JPH01291386A - Visual inspecting device - Google Patents

Visual inspecting device

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JPH01291386A
JPH01291386A JP63122362A JP12236288A JPH01291386A JP H01291386 A JPH01291386 A JP H01291386A JP 63122362 A JP63122362 A JP 63122362A JP 12236288 A JP12236288 A JP 12236288A JP H01291386 A JPH01291386 A JP H01291386A
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camera
image pickup
light emission
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Kazunori Morinaga
和慶 森永
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Abstract

PURPOSE:To obtain a visual inspecting device of a semiconductor device of a low cost of a lens barrel, a camera, etc., by providing a position detecting means for detecting a moving position of an inspection object on a carrying means. CONSTITUTION:An encoder 4a detects an axial rotation of a motor 3a, and transfers a rotating signal corresponding to a moving position of an IC 1a to a microcomputer 9a through a rotational position detecting part 5a. The microcomputer 9a recognizes a position of the IC 1a on a belt, based on this signal, outputs a light emitting instruction to a stroboscopic light emission lighting equipment 6a, an image of half of the IC 1a is brought to image pickup to a camera 7a by a first light emission, and subsequently, an image of the IC 1a of the remaining half is brought to image pickup to the camera 7a by a second light emission, and they are converted to video signals, respectively and written in image memories 8a, 8b. In such a way, lens barrel for bringing an inspection object to split image pickup becomes unnecessary, only one set of image pickup means is used, and an inexpensive visual inspecting device is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔差業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置の外観検査の自動化を図る外観検
査装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Differential Fields of Application] The present invention relates to a visual inspection device for automating the visual inspection of semiconductor devices.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第4図は従来の半導体装置の外観検査装置を示す構成図
である。この外観検査装置は、レーン1及びレーン2の
2つの検査工程を有しており、両者は同一の動作を行な
う。図において、1a、1bは検査対象物である半導体
装置(以下ICという)、2a、2bはIC1a、1b
を搬送スルベルトコンベア、3a、3bは搬送手段であ
るベルトコンベア2a、2bのベルトを移動させるモー
タ、6a。
FIG. 4 is a configuration diagram showing a conventional appearance inspection apparatus for semiconductor devices. This visual inspection apparatus has two inspection processes, lane 1 and lane 2, and both perform the same operation. In the figure, 1a and 1b are semiconductor devices (hereinafter referred to as ICs) to be inspected, and 2a and 2b are ICs 1a and 1b.
3a and 3b are motors 6a for moving the belts of belt conveyors 2a and 2b, which are conveying means.

6bはI C1a、1bの上部に設けられた瞬時発光手
段であるストロボ照明装置、35a、35bはICja
、1bを映し出す複数の鏡体、7a−7dは鏡体35a
、35bの上部に設けられ、この鏡体35a。
6b is a strobe lighting device which is instantaneous light emitting means provided on the upper part of IC1a and 1b, and 35a and 35b are ICja
, a plurality of mirror bodies reflecting 1b, 7a-7d are mirror bodies 35a
, 35b, and this mirror body 35a.

35bに映し出されたI Cla、jbの像を撮像する
カメラ、10bは画像メモリga、8b及びマイコン9
aからなる画像処理装置、同じく10cは画像メモリ8
c、8d及びマイコン9bからなる画像処理装置、36
a、36CはI Cla、1bの進行方向Aに対し側面
に設けられた送光素子及び受光素子からなるセンサ、3
6b、36dは入力側をセンサ36a。
35b is a camera that captures the image of I Cla and jb, 10b is an image memory ga, 8b and a microcomputer 9
An image processing device consisting of a, and 10c an image memory 8
Image processing device 36 consisting of c, 8d and microcomputer 9b
a, 36C is a sensor consisting of a light transmitting element and a light receiving element provided on the side surface with respect to the traveling direction A of I Cla, 1b;
6b and 36d are sensors 36a on the input side.

36Cに接続され、出力側をマイコン9a、9bに接続
されたセンサアンプである。
36C, and its output side is connected to microcomputers 9a and 9b.

