JPH01251146A - Bit error correcting device - Google Patents
Bit error correcting deviceInfo
- Publication number
- JPH01251146A JPH01251146A JP63076262A JP7626288A JPH01251146A JP H01251146 A JPH01251146 A JP H01251146A JP 63076262 A JP63076262 A JP 63076262A JP 7626288 A JP7626288 A JP 7626288A JP H01251146 A JPH01251146 A JP H01251146A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bit
- circuit
- data
- error
- bits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 18
- 208000011580 syndromic disease Diseases 0.000 abstract description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Landscapes
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は蓄積制御プログラム方式の主記憶装置等に適用
され、特にメモリのビットエラー訂正回路(以下、EC
C回路と略記する)を用いたビットエラー訂正装置に関
する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION "Field of Industrial Application" The present invention is applied to storage control program type main storage devices, etc., and is particularly applicable to memory bit error correction circuits (hereinafter referred to as EC
The present invention relates to a bit error correction device using a C circuit (abbreviated as C circuit).
[従来の技術]
ECC回路は、ビットエラー訂正機能を持っており、そ
のためにデータ書込み時はチエツクコードを発生し、デ
ータと共にチエツクコードを主記憶装置に書込み、デー
タリード時はデータと共に書込まれているチエツクコー
ドによりシンドロームコードを発生させ、その結末によ
りビットエラーの有無およびd1正を行う。[Prior Art] The ECC circuit has a bit error correction function, and for this purpose, it generates a check code when writing data, writes the check code together with the data in the main memory, and when reading data, it generates a check code along with the data. A syndrome code is generated by the check code, and based on the result, the presence or absence of a bit error is determined and d1 is corrected.
第3図に従来におけるFCCの訂正方式を示す。FIG. 3 shows a conventional FCC correction method.
同図は、データ長32ビツト、チェックビット長7ビツ
トの1とットエラー訂正、2とットエラー検出の場合で
ある。This figure shows the case of 1-bit error correction and 2-bit error detection with a data length of 32 bits and a check bit length of 7 bits.
この場合、主記憶装置1からデータ(MDO〜MD31
)およびチエツクデータ(Co−C6)を読出し、EC
C回路2内でシンドロームコードおよび1ピツトエラー
の有無の情報を回路21で発生させ、訂正回路3での排
他的論理和回路300〜331で読取りデータと排他的
論理をとることによりエラーを訂正していた。In this case, data (MDO to MD31
) and check data (Co-C6), and EC
In the C circuit 2, a syndrome code and information on the presence or absence of a 1-pit error are generated in a circuit 21, and errors are corrected by performing exclusive logic with the read data in exclusive OR circuits 300 to 331 in a correction circuit 3. Ta.
[解決すべき問題点]
上述した従来の方式では、1ビツトエラー訂正、2ビツ
トエラー検出において、データ32ビツト長に対しチェ
ックビットか7または8ビツトが必要であり、2ビツト
エラーの訂正まで行うとするとチェックビットがさらに
大巾に増えるという欠点がある。このなめ、従来より1
ビットエラー訂正、2ビツト工ラー検出方式が一般的に
多用されている。[Problems to be solved] In the conventional method described above, 7 or 8 check bits are required for 32-bit data length for 1-bit error correction and 2-bit error detection. The disadvantage is that the number of bits increases further. This lick is 1
Bit error correction and 2-bit error detection methods are commonly used.
しかし、従来方式では、1とットエラー発生後ただちに
保守作業(素子取替等)を行わないと、さらに新たなピ
ット障害時は2ビツトエラーとなるため、エラー検出の
み可能で訂正はできないという欠点があった。However, the conventional method has the disadvantage that if maintenance work (element replacement, etc.) is not performed immediately after a 1-bit error occurs, a 2-bit error will occur if a new pit error occurs, so the error can only be detected and cannot be corrected. Ta.
