JPH0129590Y2 - - Google Patents
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- JPH0129590Y2 JPH0129590Y2 JP13681781U JP13681781U JPH0129590Y2 JP H0129590 Y2 JPH0129590 Y2 JP H0129590Y2 JP 13681781 U JP13681781 U JP 13681781U JP 13681781 U JP13681781 U JP 13681781U JP H0129590 Y2 JPH0129590 Y2 JP H0129590Y2
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- contact pin
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 5
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- POIUWJQBRNEFGX-XAMSXPGMSA-N cathelicidin Chemical compound C([C@@H](C(=O)N[C@@H](CCCNC(N)=N)C(=O)N[C@@H](CCCCN)C(=O)N[C@@H](CO)C(=O)N[C@@H](CCCCN)C(=O)N[C@@H](CCC(O)=O)C(=O)N[C@@H](CCCCN)C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)NCC(=O)N[C@@H](CCCCN)C(=O)N[C@@H](CCC(O)=O)C(=O)N[C@@H](CC=1C=CC=CC=1)C(=O)N[C@@H](CCCCN)C(=O)N[C@@H](CCCNC(N)=N)C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)N[C@@H](CCC(N)=O)C(=O)N[C@@H](CCCNC(N)=N)C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)CC)C(=O)N[C@@H](CCCCN)C(=O)N[C@@H](CC(O)=O)C(=O)N[C@@H](CC=1C=CC=CC=1)C(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(=O)N[C@@H](CCCNC(N)=N)C(=O)N[C@@H](CC(N)=O)C(=O)N[C@@H](CC(C)C)C(=O)N[C@@H](C(C)C)C(=O)N1[C@@H](CCC1)C(=O)N[C@@H](CCCNC(N)=N)C(=O)N[C@@H]([C@@H](C)O)C(=O)N[C@@H](CCC(O)=O)C(=O)N[C@@H](CO)C(O)=O)NC(=O)[C@H](CC=1C=CC=CC=1)NC(=O)[C@H](CC(O)=O)NC(=O)CNC(=O)[C@H](CC(C)C)NC(=O)[C@@H](N)CC(C)C)C1=CC=CC=C1 POIUWJQBRNEFGX-XAMSXPGMSA-N 0.000 description 4
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Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、漏洩遮断器（ELB）の動作を試
験するための試験装置に係り、特にその電流プロ
ーブの改良に関する。
験するための試験装置に係り、特にその電流プロ
ーブの改良に関する。
第１図には、漏洩遮断器１と、その動作を試験
するための試験装置２とが概略的に図解されてい
る。すなわち、漏洩遮断器１は、零相変流器３
と、その検出力によつて制御される遮断スイツチ
４とを含み、零相変流器３にてその中を貫通され
ている複数本、図示の例では２本の電路５，６に
流れる電流の不平衡電流が一定値に達したときに
零相変流器３の出力により遮断スイツチ４を開放
し、漏洩による事故を防止するように動作する。
試験装置２は、１対の電流プローブ７，８と、こ
れらの間に並列的に接続された電流調整器９およ
