JPH01287413A - 方位センサの外乱補正装置 - Google Patents

方位センサの外乱補正装置

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JPH01287413A
JPH01287413A JP11875888A JP11875888A JPH01287413A JP H01287413 A JPH01287413 A JP H01287413A JP 11875888 A JP11875888 A JP 11875888A JP 11875888 A JP11875888 A JP 11875888A JP H01287413 A JPH01287413 A JP H01287413A
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JP
Japan
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axis
outputs
magnetic detection
equation
values
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JP11875888A
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English (en)
Inventor
Shigeo Aoki
青木 成夫
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、自動車等の進行方向を検出用の磁気検出素
子が外乱により乱れることを抑制できるようにした方位
センサの外乱補正装置に関するものである。
〔従来の技術〕
方位センサは地磁気の水平成分を検出することで、自動
車等の進行方向を算出するものである。
しかしながら、走行中に着磁した大型トラックなどが傍
を通過(対向および追い越し)すれば、瞬間的に方位セ
ンサの出力の成分が変わり、誤方位を示す原因となる。
このため、例えば、特開昭62−138716号公報に
示された平均化処理法などの信号処理を施す必要がある
ところで、同一平面上で互いに90度の位相角をもって
地磁気を検出するX軸およびY軸の磁気検出素子を有す
る方位センサを地球磁界中に水平に置いた場合に、X軸
の磁気検出素子の巻線中心軸が地磁気の水平成分Hとな
する角度をθとすれば、適当な検出回路により、次の(
11式および(2)式の出力となる。
x=kxHcosθ ・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・(11y −k
yHsinθ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・(21ここで、XはX
軸の磁気検出素子の出力、yはY軸の磁気検出素子の出
力、 kx、kyはそれぞれX軸、Y軸の磁気検出素子の出力
ゲインに依存する係数、 であり、バランスがとれていれば、kxmkyxkであ
る。
この場合において、角度θは前記X軸、Y軸の磁気検出
素子を有する方位センサ出力x、yから次の(3)式に
よって算出される。
θ−jan−’ (y#)・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(31とこ
ろで、瞬間的に外乱が加わった場合、前記磁気検出セン
サの出力X+Yはそれぞれ独立のバイアスα(t)、β
(1)が加わり、次の(4)式、(5)式となる。
x=に買Hcosθ+α(t) ・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・(41y−kyHsin
θ+β(1)  ・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・(5)この+41式、(6)式を上記(
3)式に代入して算出した角度θは誤差をもつ、このた
め、過去数サンプリング分を平均し、前記(4)式、(
5)式のバイアスα(t)、β(1)を小さく抑えるこ
とで、算出する角度誤差を小さくする方法が採られてい
る。
〔発明が解決しようとする!i題〕
従来の平均化処理法では、方位センサの出力信号を平均
化して取り出すことにより、実際に進行方向を変えた場
合には、その変化を迅速に検出することはできないとい
う問題点を有する。
また、進行方向の変化を微分信号により取り出す手法を
採る場合においても、方位変化と外乱の区別を検出する
ことは難しい点および方位変化中に外乱が加わったとき
は誤差を生じるという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、迅速に方位変化を検出できるとともに、瞬間
的な外乱による乱れを抑えることができる方位センサの
外乱補正装置を得ることを目的と°する。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る方位センサの外乱補正装置は、互いに同
