JPH01287413A - 方位センサの外乱補正装置 - Google Patents
方位センサの外乱補正装置Info
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- JPH01287413A JPH01287413A JP11875888A JP11875888A JPH01287413A JP H01287413 A JPH01287413 A JP H01287413A JP 11875888 A JP11875888 A JP 11875888A JP 11875888 A JP11875888 A JP 11875888A JP H01287413 A JPH01287413 A JP H01287413A
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 26
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 claims description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005358 geomagnetic field Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、自動車等の進行方向を検出用の磁気検出素
子が外乱により乱れることを抑制できるようにした方位
センサの外乱補正装置に関するものである。
子が外乱により乱れることを抑制できるようにした方位
センサの外乱補正装置に関するものである。
方位センサは地磁気の水平成分を検出することで、自動
車等の進行方向を算出するものである。
車等の進行方向を算出するものである。
しかしながら、走行中に着磁した大型トラックなどが傍
を通過(対向および追い越し)すれば、瞬間的に方位セ
ンサの出力の成分が変わり、誤方位を示す原因となる。
を通過(対向および追い越し)すれば、瞬間的に方位セ
ンサの出力の成分が変わり、誤方位を示す原因となる。
このため、例えば、特開昭62−138716号公報に
示された平均化処理法などの信号処理を施す必要がある
。
示された平均化処理法などの信号処理を施す必要がある
。
ところで、同一平面上で互いに90度の位相角をもって
地磁気を検出するX軸およびY軸の磁気検出素子を有す
る方位センサを地球磁界中に水平に置いた場合に、X軸
の磁気検出素子の巻線中心軸が地磁気の水平成分Hとな
する角度をθとすれば、適当な検出回路により、次の(
11式および(2)式の出力となる。
地磁気を検出するX軸およびY軸の磁気検出素子を有す
る方位センサを地球磁界中に水平に置いた場合に、X軸
の磁気検出素子の巻線中心軸が地磁気の水平成分Hとな
する角度をθとすれば、適当な検出回路により、次の(
11式および(2)式の出力となる。
x=kxHcosθ ・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・(11y −k
yHsinθ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・(21ここで、XはX
軸の磁気検出素子の出力、yはY軸の磁気検出素子の出
力、 kx、kyはそれぞれX軸、Y軸の磁気検出素子の出力
ゲインに依存する係数、 であり、バランスがとれていれば、kxmkyxkであ
る。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・(11y −k
yHsinθ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・(21ここで、XはX
軸の磁気検出素子の出力、yはY軸の磁気検出素子の出
力、 kx、kyはそれぞれX軸、Y軸の磁気検出素子の出力
ゲインに依存する係数、 であり、バランスがとれていれば、kxmkyxkであ
る。
この場合において、角度θは前記X軸、Y軸の磁気検出
素子を有する方位センサ出力x、yから次の(3)式に
よって算出される。
素子を有する方位センサ出力x、yから次の(3)式に
よって算出される。
θ−jan−’ (y#)・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(31とこ
ろで、瞬間的に外乱が加わった場合、前記磁気検出セン
サの出力X+Yはそれぞれ独立のバイアスα(t)、β
(1)が加わり、次の(4)式、(5)式となる。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(31とこ
ろで、瞬間的に外乱が加わった場合、前記磁気検出セン
サの出力X+Yはそれぞれ独立のバイアスα(t)、β
(1)が加わり、次の(4)式、(5)式となる。
x=に買Hcosθ+α(t) ・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・(41y−kyHsin
