JPH01296599A - Ecrプラズマ発生装置 - Google Patents

Ecrプラズマ発生装置

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JPH01296599A
JPH01296599A JP63127566A JP12756688A JPH01296599A JP H01296599 A JPH01296599 A JP H01296599A JP 63127566 A JP63127566 A JP 63127566A JP 12756688 A JP12756688 A JP 12756688A JP H01296599 A JPH01296599 A JP H01296599A
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JP
Japan
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microwaves
discharge chamber
plasma
microwave
waveguide
Prior art date
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Pending
Application number
JP63127566A
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English (en)
Inventor
Susumu Tanaka
進 田中
Yutaka Shimada
豊 島田
Susumu Fukuoka
福岡 進
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Tokyo Electron Sagami Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Sagami Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は電子サイクロトロン共鳴(ECR)プラズマ
を利用した半導体製造装置、例えばECRエツチャー、
ECRCVD等に適用されるECRプラズマ発生装置に
関する。
[従来の技術] 近年、半導体製造工程において電子サイクロトロン共鳴
(ECR)プラズマを利用するプロセスが開発され、化
学的気相成長(CVD)装置あるいは、エツチング装置
として実用化されている。
このようなECRプラズマ発生装置はプラズマ源となる
ガスを導入した放電室において、マイクロ波源から伝送
されるマイクロ波と電界に直交するように生ぜしめた磁
界とによって荷電粒子に電界エネルギを効率よく吸収さ
せて高活性のプラズマを生成すると共にこの高活性プラ
ズマ柘発散磁界により取り出し、試料表面に衝突させる
ものであり、マイクロ波の反射波を極力少なくすること
が重要な課題となる。マイクロ波の反射波が多ければ、
プラズマを効率良く発生させることはできず、また反射
波がマイクロ波源であるマグネトロンに戻った場合、そ
の過熱を引き起こすなどの問題がある。
そこで、マイクロ波の反射波をなくす方法として、従来
■マイクロ波の導波管にスリースタープチューナ等を設
はマイクロ波の波長を調整し、放電室で共振効果を高め
る、■マイクロ波をパルス状に照射する、■マイクロ波
の進行方向に誘電体板を挿入してマイクロ波のモードを
準TM波に変換する、 (マイクロ波の進行方向に電界
成分を持つ準TM波はプラズマ密度に依存しないで電子
サイクロトロン周波数でプラズマ中の電子と共鳴するこ
とが知られている。)、■放電室に設けたマイクロ波反
射板の開口部を小さく(60〜80mmφ)する方法が
とられている。
例えば第5図に示すECRプラズマ発生装置においては
、マイクロ波源1に接続される導波管20〜60の一つ
に、マイクロ波の入射電力及び反射電力を測定し反射波
を監視するパワーモニタ部3oを設置し、導波管40は
マイクロ波の波長を調整して放電室70内でのマツチン
グをとるスリースタブチューナになっている。更に放電
室70直前の導波管60はマイクロ波のモードをTEl
モードからTE□1モードに変換するようにテーパ型導
波管60が用いられている。そして放電室70の一端に
設けられたマイクロ波反射板80の開口部80aは約6
0〜80mmφ程度に設計されている。
このようなECRプラズマ発生装置においては、マイク
ロ波は通常パルス波として照射され、テーパ型導波管6
0でモード変換された後放電室70に導かれ、スリース