一平面上に90度の位相角をもって地磁気を検出するX
軸およびY軸の磁気検出素子を有しそれぞれX軸とY軸
の磁気検出素子の各出力より方位を検出する方位検出装
置と、X軸およびY軸の磁気検出素子の出力を入力して
移動変化量を検出し、この移動変化量と所定のしきい値
とからX軸、Y軸の各磁気検出素子の出力値を修正する
演算装置とを設けたものである。
〔作 用〕
この発明における方位検出装置のX軸、Y軸の磁気検出
素子で方位を検出し、その検出出力から演算装置で移動
変化量を算出し、この移動変化量が所定のしきい値を越
えると、このしきい値を越えたときのX軸、Y軸の磁気
検出素子のサンプリング値がX、Y座標の原点を中心と
する半径に■の円の方程式を満たさなければ、lサンプ
リング前のサンプリングに近づくようにX軸、Y軸の磁
気検出素子のサンプリング値を修正するように作用する
〔実施例〕
以下、この発明の方位センサの外乱補正装置の実施例に
ついて図面に基づき説明する。第1図はその一実施例の
構成を示すブロック図であり、図中の1は方位検出装置
である。
この方位検出装置lは、図示されていないが、同一平面
上に互いに90度の位相角をもって地磁気を検出するX
軸およびY軸の磁気検出素子を有し、その各出力により
方位を検出するようになっている。
このY軸、Y軸の磁気検出素子の出力x、yはアナログ
/ディジタル(以下、A/Dという)変換器2に入力さ
れ、ディジタル化して演算装置3に送出するようになっ
ている。
演算装置3はA/D変換器2を通した上記出力x、yを
入力して、移動変化量を算出し、この移動変化量が所定
のしきい値を越えると、Y軸、Y軸の磁気検出素子の出
力値を修正することにより、方位検出袋!1の出力値を
修正するようになっている。
演算装置3で修正された値が記憶装置4に格納されるよ
うになっている。この記憶装置4および上記演算装置3
は制御装置5により動作制御されるようになっており、
この制御装置5の制御に基づき、記憶装置4で記憶した
補正されたセンサ出力x/、、Iを外部に出力するよう
になっている。
次に、動作について説明する。前記(11式、(2)式
で示される方位検出装置1のY軸、Y軸の磁気検出素子
の出力x、yはkx=ky−にの場合において、自動車
を水平面上で一旋回させたとき、(1)式および(2)
式からθを消去すれば、次の(6)式で示すようなX、
Y座標の原点を中心とする半径kHの円の軌跡となる x t +y t −(kH) z  ・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・(61通常の方位検出装置1におけるX輪、Y軸の磁
気検出素子の出力x、yは前記(6)式を満たす、この
特徴を利用して、外乱に対する補正を施す。
第2図はこの補正を行うための具体的な方法を説明する
説明図でありx、y座標の第1象現を示している。この
第2図において、X、、 xtはY軸の磁気検出素子の
サンプリング値、Y、、 ytはY軸の磁気検出素子の
サンプリング値、(x+、yt)を点A、(Xs、Yi
)を点Bとする。
いま、点Aに対して、点Bが半径kHの円上の動きをす
れば、修正はされず、点Bが円外に移動すれば、線分A
B上のある比の位置「点になるように点Bの(Xオ、Y
8)を修正する。
ここで、前記(6)式を時間tで微分すれば、次の(7
)式となる。
dx   dy Xπ+yπ!O……・・1・・……・・・・・・・・・
・・・・・・(7)この(7)式は大型トランク等のす
れ違いによる瞬間的な外乱に対しては満たされない。
したがって、前記(7)式の左辺をサンプリング時間ご
とに計算することで、外乱を見付けることができる。前
記(7)式の代わりに、サンプリング時間は一定である
ことを考慮して、移動変化量Iを次の(8)式により計
算する。
1 =x dx+y dy −(Xt +Xt)(Xs−Yt) + (Yt +Y
t)(Yt−Yt)・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・+8)ここで、 dx = XI  XI dy −Yt−Y。
とし、この傾きに対する座標を近似的にX−XI+Xl
、 y麟yt+yx とおく。
外乱が加わったとき、XI口よ大きくなる磁気検出素子
の精度を考慮して、あるしきい値Jを設け、移動変化量
の絶対値用がしきい値Jを越えた場合については、前記
の磁気検出素子のサンプリング値X*、 ’lxを次の
(9)式、01式にて修正を加える。
x、 ” XI + I/J・(Xi −XI)  ・
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・(9)Yよ
−Y、+r/J・(Yi−Yt)   ・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・α〔この発明は上記関係
式に基づいて方位検出装置1の磁気検出素子の出力補正
を演算的に行うようにしている。
次に、第3図のフローチャートにより、第1図の動作を
説明する。まず、上述のように、演算装置3において、