びネオン管１０と、電流調整器９側に直列的に接
続されたスイツチ１１とを備え、次のように使わ
れる。１対の電流プローブ７，８を一方の電路５
の電源側と負荷側の各々に電気的に接触させて、
漏洩遮断器１の電源側から電流調整器９により設
定された電流を漏洩遮断器１をバイパスして流
し、零相変流器３で不平衡電流を検出させてその
ときの動作電流、動作時間等を測定するのに用い
られる。この場合、一方の電流プローブ８はワニ
ロクリツプであるがこの場合、他方の電流プロー
ブ７は接触ピン式のものであり、それを誤つて反
対側の電路６に接触させると、電流調整回路等に
電源電圧が印加され短絡状態となる。このような
操作ミスを防止するため、試験に先立つてスイツ
チ１１を開放しておき、各電流プローブ７，８を
電路の電源側と負荷側とに接続し、ネオン管１０
が点灯しないことを確認してから電流調整器９に
より電流値を設定し、その後にスイツチ１１を閉
じて前記した測定を行なうようにしている。しか
しながら、この種の漏洩遮断器１は、通常、壁や
天井などの高い所に設定されていることと、上記
の如く電流プローブ７，８の接続確認を行なつた
のちに電流調整等を行なうことから、一旦、接触
ピン形の方の電流プローブ７を外してその漏洩遮
断器１から測定器へと目を移し、スイツチ１１を
閉じてから再び電流プローブ７を当初に見定めた
電路に接触させるため、その時に誤接続し事故を
起す場合があつた。
するための試験装置２とが概略的に図解されてい
る。すなわち、漏洩遮断器１は、零相変流器３
と、その検出力によつて制御される遮断スイツチ
４とを含み、零相変流器３にてその中を貫通され
ている複数本、図示の例では２本の電路５，６に
流れる電流の不平衡電流が一定値に達したときに
零相変流器３の出力により遮断スイツチ４を開放
し、漏洩による事故を防止するように動作する。
試験装置２は、１対の電流プローブ７，８と、こ
れらの間に並列的に接続された電流調整器９およ
びネオン管１０と、電流調整器９側に直列的に接
続されたスイツチ１１とを備え、次のように使わ
れる。１対の電流プローブ７，８を一方の電路５
の電源側と負荷側の各々に電気的に接触させて、
漏洩遮断器１の電源側から電流調整器９により設
定された電流を漏洩遮断器１をバイパスして流
し、零相変流器３で不平衡電流を検出させてその
ときの動作電流、動作時間等を測定するのに用い
られる。この場合、一方の電流プローブ８はワニ
ロクリツプであるがこの場合、他方の電流プロー
ブ７は接触ピン式のものであり、それを誤つて反
対側の電路６に接触させると、電流調整回路等に
電源電圧が印加され短絡状態となる。このような
操作ミスを防止するため、試験に先立つてスイツ
チ１１を開放しておき、各電流プローブ７，８を
電路の電源側と負荷側とに接続し、ネオン管１０
が点灯しないことを確認してから電流調整器９に
より電流値を設定し、その後にスイツチ１１を閉
じて前記した測定を行なうようにしている。しか
しながら、この種の漏洩遮断器１は、通常、壁や
天井などの高い所に設定されていることと、上記
の如く電流プローブ７，８の接続確認を行なつた
のちに電流調整等を行なうことから、一旦、接触
ピン形の方の電流プローブ７を外してその漏洩遮
断器１から測定器へと目を移し、スイツチ１１を
閉じてから再び電流プローブ７を当初に見定めた
電路に接触させるため、その時に誤接続し事故を
起す場合があつた。
したがつて、この考案の目的は、上記した誤接
続を確実に防止し得る電流プローブを備えた漏電
遮断器の試験装置を提供することにある。
続を確実に防止し得る電流プローブを備えた漏電
遮断器の試験装置を提供することにある。
以下、この考案の実施例を添付図面を参照して
詳細に説明する。なお、第２図と第３図において
第１図と対応する部分には同一の参照符号がつけ
られている。
詳細に説明する。なお、第２図と第３図において
第１図と対応する部分には同一の参照符号がつけ
られている。
第２図には、第１図に関連して説明した漏洩遮
断器１の外観が示されている。JIS規格（JISC−
8371）によれば、この種の漏洩遮断器の構造等が
細かく定められており、特に、それを囲うハウジ
ングの蓋１４には、各端子部分に対応して絶縁抵
抗測定用の孔を設けることが規定されている。図
示の例では、２本の電路５，６に関連して、その
電源側に２つの孔１２ａ，１２ｂが設けられ、ま
