JPH0125475Y2 - - Google Patents

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JPH0125475Y2
JPH0125475Y2 JP1983194803U JP19480383U JPH0125475Y2 JP H0125475 Y2 JPH0125475 Y2 JP H0125475Y2 JP 1983194803 U JP1983194803 U JP 1983194803U JP 19480383 U JP19480383 U JP 19480383U JP H0125475 Y2 JPH0125475 Y2 JP H0125475Y2
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movable plate
vacuum
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JP1983194803U
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は走査電子顕微鏡やオージエ分析装置等
に使用する試料装置の改良に関する。
この種の試料装置としてはX軸、Y軸水平移
動、Z軸移動、回転及び傾斜動等が必要であり、
第1図はこの様な装置の従来装置の正面図であ
り、第2図は第1図装置のA−A断面図である。
図中1は真空筐体の一部をなす試料室の前蓋であ
る。該前蓋1の真空側には多数のボールを含み、
転がり接触する直線ガイド2a,2bが設けられ
ている。この直線ガイド2a,2bによつて駆動
部3が光軸zと垂直な方向(y方向)に移動可能
に保持されている。4は駆動部3に取り付けられ
た試料ステージ部であり、該試料ステージ部4に
は、ここでは図示していないが、試料ステージ、
試料ステージを保持するベースプレート、X軸水
平移動機構、Z軸移動機構、回転及び傾斜動等の
各機構が設けられている。後述の説明から明らか
にされるように、前記前蓋1の外部に設けられた
駆動機構により各駆動機構は独立して移動できる
ように形成されている。5は真空筐体に対して大
気側に備えられた移動板である。この移動板5に
はY動マイクロメータヘツド8の先端が当接して
いる。一方、Y動マイクロメータヘツド8は前蓋
1に固定されたフレーム7に支持されており、Y
動マイクロメータヘツド8を操作することによ
り、移動板5を前記y方向に移動できるようにな
つている。この移動板5のy方向への移動を前記
駆動部3に伝達するため、移動板5は前蓋1を移
動自在に貫通する筒状の結合柱6a,6bによつ
て前記駆動部3に取り付けられている。又、移動
板5は後述するように、X動駆動用マイクロメー
タヘツド17とZ動マイクロメータヘツド18を
取り付けるためのベースプレートとなる。従つて
移動板5は、移動板5と一体的にX動駆動用マイ
クロメータヘツド17及びZ動マイクロメータヘ
ツド18を移動させることを可能にする。換言す
れば、移動板5はY動マイクロメータヘツド8の
操作によつて、試料ステージ部4とX軸駆動軸1
4及びZ軸駆動軸11とを一体的にy方向に移動
させるために必要となる。従つて、移動板5は他
の要素と共に、試料ステージのx方向位置及びz
方向位置に何等ずれを生じさせることなく、試料
ステージをy方向に移動させる機能を果たす。
又、前記駆動部3と前記前蓋1を結ぶ金属ベロー
ズ9及び10は、前記結合柱6a,6bを覆い真
空シールの機能を果す。又図には示さないが駆動
部3を大気側へ押圧し、移動板5とマイクロメー
タヘツド8の先端とを常に接触させる機能を有し
ている。結合柱6aの中には試料ステージ4内の
Z軸移動機構を駆動させるためのZ動駆動軸11
が移動可能に挿入されており、その真空内端部付
近にはアーム12が固定してある。Z動駆動軸1
1と駆動部3との間には金属ベローズ13が設け
られ、移動を許容しながら真空シールがなされて
いる。14は試料ステージ4内の図示しないX軸
移動機構を駆動するためのX軸駆動軸であり、こ
の駆動軸14は前記前蓋をy方向に移動自在に貫
通していると共に、駆動部3も移動自在に貫通し
ている。X軸駆動軸14に嵌挿して同心的に筒状
のZ動駆動軸15が配置され、二重軸が構成され
ている。該軸15の一端は試料室4内の図示しな
いZ軸移動機構に接続されており、もう一方の他
端は前記アーム12に接触している。そのため、
Z軸駆動軸11が移動することにより、試料ステ
ージ4内のZ軸移動機構が駆動する。16はX動
駆動軸14と前蓋1との間に設けられた金属ベロ
ーズである。17及び18は各々X動及びZ動の
駆動用のマイクロメータヘツドであり、移動板5
に取りつけられている。該マイクロメータヘツド
17は駆動軸14を介して試料ステージ4内のX
軸移動機構を駆動し、該マイクロメータヘツド1
8は駆動軸11及び15を介して試料ステージ内
のZ軸移動機構を駆動するよう形成されている。
そのため、Y動マイクロメータヘツド8、X動マ
イクロメータヘツド17及びZ動マイクロメータ
ヘツド18を操作することにより、夫々試料室4
内のY軸移動機構、X軸移動機構及びZ軸移動機
