JPH01305673A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- JPH01305673A JPH01305673A JP63135526A JP13552688A JPH01305673A JP H01305673 A JPH01305673 A JP H01305673A JP 63135526 A JP63135526 A JP 63135526A JP 13552688 A JP13552688 A JP 13552688A JP H01305673 A JPH01305673 A JP H01305673A
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Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Picture Signal Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
、 ぢ
〔産業上の利用分野〕
本発明は固体撮像装置に係り、%に固体撮像素子に発生
する暗電流を補止して黒レベルの温度震動を抑圧した固
体撮像装置に関″1′ろ。
する暗電流を補止して黒レベルの温度震動を抑圧した固
体撮像装置に関″1′ろ。
フォトダイオード等の光電変換素子を画素として、これ
ら画素を順次走査して映像信号を得る固体撮像装置にお
いて、避けられない問題のひとつに暗電流かある。
ら画素を順次走査して映像信号を得る固体撮像装置にお
いて、避けられない問題のひとつに暗電流かある。
ます、第2図、第6図、第4図を用い℃、固体撮像装置
の概略を説明し、絖いて、暗電流について説明する。第
2図は固体(前像素子の略構成図である。フォトダイオ
ード26に蓄えられた48号は、水平走査回路21及び
垂直走査回路22に、より、水平選択スイッチ25、及
び垂直選択スイッチ24゜26が選択されたタイミング
で、水平18号線27、さらに垂直信号線28側へ読み
出され、前1跋増幅器29で、電圧(8号に変換される
。
の概略を説明し、絖いて、暗電流について説明する。第
2図は固体(前像素子の略構成図である。フォトダイオ
ード26に蓄えられた48号は、水平走査回路21及び
垂直走査回路22に、より、水平選択スイッチ25、及
び垂直選択スイッチ24゜26が選択されたタイミング
で、水平18号線27、さらに垂直信号線28側へ読み
出され、前1跋増幅器29で、電圧(8号に変換される
。
第5図は、上記した固体像1象素子の画素ごとの単位回
路である。図中61〜68は、謁2図の21〜28の部
分にそれぞれ相当する。第4図は、第5図の回路を半導
体基板上に構成した縦構造図である。
路である。図中61〜68は、謁2図の21〜28の部
分にそれぞれ相当する。第4図は、第5図の回路を半導
体基板上に構成した縦構造図である。
第4図において41はN形半導体基板であり、42はP
形ウェル層である。43,44.45は、水平。
形ウェル層である。43,44.45は、水平。
垂直選択スイッチのドレイン及びンースをなすル形拡散
層であり、このうち43はフォトダイオードのカンード
となる。46は垂直選択スイッチのゲート、47は水平
選択スイッチのゲートである。48は絶縁酸化膜、49
はアルミ信号線である。
層であり、このうち43はフォトダイオードのカンード
となる。46は垂直選択スイッチのゲート、47は水平
選択スイッチのゲートである。48は絶縁酸化膜、49
はアルミ信号線である。
同図において、 IL形基板41には一般に5〜7V
の正電圧を印加する。さらにP形ウェル42は、第2図
、第3図におけるグランドに相当する部位であるが、こ
の部分にも0.5〜IJ/’a度の正電圧を開力りする
ことか通常である。これは、極端に強い光がフォトダイ
オードに入射したときに、画素がらあふれた電荷が、水
平、垂直選択スイッチの電位障壁をのりこえて、出力惧
」へ流れ出してしまうブルーミンク現象を抑圧するため
である。ウェル42に正直圧を与えて電位ポテンシャル
を少し下げておけば、あふれた電荷は、ウェル側へ流れ
、上記したプルーミングは発生しない。
の正電圧を印加する。さらにP形ウェル42は、第2図
、第3図におけるグランドに相当する部位であるが、こ
の部分にも0.5〜IJ/’a度の正電圧を開力りする
ことか通常である。これは、極端に強い光がフォトダイ
オードに入射したときに、画素がらあふれた電荷が、水
平、垂直選択スイッチの電位障壁をのりこえて、出力惧
」へ流れ出してしまうブルーミンク現象を抑圧するため
である。ウェル42に正直圧を与えて電位ポテンシャル
を少し下げておけば、あふれた電荷は、ウェル側へ流れ
、上記したプルーミングは発生しない。
問題とする暗電流は、上記したウェルと、フォトタ”イ
オード、及び水平、垂直信号線間のn −p接合で、第
3図中、矢印1. 、 I2. 、 I3に示すように
発生する。
オード、及び水平、垂直信号線間のn −p接合で、第
3図中、矢印1. 、 I2. 、 I3に示すように
発生する。
この暗電流Iは、撮像集子個体定数をa、b、絶対温度
Tとすると、 I−6g −75/T で表わされるように、温度と共に指数関数的に増加する
。1)1t¥jL流の発生により、無信号時の再生レベ
ル、すなわち黒レベルがオフセットを持つこととなり、
これにより、黒レベルが温度変動してしまう。
Tとすると、 I−6g −75/T で表わされるように、温度と共に指数関数的に増加する
。1)1t¥jL流の発生により、無信号時の再生レベ
ル、すなわち黒レベルがオフセットを持つこととなり、
これにより、黒レベルが温度変動してしまう。
従来からこの問題を回避するために外部回路により、上
記変動分をキャンセルすることが行なわれてきた。この
種の装置については、例えば、特公昭62−4055今
出他「固体撮像装置」において論じられている。
記変動分をキャンセルすることが行なわれてきた。この