た、負荷側にも２つの孔１３ａ，１３ｂが形成さ
れている。なお、これらの孔の大きさは直径４mm
とされている。この考案の試験装置においては、
接触ピン形の電流プローブ７は第３図の如く構成
されている。すなわち、前記孔１２，１３を通し
て電路５，６の端子部分（図示しない）に電気的
に接触し得る導電接触ピン１５と、この接触ピン
１５の基端部に設けられた電気絶縁材料からなる
グリツプ１６とを備えているが、この場合、グリ
ツプ１６には、比較的自由に曲げることができる
合成樹脂等からなる所定長さの連結部材１７を介
してキヤツプ１８が保持されている。このキヤツ
プ１８は、軟質ゴムもしくは軟質合成樹脂からつ
くられ、孔１２，１３に対して若干きつめに圧入
され、かつ、引張ることによつて簡単に抜けるよ
うに形成されている。このキヤツプ１８は次のよ
うに用いられる。先に説明したように、漏洩遮断
器１の試験に先立つてバイパス電路の接続確認が
行なわれるのであるが、これは第１図における一
方のワニロクリツプ式の電流プローブ８を例えば
通路５の電源側端子に接続しておき、他方の電流
プローブ７の接触ピン１５で孔１３ａ，１３ｂを
通して負荷側の端子部分をあたる。このとき、孔
１３ａ側では前記したネオン管１０は点灯しない
が、孔１３ｂ側では電路５，６間の電圧によりネ
オン管１０が点灯するため、この点灯した側の孔
１３ｂをキヤツプ１８で塞ぐ。これにより、バイ
パス電路の確認後に、電流調整器９やスイツチ１
１などを操作するため漏洩遮断器から一旦目を離
したとしても、実際の試験測定時に見誤つて接触
ピン１５を孔１３ｂ側に差込むような誤操作が確
実に防止できる。また、上記操作のため電流プロ
ーブ７から手を離しても、この電流プローブ７は
連結部材１７を介して孔１３ｂに圧入されている
キヤツプにより漏電遮断器１の近くに吊り下げ保
持されるため、取扱い上便利である。
断器１の外観が示されている。JIS規格（JISC−
8371）によれば、この種の漏洩遮断器の構造等が
細かく定められており、特に、それを囲うハウジ
ングの蓋１４には、各端子部分に対応して絶縁抵
抗測定用の孔を設けることが規定されている。図
示の例では、２本の電路５，６に関連して、その
電源側に２つの孔１２ａ，１２ｂが設けられ、ま
た、負荷側にも２つの孔１３ａ，１３ｂが形成さ
れている。なお、これらの孔の大きさは直径４mm
とされている。この考案の試験装置においては、
接触ピン形の電流プローブ７は第３図の如く構成
されている。すなわち、前記孔１２，１３を通し
て電路５，６の端子部分（図示しない）に電気的
に接触し得る導電接触ピン１５と、この接触ピン
１５の基端部に設けられた電気絶縁材料からなる
グリツプ１６とを備えているが、この場合、グリ
ツプ１６には、比較的自由に曲げることができる
合成樹脂等からなる所定長さの連結部材１７を介
してキヤツプ１８が保持されている。このキヤツ
プ１８は、軟質ゴムもしくは軟質合成樹脂からつ
くられ、孔１２，１３に対して若干きつめに圧入
され、かつ、引張ることによつて簡単に抜けるよ
うに形成されている。このキヤツプ１８は次のよ
うに用いられる。先に説明したように、漏洩遮断
器１の試験に先立つてバイパス電路の接続確認が
行なわれるのであるが、これは第１図における一
方のワニロクリツプ式の電流プローブ８を例えば
通路５の電源側端子に接続しておき、他方の電流
プローブ７の接触ピン１５で孔１３ａ，１３ｂを
通して負荷側の端子部分をあたる。このとき、孔
１３ａ側では前記したネオン管１０は点灯しない
が、孔１３ｂ側では電路５，６間の電圧によりネ
オン管１０が点灯するため、この点灯した側の孔
１３ｂをキヤツプ１８で塞ぐ。これにより、バイ
パス電路の確認後に、電流調整器９やスイツチ１
１などを操作するため漏洩遮断器から一旦目を離
したとしても、実際の試験測定時に見誤つて接触
ピン１５を孔１３ｂ側に差込むような誤操作が確
実に防止できる。また、上記操作のため電流プロ
ーブ７から手を離しても、この電流プローブ７は
連結部材１７を介して孔１３ｂに圧入されている
キヤツプにより漏電遮断器１の近くに吊り下げ保
持されるため、取扱い上便利である。
なお、上記実施例は２線用のものであるためキ
ヤツプは１つしか設けられていないが、３線用漏
電遮断器に適用するにはキヤツプを１つ追加すれ
ばよい。この場合、新たに追加するキヤツプを第
３図に示されている連結部材１７に移動可能に取
