JPH01298525A - 光ヘッドの位置決め方法 - Google Patents
光ヘッドの位置決め方法Info
- Publication number
- JPH01298525A JPH01298525A JP12933188A JP12933188A JPH01298525A JP H01298525 A JPH01298525 A JP H01298525A JP 12933188 A JP12933188 A JP 12933188A JP 12933188 A JP12933188 A JP 12933188A JP H01298525 A JPH01298525 A JP H01298525A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical head
- track
- positioning
- error
- tracking
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 69
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 239000011295 pitch Substances 0.000 claims abstract description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ディスクにおけるピットエラーレイト（Ｂ
Ｐ、Ｒ）やキャリア／ノイズレシオ（ＣＮＲ）などの記
録特性を測定する光デイスク検査装置において、光ヘッ
ドを光デイスク上の所定の半径のトラックにトラッキン
グさせるための光ヘッドの位置決め方法に関するもので
ある。
Ｐ、Ｒ）やキャリア／ノイズレシオ（ＣＮＲ）などの記
録特性を測定する光デイスク検査装置において、光ヘッ
ドを光デイスク上の所定の半径のトラックにトラッキン
グさせるための光ヘッドの位置決め方法に関するもので
ある。
第２図は光デイスク検査装置の一般的な構成を示す構成
図である０図において、１は光ディスク、２は光ディス
ク１を支持するとともに、一定速度で回転させるスピン
ドルモータ、３は光ディスク１にレーザ光を照射すると
ともに、その反射光を検出し、各種の測定動作を行なう
光ヘッド、４は光ヘッド３を光ディスク１の半径方向に
移動（スライド）させる送り機構である。このように構
成された光デイスク検査装置においては、測定項目が選
択され、その測定項目に応じた測定トラックの半径’Ｍ
が指定されると、送り機構４により光ヘッド３をその半
径位置まで移動させ、所定の測定トラックにトラッキン
グさせる。
図である０図において、１は光ディスク、２は光ディス
ク１を支持するとともに、一定速度で回転させるスピン
ドルモータ、３は光ディスク１にレーザ光を照射すると
ともに、その反射光を検出し、各種の測定動作を行なう
光ヘッド、４は光ヘッド３を光ディスク１の半径方向に
移動（スライド）させる送り機構である。このように構
成された光デイスク検査装置においては、測定項目が選
択され、その測定項目に応じた測定トラックの半径’Ｍ
が指定されると、送り機構４により光ヘッド３をその半
径位置まで移動させ、所定の測定トラックにトラッキン
グさせる。
ここで、光ヘッド３を所定の測定トラックにトラッキン
グさせるための位置決め動作は、第３図に示すごときシ
ーケンスで行なわれている。すなわち、位置決めの目標
値となる半径ｒＭが与えられると、送り機構４は光ヘッ
ド３をその位置まで移動させる。光ヘッド３が目標位置
（ｒＭ）に達すると、光ヘッド３におけるレーザダイオ
ードを動作させるとともに、フォーカスサーボおよびト
ラッキングサーボをオンとし、レーザ光の照射位置を光
デイスク１上のトラックにトラッキングさせる。また、
トラッキングをステイル動作として、光ヘッド３のトラ
ッキング位置を一定半径（ｒ Ｍ ）に維持する。この
ようにして光ヘッド３の位置決めが完了した後、測定動
作が開始される。
グさせるための位置決め動作は、第３図に示すごときシ
ーケンスで行なわれている。すなわち、位置決めの目標
値となる半径ｒＭが与えられると、送り機構４は光ヘッ
ド３をその位置まで移動させる。光ヘッド３が目標位置
（ｒＭ）に達すると、光ヘッド３におけるレーザダイオ
ードを動作させるとともに、フォーカスサーボおよびト
ラッキングサーボをオンとし、レーザ光の照射位置を光
デイスク１上のトラックにトラッキングさせる。また、
トラッキングをステイル動作として、光ヘッド３のトラ
ッキング位置を一定半径（ｒ Ｍ ）に維持する。この
ようにして光ヘッド３の位置決めが完了した後、測定動
作が開始される。
しかしながら、このような位置決め動作では、送り機構