構を真空外より駆動することができる。
この様に構成された装置では、駆動部3と前蓋
1は直線ガイド2a,2bで係合し、又前蓋1と
移動板5は各結合柱6a,6bを介して係合して
いる。又、各係合部の各部材間には移動を許容す
るための微小間隙が形成されており、この様に形
成された従来装置は第3図の模式図の様に考える
ことができる。そのため、各マイクロメータヘツ
ドを操作した場合に該移動板5によつて発生する
振動は各支柱を介して駆動部3を振動させ、その
振動が試料ステージ4に伝わり結果的に試料を振
動させてしまう。
本考案は以上の点に鑑みなされたもので、真空
筐体内において光軸方向と垂直なy方向に移動自
在に駆動部3が備えられ、該該駆動部3に試料ス
テージ部4が取り付けられ、前記真空筐体に対し
て大気側に移動板5が備えられ、真空を維持しつ
つ前記真空筐体壁を移動自在に貫通する結合柱6
a,6bによつて前記移動板5は前記駆動部3に
固定され、該移動板5を移動させるため大気側に
おいて前記真空筐体に保持された第1のマイクロ
メータヘツド8が備えられ、前記移動板5に第2
のマイクロメータヘツド17が保持され、y方向
及び光軸方向のいずれにも垂直な方向をx方向と
呼ぶとき、真空を維持しつつ前記真空筐体を移動
自在に貫通する駆動軸14を介して前記第2のマ
イクロメータヘツド17は前記試料ステージ部4
内の試料ステージを4aをx方向に駆動するよう
に構成された装置において、前記真空筐体壁にy
方向に伸びた支柱19a,19bが固定され、前
記移動板5に該支柱19a,19bを遊貫する孔
5a,5bを穿ち、該支柱19a,19bと前記
移動板5の一方に第1のスプリング22を取り付
け、該取り付けの方向は該スプリングに連なる当
接先端によりy方向に垂直な押圧力が該一方から
他方に及ぶ方向となし、且つ該押圧力に対向する
押圧力をその当接先端を介して一方から他方に及
ばせるための第2のスプリングを前記支柱19
a,19bと前記移動板5の一方に取り付け、前
記移動板5の前記支柱19a,19bに対するy
方向の移動を自在に維持したまま前記移動板5の
y方向に垂直な方向の振動を抑えるようにしたこ
とを特徴としている。
以下本考案の実施例を添付図面により詳述す
る。
第4図は本考案の一実施例を示す正面図、第5
図は第4図の一実施例装置のB−B断面図であ
る。尚、第1図及び第2図と同一構成要素には同
一番号を付し、それにより重複する説明の一部を
省略する。図中1は前蓋であり、この前蓋は前述
したように真空筐体の一部を成しており、図示し
ていない他の真空筐体要素と共同して該筐体内に
真空に保持された空間を維持する。前記第4図に
おいては、X動駆動用のマイクロメーターヘツド
17とY動駆動用のマイクロメーターヘツド8が
図面においてちようど重なる位置に示されてい
る。前述したように駆動部3がy方向に移動自在
に設けられていると共に、駆動部3には試料ステ
ージ部4が取り付けられている。試料ステージ部
4には駆動部3に接続されたベースプレート4b
が備えられており、ベースプレート4bには図示
外の案内によつてx方向に移動自在に試料ステー
ジ4aが備えられている。24xは駆動部3に回
転自在に取り付けられたテコ体であり、このテコ
体21xの一方の腕は前記X軸駆動軸14の先端
に当接しており、他方の腕は試料ステージ4aに
係合されている。従つて、X軸駆動軸14を移動
させることにより、試料ステージ4aをx方向に
移動できるようになつている。図示していない
が、試料ステージ4aは紙面に垂直なz方向にも
移動自在に案内されている。前記Z軸駆動軸15
にも図示していないが同様なテコ体の一方の腕が
当接しており、Z軸駆動軸15を移動させること
により、このテコ体の他方の腕を介して駆動力が
試料ステージ4aに伝達され、試料ステージ4a
をz方向に移動できるようになつている。図中1
9a及び19bは前蓋1に固定された支柱であ
り、該支柱19a,19bは移動板5に穿たれた
孔5a,5bを遊貫している。20a,20b,
20c、及び20dは、移動板5の孔5a,5b
を遊貫する前記支柱19a,19bと移動板5を
係合するための移動板5に設けられたスプリング
を内蔵したネジである。該ネジは第6図に示すよ
うにピン21、スプリング22、キヤツプ23に
より形成されており、ピン21がスプリング22
によつて常に押圧されている。
この様に構成された装置は、第7図の模式図の
様に考えることができ、各マイクロメータヘツド
を操作した場合等に生ずる移動板5の振動は、ス
プリングを内蔵したネジによつて大部分が抑制さ
れ駆動部3の振動を小さく抑えることができる。
そのため、試料ステージ4の振動も従来装置に比
較して小さくなり、従つて試料の振動も小さく抑
えることができる。
尚、上述した実施例は本考案の一実施例に過ぎ
ず、変形して実施することができる。
例えば、上述した実施例においては、スプリン
グを内蔵したネジは移動板5の方に取り付けるよ
うにしたが、支柱の方に取り付けるようにしても
良い。又、ピン21の先端に回転自在なボールを
植設するようにしても良い。
次に本考案の効果について以下に説明する。
移動板はマイクロメータヘツド等を取り付けて
