JPH01304343A - 線条体表面の突起検出装置 - Google Patents
線条体表面の突起検出装置Info
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- JPH01304343A JPH01304343A JP13473388A JP13473388A JPH01304343A JP H01304343 A JPH01304343 A JP H01304343A JP 13473388 A JP13473388 A JP 13473388A JP 13473388 A JP13473388 A JP 13473388A JP H01304343 A JPH01304343 A JP H01304343A
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、エナメル線などの表面に形成される突起を簡
易に検出し得る検出装置に関するものである。
易に検出し得る検出装置に関するものである。
[従来の技術]
例えば、エナメル線を製造するには、線条体をエナメル
塗料中に通過させ、線条体表面に付着した塗料をダイス
等で均一化させたのち焼付炉中において焼付けて塗膜を
形成し、この動作を所要回数繰返して所要厚さのエナメ
ル皮膜に形成させる。
塗料中に通過させ、線条体表面に付着した塗料をダイス
等で均一化させたのち焼付炉中において焼付けて塗膜を
形成し、この動作を所要回数繰返して所要厚さのエナメ
ル皮膜に形成させる。
上記において、付着さぜな塗料中に空気を巻込んだり異
物か混入したりすると、焼付炉内において局部的に膨張
し表面に突起となってあられれる。
物か混入したりすると、焼付炉内において局部的に膨張
し表面に突起となってあられれる。
この突起の形成は、エナメル線の品質を劣化させる因子
となるから、これの形成をつねに検出監視し得る体制に
おく必要かある。
となるから、これの形成をつねに検出監視し得る体制に
おく必要かある。
このための検出装置として、従来より種々な構成のもの
が使用されてきた。第2〜4図は、そのような検出装置
として広く実用に供されている3様の典型例を示すもの
である。
が使用されてきた。第2〜4図は、そのような検出装置
として広く実用に供されている3様の典型例を示すもの
である。
第2図は、エナメル線10よりわずかに大きな孔径を有
するダイス20を用いるものであり、ダイス20を図の
ように支持4$21に取付け、エナメル線10の表面に
突起か形成されて前記ダイス孔に引掛ることで支持棒2
1か変位し、リミッI・スイッチ22あるいは光電検知
器を動作さぜる構成よりなる。
するダイス20を用いるものであり、ダイス20を図の
ように支持4$21に取付け、エナメル線10の表面に
突起か形成されて前記ダイス孔に引掛ることで支持棒2
1か変位し、リミッI・スイッチ22あるいは光電検知
器を動作さぜる構成よりなる。
第3図は、ローラ30,30−を用いるものである。エ
ナメル線10の表面の突起にローラ30か乗り上げるこ
とにより支持棒31か変位し、リミットスイッチ32あ
るいは光電検知器を動作させるものである。
ナメル線10の表面の突起にローラ30か乗り上げるこ
とにより支持棒31か変位し、リミットスイッチ32あ
るいは光電検知器を動作させるものである。
また、第4図は」1記のように機械的接触によらず、光
学的手段により非接触的に突起の有無を検出するもので
ある。ずなわぢ、発光素子40より光をエナメル線10
の表面に照射し、その反射光を受光素子41により受光
し、エナメル線10の突起により生ずる反射光の乱れを
検知して突起の有無を検出しようとするものである。
学的手段により非接触的に突起の有無を検出するもので
ある。ずなわぢ、発光素子40より光をエナメル線10
の表面に照射し、その反射光を受光素子41により受光
し、エナメル線10の突起により生ずる反射光の乱れを
検知して突起の有無を検出しようとするものである。
[発明か解決しようとする課題]
上記従来の検出装置にはそれぞれつきのような問題点か
ある。
ある。
第2図に示すダイス方式では、ダイス孔と線条体の間の
ギャップにより検出可能な突起の大きさか定まり、当該
ギャップより小さな突起は検出不可能である。これを避
りる意味でギャップを十分に小さくすると、線条体かダ
イス内面と接触し易くなり、ダイス孔を摩耗させてダイ
スの寿命を短かくする。ダイス孔を硬質化し摩耗を低減
させようとすると、逆に線条体の表面に傷をつ幻るおそ
れかある。
ギャップにより検出可能な突起の大きさか定まり、当該
ギャップより小さな突起は検出不可能である。これを避
りる意味でギャップを十分に小さくすると、線条体かダ
イス内面と接触し易くなり、ダイス孔を摩耗させてダイ
スの寿命を短かくする。ダイス孔を硬質化し摩耗を低減
させようとすると、逆に線条体の表面に傷をつ幻るおそ
れかある。
第3図のローラ方式においては、前記ダイスによる場合
のように線条体の表面に傷をつけるおそれはないか、ロ
ーラの回転により生ずる振動と線条体の表面突起による
ローラの変位とを区別せねばならず、突起が小さくなる
とその区別か困難になる。また、小さな突起を検出する
にはローラの径も小さくする必要かあるか、そうすると
ローラの回転数か増大し、ローラを支持しているベアリ