そこで、本発明の1“J的とするところは、上述した従
来の問題点を解決し、1ビツトエラー発生後の新たな1
ビツト工ラー発生時(合計2ビツトエラーの場合)でも
、1ビツトエラー訂正機能を活用することかでき、もっ
て実質的に複数ビットエラーまで訂正することができる
ビットエラー訂正装置を提供することにある。Therefore, the 1"J objective of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems and to
To provide a bit error correction device that can utilize a 1-bit error correction function even when a bit error occurs (in the case of a total of 2 bit errors), and thereby can substantially correct up to multiple bit errors.
[問題点の解決手段]
本発明は、E CC[i!回路を用いたビットエラー訂
正装置において、
データビットとECCチェックビットの他に予備ピット
を追加した構成□のメモリと、各データビットと予備ビ
ットを切替える切替回路とを有し、
前記ECC回路からの1とットエラー情報に基づき前記
切替回路を切り替え制御し、エラーを発生したデータピ
ッI・を予備ビットに切替える構成としている。[Means for solving problems] The present invention provides E CC [i! A bit error correction device using a circuit includes a memory having a configuration □ in which spare pits are added in addition to data bits and ECC check bits, and a switching circuit that switches between each data bit and the spare bit, The configuration is such that the switching circuit is controlled to switch based on bit error information, and the data bit I in which the error has occurred is switched to a spare bit.
[実施例]
第1図は本発明の1実施例を示すブロック図で、第2図
はメモリ構成の一例を示す概略説明図である。[Embodiment] FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic explanatory diagram showing an example of a memory configuration.
第1図において、10は主記憶装置等のメモリであり、
データ長32ビツト、チェックビット7ビツトの従来構
成に加えて、予備ピット1ビツトを有するメモリ構成と
なっている。In FIG. 1, 10 is a memory such as a main storage device,
In addition to the conventional configuration of a data length of 32 bits and a check bit of 7 bits, the memory configuration has a spare pit of 1 bit.
20はECC回路、30は1ビツトエラー訂正回路、4
0は前記ECC回路20からのエラーピット番号情報に
基づき切替回路(後述する)を指定するセレクタ回路で
ある。20 is an ECC circuit, 30 is a 1-bit error correction circuit, 4
0 is a selector circuit that designates a switching circuit (described later) based on error pit number information from the ECC circuit 20.
また、500〜531は各々データ00ビツト〜データ
31ビツトを、前記セレクタ回路40からの出力によっ
て予備ビットに切替える切替回路である。ここで、各切
替回路はデータビットと反転された前記セレクタ回路4
0の出力とを2人力とする第1のアンドゲート回路AN
D1と゛、予備ビットと前記セレクタ回路40の出力を
2人力とする第2のアンドゲート回路AND2とを有し
て構成されている。Further, 500 to 531 are switching circuits that respectively switch data 00 bit to data 31 bit to reserved bits according to the output from the selector circuit 40. Here, each switching circuit corresponds to the data bit and the inverted selector circuit 4.
The first AND gate circuit AN that requires two people to output 0 and
D1, a spare bit, and a second AND gate circuit AND2 which outputs the selector circuit 40 by two people.
次に、上記構成のとットエラー訂正装置の作用について
説明する。Next, the operation of the hit error correction device having the above configuration will be explained.
今、データビットMDIが不良でエラー状態の場合とし
て説明する。A case will now be described in which the data bit MDI is defective and in an error state.
メモリ10より32とットデータ(MDO〜31)とチ
エツクコードCO〜C6が読み出され、ECC回路20
に入力されると、ECC回路20は入力データよりシン
ドロームを作成するが、この時、MDIがエラーである
場合には、該ピットがエラーでかつ1とットエラーの旨
のシンドロームとなる。32 cut data (MDO~31) and check codes CO~C6 are read out from the memory 10, and the ECC circuit 20
, the ECC circuit 20 creates a syndrome from the input data, but at this time, if the MDI is in error, the syndrome is created indicating that the pit is in error and 1 is an error.