種の装置については、例えば、特公昭62−4055今
出他「固体撮像装置」において論じられている。
本従来例では、暗電流と同様に温度によって指数関数的
に変化するバイポーラトランジスタのコレクメ電流を補
正信号として用いている。
に変化するバイポーラトランジスタのコレクメ電流を補
正信号として用いている。
また、最近では、第5図に示すように固体撮像素子51
、52の画素アレイ55 、54の一部をアルミなど
で遮光し、この部分55 、56を光学黒として、同部
分の再生電位を基準黒とし、暗電流による変動分を相殺
する方法が一般的となっている。
、52の画素アレイ55 、54の一部をアルミなど
で遮光し、この部分55 、56を光学黒として、同部
分の再生電位を基準黒とし、暗電流による変動分を相殺
する方法が一般的となっている。
しかしながら、上記した光学黒を用いても、撮像素子製
造過程での、光学黒を生成するだめのアルミエツチング
や、受光面への色フイルタ貼付などにより、光学黒の部
分と、受光部の部分とが厳密には均質とならす、各々で
発生する暗電流量にアンバランスが生じて黒ずれが発生
し、同じく外部回路による補償を必要としていた。
造過程での、光学黒を生成するだめのアルミエツチング
や、受光面への色フイルタ貼付などにより、光学黒の部
分と、受光部の部分とが厳密には均質とならす、各々で
発生する暗電流量にアンバランスが生じて黒ずれが発生
し、同じく外部回路による補償を必要としていた。
前記従来例においては、補償誤差に関しても言及しであ
るが、近年、固体撮像素子の高感度化は急速に進んでお
り、これにより暗電流補償誤差に対する許容度は増々厳
しくなってきており、より正確な補償を行なう必要が生
じてきている。
るが、近年、固体撮像素子の高感度化は急速に進んでお
り、これにより暗電流補償誤差に対する許容度は増々厳
しくなってきており、より正確な補償を行なう必要が生
じてきている。
さらに近年、詳細は後述するが、画素の読み出し周期、
すなわち電荷蓄積時間を標準時よりも延長し、画像メモ
リと組みあわせて高感度化を図る機能を有した固体撮像
装置や、逆に′電荷@槓時間を短かくして高速シャッタ
効果を得るような機能を有した固体撮像装置が提案され
ている。
すなわち電荷蓄積時間を標準時よりも延長し、画像メモ
リと組みあわせて高感度化を図る機能を有した固体撮像
装置や、逆に′電荷@槓時間を短かくして高速シャッタ
効果を得るような機能を有した固体撮像装置が提案され
ている。
画素に蓄積される暗電流量は、蓄積時間に比例するので
このように画素の電荷蓄積時間を変化させた場合、当然
ながら暗電流による黒レベルの変動量も変化し、その補
正菫も変化させる必要かある。
このように画素の電荷蓄積時間を変化させた場合、当然
ながら暗電流による黒レベルの変動量も変化し、その補
正菫も変化させる必要かある。
従来の補正装置には、このような電荷蓄積時間の変化に
ついては考慮されておらず、適正な補正が行なえないと
いう問題かあった。
ついては考慮されておらず、適正な補正が行なえないと
いう問題かあった。
したがって本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を
なくし、温度ないし電荷蓄積時間が変化しても、黒レベ
ルが変動しない固体撮像装置を提供することにある。
なくし、温度ないし電荷蓄積時間が変化しても、黒レベ
ルが変動しない固体撮像装置を提供することにある。
上記問題点は以下の技術手段のいずれか、ない□し複数
を併用することにより達成される。
を併用することにより達成される。
・10 ・
1、温度検出用トランジスタないしダイオードから流れ
る逆飽和電流をコンデンサ等の充電器に蓄積する手段A
と、該充電器を撮像索子各画素の電荷蓄積時間と同周期
でリセットする手段Bと、リセット時に該充電器より放
出された電荷量に比例した撮幅の補正パルスを出力する
手段Cとからなる暗電流補正回路を構成し、該補正パル
スを映像信号光学点部分に注入し、受光部黒レベルと、
光学黒部黒レベルを同一とする。
る逆飽和電流をコンデンサ等の充電器に蓄積する手段A
と、該充電器を撮像索子各画素の電荷蓄積時間と同周期
でリセットする手段Bと、リセット時に該充電器より放
出された電荷量に比例した撮幅の補正パルスを出力する
手段Cとからなる暗電流補正回路を構成し、該補正パル
スを映像信号光学点部分に注入し、受光部黒レベルと、
光学黒部黒レベルを同一とする。
2゜固体撮像素子の光学黒部分の画素のウェル層1を、
受光部画素のウェル1−2と分離し、該ウェル層1に電
圧を印加する端子Aと、該ウェル層2に電圧を印加する
端子Bを設け、それぞれの端子電圧A、Bを別個に制御
して、光学黒部画素におい℃発生する暗電流量を、受光
部画素において発生する暗電流蓋と等しくする03゜固
体撮像素子の光学黒部分の画素を走査する走査回路1を
、受光部画素を走査する走査回路2と個別に設け、該走
査回路1の走査速度を、復走査回路2の走査速度と一定
比率を持つように制御し、受光部画素から読み出される
暗電流蓋と、光学黒部画素から読み出される暗電流量を
等しくする。
受光部画素のウェル1−2と分離し、該ウェル層1に電
圧を印加する端子Aと、該ウェル層2に電圧を印加する
端子Bを設け、それぞれの端子電圧A、Bを別個に制御
して、光学黒部画素におい℃発生する暗電流量を、受光
部画素において発生する暗電流蓋と等しくする03゜固
体撮像素子の光学黒部分の画素を走査する走査回路1を
、受光部画素を走査する走査回路2と個別に設け、該走
査回路1の走査速度を、復走査回路2の走査速度と一定
比率を持つように制御し、受光部画素から読み出される
暗電流蓋と、光学黒部画素から読み出される暗電流量を
等しくする。
まず必要のため、前記した画素の電荷蓄積時間を延長し
て高感度化する手段、及び蓄積時間を短縮して高速シャ
ッタ効果を得る手段について説明する。
て高感度化する手段、及び蓄積時間を短縮して高速シャ
ッタ効果を得る手段について説明する。