４により光ヘッド３の位置を決定した後、その位置で直
接ステイル動作に入っているので、光ディスク１に偏心
があると、トラッキングするトラックの位置（半径）が
偏心の影響を受け、目標値（ｒ Ｍ ＞から大きくずれ
てしまうことがある。
４により光ヘッド３の位置を決定した後、その位置で直
接ステイル動作に入っているので、光ディスク１に偏心
があると、トラッキングするトラックの位置（半径）が
偏心の影響を受け、目標値（ｒ Ｍ ＞から大きくずれ
てしまうことがある。
すなわち、通常、送り機構４は光ヘッド３のスライド位
置をサーボ機構に帰還するために、高精度の位置検出手
段を有しており、数μｍの位置決め精度を有するもので
あるが、光ディスク１に偏心があると、ステイル動作に
移る時点で、どのトラックにトラッキングがかかるか予
想できず、保証できる位置決め精度は±５０μｍ程度と
なってしまう。
置をサーボ機構に帰還するために、高精度の位置検出手
段を有しており、数μｍの位置決め精度を有するもので
あるが、光ディスク１に偏心があると、ステイル動作に
移る時点で、どのトラックにトラッキングがかかるか予
想できず、保証できる位置決め精度は±５０μｍ程度と
なってしまう。
このように、位置決め精度が低いと、目的とする半径ｒ
Ｍのトラックに正しく光ヘッド３をトラッキングさせる
ことができず、測定結果の再現性が低下してしまう。
Ｍのトラックに正しく光ヘッド３をトラッキングさせる
ことができず、測定結果の再現性が低下してしまう。
本発明は、上記のような従来方法の欠点をなくし、従来
の構成を変更することなく、高い位置決め精度を得るこ
とのできる光ヘッドの位置決め方法を提供することを目
的としたものである。
の構成を変更することなく、高い位置決め精度を得るこ
とのできる光ヘッドの位置決め方法を提供することを目
的としたものである。
本発明の光ヘッドの位置決め方法は、光ヘッドのスライ
ド位置を検出する手段を有する送り機構により測定すべ
きトラックの半径で与えられた目標値に応じて光ヘッド
を移動させる第１の位置決め工程と、この第１の位置決
め工程の後ステイル動作に移り光ヘッドのトラッキング
位置を一定円周上に維持するステイル工程と、このステ
イル状態におけるトラッキング位置を前記送り機構の位
置検出出力から測定しその値を光ディスクの円周に渡っ
て平均化するとともに前記目標値に対するトラッキング
位置の誤差をトラックのピッチ数に換算して求める誤差
測定工程と、このピッチ数に応じて光ヘッドのトラッキ
ング位置をトラックジャンプさせる第２の位置決め工程
とを具備するようにしたものである。
ド位置を検出する手段を有する送り機構により測定すべ
きトラックの半径で与えられた目標値に応じて光ヘッド
を移動させる第１の位置決め工程と、この第１の位置決
め工程の後ステイル動作に移り光ヘッドのトラッキング
位置を一定円周上に維持するステイル工程と、このステ
イル状態におけるトラッキング位置を前記送り機構の位
置検出出力から測定しその値を光ディスクの円周に渡っ
て平均化するとともに前記目標値に対するトラッキング
位置の誤差をトラックのピッチ数に換算して求める誤差
測定工程と、このピッチ数に応じて光ヘッドのトラッキ
ング位置をトラックジャンプさせる第２の位置決め工程
とを具備するようにしたものである。
このように、送り機構による位置決めを行なった後、ス
テイル状態における目標値との誤差をトラックのピッチ
数に換算して求め、光ヘッドのトラッキング位置をこの
ピッチ数だけトラックジャンプさせるようにすると、光
ディスクの偏心などによるトラッキング位置のずれをト
ラックジャンプにより補償することができ、目標とする
半径のトラックに高い精度でトラッキングさせることが
できる。
テイル状態における目標値との誤差をトラックのピッチ
数に換算して求め、光ヘッドのトラッキング位置をこの
ピッチ数だけトラックジャンプさせるようにすると、光
ディスクの偏心などによるトラッキング位置のずれをト
ラックジャンプにより補償することができ、目標とする
半径のトラックに高い精度でトラッキングさせることが
できる。
第１図は本発明の光ヘッドの位置決め方法の一実施例を
示すフロー図である。なお、本発明の位置決め方法を適
用するための光デイスク検査装置の構成は、前記した第
２図の装置と同様である。
示すフロー図である。なお、本発明の位置決め方法を適
用するための光デイスク検査装置の構成は、前記した第
２図の装置と同様である。
図において、処理ブロック■〜■の内容は前記した第３
図と同様であり、処理ブロック■は送り機構４により測
定すべきトラックの半径ｒＭ（目標値）に応じて光ヘッ
ド３を移動させる第１の位置決め工程、処理ブロック■