θ+β(1) ・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・(5)この+41式、(6)式を上記(
3)式に代入して算出した角度θは誤差をもつ、このた
め、過去数サンプリング分を平均し、前記(4)式、(
5)式のバイアスα(t)、β(1)を小さく抑えるこ
とで、算出する角度誤差を小さくする方法が採られてい
る。
・・・・・・・・・・・・・・(41y−kyHsin
θ+β(1) ・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・(5)この+41式、(6)式を上記(
3)式に代入して算出した角度θは誤差をもつ、このた
め、過去数サンプリング分を平均し、前記(4)式、(
5)式のバイアスα(t)、β(1)を小さく抑えるこ
とで、算出する角度誤差を小さくする方法が採られてい
る。
従来の平均化処理法では、方位センサの出力信号を平均
化して取り出すことにより、実際に進行方向を変えた場
合には、その変化を迅速に検出することはできないとい
う問題点を有する。
化して取り出すことにより、実際に進行方向を変えた場
合には、その変化を迅速に検出することはできないとい
う問題点を有する。
また、進行方向の変化を微分信号により取り出す手法を
採る場合においても、方位変化と外乱の区別を検出する
ことは難しい点および方位変化中に外乱が加わったとき
は誤差を生じるという問題点があった。
採る場合においても、方位変化と外乱の区別を検出する
ことは難しい点および方位変化中に外乱が加わったとき
は誤差を生じるという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、迅速に方位変化を検出できるとともに、瞬間
的な外乱による乱れを抑えることができる方位センサの
外乱補正装置を得ることを目的と°する。
たもので、迅速に方位変化を検出できるとともに、瞬間
的な外乱による乱れを抑えることができる方位センサの
外乱補正装置を得ることを目的と°する。
この発明に係る方位センサの外乱補正装置は、互いに同
一平面上に90度の位相角をもって地磁気を検出するX
軸およびY軸の磁気検出素子を有しそれぞれX軸とY軸
の磁気検出素子の各出力より方位を検出する方位検出装
置と、X軸およびY軸の磁気検出素子の出力を入力して
移動変化量を検出し、この移動変化量と所定のしきい値
とからX軸、Y軸の各磁気検出素子の出力値を修正する
演算装置とを設けたものである。
一平面上に90度の位相角をもって地磁気を検出するX
軸およびY軸の磁気検出素子を有しそれぞれX軸とY軸
の磁気検出素子の各出力より方位を検出する方位検出装
置と、X軸およびY軸の磁気検出素子の出力を入力して
移動変化量を検出し、この移動変化量と所定のしきい値
とからX軸、Y軸の各磁気検出素子の出力値を修正する
演算装置とを設けたものである。
この発明における方位検出装置のX軸、Y軸の磁気検出
素子で方位を検出し、その検出出力から演算装置で移動
変化量を算出し、この移動変化量が所定のしきい値を越
えると、このしきい値を越えたときのX軸、Y軸の磁気
検出素子のサンプリング値がX、Y座標の原点を中心と
する半径に■の円の方程式を満たさなければ、lサンプ
リング前のサンプリングに近づくようにX軸、Y軸の磁
気検出素子のサンプリング値を修正するように作用する
。
素子で方位を検出し、その検出出力から演算装置で移動
変化量を算出し、この移動変化量が所定のしきい値を越
えると、このしきい値を越えたときのX軸、Y軸の磁気
検出素子のサンプリング値がX、Y座標の原点を中心と
する半径に■の円の方程式を満たさなければ、lサンプ
リング前のサンプリングに近づくようにX軸、Y軸の磁
気検出素子のサンプリング値を修正するように作用する
。
以下、この発明の方位センサの外乱補正装置の実施例に
ついて図面に基づき説明する。第1図はその一実施例の
構成を示すブロック図であり、図中の1は方位検出装置
である。
ついて図面に基づき説明する。第1図はその一実施例の
構成を示すブロック図であり、図中の1は方位検出装置
である。
この方位検出装置lは、図示されていないが、同一平面
上に互いに90度の位相角をもって地磁気を検出するX
軸およびY軸の磁気検出素子を有し、その各出力により
方位を検出するようになっている。
上に互いに90度の位相角をもって地磁気を検出するX
軸およびY軸の磁気検出素子を有し、その各出力により
方位を検出するようになっている。
このY軸、Y軸の磁気検出素子の出力x、yはアナログ
/ディジタル(以下、A/Dという)変換器2に入力さ
れ、ディジタル化して演算装置3に送出するようになっ
ている。
/ディジタル(以下、A/Dという)変換器2に入力さ
れ、ディジタル化して演算装置3に送出するようになっ
ている。
演算装置3はA/D変換器2を通した上記出力x、yを
入力して、移動変化量を算出し、この移動変化量が所定