タブチューナ40によりマツチングを取ることにより放
電室70内で共振し、放電室に導入されたガス、例えば
N2のプラズマを発生させる。発生したプラズマは、反
応室90がデポジション室でSiH<等が導入されてい
るのであればプラズマはSj、H,等と反応して試料表
面にSi3N4をデポジションする。
この際、試料に高周波バイアスをかけることによって下
地の平担化、側壁部の緻密化を図ることができる。
このようなプラズマ発生装置は、マイクロ波の反射波を
更に減少させるためにマイクロ波のパルス波を用いてい
る。
[発明が解決しようとする課題] しかし、このような従来のECR技術には以下に述へる
ような問題があった。
まず、放電室70は通常真空時のマイクロ波の波長に合
わせて共振可能なように設計されている(例えば電界方
向に一波長分の長さになっている)が放電ガスの導入に
よってインピーダンスが変化し、マイクロ波の波長分で
なくなるためマイクロ波の波長側を調整することが必要
となるが、放電室90及びそれに直結した導波管6oの
周囲は磁界発生用の大型コイル100で取り囲こまれて
いるためマイクロ波の波長を調整するスリースタブチュ
ーナ40は放電室70から遠い導波管40に設けられて
おり、このためマイクロ波の調整が容易ではなく、特に
連続−の場合にはマツチングが困難であった。
又、マイクロ波をパルス状にした場合は、プラズマが間
欠的に一気に発生するため、放電室や反応室の室壁に付
着した反応生成物がパーティクルとしてはがれ、試料に
付着し、このようなパーティクルの付着は半導体素子不
良の原因となっていた。
更に、マイクロ波をパルス状にした場合は試料台への高
周波バイアス印加時に、試料台に発生するセルフバイア
ス(VDC)のピーク時が大きくなり試料に損傷を与え
るおそれがあった。第6図(a)、(b)に連続波とパ
ルス波の場合の試料台に発生するセルフバイアス(Vn
c)の様子を示した。同図に示すようにマイクロ波が連
続の場合はセルフバイアス(Vnc)は一定であり、高
周波バイアス20OW時−80Vであるが、パルスの場
合はマイクロ波休止時に−VDCの値が大きく、−20
0Vにも達する。
次にマイクロ波反射板80の開口80aを小さくした場
合には、反射波は減少するものの反応室90に向かうプ
ラズマ流の径が小さくなり、一般にプラズマ流内ではそ
の中心が強いプラズマであるから、試料の周辺部でのエ
ツチングあるいはCVDの均一性が良くない。また、均
一性を高めるためには小径の試料にしか適用することが
できない。一方、マイクロ波反射板の開口を例えば10
0mmφ以上に大きくした場合は、スリースタブチュー
ナで調整してもマイクロ波の反射波は小さくならない。
この発明はこのような従来の問題点を解消し、マイクロ
波がパルス波であっても連続波であってもその反射波を
極めて少なくすることができ、プラズマ発生効率の高い
ECRプラズマ発生装置を提供することを目的とする。
又、連続波の使用を可能にしこれによって試料の損傷や
パーティクル付着のないECRプラズマ発生装置を提供
することを目的とする。
[課題を解決するための手段] このような問題を解決する本発明のECRプラズマ発生
装置は、マイクロ波を発生するマイクロ波源、該マイク
ロ波を伝送するための導波管及び前記マイクロ波を利用
してプラズマを発生させるための放電室から成るECR
プラズマ発生装置において、前記放電室直前の導波管に
前記マイクロ波の波長調整手段を設けたことを特徴とす
る。
ここで、放電室直前の導波管は円筒状の導波管でもよい
が、好ましくはテーパ型導波管とする。
又、放電室直前に調整手段を設置するためには、磁界発
生用コイルを小型化し、導波管にかからないか、一部が
かかるのみとする。
[作用] マイクロ波を放電室直前で調整するようにしたので放電
室におけるガス導入によるインピーダンスの変化に直ち
に応答して放電室で共振できるようにマイクロ波を調整
することができ、極めてマツチングがよい。従ってマイ
クロ波は共振によって効率良くプラズマ発生利用される
ので反射波は極めて少ない。
[実施例] 以下、本発明のECRプラズマ発生装置をECRCVD
装置に適用した実施例について図面を参照して説明する
第1図のECRCVD装置はマイクロ波を発生するマイ
クロ波源1、マイクロ波を伝送する導波管2〜5、プラ
ズマを発生させるための放電室6及び発生したプラズマ
によって試料にデポジションを行うための反応室7とか
ら成り、放電室6の周囲には磁界を発生させるための小
型コイル8が設けられている。マイクロ波源1はマグネ
トロンなどのマイクロ波発生装置で、例えば工業周波数