、■はこの第１の位置決め工程の後、ステイル動作に移
り、光ヘッド３のトラッキング位置を一定円周上に維持
するステイル工程を示している。
図と同様であり、処理ブロック■は送り機構４により測
定すべきトラックの半径ｒＭ（目標値）に応じて光ヘッ
ド３を移動させる第１の位置決め工程、処理ブロック■
、■はこの第１の位置決め工程の後、ステイル動作に移
り、光ヘッド３のトラッキング位置を一定円周上に維持
するステイル工程を示している。
ここで、光ヘッド３がステイル動作に入ると、送り機構
４は光ヘッド３のトラッキングサーボ機構とは協調サー
ボの関係になっているので、対物レンズの位置が常にア
クチュエータの中心にくるように、光ベツド３の位置を
変化させる。
４は光ヘッド３のトラッキングサーボ機構とは協調サー
ボの関係になっているので、対物レンズの位置が常にア
クチュエータの中心にくるように、光ベツド３の位置を
変化させる。
さて、処理ブロック■、■では、前記ステイル状態にお
ける光ヘッド３の位置を送り機構４の位置検出手段を利
用して高精度に測定するとともに、これより求められる
トラッキング位置（半径）ｒＭ′を光ディスク１の円周
に渡って平均化する。
ける光ヘッド３の位置を送り機構４の位置検出手段を利
用して高精度に測定するとともに、これより求められる
トラッキング位置（半径）ｒＭ′を光ディスク１の円周
に渡って平均化する。
このトラッキング位置の測定は光ディスク１の１回転を
連続的に測定しても良いが、９０°ごとにサンプリング
して、４点の値を平均するようにすれば、より簡単に平
均値を求めることができる。
連続的に測定しても良いが、９０°ごとにサンプリング
して、４点の値を平均するようにすれば、より簡単に平
均値を求めることができる。
処理ブロック■では、このようにして求めな平均値ｒ
′を目標値ｒ と比較し、その差ｒＥがＭ
Ｍ 一定値（例えば、２μｍ）より小さいときには、位置決
め動作を終了させる。
′を目標値ｒ と比較し、その差ｒＥがＭ
Ｍ 一定値（例えば、２μｍ）より小さいときには、位置決
め動作を終了させる。
また、この誤差ｒＢが２μｍ以上のときには、処理ブロ
ック■に進み、誤差ｒＥをトラックピッチｐ で割って
、誤差ｒＢの大きさをトラックのピッチ数ｎ に換算し
て求める。このとき、トラツクピッチｐＴは、１．６μ
ｍである。
ック■に進み、誤差ｒＥをトラックピッチｐ で割って
、誤差ｒＢの大きさをトラックのピッチ数ｎ に換算し
て求める。このとき、トラツクピッチｐＴは、１．６μ
ｍである。
この処理ブロック■〜■は、ステイル状態における１−
ラッキング位置ｒ ′を送り機構４の位ｎ検出出力から
測定し、その値を光ディスク１の円周に渡って平均化す
るとともに、目標値ｒユ、に対するトラッキング位置ｒ
′の誤差ｒＥをトラヴりのピッチ数ｎ に換算して求
める誤差測定工程を示している。
ラッキング位置ｒ ′を送り機構４の位ｎ検出出力から
測定し、その値を光ディスク１の円周に渡って平均化す
るとともに、目標値ｒユ、に対するトラッキング位置ｒ
′の誤差ｒＥをトラヴりのピッチ数ｎ に換算して求
める誤差測定工程を示している。
処理ブロック■は、上記のようにして求めたピッチ数ｎ
に応じて、光ヘヅド３のトラッキング位置をトラック
ジャンプさせ、このトラッキング位置を目標値ｒＭに一
致させる第２の位置決め工程である。このとき、光ヘッ
ド３は協調サーボの働きにより、トラックジャンプとと
もに移動する。
に応じて、光ヘヅド３のトラッキング位置をトラック
ジャンプさせ、このトラッキング位置を目標値ｒＭに一
致させる第２の位置決め工程である。このとき、光ヘッ
ド３は協調サーボの働きにより、トラックジャンプとと
もに移動する。
このように、送り機構４を使用した第１の位置決め工程
により光ヘッド３の位置を移動させた後、ステイル動作
に移行することにより生じる位置決めの誤差分子Ｅをト
ラックジャンプを利用した第２の位置決め工程により補
償するようにすると、光ディスク１の偏心などの影響を
除去して、高精度の位置決めを行なうことができる。こ
のときの位置決め精度は、±２μｍとなる。
により光ヘッド３の位置を移動させた後、ステイル動作
に移行することにより生じる位置決めの誤差分子Ｅをト
ラックジャンプを利用した第２の位置決め工程により補
償するようにすると、光ディスク１の偏心などの影響を
除去して、高精度の位置決めを行なうことができる。こ
のときの位置決め精度は、±２μｍとなる。
以上説明したように、本発明の光ヘッドの位置決め方法
では、光ヘッドのスライド位置を検出する手段を有する
送り機構により測定すべきトラックの半径で与えられた
目標値に応じて光ヘッドを移動させる第１の位置決め工
程と、この第１の位置決め工程の後ステイル動作に移り