第6図は高速シャッタ機能を有する固体撮像素子の徊成
図であり、61は水平走査回路、62は垂直走査回路で
ある。66は掃き出し用垂直走査回路であり、64は掃
き出し端子R17である。その他各部の動作は第2図、
第6区に示した標準的な固体撮像素子と同様である。
図であり、61は水平走査回路、62は垂直走査回路で
ある。66は掃き出し用垂直走査回路であり、64は掃
き出し端子R17である。その他各部の動作は第2図、
第6区に示した標準的な固体撮像素子と同様である。
各々の走査回路61 、62.63は、それぞれの走査
スタートパルスH1n 、 Vln 、 VlnE
vv タイミングで走査を開始し、各々のクロックH1
/7B2.V1/V2゜V1Ef2Eに従い走査を繰り
返す。
スタートパルスH1n 、 Vln 、 VlnE
vv タイミングで走査を開始し、各々のクロックH1
/7B2.V1/V2゜V1Ef2Eに従い走査を繰り
返す。
第7図は垂直帰線期間イボ近のタイミングチャートであ
る。期間T5が垂@帰線期間である。
る。期間T5が垂@帰線期間である。
今、第6図Aの画素に層目する。画素Aはまず時刻t1
におい℃走査を開始した掃き出し用垂直走査回路、及び
水平走査回路によって選択され、時刻t2において第6
pRV端子電圧にリセットされる。リセットiも画素A
は光電変換による電荷蓄積を続け、時刻t6において走
査を開始した読み出し用垂直走査回路、及び水平走査回
路において再度選択され、時刻t4において読み出され
る。
におい℃走査を開始した掃き出し用垂直走査回路、及び
水平走査回路によって選択され、時刻t2において第6
pRV端子電圧にリセットされる。リセットiも画素A
は光電変換による電荷蓄積を続け、時刻t6において走
査を開始した読み出し用垂直走査回路、及び水平走査回
路において再度選択され、時刻t4において読み出され
る。
以上により、画素Aの電荷蓄積時間は、第7図期間T2
で表わされる短い期間となり、高速シャッタ効果が得ら
れる。電荷蓄積時間T2は、パルスV1nとVlnE
の間の期間T1に等しく、従って、VlnEのV1ル
に対する位相を変化させることで、電荷蓄積時間を、標
準/60 秒から、水平走査周期である約1/150
00秒まで可変しうる。
で表わされる短い期間となり、高速シャッタ効果が得ら
れる。電荷蓄積時間T2は、パルスV1nとVlnE
の間の期間T1に等しく、従って、VlnEのV1ル
に対する位相を変化させることで、電荷蓄積時間を、標
準/60 秒から、水平走査周期である約1/150
00秒まで可変しうる。
第8図を用いて長時間蓄積による高感度機能について説
明する。は標準撮像時の信号波形であり、Vlnは、前
記の垂直走査回路スタートパルスである。高感度化機能
動作時には、同パルスを同図V1ル′に示すようにルフ
ィールドに1回とする。S′ばその時の信号波形である
。本S′侶号を画像メモリに入力し、次の信号読み出し
か行なわれるまでの間、メモリからの信号で補間して、
同図SNに示すような信号波形として高感度化を果たし
ている。
明する。は標準撮像時の信号波形であり、Vlnは、前
記の垂直走査回路スタートパルスである。高感度化機能
動作時には、同パルスを同図V1ル′に示すようにルフ
ィールドに1回とする。S′ばその時の信号波形である
。本S′侶号を画像メモリに入力し、次の信号読み出し
か行なわれるまでの間、メモリからの信号で補間して、
同図SNに示すような信号波形として高感度化を果たし
ている。
以上の高速シャッタ機能及び高感度化機能を単一の固体
撮像装置にもつこむことも、もちろん可能であるが、こ
れらの磯Mt、ば、画素の電荷蓄積時間の可変を基本と
しており、本発明において問題とするl]f電流もまた
各状態において変化し、黒レベル震動の問題が発生する
。
撮像装置にもつこむことも、もちろん可能であるが、こ
れらの磯Mt、ば、画素の電荷蓄積時間の可変を基本と
しており、本発明において問題とするl]f電流もまた
各状態において変化し、黒レベル震動の問題が発生する
。
以下において前記谷技術手段の作用について説明する。
1、黒レベルの温度変動は、前記したように、光学点部
分画素に発生する暗奄流賞と、受光部分画素に発生する
暗1;流麓の差異により生じる。
分画素に発生する暗奄流賞と、受光部分画素に発生する
暗1;流麓の差異により生じる。
従って変動量は温度と共に指数関数的に増大し、また画
素の電荷蓄積時間に比例する。
素の電荷蓄積時間に比例する。
前記手段1における温度検出用トランジスタの逆飽オ■
電流は、暗電流と同じ(温度により指数関数的に変化す
る。充電器には画素の電荷蓄槍時間に等しい期間だけ逆
飽和電流が流入したのちリセットされるので、補正パル
ス振幅は、黒レベル変動と同じ(、温度と共に指数関数
的に変化し、電荷蓄積時間に比例する。したがって上記
補正パルスにより、常に適正な補正を行なうことができ
、黒レベル変動を抑圧することかできる。
電流は、暗電流と同じ(温度により指数関数的に変化す
る。充電器には画素の電荷蓄槍時間に等しい期間だけ逆
飽和電流が流入したのちリセットされるので、補正パル
ス振幅は、黒レベル変動と同じ(、温度と共に指数関数
的に変化し、電荷蓄積時間に比例する。したがって上記
補正パルスにより、常に適正な補正を行なうことができ
、黒レベル変動を抑圧することかできる。
2、固体撮像素子の暗電流は、前記したように画素や信
号線と、P形ウェル層との間のルール接合で発生し、そ
の発生量はウェル層に印加される電圧に太き(依存する
。そこで光学黒部のウェル層に印加する電圧を、受光部
ウェル電圧と個別に制御することで、黒レベル変動を抑
圧することかできる。
号線と、P形ウェル層との間のルール接合で発生し、そ
の発生量はウェル層に印加される電圧に太き(依存する
。そこで光学黒部のウェル層に印加する電圧を、受光部
ウェル電圧と個別に制御することで、黒レベル変動を抑
圧することかできる。