のしきい値を越えると、Y軸、Y軸の磁気検出素子の出
力値を修正することにより、方位検出袋!1の出力値を
修正するようになっている。
入力して、移動変化量を算出し、この移動変化量が所定
のしきい値を越えると、Y軸、Y軸の磁気検出素子の出
力値を修正することにより、方位検出袋!1の出力値を
修正するようになっている。
演算装置3で修正された値が記憶装置4に格納されるよ
うになっている。この記憶装置4および上記演算装置3
は制御装置5により動作制御されるようになっており、
この制御装置5の制御に基づき、記憶装置4で記憶した
補正されたセンサ出力x/、、Iを外部に出力するよう
になっている。
うになっている。この記憶装置4および上記演算装置3
は制御装置5により動作制御されるようになっており、
この制御装置5の制御に基づき、記憶装置4で記憶した
補正されたセンサ出力x/、、Iを外部に出力するよう
になっている。
次に、動作について説明する。前記(11式、(2)式
で示される方位検出装置1のY軸、Y軸の磁気検出素子
の出力x、yはkx=ky−にの場合において、自動車
を水平面上で一旋回させたとき、(1)式および(2)
式からθを消去すれば、次の(6)式で示すようなX、
Y座標の原点を中心とする半径kHの円の軌跡となる x t +y t −(kH) z ・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・(61通常の方位検出装置1におけるX輪、Y軸の磁
気検出素子の出力x、yは前記(6)式を満たす、この
特徴を利用して、外乱に対する補正を施す。
で示される方位検出装置1のY軸、Y軸の磁気検出素子
の出力x、yはkx=ky−にの場合において、自動車
を水平面上で一旋回させたとき、(1)式および(2)
式からθを消去すれば、次の(6)式で示すようなX、
Y座標の原点を中心とする半径kHの円の軌跡となる x t +y t −(kH) z ・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・(61通常の方位検出装置1におけるX輪、Y軸の磁
気検出素子の出力x、yは前記(6)式を満たす、この
特徴を利用して、外乱に対する補正を施す。
第2図はこの補正を行うための具体的な方法を説明する
説明図でありx、y座標の第1象現を示している。この
第2図において、X、、 xtはY軸の磁気検出素子の
サンプリング値、Y、、 ytはY軸の磁気検出素子の
サンプリング値、(x+、yt)を点A、(Xs、Yi
)を点Bとする。
説明図でありx、y座標の第1象現を示している。この
第2図において、X、、 xtはY軸の磁気検出素子の
サンプリング値、Y、、 ytはY軸の磁気検出素子の
サンプリング値、(x+、yt)を点A、(Xs、Yi
)を点Bとする。
いま、点Aに対して、点Bが半径kHの円上の動きをす
れば、修正はされず、点Bが円外に移動すれば、線分A
B上のある比の位置「点になるように点Bの(Xオ、Y
8)を修正する。
れば、修正はされず、点Bが円外に移動すれば、線分A
B上のある比の位置「点になるように点Bの(Xオ、Y
8)を修正する。
ここで、前記(6)式を時間tで微分すれば、次の(7
)式となる。
)式となる。
dx dy
Xπ+yπ!O……・・1・・……・・・・・・・・・
・・・・・・(7)この(7)式は大型トランク等のす
れ違いによる瞬間的な外乱に対しては満たされない。
・・・・・・(7)この(7)式は大型トランク等のす
れ違いによる瞬間的な外乱に対しては満たされない。
したがって、前記(7)式の左辺をサンプリング時間ご
とに計算することで、外乱を見付けることができる。前
記(7)式の代わりに、サンプリング時間は一定である
ことを考慮して、移動変化量Iを次の(8)式により計
算する。
とに計算することで、外乱を見付けることができる。前
記(7)式の代わりに、サンプリング時間は一定である
ことを考慮して、移動変化量Iを次の(8)式により計
算する。
1 =x dx+y dy
−(Xt +Xt)(Xs−Yt) + (Yt +Y
t)(Yt−Yt)・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・+8)ここで、 dx = XI XI dy −Yt−Y。
t)(Yt−Yt)・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・+8)ここで、 dx = XI XI dy −Yt−Y。
とし、この傾きに対する座標を近似的にX−XI+Xl
、 y麟yt+yx とおく。
、 y麟yt+yx とおく。
外乱が加わったとき、XI口よ大きくなる磁気検出素子
の精度を考慮して、あるしきい値Jを設け、移動変化量
の絶対値用がしきい値Jを越えた場合については、前記
の磁気検出素子のサンプリング値X*、 ’lxを次の
(9)式、01式にて修正を加える。
の精度を考慮して、あるしきい値Jを設け、移動変化量