ンクの摩耗を早め、寿命を短かくする結果となる。
のように線条体の表面に傷をつけるおそれはないか、ロ
ーラの回転により生ずる振動と線条体の表面突起による
ローラの変位とを区別せねばならず、突起が小さくなる
とその区別か困難になる。また、小さな突起を検出する
にはローラの径も小さくする必要かあるか、そうすると
ローラの回転数か増大し、ローラを支持しているベアリ
ンクの摩耗を早め、寿命を短かくする結果となる。
第4図の光学的方式によれば、上記のような接触方式の
有する欠点は回避できるが、線条体の全周にわたり光を
当てることか離しく、光源を増やしたり、特殊な反射鏡
を設置しなりしてこれをカバーしてやる必要かあり、全
体的に高価なものとなることは避けられない。
有する欠点は回避できるが、線条体の全周にわたり光を
当てることか離しく、光源を増やしたり、特殊な反射鏡
を設置しなりしてこれをカバーしてやる必要かあり、全
体的に高価なものとなることは避けられない。
本発明の目的は、上記のような従来技術の問題点を解消
し、簡易な構造をもって安価に設置することかでき、し
かも十分な信頼性を確保し得る新規な突起検出装置を提
供しようとするものである。
し、簡易な構造をもって安価に設置することかでき、し
かも十分な信頼性を確保し得る新規な突起検出装置を提
供しようとするものである。
[課題を解決するための手段]
本発明は、接触式ではあるか接触させる素子を前記従来
例におけるような硬質削性物質によらず、突起によって
容易に歪変形を生じ得る弾性物質により構成したもので
あり、該弾性物質の歪を圧電素子により感知可能に構成
し、これを電気信号として取出し得るようにしたもので
ある。
例におけるような硬質削性物質によらず、突起によって
容易に歪変形を生じ得る弾性物質により構成したもので
あり、該弾性物質の歪を圧電素子により感知可能に構成
し、これを電気信号として取出し得るようにしたもので
ある。
圧電素子は、マイクロフォンなどに応用されているJ:
うにわずかな歪をも高感度に検出し、しかもその歪量の
情報を適確に捕え得るものであり、線条体の表面状態の
わずかな変化をも適確に把握することができる。
うにわずかな歪をも高感度に検出し、しかもその歪量の
情報を適確に捕え得るものであり、線条体の表面状態の
わずかな変化をも適確に把握することができる。
[実施例]
以下に、本発明について実施例を参照し説明する。
第1図は、本発明に係る突起検出装置をエナメルilo
に装着した様子を示す見取図である。
に装着した様子を示す見取図である。
1.1はエナメル線10を挟持するように接触せしめた
弾性物質であり、具体的にはフェル1〜、軟質ゴム、ス
ポンジの如き容易に歪変形し得る材料が使用される。こ
れらの材料は大きな弾性力を有しており、エナメル線1
0に強く接触させずとも容易に変形させ得るから、接触
方式でかつ軟質材料であっても摩耗か少く、小さな表面
異常によってもそれを容易に歪量に変換し得る。なお、
これらの材料は単独で使用してもよく、組合せることで
それぞれの長所をもって補完し合うように使用すること
もできる。
弾性物質であり、具体的にはフェル1〜、軟質ゴム、ス
ポンジの如き容易に歪変形し得る材料が使用される。こ
れらの材料は大きな弾性力を有しており、エナメル線1
0に強く接触させずとも容易に変形させ得るから、接触
方式でかつ軟質材料であっても摩耗か少く、小さな表面
異常によってもそれを容易に歪量に変換し得る。なお、
これらの材料は単独で使用してもよく、組合せることで
それぞれの長所をもって補完し合うように使用すること
もできる。
2.2は、前記弾性物質1.1に接着させあるいは埋込
んだ圧電素子であり、リード線3,3により増IJ器4
に接続され、前記弾性物質の歪を感知して生じた電気信
号を増巾し、オシロスコープの如き表示器や警報器ある
いはチャートその他の記録装置などを有する検出器5に
より検出可能に構成される。
んだ圧電素子であり、リード線3,3により増IJ器4
に接続され、前記弾性物質の歪を感知して生じた電気信
号を増巾し、オシロスコープの如き表示器や警報器ある
いはチャートその他の記録装置などを有する検出器5に
より検出可能に構成される。
上記のようにエナメル線10に弾性物質1,1を接触さ
ぜ、エナメル線10を走行させれば、エナメル線10の
表面か健全な部分においては安定しな一定の接触信号か
持続され、それを圧電素子2.2か定常状態で検知し続
ける。その状態の中てエナメル線10の表面突起か通過
すると、その突起か非常に小さなものであっても接触に
よる歪に明白な変化か起り、圧電素子2.2はそれを適
確にとらえて検出器5にその検出結果を表示する。
ぜ、エナメル線10を走行させれば、エナメル線10の
表面か健全な部分においては安定しな一定の接触信号か
持続され、それを圧電素子2.2か定常状態で検知し続
ける。その状態の中てエナメル線10の表面突起か通過
すると、その突起か非常に小さなものであっても接触に
よる歪に明白な変化か起り、圧電素子2.2はそれを適
確にとらえて検出器5にその検出結果を表示する。
それにより、突起の大小といった定量的な情報をもある
程度把握でき、前記従来例に劣らぬ高感度をもってエナ
メル線10の表面異常を検出することかできる。
程度把握でき、前記従来例に劣らぬ高感度をもってエナ