そして、ECC回路20はこの情報に基づき、訂正口#
r30へMDIのみ反転させる指示を出し、読み収りデ
ータDO〜D31は訂正された正しいデータとして得ら
れる。Based on this information, the ECC circuit 20 uses the correction port #
An instruction is issued to r30 to invert only MDI, and the read data DO to D31 are obtained as corrected correct data.
この時、同時にECC回#r20ではエラービット番号
情報をセレクタ40に送出する。At this time, error bit number information is simultaneously sent to the selector 40 in ECC cycle #r20.
そして、セレクタ40はこの入力情報に基づき切替回路
500・〜531のうちの501(MDIビット対応)
を起動し、予備のMDSBYビットに切替える。第1図
の場合には、切替回路5.01に出力されるセレクタ回
路40の出力のみをIIIGI+とすることで、第2の
アンドゲート回路AND 2が論理的に設立し、この切
替回路501ではデータビットMDIの代わりに、予備
ビットMDSBYが切替出力されることになる。Based on this input information, the selector 40 selects 501 of the switching circuits 500 to 531 (MDI bit compatible).
Start up and switch to the spare MDSBY bit. In the case of FIG. 1, by setting only the output of the selector circuit 40 outputted to the switching circuit 5.01 to IIIGI+, the second AND gate circuit AND 2 is logically established; Instead of data bit MDI, spare bit MDSBY is switched and output.
したがって、読み取りデータDO〜D31は正しいデー
タが得られるだけでなく、メモリ回路10も不良ビット
のない回路として引きつづき使用できる。Therefore, not only correct data can be obtained from the read data DO to D31, but also the memory circuit 10 can continue to be used as a circuit without defective bits.
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。Note that the present invention is not limited to the above embodiments,
Various modifications are possible within the scope of the invention.
[発明の効果]
以1−説明したように、本発明はメモリに予備ビットを
f(iffし、1ビツトエラー発生時、エラービットを
予備ビットに切替えることにより、新たな1ビツト工ラ
ー発生時(合計2とットエラーのケース)でも1ビツト
工ラーJ1正機能を活用することができ、実質上複数と
ットエラーまで訂正できることになる。[Effects of the Invention] As explained in 1-1 above, the present invention stores a spare bit in the memory f(iff), and when a 1-bit error occurs, switches the error bit to the spare bit, so that when a new 1-bit error occurs ( Even in the case of a total of 2 hit errors), the 1-bit error correction function J1 can be utilized, and even multiple hit errors can be corrected.
また、1ピツI・エラー発生時の迅速な保守作業を行う
必要もなくなる。Furthermore, there is no need for quick maintenance work when a one-pitch error occurs.
さらに1とットエラーH1正、2ビツト検出は32ビツ
ト長のデータの場合原理的に7ビツト長のチエツクビッ
トがあれば可能であるが、現実のメモリ回路では8ビツ
ト(1バイト)の正数倍で使われることが多く、結果的
に32+7ビツト長は32+8=40として用いられる
。したかって、不使用の1ビツトの活用というメリット
もある。Furthermore, in the case of data with a length of 32 bits, detection of 1 and 1 and 2 bits is possible if there is a check bit of 7 bits in length, but in actual memory circuits, it is possible to detect 1 and 2 bits with a positive check bit of 8 bits (1 byte). As a result, the length of 32+7 bits is used as 32+8=40. Therefore, there is also the advantage of making use of one unused bit.