の絶対値用がしきい値Jを越えた場合については、前記
の磁気検出素子のサンプリング値X*、 ’lxを次の
(9)式、01式にて修正を加える。
x、 ” XI + I/J・(Xi −XI) ・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(9)Yよ
−Y、+r/J・(Yi−Yt) ・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・α〔この発明は上記関係
式に基づいて方位検出装置1の磁気検出素子の出力補正
を演算的に行うようにしている。
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(9)Yよ
−Y、+r/J・(Yi−Yt) ・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・α〔この発明は上記関係
式に基づいて方位検出装置1の磁気検出素子の出力補正
を演算的に行うようにしている。
次に、第3図のフローチャートにより、第1図の動作を
説明する。まず、上述のように、演算装置3において、
上述のように、外乱により、Y軸、Y軸の磁気検出素子
のサンプリング値Xi、Ytを修正する場合には、第3
図のステップs1において、サンプリング値χ、をX、
に代入するとともに、サンプリング値v2をYlに代入
し、lサンプリング前のサンプリング値を記憶装置4に
制御装置5のもとに蓄える。
説明する。まず、上述のように、演算装置3において、
上述のように、外乱により、Y軸、Y軸の磁気検出素子
のサンプリング値Xi、Ytを修正する場合には、第3
図のステップs1において、サンプリング値χ、をX、
に代入するとともに、サンプリング値v2をYlに代入
し、lサンプリング前のサンプリング値を記憶装置4に
制御装置5のもとに蓄える。
次いで、ステップS2でタイマ(図示せず)をリセット
し、ステップS3でタイマを一定サンプリング時間毎に
カウントアツプさせ、ステップs4で方位検出装置1の
Y軸、Y軸の磁気検出素子のサンプリング値Xt、 x
tを得る。
し、ステップS3でタイマを一定サンプリング時間毎に
カウントアツプさせ、ステップs4で方位検出装置1の
Y軸、Y軸の磁気検出素子のサンプリング値Xt、 x
tを得る。
スタート後、2サンプリング以降では(ステップS5)
、補正が行われる。一つ前のサンプリング値X、 、
Yl と現在のサンプリング値Xt、Y、から求めた
移動変化量iの絶対値IIIが所定のしきい値Jより大
きいかどうかで、修正の判定基準としている。
、補正が行われる。一つ前のサンプリング値X、 、
Yl と現在のサンプリング値Xt、Y、から求めた
移動変化量iの絶対値IIIが所定のしきい値Jより大
きいかどうかで、修正の判定基準としている。
次いで、ステップS5でサンプリング値Xl、Ylが2
個以上サンプリングされると、ステップS6に移行し、
外乱が加わらなければ、移動変化量Iば前記(8)式で
求めたとおりである。
個以上サンプリングされると、ステップS6に移行し、
外乱が加わらなければ、移動変化量Iば前記(8)式で
求めたとおりである。
ステップS7で外乱が加わり、移動変化量1の絶対値I
IIがあるしきい値Jを越えると、ステップS8で、サ
ンプリング値x、、y、を前記(9)式、(11式によ
って修正を加え、ステップS9でこの修正したサンプリ
ング値Xs、Ytを制御装置5の制御のもとに記憶装置
4に格納する。このサンプリング値X、、Y、が今回の
サンプリング時の補正出力となって、外部に取り出され
る。
IIがあるしきい値Jを越えると、ステップS8で、サ
ンプリング値x、、y、を前記(9)式、(11式によ
って修正を加え、ステップS9でこの修正したサンプリ
ング値Xs、Ytを制御装置5の制御のもとに記憶装置
4に格納する。このサンプリング値X、、Y、が今回の
サンプリング時の補正出力となって、外部に取り出され
る。
なお、この発明は、上記実施例に限定されるものでなく
、この発明の技術的思想の範囲内で種々の実施例が可能
である。
、この発明の技術的思想の範囲内で種々の実施例が可能
である。
また、上記実施例では、補正式として、(9)式、顛式
を採用したが、移動変化量fの絶対信用が大きくなった
場合に、上記(6)式の円上に近づくように修正可能と
なればよい。
を採用したが、移動変化量fの絶対信用が大きくなった
場合に、上記(6)式の円上に近づくように修正可能と
なればよい。
以上のように、この発明によれば、X軸、Y軸の磁気検
出素子の2&llの出力値を演算装置に入力して移動変
化量■を算出し、この移動変化量■が所定のしきい値J
より大きくなると、X軸、Y軸の磁気検出装置の出力値
を1サンプリング前の出力値に近づくように修正するよ
うに構成したので、瞬間的な外乱による磁気検出素子の
出力の乱れを低く抑えることができ、精度の高い進行方
位を得られる効果がある。
