
　（３５）を表示手段３６に出力して処理を終了する。

照合手段３４が処理を終了すると制御手段３７は上記表
示手段３６を起動する。起動された上記表示手段３６は
照合手段３４が出力した式（３５）に示す位置（８、８
）を例えばデイスプレィに表示することによシ、紙面２
４の位置（８，８）を中心として前記図形２１が描かれ
ていることをユーザに知らせ、以上ですべての処理を終
了する。

以上の説明において、標準パタン記憶手段３５と画像記
憶手段３１と照合領域記憶手段３３は、例えばメモリで
構成でき、制御手段３７は例えばマイクロプロセッサと
メモリで構成でき、反射光入力手段３０は例えば発光ダ
イオードとＣＣＤラインセンサと現在の画像入力手段で
実現でき、表示手段３６はメモリとデイスプレィと現在
の表示手段で実現できる。

また、以上の説明では反射光標準パタン２５を例として
用いたが、一般に任意のパタンを適用することができる
。

〔第２の実施例〕 次に第２の本発明の実施例について図面を用いて詳細に
説明する。

第６図は前記第２の原理を用いて入力画像の中から標準
パタンの位置をみつける、第２の本発明の一実施例を示
すブロック図であり、透過光入力手段６０．第２照合領
域算出手段６１２画像記憶手段３１．照合領域記憶手段
３３．照合手段３４゜標準パタン記憶手段３５２表示手
段３６および制御手段３７から成る。これらの構成要素
のうち、前２者を除いては第１の実施例のものと同一の
ものである。

本発明を用いて、第７図（Ａ）に透過率の高い部分とし
て例示する図形２０と図形２１が描かれている紙面５０
と同じ紙面であり、かつ前記第２図（Ｂ）の斜線で示す
破損部２３に穴が空いている第７図（Ｂ）に例示する紙
面５３から前記図形２１が描かれている位置を出力する
例を説明する。

まず、処理に先たち、第６図に例示する標準パタン記憶
手段３５には第７図（Ｃ）に例示する透過光標準パタン
５１を記憶しておく。

動作は、例えば制御手段３７が透過光入力手段６０を起
動して始まる。起動された透過光人力手段６０は紙面５
３を走査して、例えば第８図に例示する透過光画像５２
を画像記憶手段３１に記憶して処理を終了する。

透過光入力手段６０が処理を終了すると制御手段３７は
第２照合領域算出手段６１を起動する。

起動された第２照合領域算出手段６１は、画像記憶手段
３１が記憶する透過光画像５２の各位置（ｘ、ｙ）にお
ける画素値 Ｐ　ｔ　（ｘ　、　ｙ　）　　　　　　　　　　　　　
　（３６）を、例えば閾値を１４０として で閾値処理した前記第３図（Ｂ）に例示した照合領域画
像２７を照合領域記憶手段３３に記憶して処理を終了す
る。

第２照合領域算出手段６１が処理を終了すると、制御手
段３７は照合手段３４を起動する。起動された照合手段
３４は前記第１の実施例の第１段階から第５段階で説明
した手順と同様にして式（３５）に示した位置を見つけ
た後、表示手段３６に出力して処理を終了する。

照合手段３４が処理を終了すると、制御手段３７は表示
手段３６を起動する。起動された上記表示手段３６は前
記第１の実施例で示した手順と同様にして紙面５３の位
置（８，８）を中心として図形２１が描かれていること
をユーザに知らせ、以上ですべての処理を終了する。

以上の説明において、標準パタン記憶手段３５と画像記
憶手段３１と照合領域記憶手段３３に例えばメモリで構
成でき、制御手段３５は例えばマイクロプロセサとメモ
リで構成でき、透過光入力手段６０は例えば発光ダイ万
一ドとＣＣＤラインセンサと現在の画像入力手段で実現
でき、表示手段３６はメモリとデイスプレィと現在の表
示手段で実現できる。