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第11¥lに対応するメモリ構成の一例を示す概略説明
図、
第3図は従来方式を説明するためのブロック図である。
10:メモリ
20:ECC回路
30ニ工ラー訂正回路
40:セレクタ
500〜531:各々データ0〜データ31に対応する
切替回路
MDO〜MD31:メモリのデータビットDO〜D31
:訂正された後データビットCO〜C6:ECC回路で
作成されたチエツクコードビット
ML)SBY:メモリの予備(S’l’ND BY)
データビットFig. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a schematic explanatory drawing showing an example of a memory configuration corresponding to No. 11\l, and Fig. 3 is a block diagram for explaining a conventional system. be. 10: Memory 20: ECC circuit 30 error correction circuit 40: Selectors 500-531: Switching circuits corresponding to data 0-31, respectively MDO-MD31: Memory data bits DO-D31
: Corrected data bits CO to C6: Check code bits created by ECC circuit (ML) SBY: Memory spare (S'l'ND BY)
data bit
Claims (1)
て、 データビットとECCチェックビットの他に予備ビット
を追加した構成のメモリと、 各データビットと予備ビットを切替える切替回路とを有
し、 前記ECC回路からの1ビットエラー情報に基づき前記
切替回路を切り替え制御し、エラーを発生したデータビ
ットを予備ビットに切替えることを特徴とするビットエ
ラー訂正装置。(1) A bit error correction device using an ECC circuit, comprising a memory configured to add spare bits in addition to data bits and ECC check bits, and a switching circuit that switches between each data bit and the spare bit, A bit error correction device characterized in that the switching circuit is switched and controlled based on 1-bit error information from the circuit, and a data bit in which an error has occurred is switched to a spare bit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63076262A JPH01251146A (en) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | Bit error correcting device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63076262A JPH01251146A (en) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | Bit error correcting device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01251146A true JPH01251146A (en) | 1989-10-06 |
Family
ID=13600302
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63076262A Pending JPH01251146A (en) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | Bit error correcting device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01251146A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011521397A (en) * | 2008-05-16 | 2011-07-21 | フュージョン−アイオー・インコーポレーテッド | Apparatus, system and method for detecting and replacing a failed data storage mechanism |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS567299A (en) * | 1979-06-25 | 1981-01-24 | Fujitsu Ltd | Error correcting circuit |
-
1988
- 1988-03-31 JP JP63076262A patent/JPH01251146A/en active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS567299A (en) * | 1979-06-25 | 1981-01-24 | Fujitsu Ltd | Error correcting circuit |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011521397A (en) * | 2008-05-16 | 2011-07-21 | フュージョン−アイオー・インコーポレーテッド | Apparatus, system and method for detecting and replacing a failed data storage mechanism |
US8412978B2 (en) | 2008-05-16 | 2013-04-02 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for managing data storage |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6009548A (en) | Error correcting code retrofit method and apparatus for multiple memory configurations | |
US9760434B2 (en) | ECC method for double pattern flash memory | |
JPH06324951A (en) | Computer system with error inspection / correction function | |
JPS63115239A (en) | Error inspection/correction circuit | |
US5691996A (en) | Memory implemented error detection and correction code with address parity bits | |
US3898443A (en) | Memory fault correction system | |
US4236247A (en) | Apparatus for correcting multiple errors in data words read from a memory | |
JP2002007225A (en) | Address parity error processing method, information processor, and storage device | |
JPS6221144B2 (en) | ||
JPH01251146A (en) | Bit error correcting device | |
JPS62242258A (en) | Storage device | |
JPH01171047A (en) | Chip alternation controller for memory element | |
JPH01196647A (en) | Storage device with error correcting function | |
JPH0922387A (en) | Memory unit | |
JPH03147041A (en) | Error correction system | |
JPH06214890A (en) | Computer | |
JPH06103469B2 (en) | Memory control circuit | |
JPH0259946A (en) | Memory device | |
JPH06324952A (en) | Patrol control circuit for memory device | |
JPH0746517B2 (en) | Semiconductor memory and its testing method | |
SU1236559A1 (en) | Storage with error correction | |
SU970480A1 (en) | Self-checking memory device | |
TW202109545A (en) | Memory apparatus and data accessing method thereof | |
JPH0561777A (en) | Memory control circuit | |
JPS61182151A (en) | Semiconductor memory |