次に動作について説明する。前述したように第4図のレ
ーン1とレーン2は同一の動作を行なうため、レーン1
のみを説明しレーン2の説明を省略する。さて、IC1
aは、ベルトコンベア2aに取付けられたモータ3aの
回転動作により、ベルト上を進行方向Aに移動する。こ
のとき、センサ36aの受光素子への光をIC1aが遮
光すると、センサアンプ36bil:m光信号をマイコ
ン9aに伝達する。マイコン9aはこの信号を入力する
とストロボ照明装置6aに発光指示を出し発光させる。
Next, the operation will be explained. As mentioned above, lane 1 and lane 2 in FIG. 4 perform the same operation, so lane 1
Only lane 2 will be explained, and explanation of lane 2 will be omitted. Now, IC1
A moves in the traveling direction A on the belt by the rotation of a motor 3a attached to the belt conveyor 2a. At this time, when the IC 1a blocks light from reaching the light receiving element of the sensor 36a, the sensor amplifier 36bil:m optical signal is transmitted to the microcomputer 9a. When the microcomputer 9a receives this signal, it instructs the strobe lighting device 6a to emit light, causing it to emit light.

この発光によるIC1aの像は鏡体35aで反射されカ
メラ7a、7cによって分割撮像される。このカメラ7
a、7cに撮像された映像は電気信号に変換され、マイ
コン9aの指示により画像メモリ8aと画像メモリ8b
とに書き込まれる。そして、マイコン9aはこの画像メ
モリ13a、gb内の情報に基づいて検査に係る画像処
理を行なう。
The image of IC1a caused by this light emission is reflected by mirror body 35a and divided into images by cameras 7a and 7c. This camera 7
The images captured in a and 7c are converted into electrical signals, and are sent to an image memory 8a and an image memory 8b according to instructions from a microcomputer 9a.
will be written to. Then, the microcomputer 9a performs image processing related to the inspection based on the information in the image memories 13a and gb.

第5図(a) 、 (b)はマイコン9aの処理工程を
示すフローチャートである。ここで、同図(a)はレー
ン1の処理を、同図(I))はレーン2の処理を示す。
FIGS. 5(a) and 5(b) are flowcharts showing the processing steps of the microcomputer 9a. Here, (a) of the same figure shows the processing of lane 1, and (I) of the same figure shows the processing of lane 2.

同図(a)において、センサ36aからセンサアンプ3
6bを介して遮光信号がマイコン9aに入力されると(
ステップ38)、ストロボ照明装置6aを発光させ、カ
メラ7a、7cを介してIC1aの映像信号を画像メモ
IJ8a、8bに同時に書き込みを行なう(ステップ3
9)。そして、この画像メモリ8a、8bに記憶された
映像信号に基づいて検査に係る画像処理A、Bを行なう
(ステップ40)。
In the same figure (a), from the sensor 36a to the sensor amplifier 3
When the light blocking signal is input to the microcomputer 9a via 6b (
Step 38), the strobe lighting device 6a is made to emit light, and the video signal of the IC1a is simultaneously written to the image memo IJ8a, 8b via the cameras 7a, 7c (Step 3).
9). Then, image processing A and B related to the inspection are performed based on the video signals stored in the image memories 8a and 8b (step 40).

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

従来の半導体装置の外観検査装置は以上のように構成さ
れているので、鏡体35a、35bやカメラ7a〜7d
が各レーン毎に複数必要となり価格が高くなるという欠
点があった。
Since the conventional appearance inspection apparatus for semiconductor devices is configured as described above, the mirror bodies 35a, 35b and the cameras 7a to 7d are
The disadvantage is that multiple units are required for each lane, which increases the price.

本発明は上記のような欠点を解消するためになされたも
ので、鏡体、カメラ等の価格が安い半導体装置の外観検
査装置を得ることを目的とする。
The present invention has been made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks, and an object of the present invention is to obtain an appearance inspection apparatus for a semiconductor device including a mirror body, a camera, etc., which is inexpensive.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明に係る外観検査装置は、検査対象物を搬送する搬
送手段と、この搬送手段に設けられ前記検査対象物の位
置を検知する位置検知手段と、この位置検知手段からの
信号に基づき複数回前記検査対象物に光を照射する瞬間
発光照明手段と、この瞬時発光照明手段より照らし出さ
れる前記検査対象物を撮像し映像信号を出力する撮像手
段と、この映像信号を画像処理して検査する画像処理手
段とを備えている。
The appearance inspection apparatus according to the present invention includes a conveying means for conveying an object to be inspected, a position detecting means provided on the conveying means for detecting the position of the object to be inspected, and a plurality of times based on a signal from the position detecting means. instantaneous light emitting illumination means for irradiating light onto the object to be inspected; imaging means for capturing an image of the object to be inspected illuminated by the instantaneous light emitting illumination means and outputting a video signal; and image processing of this image signal for inspection. and image processing means.