出素子の2&llの出力値を演算装置に入力して移動変
化量■を算出し、この移動変化量■が所定のしきい値J
より大きくなると、X軸、Y軸の磁気検出装置の出力値
を1サンプリング前の出力値に近づくように修正するよ
うに構成したので、瞬間的な外乱による磁気検出素子の
出力の乱れを低く抑えることができ、精度の高い進行方
位を得られる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例による方位センサの外乱補
正装置のブロック図、第2図は同上実施例による外乱の
補正方法を説明するための説明図、第31!Iは同上実
施例の動作の流れを示すフローチャートである。 l・・・方位検出装置、3・・・演算装置、4・・・記
憶装置、5・・・制御装置。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
正装置のブロック図、第2図は同上実施例による外乱の
補正方法を説明するための説明図、第31!Iは同上実
施例の動作の流れを示すフローチャートである。 l・・・方位検出装置、3・・・演算装置、4・・・記
憶装置、5・・・制御装置。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 同一平面上にて互いに90度の位相角をもって地磁気
を検出するX軸およびY軸の磁気検出素子を有し、前記
X軸およびY軸の磁気検出素子の各出力より方位を検出
する方位検出装置と、前記X軸およびY軸の磁気検出素
子の2組の出力を入力して移動変化量Iを微分方程式 I=X・dX+Y・dX・・・(A) で算出するとともに、この移動変化量Iがあるしきい値
Jを越えるとこの移動変化量Iとしきい値をもとに X_2=X_1+I/J・dX・・・(B)Y_2=Y
_1+I/J・dY・・・(C)ただし、 X_1、X_2:X軸の磁気検出素子のサンプリング値
、 X=X_1+X_2、 dX=X_2−X_1、 Y_1、Y_2:Y軸の磁気検出素子のサンプリング値
、 Y=Y_1+Y_2、 dX=Y_2−Y_1、 なる演算を行って前記X軸、Y軸の磁気検出素子の補正
出力値を算出する演算装置とを備えた方位センサの外乱
補正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11875888A JPH01287413A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 方位センサの外乱補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11875888A JPH01287413A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 方位センサの外乱補正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01287413A true JPH01287413A (ja) | 1989-11-20 |
Family
ID=14744330
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11875888A Pending JPH01287413A (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | 方位センサの外乱補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01287413A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009077976A2 (en) * | 2007-12-18 | 2009-06-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Orientation measurement of an object |
-
1988
- 1988-05-16 JP JP11875888A patent/JPH01287413A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009077976A2 (en) * | 2007-12-18 | 2009-06-25 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Orientation measurement of an object |
WO2009077976A3 (en) * | 2007-12-18 | 2009-08-20 | Koninkl Philips Electronics Nv | Orientation measurement of an object |
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