(2,45GHz)のマイクロ波を発生する。
導波管2〜5はステンレス等の金属管で導波管3には発
生したマイクロ波の入射電力及び反射電力を測定し、反
射波を監視するパワーモニタ部3aが設置される。導波
管4はマイクロ波源伝送路を直角に変更するEコーナ、
導波管5はテーパ型導波管でマイクロ波の進行方向に誘
電体板9が挿入されている。
この導波管5の形状及び誘電体板9の存在によって誘電
体板9を進行するマイクロ波はTE□。モードから準T
Mモートに変換される。誘電体板9としては石英板を用
いることができる。
導波管5は、放電室6に接続される放電室直前の導波管
であり、これにマイクロ波の波長調整手段としてスリー
スタブ10が設けられる。すなわち、導波管5において
はマイクロ波のモード変換と波長の調整が行われる。
導波管5と放電室6との間には、マイクロ波は通すが放
電室6の真空はシールする部材11が介在する。部材1
1としては誘電体板9と同様に石英板が好適である。
放電室6は、マイクロ波の共振室として設計され、例え
ば電界方向にマイクロ波の真空における1波長分の長さ
を有し、その一端にはマイクロ波反射板12が設けられ
る。マイクロ波反射板12は放電室6で発生したプラズ
マを反応室7に導入するための開口部12aが設けられ
る。開口部12aの径は、従来と同様、60〜80mm
φとすることもできるが、好ましくはそれより広く、例
えば100〜120mmφ程度にする。尚、この値は処
理するウェハ等試料の径に応じて変化させることができ
る。
放電室6の外周に設けられる小型コイル8は導波管5に
設けたスリースタブ10の操作を防げない程の大きさで
あればよく、好適にはコイル内側に冷却装置を設けた小
型コイル、例えば導管コイルの管内に冷却水を循環させ
て冷却効率を高めたものを用いる。
コイル8は電界に垂直方向の磁界を発生し、その磁界の
強さは例えば2.45GH2のマイクロ波に対し、磁束
密度B=875Gaussである。
更に、放電室6にはプラズマ源となるガス、例えばN2
.02、Ar等を導入するための導入口13が設けられ
る。
反応室7は放電室6で発生するプラズマを利用してウェ
ハ基板等の試料WにCVDを行うための反応室で試料台
]4を備え、この試料台14上に図示しない搬送機構に
よって試料Wが搬入され載置される。反応室7がデポジ
ションを行う場合にはガス導入口15よりSj、H,等
が導入される。この場合、発生するプラズマがN2プラ
ズマであればS]H2と相互作用し試料」二に5j3N
4がデポジションし、○、プラズマの場合はSiO2が
デポジションする。
放電室6と反応室7とは図示しない真空系に接続され、
目的に応して所望の圧(減圧)でデポジションが行われ
る。
次にこのような構成におけるECRCVD装置の動作を
説明する。
まず、プラズマ源1から連続したマイクロ波を発生させ
る。このマイクロ波は導波管2〜4を経てテーパ型導波
管5において、TE、oモー1−から円形TE1□モー
トに変換され放電室6内に伝送される。放電室6にはプ
ラズマ源となるガスがガス導入口12より導入されると
共に、小型コイル8によって所望の磁界が生じており、
ここで伝送されたマイクロ波が共振することにより、効
率良く電界エネルギが吸収され高活性のプラズマが発生
する。この時放電室6はガスの導入によってインピーダ
ンスが変化してマイクロ波の波長分でなくなるが、この
変動は反射波の増加としてパワーモニタ部3aで検知さ
れるので、導波管5のスリースタブ]0によってマイク
ロ波の波長を調整し、マツチングをとる。スリースタブ
10はマイクロ波が共振する放電室6の直前の導波管5
に設けられているため、連続波であっても非常に応答性
よく、マツチングがとれる。
発生したプラズマはプラズマ流として反射板12の開口
部12aより反応室7に流入し、ここで導入される反応
ガスと相互作用し、試料台14上の試料Wに衝突しデポ
ジションが行われる。この際、必要に応し試料台14に
バイアス電圧をかけ下地の平坦化、側壁部の緻密化を図
る。
この場合、開口部12aが広いためプラズマ流は中心か
ら広い範囲が均一であり、従ってデポジションの均一性
が得られる。
尚、第2図に本装置により連続マイクロ波を用いた場合
のパワーと反射波のデータを、第3図にECR条件であ
る8 75 Gaussの発生湯所をコイル電流を変え
ることにより変化させた場合の反射波のデータをそれぞ
れ示した。両図からも明らかなようにマイクロ波パワー
が400W以上では常に安定して反射波は約1%と非常
に少なく、また磁界の発生湯所にかかわらず反射波は約