光ヘッドのトラッキング位置を一定円周上に維持するス
テイル工程と、このステイル状態におけるトラッキング
位置を前記送りｍｓの位置検出出力から測定しその値を
光ディスクの円周に渡って平均化するとともに前記目標
値に対するトラッキング位置の誤差をトラックのピッチ
数に換算して求める誤差測定工程と、このピッチ数に応
じて光ヘッドのトラッキング位置をトラックジャンプさ
せる第２の位置決め工程とを具備するようにしているの
で、光ディスクの偏心などによるトラッキング位置のず
れをトラックジャンプにより補償することができ、従来
の構成を変更することなく、高い位置決め精度を得るこ
とのできる光ヘッドの位置決め方法を提供することがで
きる。
では、光ヘッドのスライド位置を検出する手段を有する
送り機構により測定すべきトラックの半径で与えられた
目標値に応じて光ヘッドを移動させる第１の位置決め工
程と、この第１の位置決め工程の後ステイル動作に移り
光ヘッドのトラッキング位置を一定円周上に維持するス
テイル工程と、このステイル状態におけるトラッキング
位置を前記送りｍｓの位置検出出力から測定しその値を
光ディスクの円周に渡って平均化するとともに前記目標
値に対するトラッキング位置の誤差をトラックのピッチ
数に換算して求める誤差測定工程と、このピッチ数に応
じて光ヘッドのトラッキング位置をトラックジャンプさ
せる第２の位置決め工程とを具備するようにしているの
で、光ディスクの偏心などによるトラッキング位置のず
れをトラックジャンプにより補償することができ、従来
の構成を変更することなく、高い位置決め精度を得るこ
とのできる光ヘッドの位置決め方法を提供することがで
きる。
第１図は本発明の光ヘッドの位置決め方法の一実施例を
示すフロー図、第２図は光デイスク検査装置の一般的な
構成を示す構成図、第３図は従来の光ヘッドの位置決め
方法の一例を示すフロー図である。 １・・・・・・光ディスク、２・・・・・・スピンドル
モータ、３・・・・・・光ヘッド、４・・・・・・送り
機構。 第１図 ↓ （測足１リウイ１；） 第２図 第３図 ↓ （ｆ１走會７Ｊ４’ｆ−）
示すフロー図、第２図は光デイスク検査装置の一般的な
構成を示す構成図、第３図は従来の光ヘッドの位置決め
方法の一例を示すフロー図である。 １・・・・・・光ディスク、２・・・・・・スピンドル
モータ、３・・・・・・光ヘッド、４・・・・・・送り
機構。 第１図 ↓ （測足１リウイ１；） 第２図 第３図 ↓ （ｆ１走會７Ｊ４’ｆ−）
Claims (1)
- 光ヘッドのスライド位置を検出する手段を有する送り
機構により測定すべきトラックの半径で与えられた目標
値に応じて光ヘッドを移動させる第１の位置決め工程と
、この第１の位置決め工程の後スティル動作に移り光ヘ
ッドのトラッキング位置を一定円周上に維持するスティ
ル工程と、このスティル状態におけるトラッキング位置
を前記送り機構の位置検出出力から測定しその値を光デ
ィスクの円周に渡って平均化するとともに前記目標値に
対するトラッキング位置の誤差をトラックのピッチ数に
換算して求める誤差測定工程と、このピッチ数に応じて
光ヘッドのトラッキング位置をトラックジャンプさせる
第２の位置決め工程とを具備してなる光ヘッドの位置決
め方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12933188A JPH01298525A (ja) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | 光ヘッドの位置決め方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12933188A JPH01298525A (ja) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | 光ヘッドの位置決め方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01298525A true JPH01298525A (ja) | 1989-12-01 |
Family
ID=15006959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12933188A Pending JPH01298525A (ja) | 1988-05-26 | 1988-05-26 | 光ヘッドの位置決め方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01298525A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0800128A2 (en) * | 1996-04-05 | 1997-10-08 | Sony Corporation | Motor control apparatus, motor control method, disk apparatus and disk access method |