また、以上の説明に２いて、透過光標準パタン５１を例
として用いたが、一般に任意のパタンを適用することが
できる。

〔第３の実施例〕 次に第３の本発明の実施例について図面を用いて詳細に
説明する。

第９図は前記第３の原理を用いて入力画像の中から標準
パタンの位置をみつける、第３の本発明の一実施例を示
すブロック図であり、画像入力手段９０２反射光画像記
憶手段９１．透過光画像記憶手段９２２反射光照合手段
３８．第３照合領域算出手段９３．照合領域記憶手段３
３．標準パタン記憶手段３５９表示手段３６および制御
手段３７から成る。これらの構成要素のうち、後４者は
第１の実施例および第２の実施例のものと同一のもので
ある。

本発明を用いて、反射率と透過率の高い、例えば白地の
部分として例示する図形２１と図形２１よシ反射率と透
過率の高い、例えば白地の部分として例示する図形２０
が描かれている紙面７０（第１０図（Ａ）に示す）と同
じ紙面であり、かつ第１０図（Ｂ）の斜線で示す破損部
２３に穴が空いており、汚濁部７１が、例えば暗いしみ
になっている紙面７２から図形２１が描かれている位置
を出力する例を説明する。

まず処理に先たち、第２図（Ｃ）に例示する反射光標準
パタン２５を標準パタン記憶手段３５に記憶しておく。

動作は制御手段３７が画像入力手段９０を起動して始ま
る。起動された画像入力手段９０は前記紙面７２を走査
して例えば第１１図（Ａ）に例示する反射光画像７３と
同図（Ｂ）に例示する透過光画像７４を入力し、それぞ
れ反射光画像記憶手段９１と透過光画像記憶手段９２に
記憶して処理を終了する。

画像入力手段９０が処理を終了すると制御手段３７は第
３照合領域算出手段９３を起動する。起動された第３照
合領域算出手段９３は、第１段階として反射光画像記憶
手段９１が記憶する反射光画像７３を第１照合領域算出
手段３２と同じ手順で閾値処理して第１１図（Ｃ）に例
示する反射光照合領域７５を生成し、第２段階として透
過光画像記憶手段９２が記憶する透過光画像７４を第２
照合領域算出手段６１と同じ手順で閾値処理して第１１
図（Ｄ）に例示する透過光照合領域７６を生成し、第３
段階として反射光照合領域７５と透過光照合領域７６の
論理和で求まる前記第３図（Ｂ）に例示する照合領域画
像２７を算出した後照合領域画像２７を照合領域記憶手
段３３に記憶して処理を終了する。

第３照合領塚算出手段９３が処理を終了すると制御手段
３７は反射光照合手段３８を起動する。

起動された反射光照合手段３８は、第１段階として反射
光画像記憶手段９１が記憶する反射光画像７３と照合領
域手段３３が記憶する照合領域画像２７を入力として、
前記第１の実施例で説明した照合手段３４の第１段階か
ら第４段階で説明した千頴と同様にして第１１図（Ｅ）
に例示する出力画像７７を求め、第２段階として出力画
像７７の各画素値の中から前記第１の実施例で説明した
照合手段３４の第５段階で説明した手順と同様にして前
記式（３５）に示す位置をみつけ、第３段階として上記
位置を表示手段３６に出力して処理を終了する。

反射光照合手段３８が処理を終了すると制御手段３７は
表示手段３６を起動する。起動された表示手段３６は、
前記第１の実施例で説明した手順と同様にして紙面７２
の位置（Ｓ、Ｓ）を中心として前記図形２１が描かれて
いることをユーザに知らせ、以上ですべての処理を終了
する。

以上の説明において、透過光画像記憶手段９２と反射光
画像記憶手段９１と標準パタン記憶手段３５と照合領域
記憶手段３３は例えばメモリで構成でき、制御手段３７
は例えばマイクロプロセサとメモリで構成でき、画像入
力手段９０は例えば発光ダイオードとＣＣＤラインセン
サと現在の画像入力手段で実現でき、表示手段３６はメ
モリとデイスプレィと現在の表示手段で実現できる。