1%と極めて少なかった。放電ガスの種類や圧力を種々
変えた場合でも同様であった。
尚、本実施例においては、放電室6の直前の導波管とし
てテーパ型の導波管を用いると共に誘電体板9を挿入す
る構成としたがこの実施例に限定されることはなく、例
えばマイクロ波のモートを変換しない場合でもあるいは
導波管が円管であっても反射波を減らす効果を得ること
ができる。
また、マイクロ波マツチングのための調整手段としても
、スリースタブのみならず第4図に示すようなツースタ
ブ10′付導波管などの調整手段を用いることができる
更に、本実施例においては、連続したマイクロ波の場合
について述へたが、連続波でなくパルス波であっても適
用できることはいうまでもない。
[発明の効果] 以上の説明からも明らかなように本発明においては、E
CRプラズマ発生装置においてマイクロ波のマツチング
を放電室直前で行うようにしたため、マツチングの応答
性が極めて良好で、マイタロ波の反射波を非常に少なく
することができる。
又、これによりプラズマ流の径を大きくとることができ
るので、均一なエツチングあるいはデポジションを行う
ことができ、高品質な製品を得ることができる。特に、
テーパ型導波管の使用と組み合わせることにより反射波
を1%以下に押えることができる。
更に、マイクロ波として連続波を使用できるので、パル
ス波の欠点である間欠的プラズマ発生によるパーティク
ルの発生と試料への付着、高い自己バイアスによる試料
の損傷等をなくすことができる。
更に、マイクロ波の調整手段は放電室直前の導波管に設
けられているので、従来のようにスリースタブチューナ
を設ける必要がなく装置全体として小型化を図ることが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のECRプラズマ発生装置の一実施例を
示す図、第2図は同実施例を用いた際のマイクロ波パワ
ーと反射波のデータを示す図、第3図は同実施例を用い
た際の磁界発生条件と反射波のデータを示す図、第4図
は別の実施例を示す図、第5図は従来のプラズマ発生装
置、第6図(a)、(b)はマイクロ波とセルフバイア
スの関係を示す図である。 1・・・・・・・マイクロ波源 2〜4・・・導波管 5・・・・・・テーパ型導波管(放電室直前の導波管)
6・・・・・・放電室 7・・・・・・反応室 8・・・・・・コイル 10・・・・スリースタブ(波長調整手段)10’ ・
・・・ツースタブ(波長調整手段)代理人 弁理士  
守 谷 −雄 :       I/′I       O□束−浣シ ?      −〇 □ 灸眞賢メ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  マイクロ波を発生するマイクロ波源、該マイクロ波を
    伝送するための導波管及び前記マイクロ波を利用してプ
    ラズマを発生させるための放電室から成るECRプラズ
    マ発生装置において、前記放電室直前の導波管に前記マ
    イクロ波の波長調整手段を設けたことを特徴とするEC
    Rプラズマ発生装置。
JP63127566A 1988-05-25 1988-05-25 Ecrプラズマ発生装置 Pending JPH01296599A (ja)

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JP63127566A JPH01296599A (ja) 1988-05-25 1988-05-25 Ecrプラズマ発生装置

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JPH01296599A true JPH01296599A (ja) 1989-11-29

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006516806A (ja) * 2003-01-30 2006-07-06 アクセリス テクノロジーズ インコーポレーテッド 螺旋コイル結合形のリモートプラズマ源
JP2008041323A (ja) * 2006-08-02 2008-02-21 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置と方法
JPWO2008018159A1 (ja) * 2006-08-08 2009-12-24 株式会社アドテック プラズマ テクノロジー 2電源を備えたマイクロ波ラインプラズマ発生装置

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