6、前記したように、各画素から読み出される暗電流量
は、画素の蓄積時間、すなわち走査周期に比例する。光
学黒部画素を走査する走査回路を独立に設けて、受光部
画素の走査周期と、光学黒部画素の走査周期をそれぞれ
の画素に発生する暗電流蓋の比率と逆比率とすることで
、黒レベル変動を抑圧することができる。
は、画素の蓄積時間、すなわち走査周期に比例する。光
学黒部画素を走査する走査回路を独立に設けて、受光部
画素の走査周期と、光学黒部画素の走査周期をそれぞれ
の画素に発生する暗電流蓋の比率と逆比率とすることで
、黒レベル変動を抑圧することができる。
第1図、及び第9図、第10図、第11図を用いて本発
明の第1の実施例について説明する。
明の第1の実施例について説明する。
本実施例においては、固体撮像素子の光学黒部゛画素と
、受光部画素とにおいて発生する暗電流量の不一致によ
り発生する黒レベル変動を、外部回路により補正する。
、受光部画素とにおいて発生する暗電流量の不一致によ
り発生する黒レベル変動を、外部回路により補正する。
第1図は、点レベル変動補正回路の構成図であり、第9
図は前記した尚速シャッタ@籠動作時において、上記補
正回路各端子に印加するパルス、及び回路内各部電圧波
形のタイミングチャートである。第10図は、標準撮像
時における同上のタイミングチャー)、i%11図は、
同じ(前記した長時間蓄積による筒感度機能動作時の同
上のタイミングチャートである。
図は前記した尚速シャッタ@籠動作時において、上記補
正回路各端子に印加するパルス、及び回路内各部電圧波
形のタイミングチャートである。第10図は、標準撮像
時における同上のタイミングチャー)、i%11図は、
同じ(前記した長時間蓄積による筒感度機能動作時の同
上のタイミングチャートである。
第1図、及び第9図を用いて、本実施例の構成及び動作
について説明する。
について説明する。
第1図端子11及び12に印加されるパルスV1nE。
Vlnは、第6図、及び第7図に説明した、掃出、・1
5 読出用垂直走査回路のスタートパルス、及びその逆相パ
ルスである。したかつて固体撮像素子からは、第2図に
81に示すようなタイミングで信号か読み出されるが、
第5図Hに示したような圭直光学黒を設けた場合、この
部分の暗電流量が他の部分と異なるため、波形S1中、
OBの部分のように段差を生じる。この段差幅DEが温
度と共に変化して、黒レベル変動を生じる。
5 読出用垂直走査回路のスタートパルス、及びその逆相パ
ルスである。したかつて固体撮像素子からは、第2図に
81に示すようなタイミングで信号か読み出されるが、
第5図Hに示したような圭直光学黒を設けた場合、この
部分の暗電流量が他の部分と異なるため、波形S1中、
OBの部分のように段差を生じる。この段差幅DEが温
度と共に変化して、黒レベル変動を生じる。
第1図101は温度検出用ダイオードである。本ダイオ
ードを流れる逆飽和電流2は、暗電流と同じく温度と共
に指数関数的に便化する。今、パルスハηにより、時刻
t1において各量102内の電荷がリセットされる。容
量102内には、電流tによる充電が続き、蓄積された
′電荷Qは時刻t2に、おいてパルスV1nにより容量
106へ転送される。
ードを流れる逆飽和電流2は、暗電流と同じく温度と共
に指数関数的に便化する。今、パルスハηにより、時刻
t1において各量102内の電荷がリセットされる。容
量102内には、電流tによる充電が続き、蓄積された
′電荷Qは時刻t2に、おいてパルスV1nにより容量
106へ転送される。
この電荷により出力トランジスタ104のベースには、
102 、103の容量をCとするとq/Cで与えられ
る電圧が生じて、ホールドされる。この状態において時
刻t3〜t4に光学黒パルスOBPが端子14に印加さ
れると、出力端VOには、容量103・16・ に発生している電圧Vに、出力トランジスタ104のベ
ース・エミッタ間電圧Vnx5 を加えた振幅U+V
bE5 なるパルスVOが出力される。その後時刻t
5において容量103内の電荷はリセットされる。
102 、103の容量をCとするとq/Cで与えられ
る電圧が生じて、ホールドされる。この状態において時
刻t3〜t4に光学黒パルスOBPが端子14に印加さ
れると、出力端VOには、容量103・16・ に発生している電圧Vに、出力トランジスタ104のベ
ース・エミッタ間電圧Vnx5 を加えた振幅U+V
bE5 なるパルスVOが出力される。その後時刻t
5において容量103内の電荷はリセットされる。
実際には、容量103のリセット電位はトランジスタT
4のベース・エミッタ間電圧VBE4 テあるため、
VBE4 ”” VER5であるならば、出力パルスV
Oの振幅は、時刻t1からt2までの時間をtとすると
、次式で表わされる。
4のベース・エミッタ間電圧VBE4 テあるため、
VBE4 ”” VER5であるならば、出力パルスV
Oの振幅は、時刻t1からt2までの時間をtとすると
、次式で表わされる。
t
V O= + 2VEx
C6
ここにおいて前述したように逆飽和電流番は、暗電流と
同様の依存性を持つ。さらに時間tは、第7図に示した
ように、熾1家素子画累の電荷X積時間に常に等しい。
同様の依存性を持つ。さらに時間tは、第7図に示した
ように、熾1家素子画累の電荷X積時間に常に等しい。
従って、第1図抵抗R4を調整して、この出力パルスV
Oを撮像素子出力信号に注入すれば、第9図52に示す
ように、あらゆる温度において光学黒部08部に発生1
−る段差を消去することができ、黒レベル震動を抑圧す
るこ、18゜ とかできる。
Oを撮像素子出力信号に注入すれば、第9図52に示す
ように、あらゆる温度において光学黒部08部に発生1
−る段差を消去することができ、黒レベル震動を抑圧す
るこ、18゜ とかできる。
さらに第10図、第11図に、標準撮像時、及び長時間
蓄積時の第9図に対応したタイミングチャートを示すが
、いずれの場合にも、出力パルスVOの振幅は、それぞ
れの撮像素子画素の電荷蓄積時間tK、比例しており、