また、以上の説明において、反射光標準パタン２５を例
として用いたが、一般に任意のパタンを適用することが
できる。

〔第４の実施例〕 次に第４の本発明の実施例について図面を用いて詳細に
説明する。

第１２図は前記第４の原理を用いて入力画像の中から標
準パタンの位置をみつける、第４の本発明の一実施例を
示すプロ、り図であり、第９図に示した第３の実施例と
類似している。すなわち、第９図における反射光照合手
段３８の代りに透過光照合手段３９を設けた点のみが異
なる。

本発明を用いて、第１０図（Ｂ）に示した紙面７２から
前記図形２１が描かれている位置を出力する例を説明す
る。

まず、処理に先だち、前記第７図（Ｃ）に例示した透過
光標準パタン５１を標準パタン記憶手段３５に記憶して
おく。

動作は制御手段３７が画像入力手段９０を起動して始ま
シ、第３の実施例で説明した手順と同様の過程を経て第
３照合領域算出手段９３が前記第３図（Ｂ）に例示する
照合領域画像２７を照合領域記憶手段３３に記憶して処
理を終了する。

第３照合領域算出手段９３が処理を終了すると、制御手
段３７は透過光照合手段３９を起動する。

起動された上記透過光照合手段３９は、第１段階として
透過光画像記憶手段９２が記憶する透過光画像７４と照
合領域記憶手段３３が記憶する照合領域画像２７を入力
として、第３の実施例で説明した反射光照合手段３８の
第１段階で説明した手順と同様にして前記第１１図（Ｅ
）に例示した出力画像７７を求め、第２段階として前記
第３の実施例で説明した反射光照合手段３８の第２段階
で説明した手順と同様に動作して処理を終了する。

透過光照合手段３９が処理を終了すると制御手段３７は
表示手段３６を起動する。起動された表示手段３６は、
前記第１の実施例で説明した手順と同様にして前記紙面
７２の位置（８，８）を中心として前記図２１が描かれ
ていることをユーザに知らせ、以上ですべての処理を終
了する。

以上の説明において、透過光画像記憶手段９２と反射光
画像記憶手段９１と標準パタン記憶手段３５と照合領域
記憶手段３３は例えばメモリで構成でき、制御手段３７
は例えはマイクロプロセサとメモリで構成でき、画像入
力手段９０は例えば発光ダイオードとＣＣＤラインセン
サと現在の画像入力手段で実現でき、表示手段３６はメ
モリとデイスプレィと現在の表示手段で実現できる。

また１以上の説明において、透過光標準パタン５１を例
として用いたが、一般に任意のパタンを適用することが
できる。

〔第５の実施例〕 次に第５の本発明の実施例について図面を用いて詳細に
説明する。

第１３図は第５の原理を用いて入力画像の中から標準パ
タンの位置をみつける、第５の本発明の一実施例を示す
ブロック図であシ、第９図、第１２図に示した第３の実
施例、第４の実施例と類似している。すなわち、第３の
実施例における反射光照合手段３８．標準パタン記憶手
段３５０代りに、複数画像照合手段８１．複数標準パタ
ン記憶手段８０を設けており、他は同じである。

本発明を用いて第１Ｏ図（Ｂ）に示した紙面７２から前
記図形２１が描かれている位置を出力する例を説明する
。

まず処理に先たち、前記第２図（Ｃ）に例示する反射光
標準パタン２５と前記第７図（Ｃ）に例示する透過光標
準パタン５１を複数標準パタン記憶手段８０に記憶して
おく。

動作は例えば制御手段３７が画像入力手段９゜を起動し
て始まり、前記第４の実施例で説明した手順と同様の過
程を経て第３照合領域算出手段９３が前記第３図（Ｂ）
に例示する照合領域画像２７を照合領域記憶手段３３に
記憶して処理を終了する。