〔作用〕[Effect]

画像処理手段は、位置検出手段からの信号に基づき瞬時
発光照明手段の光を複数回検査対象物に照射し、このと
き撮像手段より得られた検査対象物の映像信号に基づい
て検査に係る画(象処理を行々う。
The image processing means irradiates the inspection object multiple times with light from the instantaneous illumination means based on the signal from the position detection means, and generates an image related to the inspection based on a video signal of the inspection object obtained from the imaging means at this time. (Let's do some processing.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を図に従って説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明に係る一実施例を示した構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment according to the present invention.

図において、第4図と同一部分または和尚部分には同一
符号を付する。4a、4bはモータ3a、3bに取り付
けられたロータリエンコーダ、5a、5bはロータリエ
ンコーダ4a、4bに接続された回転位置検出部、10
aは画像メモ1J8a〜8d及びマイコン9aからなる
画像処理装置である。
In the figure, the same parts or parts as in FIG. 4 are given the same reference numerals. 4a, 4b are rotary encoders attached to the motors 3a, 3b; 5a, 5b are rotational position detectors connected to the rotary encoders 4a, 4b; 10
A is an image processing device consisting of image memos 1J8a to 1J8d and a microcomputer 9a.

ここで、カメラ7a、7bは撮像手段を構成し、ロータ
リエンコーダ4a、4b及び回転位置検出部5a、5b
は位置検出手段を構成している。
Here, the cameras 7a and 7b constitute imaging means, and the rotary encoders 4a and 4b and rotational position detection units 5a and 5b
constitutes a position detection means.

次に動作について説明する。本実施例においては、レー
ン1とレーン2は同一の動作を行なうため、レーン1の
みを説明しレーン2の説明を省略する。さて、ベルトコ
ンベア2aに取付けられたモータ3aが回転すると、ベ
ルト上に配置されたIC1aが進行方向Aに移動する。
Next, the operation will be explained. In this embodiment, since lane 1 and lane 2 perform the same operation, only lane 1 will be explained and explanation of lane 2 will be omitted. Now, when the motor 3a attached to the belt conveyor 2a rotates, the IC 1a placed on the belt moves in the traveling direction A.

このとき、エンコーダ4aはモータ3aの軸回転を検知
し、回転位置検出部5aを介して工C1aの移動位置に
対応する回転信号をマイコン9aに伝達する。マイコン
9aは、この信号に基づいてベルト上のIC[aの位置
を認識し、ストロボ発光照明装置6aに発光指示を出し
発光させる。このときのストロボ発光装置6aの発光回
数は、画像処理装置10a内の画像メモリ8a、8bに
対応して行なわれる。
At this time, the encoder 4a detects the rotation of the shaft of the motor 3a, and transmits a rotation signal corresponding to the moving position of the workpiece C1a to the microcomputer 9a via the rotation position detection section 5a. The microcomputer 9a recognizes the position of the IC[a on the belt based on this signal, and instructs the strobe lighting device 6a to emit light. The number of times the strobe light emitting device 6a emits light at this time is determined in accordance with the image memories 8a and 8b in the image processing device 10a.

すなわち、第1回目の発光によりICjaの半分の像が
カメラ7aに撮像され、映像信号に変換されて画像メモ
リ8aに書き込まれる。続いて、第2回目の発光により
残り半分のIC1aの像がカメラ7aに撮像され、映像
信号に変換されて画像メモリ8bに書き込まれる。これ
は第4図において、鏡体35aが反射してカメ57a、
7cに分割撮像させる動作と同一の作用となる。そして
、マイコン9aは、この画像メモ1J8a、8b内の情
報に基づいて検査に係る画像処理を行なう。
That is, by the first light emission, a half image of ICja is captured by the camera 7a, converted into a video signal, and written into the image memory 8a. Subsequently, the image of the remaining half of the IC 1a is captured by the camera 7a by the second light emission, converted into a video signal, and written into the image memory 8b. In FIG. 4, this is because the mirror body 35a reflects the camera 57a,
This has the same effect as the operation of dividing the image into 7c. Then, the microcomputer 9a performs image processing related to the inspection based on the information in the image memos 1J8a and 8b.