常に最適な黒レベル変動抑圧を行なうことができる。
蓄積時の第9図に対応したタイミングチャートを示すが
、いずれの場合にも、出力パルスVOの振幅は、それぞ
れの撮像素子画素の電荷蓄積時間tK、比例しており、
常に最適な黒レベル変動抑圧を行なうことができる。
第12図を用い工水発明の第2の実施例について説明す
る。本実施例はil」糺第1の実施例に示した温度補償
装置の固体撮像装置内での配置等に胸するものである。
る。本実施例はil」糺第1の実施例に示した温度補償
装置の固体撮像装置内での配置等に胸するものである。
第12図は固体]草体共電−の1賂グaツク図である。
固体撮像素子121は、駆動パルス発生器125により
駆動され、レンズ122に結像した信号を出力する。色
号は前置増幅器126で増幅された恢、マトリクス演算
器128により輝度及び色信号に分離され、直流再生器
129により直流再生される。その後エンコーダ121
0においてNTSC等の規格信号化され出力される。こ
れらの処理のタイミングは、同期化号発生器1211に
より制御されている。
駆動され、レンズ122に結像した信号を出力する。色
号は前置増幅器126で増幅された恢、マトリクス演算
器128により輝度及び色信号に分離され、直流再生器
129により直流再生される。その後エンコーダ121
0においてNTSC等の規格信号化され出力される。こ
れらの処理のタイミングは、同期化号発生器1211に
より制御されている。
以上の固体撮像装置に拓いて、一般に固体撮像素子12
1ば、配線数が数多く必要なこと、撮像素子Ib力伯号
が微弱であることなどから、前置増幅器123及び1駆
動パルス発生器125と同一の基板126上に配置され
る。これを撮像素子基板と称する。さらに、撮像素子基
板126は、撮像素子121が外乱に敏感であること、
充分な遮光か必−・技であることなどから、導体ケース
127に封入される。
1ば、配線数が数多く必要なこと、撮像素子Ib力伯号
が微弱であることなどから、前置増幅器123及び1駆
動パルス発生器125と同一の基板126上に配置され
る。これを撮像素子基板と称する。さらに、撮像素子基
板126は、撮像素子121が外乱に敏感であること、
充分な遮光か必−・技であることなどから、導体ケース
127に封入される。
本実施例においては、黒レベル震動補償回路124を、
上記導体ケース127内に配置し、注入抵抗R,及びR
1−R4により、信号処理基板1212上において、重
置増幅器125出力侶号に、補償イh+i′注入を行な
う。
上記導体ケース127内に配置し、注入抵抗R,及びR
1−R4により、信号処理基板1212上において、重
置増幅器125出力侶号に、補償イh+i′注入を行な
う。
まず補償回路124を導体ケース内に配置する理由であ
るが、撮像素子近傍に配置される駆動パルス発生器12
5及び前置増幅器126が比較的発熱しやすく、これら
により変化するj草体素子121自牙の温度変化を素早
く検出する必要があるためである。また、布線数が増大
するが、撮像素子121、及び補償回路124のみを独
立な導体ケースに刺入してもよい。
るが、撮像素子近傍に配置される駆動パルス発生器12
5及び前置増幅器126が比較的発熱しやすく、これら
により変化するj草体素子121自牙の温度変化を素早
く検出する必要があるためである。また、布線数が増大
するが、撮像素子121、及び補償回路124のみを独
立な導体ケースに刺入してもよい。
次に補償信号注入を前置増幅器123出力侶号に行なう
理由であるか、マトリクス演算器128により演昇され
た後での注入では、輝度及び各色信号によって注入蓋を
変化させねばならず、調整箇所が増大するからである。
理由であるか、マトリクス演算器128により演昇され
た後での注入では、輝度及び各色信号によって注入蓋を
変化させねばならず、調整箇所が増大するからである。
さらに注入抵抗RVal14贅を信号処理基板1212
上で行な5埋出であるが、撮像素子基板126は導体ケ
ースでおおわれているため、麓産上、調整しづらく、ケ
ースに調整用の穴をあげる寺の必要もあるからである。
上で行な5埋出であるが、撮像素子基板126は導体ケ
ースでおおわれているため、麓産上、調整しづらく、ケ
ースに調整用の穴をあげる寺の必要もあるからである。
以上より、本実施例における構成により、量産において
も無理のない黒レベル変動補償を行なうことかできる。
も無理のない黒レベル変動補償を行なうことかできる。
第16図を用いて本発明の第5の実施例について説明す
る。
る。
第15図は固体撮像素子の略構成図で、第2図に示した
ものに等しい。161は画素を示し、特に162に、そ
の上部をアルミ等で覆い、光学黒とした画素である。1
66は水平走査回路、164は垂直、21 走査回路を示1−0 本実施例におい又は、光学黒の画素162をつ(るウェ
ル層166を、他の部分のウェル層と分離し、各々個別
の電圧を印加できるように端子167.138を設ける
。
ものに等しい。161は画素を示し、特に162に、そ
の上部をアルミ等で覆い、光学黒とした画素である。1
66は水平走査回路、164は垂直、21 走査回路を示1−0 本実施例におい又は、光学黒の画素162をつ(るウェ
ル層166を、他の部分のウェル層と分離し、各々個別
の電圧を印加できるように端子167.138を設ける
。
前記したように受光部画素のウェル電位は、プルーミン
グや、侶号夕”イナミツクレンジなどから様々な制約を
受けるが、光学黒画素のウェル電位は比較的自由に設定
できる。そこで、光学黒画素のウェル電位を調整し、光
学黒画素に発生する暗電流を、受光部画素に発生する暗
電流と一致させ黒レベル変動の少ない固体撮像素子を実
現できる。
グや、侶号夕”イナミツクレンジなどから様々な制約を
受けるが、光学黒画素のウェル電位は比較的自由に設定
できる。そこで、光学黒画素のウェル電位を調整し、光
学黒画素に発生する暗電流を、受光部画素に発生する暗