第３照合領域算出手段９３が処理を終了すると制御手段
３７は複数画像照合手段８１を起動する。

起動された上記複数画像照合手段８１は、第１段階とし
て反射光画像記憶手段９１が記憶する反射光画像７３と
複数標準パタン記憶手段８０が記憶する反射光標準パタ
ン２５を入力として、前記第３の実施例で説明した反射
光照合手段３８の手順と同様にして前記第１１図（Ｅ）
に例示する出力画像７７と同じ画像である、第１４図（
Ａ）に例示する第１の出力画像８２を生成し、第２段階
として複数標準パタン記憶手段８０が記憶する透過光標
準パタン２５と透過光画像記憶手段９２が記憶する透過
光画像７４を入力として、前記第４の実施例で説明した
透過光照合手段３９の手順と同様にして前記第１１図（
Ｅ）Ｋ例示する出力画像７７と同じ画像である、第１４
図（Ｂ）に例示する第２の出力画像８３を生成し、第３
段階として例えば上記第１の出力画像８２と上記第２の
出力画像８３をたし合わせた第１４図（Ｃ）に例示する
第３の出力画像８４を算出し、第４段階として上記第３
の出力画像８４の各画素値の中から前記第１の実施例で
説明した照合手段３４の第５段階で説明した手順と同様
にして前記式（３５）に示す位置をみつけ、第５段階と
して上記位置を表示手段３６に出力して処理を終了する
。

複数画像照合手段８１が処理を終了すると前記制御手段
３７は表示手段３６を起動する。記動された表示手段３
６は、前記第１の実施例で説明した手順と同様にして、
前記紙面７２の位置（８゜８）を中心として前記図形２
１が描かれていることをユーザに知らせ、以上ですべて
の処理を終了する。

以上の説明において、透過光画像記憶手段９２と反射光
画像記憶手段９１と複数標準パタン記憶手段８０と照合
領域記憶手段３３は例えばメモリで構成でき、画像入力
手段９０は例えば発光タイオードとＣＣＤラインセンサ
と現在の画像入力手段で実現でき、表示手段３６はメモ
リとナイスプレイと現在の表示手段で実現できる。

また、以上の説明において、透過光標準パタン５１と反
射光標準パタン５２を例として用いたが一般に任意のパ
タンを適用することができる。

〔発明の効果〕

以上に説明した第１の発明と第２の発明は、例えば破れ
良紙面上のパタンを識別できる効果がある。

第３の発明と第４の発明は、例えば破れていてかつ汚れ
ている紙面上のパタンを識別できる効果がある。

第５の発明は、以上の発明の効果に加えて、より高い識
別率で紙面上のパタンを識別できる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例を示すブ（ｌツク図、第
２図、第３図、第４図、第５図は第１の実施例の動作を
説明するための図、第６図は本発明の第２の実施例を示
すブロック図、第７図、第８図は第２の実施例の動作を
説明するための図、第９図は本発明の第３の実施例を示
すブロック図、第１０図、第１１図は第３の実施例およ
び第４の実施例の動作を説明するための図、第１２図は
本発明の第４の実施例を示すブロック図、第１３図は本
発明の第５の実施例を示すブロック図、第１４図は第５
の実施例の動作を説明するための図、第１５図は従来方
式を説明するための図である。 図において、３０は反射光入力手段、３１は画像記憶手
段、３２は第１照合領域算墓手段、３３は照合領域記憶
手段、３４は照合手段、３５は標準パタン記憶手段、６
０は透過光入力手段、６１は第２照合領域算出手段、９
０は画像入力手段、９１は反射光画像記憶手段、９２は
透過光画像記憶手段、９３は第３照合領域算出手段、３
８は反射光照合手段、３９は透過光照合手段、８ｏは複
数標準パタン記憶手段、８１は複数画像照合手段、２５
と５１は実施例で用いた標準パタン、２４は第１の実施
例で用いた入力紙面、５３は第２の実施例で用いた入力
紙面、７２は第３の実施例と第４の実施例と第５の実施
例で用いた入力紙面をそれぞれ表わす。 代理人　弁理士　　内　原　　　晋 」 第　４　図　（Ａ） ？−Ｎ　つ　も　％　く　δ　％　〉　ミ　ミ力５０（
８） 第　３　　霞 ［株］　　　　　　〜 埼 日 イ 婉 窄 （Ｄ 冒（ う− しｍｌ 笠 鋸　犯 ば 〈ト イ 唱 ｑ　　　　根 ミ Ｙ （，０） 晃　　Ｉｓ （Ｅ） 図