第2図はマイコン9aの検査に係る画像処理を示したフ
ローチャート、第3図(a)、[有])はマイコン9a
における画像メモ178a〜8dへの書き込み処理を示
したフローチャートである。ここで、同図(a)はレー
ン1の処理を、同図の)はレー/2の処理を示す。さて
、第2図において、マイIン9aは画像処理装置10a
内の画像メモl78a〜8dに対応して各々検査画像処
理A−Dを順次実施する。例えば、ステップ11で画像
処理が開始されると、レーン1における画像メモリ8a
に映像信号が書き込まれたか否かを判断する(ステップ
12)。
FIG. 2 is a flowchart showing image processing related to the inspection of the microcomputer 9a, and FIG.
17 is a flowchart showing the writing process to the image memos 178a to 8d in FIG. Here, (a) in the same figure shows the processing for lane 1, and (a) in the same figure shows the processing for lane/2. Now, in FIG. 2, the My In 9a is the image processing device 10a.
Inspection image processing A to D is sequentially performed corresponding to the image memos 178a to 8d in the image memo 178a to 18d. For example, when image processing is started in step 11, the image memory 8a in lane 1
It is determined whether a video signal has been written to (step 12).

ここで、画像メモリ8aに映像信号が書き込まれると、
このメモ1J8aについてのみ検査画像処理Aが行なわ
れ(ステップ13)、再びステップ12に戻される。次
に、ステップ12は既に映像信号が書き込まれているの
でステップ14に進み、画像メモリ8bについて判断が
行なわれる。このように、順次すべての画像メモリに映
像信号が書き込まれ、全ての検査画像処理が終了するま
で動作が行なわれる。
Here, when the video signal is written to the image memory 8a,
Inspection image processing A is performed only on this memo 1J8a (step 13), and the process returns to step 12 again. Next, since the video signal has already been written in step 12, the process proceeds to step 14, where a determination is made regarding the image memory 8b. In this way, video signals are sequentially written into all the image memories, and the operation continues until all inspection image processing is completed.

次に、第3図(a)について説明する。前述したように
マイコン9aにロータリエンコーダ4aより回転検出部
5aを介して回転信号が入力されると、マイコン9aは
プログラムの割込みを開始する(ステップ20)。続い
て、ストロボ照明装置6aの発光指示が第1回目か否か
を判断しくステップ21)、第1回目であればカメラ7
aで得られた映像信号を画像メモリ8aへ書き込む1(
ステップ22)。そして、次回の処理の第2回目の順番
を設定しくステップ23)、割込みを終了する(ステッ
プ26)。一方、ステップ21の判断において、第2回
目の発光指示であればカメラ7aで得られた映像信号を
画像メモ1J8bへ書き込み(ステップ24)、第1回
目の順番を設定して終了する(ステップ25 、26 
)。
Next, FIG. 3(a) will be explained. As described above, when a rotation signal is input from the rotary encoder 4a to the microcomputer 9a via the rotation detection section 5a, the microcomputer 9a starts interrupting the program (step 20). Next, it is determined whether or not the strobe illumination device 6a is instructed to emit light for the first time (step 21). If it is the first time, the camera 7
Writing the video signal obtained in step a to the image memory 8a 1 (
Step 22). Then, the second order of the next processing is set (step 23), and the interrupt is terminated (step 26). On the other hand, in the judgment in step 21, if it is the second light emission instruction, the video signal obtained by the camera 7a is written to the image memo 1J8b (step 24), the first order is set, and the process ends (step 25). , 26
).

このように本装置は、ベルトコンベアにI C1aの移
動位置を検出するロータリエンコーダ4a及び回転検出
部5aを設けたことにより、第4図のような鐘体35a
 、 35bが不用となる。また、各レーン毎に2台配
置していたカメラを1台にすることができる。これによ
り、複数レーンで外観検査を行なう場合、カメラの設置
台数を半減することができ安価な装置を得ることが可能
となる。
In this way, this device is equipped with the rotary encoder 4a for detecting the moving position of the IC1a and the rotation detecting section 5a on the belt conveyor, so that the bell body 35a as shown in FIG.
, 35b becomes unnecessary. In addition, the number of cameras placed in each lane can be reduced to one instead of two. As a result, when visual inspection is performed in multiple lanes, the number of cameras installed can be halved, making it possible to obtain an inexpensive device.