電流と一致させ黒レベル変動の少ない固体撮像素子を実
現できる。
第14図を用い℃本発明の第4の実施例を説明する。第
14図は、本実施例における固体撮像素子の略構成図で
ある。本実施例においては、光学黒部画素を走査するの
に、独立な走査回路を設ける。
14図は、本実施例における固体撮像素子の略構成図で
ある。本実施例においては、光学黒部画素を走査するの
に、独立な走査回路を設ける。
141は受光部画素、142は光学黒部画素、143は
水平走査回路、144は受光耶画素用棄直走査回路14
5は光学黒部画素用読み出し垂直走査回路、146は光
学黒部画素用掃き出し垂直走査回路、147 、148
は走査行選択回路である。
水平走査回路、144は受光耶画素用棄直走査回路14
5は光学黒部画素用読み出し垂直走査回路、146は光
学黒部画素用掃き出し垂直走査回路、147 、148
は走査行選択回路である。
本実施例においては、光学黒部画素の電荷蓄積時間に対
する受光部画素の電荷蓄積時間の比率が、各々において
発生する暗電流量の逆比となるよう光学黒部画素の走査
周期を制御する。
する受光部画素の電荷蓄積時間の比率が、各々において
発生する暗電流量の逆比となるよう光学黒部画素の走査
周期を制御する。
今、受光部画素は標準撮像である1760 秒周期で
走査されているとする。仮に光学黒部画素に発生する暗
電流量が、受光部画素に発生する暗電流量と比較して、
1.5倍であったとすれば、光学黒部画素のみ、1/6
0 X 1/1.5 = 1/90 秒の蓄積時間と
すれはよい。電荷掃き出しに関しては、第6図。
走査されているとする。仮に光学黒部画素に発生する暗
電流量が、受光部画素に発生する暗電流量と比較して、
1.5倍であったとすれば、光学黒部画素のみ、1/6
0 X 1/1.5 = 1/90 秒の蓄積時間と
すれはよい。電荷掃き出しに関しては、第6図。
第7図に示した高速シャッタ機能と同様である。
逆に光学黒部画素に発生する暗電流量か、受光部画素に
発生する暗電流量の75%であったとすれは、147’
!; 148の走査行選択回路により、例えは−行おき
の間引き走査を行ない、各々の電荷蓄積時…」を延長し
た上で、掃き出し走査を行な5ことにより、任意の走査
周期とすることができる。
発生する暗電流量の75%であったとすれは、147’
!; 148の走査行選択回路により、例えは−行おき
の間引き走査を行ない、各々の電荷蓄積時…」を延長し
た上で、掃き出し走査を行な5ことにより、任意の走査
周期とすることができる。
以上により、本実施例における方法においても。
黒レベル変動の少ない固体撮像装置を実現できる。
第6図及び第14図を用いて、本発明の第5の実施例に
ついて説明する。本実施例では、第1実施例に示したよ
うな温度補償装置により、黒レベル変動を抑圧するにあ
たり、より正確な補償を可能とする方法について示す。
ついて説明する。本実施例では、第1実施例に示したよ
うな温度補償装置により、黒レベル変動を抑圧するにあ
たり、より正確な補償を可能とする方法について示す。
本発明の第1実施例では、画素の電荷蓄積時間とITf
U−時間だけ温度検出用ダイオードの逆飽和電流による
電荷をコンデンサに蓄積し、本電荷量に比例した補正を
行なう構成となっている。
U−時間だけ温度検出用ダイオードの逆飽和電流による
電荷をコンデンサに蓄積し、本電荷量に比例した補正を
行なう構成となっている。
しかしながら、撮像素子から出力される暗電流は厳密に
言うと、画素の電荷蓄積時間に比例しない。すなわち第
3図I3に示した暗電流は、画素の選択とは無関係であ
り、通常熾像時には影響は少ないが、例えば高速シャッ
タ機能により、画素の電荷蓄積時間を短かくした場合、
補正誤差の要因となる。
言うと、画素の電荷蓄積時間に比例しない。すなわち第
3図I3に示した暗電流は、画素の選択とは無関係であ
り、通常熾像時には影響は少ないが、例えば高速シャッ
タ機能により、画素の電荷蓄積時間を短かくした場合、
補正誤差の要因となる。
この問題は第14図において第4実施例に示したように
、光学黒部画素に独立な耽み出し及び掃き出し用垂直走
査回路を設け、光学黒画累の少なくとも一部領域を、高
速シャッタ走査させ、本領域の出力電位を基準黒レベル
とすることで回避できる。
、光学黒部画素に独立な耽み出し及び掃き出し用垂直走
査回路を設け、光学黒画累の少なくとも一部領域を、高
速シャッタ走査させ、本領域の出力電位を基準黒レベル
とすることで回避できる。
上記のようにすれは、基準黒レベル電位は、画素からの
影響がな(、垂直信号線に発生する暗電流I3によって
定められる電位となる。垂直信号線は、光学黒部、受光
部を問わず全ての画素に共通であるため、上記基準黒レ
ベルを補正時の基準値とすることで、より正確な補正を
行なうことができ、黒レベル変動のない固体撮像装置を
実現できる。
影響がな(、垂直信号線に発生する暗電流I3によって
定められる電位となる。垂直信号線は、光学黒部、受光
部を問わず全ての画素に共通であるため、上記基準黒レ
ベルを補正時の基準値とすることで、より正確な補正を
行なうことができ、黒レベル変動のない固体撮像装置を
実現できる。
本発明によれば、温度変動のみならす、高速シャッタ機
能や、間欠読み出しによる高感度機能に必要な撮像素子
画素の電荷蓄積時間の変化に対しても黒レベル変動のな
い固体撮像装置を提供することかできる。
能や、間欠読み出しによる高感度機能に必要な撮像素子
画素の電荷蓄積時間の変化に対しても黒レベル変動のな
い固体撮像装置を提供することかできる。
第1図は本発明の第1の実施例の回路構成図、第2図は
固体撮像素子の構成図、第3図は固体撮像素子の単位回
路図、第4図は、第3図回路の縦構造図、第5図は光学
黒を説明した固体撮像素子表面図、第6図は高速シャッ
タ機能付固体撮像素子の構成図、第7図は、高速シャッ
タ動作時のパルスタイミングチャート、@8図は間欠読
み出しによる高感度機能の説明図、第9図、第10図、