いるため、比較的質量が大きく、そのため、試料
移動機構を駆動させた場合のみならず、走査電子
顕微鏡等が設置されている部屋の振動によりy方
向に垂直な方向に振動し易く、この移動板の振動
は試料を振動させていたが、上述した説明から明
らかなように、移動板のy方向に垂直な方向の振
動が抑えられるため、試料の振動も抑えられ、そ
の結果、本考案に基づく電子線装置等用試料装置
を用いれば像の分解能を向上させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来装置の正面図、第2図は第1図装
置のA−A断面図、第3図は従来装置を説明する
ための図、第4図は本考案の一実施例の正面図、
第5図は第4図の一実施例装置のB−B断面図、
第6図はネジの構成図、第7図は一実施例装置を
説明するための図である。 1:前蓋、3:駆動部、4:試料ステージ部、
4a:試料ステージ、4b:ベースプレート、
5:移動板、6a,6b:結合柱、7:フレー
ム、8,17,18:マイクロメータヘツド、
9,13,10,16:金属ベローズ、11,1
4,15:駆動軸、19a,19b:支柱、20
a,20b,20c,20d:ネジ、21:ピ
ン、22:スプリング、23:キヤツプ、24
x:テコ体。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 真空筐体内において光軸方向と垂直なy方向に
    移動自在に駆動部3が備えられ、該該駆動部3に
    試料ステージ部4が取り付けられ、前記真空筐体
    に対して大気側に移動板5が備えられ、真空を維
    持しつつ前記真空筐体壁を移動自在に貫通する結
    合柱6a,6bによつて前記移動板5は前記駆動
    部3に固定され、該移動板5を移動させるため大
    気側において前記真空筐体に保持された第1のマ
    イクロメータヘツド8が備えられ、前記移動板5
    に第2のマイクロメータヘツド17が保持され、
    y方向及び光軸方向のいずれにも垂直な方向をx
    方向と呼ぶとき、真空を維持しつつ前記真空筐体
    を移動自在に貫通する駆動軸14を介して前記第
    2のマイクロメータヘツド17は前記試料ステー
    ジ部4内の試料ステージを4aをx方向に駆動す
    るように構成された装置において、前記真空筐体
    壁にy方向に伸びた支柱19a,19bが固定さ
    れ、前記移動板5に該支柱19a,19bを遊貫
    する孔5a,5bを穿ち、該支柱19a,19b
    と前記移動板5の一方に第1のスプリング22を
    取り付け、該取り付けの方向は該スプリングに連
    なる当接先端によりy方向に垂直な押圧力が該一
    方から他方に及ぶ方向となし、且つ該押圧力に対
    向する押圧力をその当接先端を介して一方から他
    方に及ばせるための第2のスプリングを前記支柱
    19a,19bと前記移動板5の一方に取り付
    け、前記移動板5の前記支柱19a,19bに対
    するy方向の移動を自在に維持したまま前記移動
    板5のy方向に垂直な方向の振動を抑えるように
    したことを特徴とする電子線装置等用試料装置。
JP19480383U 1983-12-16 1983-12-16 電子線装置等用試料装置 Granted JPS60101369U (ja)

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JP19480383U JPS60101369U (ja) 1983-12-16 1983-12-16 電子線装置等用試料装置

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JP19480383U JPS60101369U (ja) 1983-12-16 1983-12-16 電子線装置等用試料装置

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Publication Number Publication Date
JPS60101369U JPS60101369U (ja) 1985-07-10
JPH0125475Y2 true JPH0125475Y2 (ja) 1989-07-31

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JP19480383U Granted JPS60101369U (ja) 1983-12-16 1983-12-16 電子線装置等用試料装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5462658U (ja) * 1977-10-12 1979-05-02

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JPS60101369U (ja) 1985-07-10

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