付ければ、各キヤツプを漏洩遮断器の端子間の間
隔に容易に合わせることができるし、また、コス
ト的にも有利である。一方、前記キヤツプを内ラ
ツチ式またはピンの圧入による抜止め機能を有す
るように構成してもよいことは勿論である。
ヤツプは１つしか設けられていないが、３線用漏
電遮断器に適用するにはキヤツプを１つ追加すれ
ばよい。この場合、新たに追加するキヤツプを第
３図に示されている連結部材１７に移動可能に取
付ければ、各キヤツプを漏洩遮断器の端子間の間
隔に容易に合わせることができるし、また、コス
ト的にも有利である。一方、前記キヤツプを内ラ
ツチ式またはピンの圧入による抜止め機能を有す
るように構成してもよいことは勿論である。
第１図は漏洩遮断器とその試験装置を概略的に
示した図面、第２図は第１図に示された漏洩遮断
器の外観図、第３図はこの考案による試験装置の
電流プローブである。 図中、１は漏洩遮断器、２は試験装置、３は零
相変流器、４は遮断スイツチ、５，６は電路、
７，８は電流プローブ、９は電流調整器、１０は
ネオン管、１１はスイツチ、１２，１３は孔、１
４は蓋、１５は接触ピン、１６はグリツプ、１７
は連結部材、１８はキヤツプである。
示した図面、第２図は第１図に示された漏洩遮断
器の外観図、第３図はこの考案による試験装置の
電流プローブである。 図中、１は漏洩遮断器、２は試験装置、３は零
相変流器、４は遮断スイツチ、５，６は電路、
７，８は電流プローブ、９は電流調整器、１０は
ネオン管、１１はスイツチ、１２，１３は孔、１
４は蓋、１５は接触ピン、１６はグリツプ、１７
は連結部材、１８はキヤツプである。
Claims (1)
- 零相変流器を囲み、かつ、該零相変流器内を貫
通する複数本の電路の各端子部に対応して穿設さ
れた電気測定用の孔を有するハウジングを含む漏
電遮断器の動作をテストするための試験装置であ
つて、前記孔を通してそれに対応する前記端子部
に電気的に接触し得る導電性接触ピンと、該接触
ピンの基端部に形成された電気絶縁性のグリツプ
とを備えてなる接触ピン形の電流プローブを有す
るものにおいて、前記電流プローブには、前記孔
に着脱自在に嵌合し得る軟質ゴム等からなるキヤ
ツプが紐状もしくは帯状の連結部材を介して保持
されていることを特徴とする漏電遮断器の試験装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13681781U JPS5842673U (ja) | 1981-09-14 | 1981-09-14 | 漏電遮断器の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13681781U JPS5842673U (ja) | 1981-09-14 | 1981-09-14 | 漏電遮断器の試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5842673U JPS5842673U (ja) | 1983-03-22 |
| JPH0129590Y2 true JPH0129590Y2 (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=29930125
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13681781U Granted JPS5842673U (ja) | 1981-09-14 | 1981-09-14 | 漏電遮断器の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5842673U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6501728B2 (ja) * | 2016-06-03 | 2019-04-17 | ソフトバンク株式会社 | 治具 |
-
1981
- 1981-09-14 JP JP13681781U patent/JPS5842673U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5842673U (ja) | 1983-03-22 |
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