-
1988
- 1988-05-26 JP JP12933188A patent/JPH01298525A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0800128A2 (en) * | 1996-04-05 | 1997-10-08 | Sony Corporation | Motor control apparatus, motor control method, disk apparatus and disk access method |
| EP0800128A3 (en) * | 1996-04-05 | 2001-01-24 | Sony Corporation | Motor control apparatus, motor control method, disk apparatus and disk access method |
| US6442109B1 (en) | 1996-04-05 | 2002-08-27 | Sony Corporation | Motor control apparatus, motor control method, disk apparatus and disk access method for correcting an assumed value based on error information |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6367549A (ja) | 光ディスク用レジスト原盤の欠陥検査及び膜厚測定装置 | |
| JPH0721868B2 (ja) | 光情報処理装置 | |
| JP2003248007A (ja) | 分析装置 | |
| JP2007149212A (ja) | 光情報媒体の検査方法および光情報媒体検査装置 | |
| JPH01298525A (ja) | 光ヘッドの位置決め方法 | |
| KR20050059242A (ko) | 광디스크의 트랙킹 제어장치, 트랙킹 제어방법 및 트랙킹제어프로그램 | |
| US6002656A (en) | Device for inspecting the surface of disc-shaped recording medium | |
| JP4403417B2 (ja) | 基準原盤、芯出し調整方法 | |
| JP3693813B2 (ja) | 光ディスク原盤露光装置におけるスピンドルモータ又はスライダのｃｌｖ駆動精度評価方法及び装置並びに駆動制御方法並びに光ディスク原盤露光装置 | |
| JP2003045058A (ja) | 光ディスク傾き検出装置 | |
| JPS62141644A (ja) | 光デイスクのトラツクサ−ボ回路 | |
| US20110007619A1 (en) | Optical disc apparatus and tracking control method | |
| JPH0580983B2 (ja) | ||
| JP3870130B2 (ja) | 光ディスク装置および光ディスクの回転制御方法 | |
| JPH06302099A (ja) | ディスクの位置ずれ補正装置 | |
| JP2002123942A (ja) | 光ディスク装置 | |
| JP2748900B2 (ja) | 露光装置 | |
| JPH0287334A (ja) | 光学的情報記録再生装置及び情報記録媒体 | |
| WO2005034100A2 (en) | Method of determining setting of spherical aberration corrector | |
| JP2006164460A (ja) | 光ディスク装置におけるトラッキング特性調整装置 | |
| JPS61280042A (ja) | デイスク偏芯量測定装置 | |
| CN101276610B (zh) | 应用于读/写光盘片的循轨控制方法 | |
| JPH01217201A (ja) | 情報記録媒体の形状検査装置 | |
| JP2004206772A (ja) | 光ディスク原盤及びスタンパの検査装置、方法及びプログラム | |
| JP2006309833A (ja) | 光学ピックアップ製造方法及び光学ピックアップ製造装置 |