′第11図は、第1図回路の動作説明のためのタイミン
グチャート、第12図は、m1図回路配置を示した固体
虚像装置の略構成図、第15図は本発明のm5の実施例
の固体撮像素子の構成図、第14図は本発明の第4の実
施例の固体撮像素子の構成図である占符号の説明 101・・・温度検出用ダイオード 102.103・・・暗電流補正用電荷充電器104・
・・出力トランジスタ 105.106・・・充電器リセットトランジスタ代理
入弁理士 小 用勝 男 篤 1 図 山 2 男 遣 3 図 箪 斗 ロ 〉 〉 c [■ の 公 ≦ 〉 鎗
48\ 貿 )27 X )2 図 1’、’i )3ら 「−一一→−二、α勺 符開半1−3υbbi’/3(11) 1 )4 ■
固体撮像素子の構成図、第3図は固体撮像素子の単位回
路図、第4図は、第3図回路の縦構造図、第5図は光学
黒を説明した固体撮像素子表面図、第6図は高速シャッ
タ機能付固体撮像素子の構成図、第7図は、高速シャッ
タ動作時のパルスタイミングチャート、@8図は間欠読
み出しによる高感度機能の説明図、第9図、第10図、
′第11図は、第1図回路の動作説明のためのタイミン
グチャート、第12図は、m1図回路配置を示した固体
虚像装置の略構成図、第15図は本発明のm5の実施例
の固体撮像素子の構成図、第14図は本発明の第4の実
施例の固体撮像素子の構成図である占符号の説明 101・・・温度検出用ダイオード 102.103・・・暗電流補正用電荷充電器104・
・・出力トランジスタ 105.106・・・充電器リセットトランジスタ代理
入弁理士 小 用勝 男 篤 1 図 山 2 男 遣 3 図 箪 斗 ロ 〉 〉 c [■ の 公 ≦ 〉 鎗
48\ 貿 )27 X )2 図 1’、’i )3ら 「−一一→−二、α勺 符開半1−3υbbi’/3(11) 1 )4 ■
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、2次元的に配列された画素のアレイを有する固体撮
像素子と、該固体撮像素子を駆動する駆動パルス発生器
と、該画素に発生する暗電流の影響による基準直流再生
電位の変化の抑圧ないし相殺を目的とする暗電流補償回
路とからなり、該駆動パルスタイミングの可変により、
該固体撮像素子画素の電荷蓄積時間を可変しうる手段を
設けた固体撮像装置において、該駆動パルス発生器から
、該固体撮像素子駆動パルスの一部を、該暗電流補償回
路の動作のタイミングパルスとして出力し、該暗電流補
償回路は、該タイミングパルスにより補償量を可変しう
る構成とし、これらにより該暗電流補償を、温度および
該画素の電荷蓄積時間により可変させることを特徴とし
た固体撮像装置。 2、固体撮像素子に発生する暗電流の影響による該固体
撮像素子出力の基準直流再生電位の変動を抑圧ないし相
殺する目的で用いられる暗電流補償回路において、該暗
電流補償回路は、温度検出用素子として設けられた逆バ
イアスされたダイオードと、該ダイオードに生じた逆飽
和電流を蓄積する単数ないし複数の充電器と、該充電器
内の電荷をリセットする単数ないし複数のリセットトラ
ンジスタと、該充電器に蓄積された電荷に比例した振幅
の暗電流補正信号を出力する出力トランジスタと、該リ
セットトランジスタ及び出力トランジスタに接続され、
該各トランジスタにバイアス電圧を印加する複数の端子
とからなり、該端子には、長なる時間Aにおいて、接続
された該各トランジスタをカットオフさせ、短なる時間
Bにおいて導通し動作させる電圧のタイミングパルスが
印加され、これにより、該各トランジスタのベース電流
などにより、該充電器内に該逆飽和電流以外の電荷が流
入、ないし流出すること最小限に留め、正確な暗電流補
償を行なうことを特徴とした暗電流補償回路。 5、固体撮像素子に発生する暗電流の影響による該固体
撮像素子出力の基準直流再生電位の変動を抑圧ないし相
殺する目的で用いられる暗電流補償回路において、該暗
電流補償回路は、温度検出用素子として設けられた逆バ
イアスされたダイオードと、該ダイオードに生じた逆飽
和電流を蓄積する充電器1と、該充電器1の電荷をリセ
ットするリセットトランジスタ1と、該リセットトラン
ジスタ1に接続され、該リセットトランジスタ1の動作
時刻を定めるタイミングパルスを入力する端子1と、該
充電器1の電荷を充電器2へ転送する転送トランジスタ
と、該充電器1に接続され、該転送トランジスタの転送
時刻を定めるタイミングパルスを入力する端子2と、該
充電器2に接続され、該充電器2の電荷をリセットする
リセットトランジスタ2と、該リセットトランジスタ2
に接続され、該リセットトランジスタ2のリセット時刻
を定めるタイミングパルスを入力する端子3と、該充電
器2に接続され、該充電器2に蓄積された電荷に比例し
た振幅の暗電流補正信号を出力する出力トランジスタと
、該補正信号の出力時刻を定めるタイミングパルスを入
力する端子4とからなり、該構成要件における全てのト
ランジスタは、該端子1〜4にパルスの印加されない期
間にあっては全てカットオフするバイアス関係に維持さ
れており、これによりトランジスタのベース電流等の影
響により、該充電器1ないし充電器2に蓄積された該ダ
イオードの逆飽和電流による電荷が流出ないし増大して
、該補正信号に影響を及ぼすことを最少限に留め、正確
な暗電流補正を行なうことを特徴とした暗電流補正回路
。 4、2次元的に配列された画素のアレイと、該画素を走
査する走査パルスを出力する走査回路とを有する固体撮
像素子と、該走査回路を駆動する駆動パルス発生器とを
有し、該画素アレイの一部を遮光し、同部分の再生電位
を基準直流電位として映像信号を得る固体撮像装置にお
いて、該遮光画素を走査する走査回路Aを、該受光画素
を走査する走査回路Bと独立に設け、該受光画素の電荷
蓄積時間Cに対する該遮光画素の電荷蓄積時間Dの比率
を、該受光画素に発生する暗電流Eに対する該遮光画素
に発生する暗電流Fの逆比となるよう、該駆動パルス発