上述のように、外乱により、Y軸、Y軸の磁気検出素子
のサンプリング値Xi、Ytを修正する場合には、第3
図のステップs1において、サンプリング値χ、をX、
に代入するとともに、サンプリング値v2をYlに代入
し、lサンプリング前のサンプリング値を記憶装置4に
制御装置5のもとに蓄える。
次いで、ステップS2でタイマ(図示せず)をリセット
し、ステップS3でタイマを一定サンプリング時間毎に
カウントアツプさせ、ステップs4で方位検出装置1の
Y軸、Y軸の磁気検出素子のサンプリング値Xt、 x
tを得る。
スタート後、2サンプリング以降では(ステップS5)
、補正が行われる。一つ前のサンプリング値X、 、 
Yl  と現在のサンプリング値Xt、Y、から求めた
移動変化量iの絶対値IIIが所定のしきい値Jより大
きいかどうかで、修正の判定基準としている。
次いで、ステップS5でサンプリング値Xl、Ylが2
個以上サンプリングされると、ステップS6に移行し、
外乱が加わらなければ、移動変化量Iば前記(8)式で
求めたとおりである。
ステップS7で外乱が加わり、移動変化量1の絶対値I
IIがあるしきい値Jを越えると、ステップS8で、サ
ンプリング値x、、y、を前記(9)式、(11式によ
って修正を加え、ステップS9でこの修正したサンプリ
ング値Xs、Ytを制御装置5の制御のもとに記憶装置
4に格納する。このサンプリング値X、、Y、が今回の
サンプリング時の補正出力となって、外部に取り出され
る。
なお、この発明は、上記実施例に限定されるものでなく
、この発明の技術的思想の範囲内で種々の実施例が可能
である。
また、上記実施例では、補正式として、(9)式、顛式
を採用したが、移動変化量fの絶対信用が大きくなった
場合に、上記(6)式の円上に近づくように修正可能と
なればよい。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、X軸、Y軸の磁気検
出素子の2&llの出力値を演算装置に入力して移動変
化量■を算出し、この移動変化量■が所定のしきい値J
より大きくなると、X軸、Y軸の磁気検出装置の出力値
を1サンプリング前の出力値に近づくように修正するよ
うに構成したので、瞬間的な外乱による磁気検出素子の
出力の乱れを低く抑えることができ、精度の高い進行方
位を得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による方位センサの外乱補
正装置のブロック図、第2図は同上実施例による外乱の
補正方法を説明するための説明図、第31!Iは同上実
施例の動作の流れを示すフローチャートである。 l・・・方位検出装置、3・・・演算装置、4・・・記
憶装置、5・・・制御装置。 なお、図中、同一符号は同一、または相当部分を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  同一平面上にて互いに90度の位相角をもって地磁気
    を検出するX軸およびY軸の磁気検出素子を有し、前記
    X軸およびY軸の磁気検出素子の各出力より方位を検出
    する方位検出装置と、前記X軸およびY軸の磁気検出素
    子の2組の出力を入力して移動変化量Iを微分方程式 I=X・dX+Y・dX・・・(A) で算出するとともに、この移動変化量Iがあるしきい値
    Jを越えるとこの移動変化量Iとしきい値をもとに X_2=X_1+I/J・dX・・・(B)Y_2=Y
    _1+I/J・dY・・・(C)ただし、 X_1、X_2:X軸の磁気検出素子のサンプリング値
    、 X=X_1+X_2、 dX=X_2−X_1、 Y_1、Y_2:Y軸の磁気検出素子のサンプリング値
    、 Y=Y_1+Y_2、 dX=Y_2−Y_1、 なる演算を行って前記X軸、Y軸の磁気検出素子の補正
    出力値を算出する演算装置とを備えた方位センサの外乱
    補正装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009077976A2 (en) * 2007-12-18 2009-06-25 Koninklijke Philips Electronics N.V. Orientation measurement of an object

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009077976A2 (en) * 2007-12-18 2009-06-25 Koninklijke Philips Electronics N.V. Orientation measurement of an object
WO2009077976A3 (en) * 2007-12-18 2009-08-20 Koninkl Philips Electronics Nv Orientation measurement of an object

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