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）紙面で反射する光を画像として出力する反射光入
   力手段と、上記反射光入力手段が出力する画像を記憶す
   る画像記憶手段と、 上記画像記憶手段が記憶する画像を構成する画素群のう
   ち画素値が閾値よりも大きな画素群を選択する第１照合
   領域算出手段と、 上記第１照合領域算出手段が選択する画素群を記憶する
   照合領域記憶手段と、 標準パタンを記憶する標準パタン記憶手段と、上記標準
   パタン記憶手段が記憶する前記画像記憶手段が記憶する
   画像を構成する画素群のうち、前記照合領域記憶手段が
   記憶する画素群だけを用いて上記画像を前記標準パタン
   記憶手段が記憶する標準パタンと照合する照合手段を具
   備することを特徴とし、 前記画像記憶手段が記憶する画像の中から前記標準パタ
   ン記憶手段が記憶する標準パタンの位置をみつける画像
   識別装置。
2. （２）請求項（１）記載の画像識別装置において、反射
   光入力手段、第１照合領域算出手段を、それぞれ、紙面
   を透過する光を画像として検出する透過光入力手段、画
   像記憶手段が記憶する画像を構成する画素群のうち画素
   値が閾値よりも小さな画素群を選択する第２照合領域算
   出手段とした画像識別装置。
3. （３）紙面で反射する光を反射光画像として出力し同時
   に紙面を透過する光を透過光画像として出力する画像入
   力手段と、 上記画像入力手段が出力する反射光画像を記憶する反射
   光画像記憶手段と、 前記画像入力手段が出力する透過光画像を記憶する透過
   光画像記憶手段と、 前記反射光画像記憶手段が記憶する反射光画像を構成す
   る画素群のうち画素値が閾値よりも大きい画素群と前記
   透過光画像記憶手段が記憶する透過光画像を構成する画
   素群のうち画素値が閾値よりも小さな画素に対応する上
   記反射光画像を構成する画素群を選択する第３照合領域
   算出手段と、 上記第３照合領域算出手段が選択する画素群を記憶する
   照合領域記憶手段と、 標準パタンを記憶する標準パタン記憶手段と、前記反射
   光画像記憶手段が記憶する反射光画像を構成する画素群
   のうち、前記照合領域記憶手段が記憶する画素群だけを
   用いて上記反射光画像を前記標準パタン記憶手段が記憶
   する標準パタンと照合する反射光照合手段を具備するこ
   とを特徴とし、 前記反射光画像記憶手段が記憶する反射光の中から前記
   標準パタン記憶手段が記憶する標準パタンの位置をみつ
   ける画像識別装置。
4. （４）請求項（３）記載の画像識別装置において、反射
   光照合手段を、透過光記憶手段が記憶する透過光画像を
   構成する画素群のうち、照合領域記憶手段が記憶する画
   素群だけを用いて標準パタン記憶手段が記憶する標準パ
   タンと照合する透過光照合手段にした画像識別装置。
5. （５）請求項（３）記載の画像識別装置において、標準
   パタン記憶手段を、同一のパタンに関する複数個の記述
   群を記憶する複数標準パタン記憶手段にし、また反射光
   照合手段を、透過光記憶手段が記憶する透過光画像と反
   射光記憶手段が記憶する反射光画像を構成する画素群の
   うち照合領域記憶手段が記憶する画素群だけを用いて複
   数標準パタン記憶手段が記憶する記述群と照合する複数
   画像照合手段にした画像識別装置。