生器を制御したことを特徴とする固体撮像装置。 5、n形半導体基板上にP形ウェル層を設け、該ウェル
層上部にn形拡散層を2次元状に配して画素を形成し、
該画素の一部分をアルミ等で覆い、遮光画素とした固体
撮像索子と、該ウェル層にバイアス電圧を印加する電源
と、該遮光画素の再生電位を基準直流再生電位として映
像信号を得る手段とを有する固体撮像装置において、該
遮光画素部のウェル層Aと、その他の受光画素部のウェ
ル層Bとを分離し、各々に接続された端子C、Dを設け
、該端子C、Dに、該遮光画素に発生する暗電流と、該
受光画素に発生する暗電流とが、それぞれ等しくなるよ
うな電圧を印加することを特徴とした固体撮像装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63135526A JP2555150B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63135526A JP2555150B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 固体撮像装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01305673A true JPH01305673A (ja) | 1989-12-08 |
JP2555150B2 JP2555150B2 (ja) | 1996-11-20 |
Family
ID=15153836
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63135526A Expired - Lifetime JP2555150B2 (ja) | 1988-06-03 | 1988-06-03 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2555150B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010519825A (ja) * | 2007-02-24 | 2010-06-03 | フラウンホーファーゲゼルシャフト ツール フォルデルング デル アンゲヴァンテン フォルシユング エー.フアー. | ピクセルセル、ピクセルセルを駆動する方法、アナログ振幅変調信号の包絡線の最大の位置を決定する方法、電荷量を決定する装置、容量性要素の電荷量を決定する装置及び方法、回路ノードを所定の電圧に設定する装置及び方法、電荷ベースでアナログ/デジタル変換する装置及び方法、並びに電荷ベースで信号を処理する装置及び方法 |
-
1988
- 1988-06-03 JP JP63135526A patent/JP2555150B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010519825A (ja) * | 2007-02-24 | 2010-06-03 | フラウンホーファーゲゼルシャフト ツール フォルデルング デル アンゲヴァンテン フォルシユング エー.フアー. | ピクセルセル、ピクセルセルを駆動する方法、アナログ振幅変調信号の包絡線の最大の位置を決定する方法、電荷量を決定する装置、容量性要素の電荷量を決定する装置及び方法、回路ノードを所定の電圧に設定する装置及び方法、電荷ベースでアナログ/デジタル変換する装置及び方法、並びに電荷ベースで信号を処理する装置及び方法 |
US8669511B2 (en) | 2007-02-24 | 2014-03-11 | Jens Doege | Device and method for determination of a charge amount on a capacitive element, and a device and method for setting a circuit node at a predetermined voltage |
US9478582B2 (en) | 2007-02-24 | 2016-10-25 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. | Pixel cell and its method for applying voltage generated in a photosensor to a gate capacitance and alternately resetting the applied voltage |
US10115760B2 (en) | 2007-02-24 | 2018-10-30 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. | Pixel cell and its method for applying voltage generated in a photosensor to a gate capacitance and alternately resetting the applied voltage |
US10553636B2 (en) | 2007-02-24 | 2020-02-04 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. | Pixel cell and its method for applying voltage generated in a photosensor to a gate capacitance and alternately resetting the applied voltage |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2555150B2 (ja) | 1996-11-20 |
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