JPH01233090A - はんだ付方法 - Google Patents
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- JPH01233090A JPH01233090A JP11639588A JP11639588A JPH01233090A JP H01233090 A JPH01233090 A JP H01233090A JP 11639588 A JP11639588 A JP 11639588A JP 11639588 A JP11639588 A JP 11639588A JP H01233090 A JPH01233090 A JP H01233090A
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3421—Leaded components
-
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K3/3473—Plating of solder
-
- H—ELECTRICITY
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- H05K3/3489—Composition of fluxes; Methods of application thereof; Other methods of activating the contact surfaces
Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、はんだ付方法、とくにプリント基板の表面
実装など、はんだを用いた材料の接合技術に関するもの
である。
実装など、はんだを用いた材料の接合技術に関するもの
である。
従来のはんだ付方法においては、「電子技術」第25巻
第8号に示されているように被接合材料の表面に形成
された酸化被膜を除去し、はんだ金属と被接合材料との
間に安定に合金層を形成するために、無機ハロゲン化物
または無機酸等の無機フラックス、あるいはロジンに有
機ハロゲンの活性剤を添加した活性化ロジンなどをフラ
ックスとして使用している。
第8号に示されているように被接合材料の表面に形成
された酸化被膜を除去し、はんだ金属と被接合材料との
間に安定に合金層を形成するために、無機ハロゲン化物
または無機酸等の無機フラックス、あるいはロジンに有
機ハロゲンの活性剤を添加した活性化ロジンなどをフラ
ックスとして使用している。
はんだ付方法の一例として第4図(aXb)にフラント
パツケイジの表面実装におけるリード部分の外観を模式
的に示す。パターン(2)上にクリームはんだ(1)を
印刷し、その上に部品(4)のリード(3)を搭載させ
た後、赤外線炉などでクリームはんだ11)を−従来の
はんだ付方法は以上のようになされており、ことでクリ
ームはんだ(1)は主剤としてウォーターホワイト(W
W)ロジンまたは重合ロジンを用1.N、 コtlを有
機溶剤で溶解し、それにフラックスと粉末はんだの分離
抑制に効果のあるチキソ剤。
パツケイジの表面実装におけるリード部分の外観を模式
的に示す。パターン(2)上にクリームはんだ(1)を
印刷し、その上に部品(4)のリード(3)を搭載させ
た後、赤外線炉などでクリームはんだ11)を−従来の
はんだ付方法は以上のようになされており、ことでクリ
ームはんだ(1)は主剤としてウォーターホワイト(W
W)ロジンまたは重合ロジンを用1.N、 コtlを有
機溶剤で溶解し、それにフラックスと粉末はんだの分離
抑制に効果のあるチキソ剤。
はんだ付性を向上させるための活性剤を添加して液状フ
ラックスとしたものと、粉末のはんだ金属を混練して、
適当な粘度を持つクリーム状にしたものである。この中
で活性剤としては、一般にはアルミ塩酸塩や有機酸が多
用されているが、これらには腐食性があり(即ち被接合
材料を構成する金属に対して食刻作用があり)、はんだ
付行程終了後には接合部即ちはんだ付部に再着したフラ
ックス残渣(第2図、 +6+)を除去するため、クロ
ロセン等による洗浄を余儀な(されている。
ラックスとしたものと、粉末のはんだ金属を混練して、
適当な粘度を持つクリーム状にしたものである。この中
で活性剤としては、一般にはアルミ塩酸塩や有機酸が多
用されているが、これらには腐食性があり(即ち被接合
材料を構成する金属に対して食刻作用があり)、はんだ
付行程終了後には接合部即ちはんだ付部に再着したフラ
ックス残渣(第2図、 +6+)を除去するため、クロ
ロセン等による洗浄を余儀な(されている。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たものであり、腐食による劣化の恐れのない、高信頼度
のはんだ付部を得、それにより後この発明に係わるはん
だ付方法は、接合部にはんだ金属を供給する工程、上記
接合部を構成する金属に対して食刻作用がな(、かつ上
記金属の酸化物に対して還元作用を有し、かつ上記はん
だ金属の融点マイナス30℃〜上記融点プラス100℃
の範囲の沸点を示す有機化合物を上記接合部に供給する
工程、及び上記はんだ金属を加熱溶融させると共に、こ
の時上記有機化合物をはんだ金属溶融温度程度に加熱し
て上記接合部の接合を行う工程を施すものである。
たものであり、腐食による劣化の恐れのない、高信頼度
のはんだ付部を得、それにより後この発明に係わるはん
だ付方法は、接合部にはんだ金属を供給する工程、上記
接合部を構成する金属に対して食刻作用がな(、かつ上
記金属の酸化物に対して還元作用を有し、かつ上記はん
だ金属の融点マイナス30℃〜上記融点プラス100℃
の範囲の沸点を示す有機化合物を上記接合部に供給する
工程、及び上記はんだ金属を加熱溶融させると共に、こ
の時上記有機化合物をはんだ金属溶融温度程度に加熱し
て上記接合部の接合を行う工程を施すものである。
この発明におけるはんだ付方法は、従来から用いられて
いる活性剤の代わりに、アルコール類。
いる活性剤の代わりに、アルコール類。
フェノール類の有機化合物の還元作用により、被接合材
料およびはんだの表面が清浄化され、その接合界面には
安定に合金層が形成される。また。
料およびはんだの表面が清浄化され、その接合界面には
安定に合金層が形成される。また。
上記有機化合物は、はんだの表面張力を低下させる作用
も有しており、十分な広がり面積を確保することが可能
となる。ここで上記有機化合物は。
も有しており、十分な広がり面積を確保することが可能
となる。ここで上記有機化合物は。
基本的には、はんだ付時に蒸発するために、はんだ何時
には金属成分のみが残存する。なお、はんだ何条性など
により一部残存したとしても、特性上腐食性を有してお
らず、腐食によるはんだ付部の劣化は発生しない。従っ
て、はんだ付部に洗浄する必要もない。
には金属成分のみが残存する。なお、はんだ何条性など
により一部残存したとしても、特性上腐食性を有してお
らず、腐食によるはんだ付部の劣化は発生しない。従っ
て、はんだ付部に洗浄する必要もない。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図(a)(blc)は各々この発明の一実施例に係
わるはんだ付工程を模式的に示す概略側面図である。
わるはんだ付工程を模式的に示す概略側面図である。
まず、接合を行なうパターン上に共晶はんだ金属11)
をめっきし、この上に部品リード(3)を載置しく第1
図fan)、次にアルコール類でOH基を有し。
をめっきし、この上に部品リード(3)を載置しく第1
図fan)、次にアルコール類でOH基を有し。
かつ沸点が198℃であるエチレングリコールなどを噴
霧するなどして接合部に供給する(第1図(bl。この
状態で赤外線はんだ付装置あるいはベーパフェイズはん
だ付装置等で一活加熱溶融させ。
霧するなどして接合部に供給する(第1図(bl。この
状態で赤外線はんだ付装置あるいはベーパフェイズはん
だ付装置等で一活加熱溶融させ。
はんだ付を行なう(第1図(C))。第2図には、ベー
パフェイズはんだ付時の温度プロファイルを示すが1図
中aははんだの融点、bは一例としてエチレングリコー
ルの沸点を示す。Aで示す期間はんだは溶融しているが
、溶融直後にエチレングリコールの沸点Bまで温度が上
昇し、パターン(2)。
パフェイズはんだ付時の温度プロファイルを示すが1図
中aははんだの融点、bは一例としてエチレングリコー
ルの沸点を示す。Aで示す期間はんだは溶融しているが
、溶融直後にエチレングリコールの沸点Bまで温度が上
昇し、パターン(2)。
リード(3)およびはんだ(1)など、接合部を構成す
る金属の表面酸化膜に対する還元作用は最も強くなり、
良好なはんだ付が行なわれる。ちなみに図中Cは、ベー
パフェイズはんだ付における加熱媒体であるフッ素系溶
剤の沸点である。
る金属の表面酸化膜に対する還元作用は最も強くなり、
良好なはんだ付が行なわれる。ちなみに図中Cは、ベー
パフェイズはんだ付における加熱媒体であるフッ素系溶
剤の沸点である。
なお、ここでは−例としてエチレングリコールを例にし
て述べてきたが、プロピレングリコールあるいはヘプチ
ルアルコールなどでもよい。第3図には、有機化合物の
沸点の違いによるはんだ付性を銅板への共晶はんだ(融
点183°C)の広がり面積で比較したものを示す。は
んだ溶融時に活性作用が最も強(なる沸点200℃前後
(エチレングリコールの沸点198°C)を1としてい
るが。
て述べてきたが、プロピレングリコールあるいはヘプチ
ルアルコールなどでもよい。第3図には、有機化合物の
沸点の違いによるはんだ付性を銅板への共晶はんだ(融
点183°C)の広がり面積で比較したものを示す。は
んだ溶融時に活性作用が最も強(なる沸点200℃前後
(エチレングリコールの沸点198°C)を1としてい
るが。
はんだ融点マイナス30℃から融点プラス100℃の範
囲で実用に耐え得る広がり状態が得られる。
囲で実用に耐え得る広がり状態が得られる。
また共晶以外の高融点あるいは低融点はんだに対しては
、その融点を基準に上記範囲内の有機化合物を選択すれ
ば同様に効果が得られる。
、その融点を基準に上記範囲内の有機化合物を選択すれ
ば同様に効果が得られる。
また、ここではめつきされたはんだの上に有機化合物を
噴霧し、同時に加熱する方法を例に上げたが、その化デ
イスペンサ等で滴下させる方式。
噴霧し、同時に加熱する方法を例に上げたが、その化デ
イスペンサ等で滴下させる方式。
あるいははんだ金属の溶融時に有機化合物を接合部に供
給し、この時有機化合物もはんだ金属溶融温度程度に加
熱させて接合を行なってもよく、また最初からクリーム
状に粒子状のはんだ金属と有機化合物を混練させて接合
部に供給しておくなどの方式でもよい。
給し、この時有機化合物もはんだ金属溶融温度程度に加
熱させて接合を行なってもよく、また最初からクリーム
状に粒子状のはんだ金属と有機化合物を混練させて接合
部に供給しておくなどの方式でもよい。
以上のような有機化合物の使用により、酸化物は有効に
除去され、信頼住良くはんだ付される。
除去され、信頼住良くはんだ付される。
さらにこの有機化合物は接合部を構成する金属に対して
食刻作用がなく、また腐食性の残渣も残さないため、洗
浄工程が不用である。即ち、従来の方法ではんだ付を行
なった場合は、洗浄後基板表面のイオン濃度を測定する
と、少なくともNaCl量換算で0.3μg NaC1
/crd程度のイオンが検出される。
食刻作用がなく、また腐食性の残渣も残さないため、洗
浄工程が不用である。即ち、従来の方法ではんだ付を行
なった場合は、洗浄後基板表面のイオン濃度を測定する
と、少なくともNaCl量換算で0.3μg NaC1
/crd程度のイオンが検出される。
これに対し、この発明の方法で行なった場合は。
はんだ打直後の洗浄を行なわない状態においてもイオン
は検出されないことから、腐食性がないことが証明され
る。
は検出されないことから、腐食性がないことが証明され
る。
以上のように、この発明によれば接合部にはんだ金属を
供給する工程、上記接合部を構成する金属に対して食刻
作用がなく、かつ上記金属の酸化物に対して還元作用を
有し、かつ上記はんだ金属の融点マイナス30℃〜上記
融点プラス100℃の範囲の沸点を示す有機化合物を上
記接合部に供給する工程、及び上記はんだ金属を加熱溶
融させると共に、この時上記有機化合物をはんだ金属溶
融温度程度に加熱して上記接合部の接合を行う工程を施
したので、はんだ付時1こ無機酸あるいは有機ハロゲン
等の活性剤の作用をかりずに、接合部を構成する金属の
酸化物を有効に除去し、界面に安定に合金層を形成する
ことが可能となり、腐食性の残渣も残さないため、信頼
性が向上するとともに洗浄工程が不用となり、工程の簡
略化につながる。
供給する工程、上記接合部を構成する金属に対して食刻
作用がなく、かつ上記金属の酸化物に対して還元作用を
有し、かつ上記はんだ金属の融点マイナス30℃〜上記
融点プラス100℃の範囲の沸点を示す有機化合物を上
記接合部に供給する工程、及び上記はんだ金属を加熱溶
融させると共に、この時上記有機化合物をはんだ金属溶
融温度程度に加熱して上記接合部の接合を行う工程を施
したので、はんだ付時1こ無機酸あるいは有機ハロゲン
等の活性剤の作用をかりずに、接合部を構成する金属の
酸化物を有効に除去し、界面に安定に合金層を形成する
ことが可能となり、腐食性の残渣も残さないため、信頼
性が向上するとともに洗浄工程が不用となり、工程の簡
略化につながる。
第1図(a)ibMc)は各々この発明の一実施例に係
わるはんだ付工程を模式的に示す概略側面図、第2図は
この発明の一実施例に係わるはんだ付の温度プロファイ
ルを示す曲線図、第3図はこの発明の一実施例に係わる
有機化合物に対するはんだの広がり面積比を示す特性図
、第4図[a)fb)は各々従来のはんだ付工程を模式
的に示す概略側面図である。 図において、11)ははんだ金属、(21はパターン。 (3)は部品リード、(5)は有機化合物である。 なお2図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
わるはんだ付工程を模式的に示す概略側面図、第2図は
この発明の一実施例に係わるはんだ付の温度プロファイ
ルを示す曲線図、第3図はこの発明の一実施例に係わる
有機化合物に対するはんだの広がり面積比を示す特性図
、第4図[a)fb)は各々従来のはんだ付工程を模式
的に示す概略側面図である。 図において、11)ははんだ金属、(21はパターン。 (3)は部品リード、(5)は有機化合物である。 なお2図中、同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- (1)接合部にはんだ金属を供給する工程、上記接合部
を構成する金属に対して食刻作用がなく、かつ上記金属
の酸化物に対して還元作用を有し、かつ上記はんだ金属
の融点マイナス30℃〜上記融点プラス100℃の範囲
の沸点を示す有機化合物を上記接合部に供給する工程、
及び上記はんだ金属を加熱溶融させると共に、この時上
記有機化合物をはんだ金属溶融温度程度に加熱して上記
接合部の接合を行う工程を施すはんだ付方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63116395A JPH0829430B2 (ja) | 1987-11-27 | 1988-05-13 | はんだ付方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29937987 | 1987-11-27 | ||
JP62-299379 | 1987-11-27 | ||
JP63116395A JPH0829430B2 (ja) | 1987-11-27 | 1988-05-13 | はんだ付方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01233090A true JPH01233090A (ja) | 1989-09-18 |
JPH0829430B2 JPH0829430B2 (ja) | 1996-03-27 |
Family
ID=26454730
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63116395A Expired - Fee Related JPH0829430B2 (ja) | 1987-11-27 | 1988-05-13 | はんだ付方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0829430B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0884936A4 (en) * | 1996-02-28 | 2001-01-31 | Hitachi Ltd | METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICES |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS514191A (en) * | 1974-06-26 | 1976-01-14 | Toray Industries | Ipushiron kapurorakutamuno seizoho |
JPS5919095A (ja) * | 1982-07-26 | 1984-01-31 | Kemikooto:Kk | 無残渣型はんだ付け用フラツクス |
JPS5922632A (ja) * | 1982-07-30 | 1984-02-04 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 排ガス処理装置の触媒補充交換方法 |
-
1988
- 1988-05-13 JP JP63116395A patent/JPH0829430B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0884936A4 (en) * | 1996-02-28 | 2001-01-31 | Hitachi Ltd | METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC CIRCUIT DEVICES |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0829430B2 (ja) | 1996-03-27 |
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