また、画像メモリの構成を増加させることにより、大型
サイズのICにも利用することができ非常に高い汎用性
が得られるなど顕著な効果を有する0 さらに、レーン1とレーン2との映像信号を1台のマイ
コンで処理することができるため、各レーン毎に画像処
理装置を配置する必要がなく装置の簡略化を図ることが
できる。
In addition, by increasing the configuration of the image memory, it can be used for large-sized ICs, and has remarkable effects such as extremely high versatility. Since processing can be performed with one microcomputer, there is no need to arrange an image processing device for each lane, and the device can be simplified.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように本発明によれば、搬送手段に検査対象物の
移動位置を検出する位置検知手段を備えたことにより、
検査対象物を分割撮像するための鏡体が不用となる。ま
た、各レーン毎に複数台配置していた撮像手段を1台に
することができる。
As described above, according to the present invention, by providing the transport means with the position detection means for detecting the moving position of the object to be inspected,
A mirror body for dividing images of the inspection object becomes unnecessary. Furthermore, the number of imaging means that were previously arranged in plurality for each lane can be reduced to one.

これにより、複数レーンで検査を打力う場合、撮像手段
の台数を削減することができ安価外外観検査装置を得る
ことが可能となる。
This makes it possible to reduce the number of imaging means when performing inspection in a plurality of lanes, making it possible to obtain an inexpensive external appearance inspection apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る一実施例を示した構成図、第2図
はマイコン9aの検査に係る画像処理を示したフローチ
ャート、第3図(a)、(ロ)はマイコン9aにおける
画像メモリ8a〜8dへの書き込み処理を示したフロー
チャート、第4図は従来の構成図、第5図(a)、Φ)
はマイコン9a、の処理工程を示すフローチャートであ
る。 1a、ib* 111+ 11 IC,2Jl、2’l
)  * * 11 @ベルトコンベア、3a、3b 
・・・・モータ、4a、4b・・−・ロータリエンコー
ダ、5a、5b ・・II@回転検出部、6a、6b・
、・・・ストロボ照明装置、7a、7b・・・・カメラ
、8a〜8d・・Φ・画像メモリ、9a・・・・マイコ
ン、1oa @ 11 @Φ画像処理装置。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing image processing related to inspection of the microcomputer 9a, and FIGS. 3(a) and (b) are image memories in the microcomputer 9a. Flowchart showing write processing to 8a to 8d, FIG. 4 is a conventional configuration diagram, FIG. 5(a), Φ)
is a flowchart showing the processing steps of the microcomputer 9a. 1a, ib* 111+ 11 IC, 2Jl, 2'l
) * * 11 @ Belt conveyor, 3a, 3b
...Motor, 4a, 4b...Rotary encoder, 5a, 5b...II@Rotation detection section, 6a, 6b...
,... Strobe illumination device, 7a, 7b... Camera, 8a to 8d... Φ image memory, 9a... Microcomputer, 1oa @ 11 @ Φ image processing device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】  検査対象物を搬送する搬送手段と、 この搬送手段に設けられ前記検査対象物の位置を検知す
る位置検知手段と、 との位置検知手段からの信号に基づき、複数回前記検査
対象物に光を照射する瞬時発光照明手段と、 この瞬時発光照明手段より照らし出される前記検査対象
物を撮像し、映像信号を出力する撮像手段と、 この映像信号を画像処理して検査する画像処理手段とを
備えたことを特徴とする外観検査装置。
[Claims] A transport means for transporting an object to be inspected; a position detecting means provided on the transport means for detecting the position of the object to be inspected; Instantaneous light emitting illumination means for irradiating light onto an object to be inspected; Imaging means for taking an image of the object to be inspected illuminated by the instantaneous emitting illumination means and outputting a video signal; image processing of this image signal for inspection. An appearance inspection device comprising an image processing means.
JP63122362A 1988-05-18 1988-05-18 Appearance inspection device Expired - Fee Related JP2623115B2 (en)

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