メル線10の表面異常を検出することかできる。
しかも、弾性物質1,1および圧電素子2,2はいずれ
も安価に入手することかでき、増1器4や検出器5につ
いても今日のハイテク素子により高感度にして低廉なも
のを使用できるから、装置全体は構造簡易にして安価で
あり、経済効果の上からも大きなメリットを有する。
も安価に入手することかでき、増1器4や検出器5につ
いても今日のハイテク素子により高感度にして低廉なも
のを使用できるから、装置全体は構造簡易にして安価で
あり、経済効果の上からも大きなメリットを有する。
なお、以上は、検出対象となる線条体としてエナメル線
を具体例に上げて説明したか、伸線の際の異物埋込や表
面欠陥など他の線条体の表面界雷検知に対しても本発明
を適用することは可能である。
を具体例に上げて説明したか、伸線の際の異物埋込や表
面欠陥など他の線条体の表面界雷検知に対しても本発明
を適用することは可能である。
「発明の効果」
以上の通り、本発明に係る装置によれば、411造簡易
であって安価に適用でき、しかも線条体の外表面を傷つ
けるおそれなくその全周面の突起についてきわめて微小
なものまで高感度に検出し得るものであり、線条体の品
質保証上に及ぼず意義は大きなものかある。
であって安価に適用でき、しかも線条体の外表面を傷つ
けるおそれなくその全周面の突起についてきわめて微小
なものまで高感度に検出し得るものであり、線条体の品
質保証上に及ぼず意義は大きなものかある。
第1図は本発明に係る装置の使用状況を示す見取図、第
2から4図は従来の装置の3様の典型例を示す説明図で
ある。 に弾性物質、 2:圧電素子、 10:エナメル線(線条体)。 代理人 弁理士 佐 藤 不二が「第1図 第2図 宵3rl!i 第4図
2から4図は従来の装置の3様の典型例を示す説明図で
ある。 に弾性物質、 2:圧電素子、 10:エナメル線(線条体)。 代理人 弁理士 佐 藤 不二が「第1図 第2図 宵3rl!i 第4図
Claims (2)
- (1)線条体の表面に当該線条体の表面突起が接触する
ことで容易に歪変形を生じ得る弾性物質を接触配置し、
当該弾性物質の歪変形に感応する圧電素子を配置してな
る線条体表面の突起検出装置。 - (2)弾性物質がフェルト、ゴム、スポンジのいずれか
一あるいはその組合せにより構成されてなる請求項1記
載の突起検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13473388A JPH0758257B2 (ja) | 1988-06-01 | 1988-06-01 | 線条体表面の突起検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13473388A JPH0758257B2 (ja) | 1988-06-01 | 1988-06-01 | 線条体表面の突起検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01304343A true JPH01304343A (ja) | 1989-12-07 |
JPH0758257B2 JPH0758257B2 (ja) | 1995-06-21 |
Family
ID=15135319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13473388A Expired - Fee Related JPH0758257B2 (ja) | 1988-06-01 | 1988-06-01 | 線条体表面の突起検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0758257B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008070169A (ja) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Nagoya Institute Of Technology | 表面凸部検出装置および表面凸部検出方法 |
CN110849408A (zh) * | 2019-11-22 | 2020-02-28 | 铜陵精达里亚特种漆包线有限公司 | 一种扁平漆包线缺陷监控装置 |
-
1988
- 1988-06-01 JP JP13473388A patent/JPH0758257B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008070169A (ja) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Nagoya Institute Of Technology | 表面凸部検出装置および表面凸部検出方法 |
CN110849408A (zh) * | 2019-11-22 | 2020-02-28 | 铜陵精达里亚特种漆包线有限公司 | 一种扁平漆包线缺陷监控装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0758257B2 (ja) | 1995-06-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |