JPH01230745A - 磁気ディスク基板用アルミニウム合金 - Google Patents

磁気ディスク基板用アルミニウム合金

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JPH01230745A
JPH01230745A JP5462988A JP5462988A JPH01230745A JP H01230745 A JPH01230745 A JP H01230745A JP 5462988 A JP5462988 A JP 5462988A JP 5462988 A JP5462988 A JP 5462988A JP H01230745 A JPH01230745 A JP H01230745A
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JP
Japan
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plating
alloy
less
polishing
magnetic disk
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Pending
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JP5462988A
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English (en)
Inventor
Kinya Ohara
欽也 大原
Motohiro Nanbae
難波江 元広
Kunihiko Kishino
邦彦 岸野
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Furukawa Aluminum Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Aluminum Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 C産業上の利用分野〕 本発明は磁気ディスク基板用アルミニウム合金に関し、
特に下地処理メツキにおける無電解メツキの密着性を向
上し、メツキ上り表面を平滑化するメツキ性に優れたア
ルミニウム合金に関するものである。
〔従来の技術〕
電子計X機の記録装置に用いられる磁気ディスクには、
一般にアルミニウム合金からなる基板の表面に磁性体を
被覆したものが用いられている。
このような磁気ディスクは基板を所定の厚さに加工した
後、表面を鏡面研磨してから磁性体粉末と樹脂粉末の混
合物を塗布し、しかる後加熱処理して磁性体膜を形成す
ることにより作られている。
近年磁気ディスクは大容量化、高密度化が要請されるよ
うになり、磁気ディスクの1ビット当りの磁気領域は益
々微小化されていると共に、磁気ヘッドと磁気ディスク
との間隙も減少させることが必要となり、磁性体膜にも
薄肉化と耐摩耗性の改善が望まれるようになった。この
ため基板を所定の厚さに加工した後、表面を鏡面加工し
てから磁性体被覆のための下地処理として硬質非磁性金
属、例えばN i−Pを無電解メツキし、しかる後スパ
ッタリング又はメンキにより磁性体、例えばCo−N1
−P合金を被覆した磁気ディスクが提案されている。
このような磁気ディスクの基板には次のような特性が要
求されている。
(1)非熱処理型で種々の加工および使用時の高速回転
に耐える十分な強度を有すること。
(2)軽量で研磨により良好な鏡面が得られ、ピット等
の表面欠陥が現われないこと。
(3)下地処理である無電解メツキの密着性および表面
平滑性が優れ、メツキ後もピット等の欠陥が現われない
こと。
このような特性を満たす磁気ディスク用基板として、J
ISA5086合金(Mg3.5〜4.5wt%、Fe
50.50wt%、SiS2.40wt%、Mn0.2
0〜0.7wt%、Cr 0.05〜0.25wt%、
Cu≦0.10wt%、Ti≦0.15wt%、Zn≦
0 、25w t%、AI!、残部)又はJISA50
86合金の不純物であるFeやSt等を規制してマトリ
ックス中に生成する金属間化合物を小さくした合金が用
いられている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら上記JISA5086合金からなる基板は
、磁性体被覆の下地処理である無電解メツキの密着性が
劣るため、磁性体の被覆工程または使用中無電解メツキ
被覆が剥離することが有るという問題があった。また無
電解メツキの表面平滑性も充分とはいえなかった。即ち
金属間化合物はジンケート処理時に脱落してピットを生
成する。
このピットは無電解メツキ厚さが20μm程度の膜厚で
あれば、その後ボリシング研磨を施すことにより消える
ことが多いが、昨今メツキ厚さが薄膜化の傾向にあり(
例えば17μm程度)、メツキ後のボリシング研磨後も
ピットが残存する場合が生じてきた。またアルミニウム
合金板を所定の寸法に打ち抜き、その後切削もしくは研
削研磨を施すが、その際金属間化合物が脱落し、ピット
欠陥となる場合もある。このように磁気ディスクのメツ
キ性の向上には主としてその基板用アルミニウム合金の
金属間化合物数を減らし、大きさも小さくすることが強
く望まれ、種々の対策が講じられてきたが、必ずしも充
分な成果が得られていなかった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明はこれに鑑み種々検討の結果、無電解N1−P合
金メツキの密着性やメツキ表面の平滑性は前処理のジン
ケート皮膜を薄くかつ均一緻密に付着させることが必要
でありさらに、N1−P合金メツキ皮膜の密着性はジン
ケート皮膜の付着状況だけでなく、素材の結晶粒径およ
びマトリックス中の微量添加元素にも影響され、即ち結
晶粒は微細であれば密着性は向上し、また微量添加元素
の種類、量をコントロールすることによっても密着性が
改善されることを知見し、更に検討の結果、これらの効
果を必要に応じて組み合せることによりその相互作用が
得られ、その結果として下地処理メツキにおける無電解
メツキの密着性が優れ、しかもメツキ上り表面が平滑で
かつ表面欠陥のない磁気ディスク基板用アルミニウム合
金を開発したものである。
即ち本発明合金の一つは、Cu 0.01〜0.25w
t%、M g 2.(1−6,0wt%、Z no、o
ol 〜0.4wt%、Z r 0.001〜0.04
wt%、T i 0.02wt%以下を必須元素として
含有し、不純物元素として、Si0.1wt%以下、F
 e 0.1vt%以下に規制し、残部が不可避的不純
物とAlからなることを特徴とする磁気ディスク基板用
アルミニウム合金であり、また本発明合金の他の一つは
、Cu0.01〜0.25wt%、M g 2.0〜6
.0wt%、Z n 0.001〜0.4wt%、Z 
r 0.001〜0.04wt%、T i 0.02w
t%以下を必須元素として含有し、さらに、M no、
01〜1.0wt%、Cr 0.005〜0.25@t
%の内1種以上の元素を選択的に含有し、不純物元素と
して、S i  0.1wt%以下、F e 0.1w
t%以下に規制し、残部が不可避的不純物とAlからな
ることを特徴とする磁気ディスク基板用アルミニウム合
金である。
(作 用〕 次に本発明合金の添加元素の意義と合金組成の限定理由
を説明する(以下合金組成の−t%を単に%と略記する
)。
Mgは主として強度を得るためのもので、その含有量を
2.0〜6.0%と限定したのは、2.0%未満では十
分な強度が得られず、6.0%を越えるとAl−Mg金
属間化合物を生成すると共に溶解鋳造時の高温酸化によ
りMgOなどの非金属介在物の生成が著しくピット不良
を発生させる原因となるためである。
Znはジンケート処理を可能にするもので、その含有量
を0.001〜0.4%と限定したのは、0.001%
未満ではジンゲート処理による効果が不十分となり、0
.4%を越えると圧延加工性及び耐食性を低下し、特に
メツキ処理工程においても材料の耐食性が劣るため、ジ
ンケート処理が不均一となり、メツキの密着性や表面の
平滑性を低下するためである。尚Zn含有量を上記範囲
内とすることにより、ジンケート処理時のAl熔解量を
減少し、その後の無電解メツキにおける平滑性を高める
ことができる。
Cuの添加はジンケート処理時のAl溶解量を減少し、
さらにジンケート皮膜を薄く、均−且つ緻密に付着させ
その後の無電解メツキの表面平滑性を高めるためで、C
u含有量を0.01〜0.25%と限定したのは、0.
01%未満ではジンケート処理における上記効果が得ら
れないためであり、0.25%を越えると圧延加工性及
び耐食性を低下し、特にメツキ処理工程において材料の
耐食性が劣るため、ジンケート処理が不均一となり、メ
ツキの密着性や表面の平滑性が劣るようになるためであ
る。
Zrは均質化処理時および/または熱間圧延、焼鈍時に
微細な化合物として析出し、再結晶粒を微細化すること
により無電解メツキの密着性を向上させる効果を有する
。Zr含有量を0.001〜0.04%と限定したのは
、0.001%未満だと密着性向上の効果が得られない
ためであり、0.04%を超えると析出物量が増加しす
ぎるためジンケート処理が不均一となりメツキ表面の平
滑性が低下するためである。
Tiは結晶粒を微細化し、無電解メツキの密着性を向上
させる効果を有する。Ti1lを0.02%以下と限定
したのは、0.02%を超えるとA/!−Ti系化合物
の粗大な凝集体が形成され表面欠陥を生じるためである
Mn、Cr、はいずれも均質化処理時および/または熱
間圧延、焼鈍時に微細な化合物として析出し、再結晶粒
を微細化すると共に、その一部はマトリックス中に固溶
しその強度を向上させると同時に無電解メツキの密着性
を更に向上させる作用があり、それらの相互作用により
基板の切削・研磨性の向上およびN1−Pメツキ皮膜の
研磨性の向上にも寄与するものである。それぞれ前記下
限未満ではこの効果が不十分であり、又前記上限を越え
ると鋳造時のフィルターによる溶湯処理において過剰の
元素が除去されて無駄となるばかりか粗大な金属間化合
物が生成し、アルカリエツチングおよびジンケート処理
だけでなく、切削、研磨加工を施す際にも脱落してピッ
ト欠陥となる。
これらのMn、Crは単独で添加してもよいが、複合し
て添加する方が効果的であるため、必要に応じて1種又
は2種を選択して添加する。これらの元素は単独ではM
 n0.01〜1.0%、Cr 0.005〜0.25
%添加するが複合添加の場合はMn+Cr0.9%以下
が望ましい。
又不純物元素であるFe、Siをそれぞれ0.1%以下
に限定したはFeやSiはアルミニウム中にほとんど固
溶せず金属間化合物として析出するが、その量が多い場
合には、AI!、−Fe系、AN−Fe−3i系等の粗
大な金属間化合物が多数存在し、基板の切削・研磨およ
びジンケート処理時に脱落してピット欠陥となり易いた
めである。
また他の不可避的不純物元素(例えばB、Ni、■等)
はそれぞれ0.1%以下であれば本発明合金の特性に影
響しない。
尚本発明合金はその組織中に含まれる金属間化合物につ
いては、その最大径を15μm以下とすることが望まし
い、金属間化合物はアルカリエンチング及びジンケート
処理時だけでなく切削研磨加工時にも脱落してピット欠
陥となるが、その後の無電解Niメツキにてかなりカバ
ーされ、さらに研磨加工後では実際の金属間化合物の大
きさよりもビット欠陥はかなり小さくなる。現在、高密
度・大容量化の動きの中でディスク基板に対する要求特
性も上っており例えば3.5#デイスク基板においては
、メツキ→研磨上がりにて面内に5μm径をこえるピン
トは許されない状況である。本発明者らは種々検討の結
果、メツキ→研磨上りにて、面内のピント最大径を5μ
m以下にするにはアルミニウム合金中の金属間化合物の
最大径を15μm以下にしなければならないことを知見
した。また、メツキ→研磨上りの膜厚によってもビット
径は異なるが、少なくともメツキ→研磨上りでメツキ膜
厚が10μm以上の場合、合金中の金属間化合物の最大
径が15μm以下であるならば、メツキ→研磨上りのピ
ント最大径は5μ以下とすることができる。
〔実施例〕
市販の純度99.5%以上のAl地金を溶解し、これに
合金元素を添加して第1表に示す成分組成の合金溶湯に
調製し、脱ガス、沈静処理した後、フィルターで濾過し
てから水冷鋳造し、厚さ350m、中1000m+a、
長さ2000−の鋳塊を得た。
この鋳塊の両面を10閣ずつ面前してから480±30
°Cの温度で約6時間均熱処理した後、常法に従って熱
間圧延と冷間圧延により厚さ1.5111mの板材とし
た。
この板材から直径95mmの円板を打抜き、350°C
で2時間焼鈍した後、荒研磨と仕上げ研磨を施して鏡面
に仕上げた。これ等について市販の溶剤により脱脂し、
40°Cの5%NaOH水溶液で30秒間エツチングし
てから室温の30%HN Os水溶液で30秒間スマッ
ト除去し、しかる後金属間化合物の最大径を測定し、続
いてジンケート処理してから無電解N1−P合金メツキ
を行い、更に仕上げ研磨を行なってからメツキ皮膜の密
着性、表面の平滑性およびビット欠陥を調べ、これ等の
結果を従来のJrsA5086合金(Mg4.0%、M
n0.5%、Cr0.2%、Fe0.3%、Si0.0
5%、Ti0.002%、Zn0.1%、残Af)と比
較して第1表に併記した。
尚ジンケート処理にはアープ302ZN(商品名奥野製
薬)を用いてダブルジンケート処理し、無電解N1−P
合金メツキにはナイフラッド719(商品名奥野製薬)
を用いて行なった。無電解N1−Pメツキは厚さ17μ
m、その後の仕上げ研磨(別布研磨)にて4μmの研磨
化をとり厚さ13μmに仕上げた。
密着性についてはメツキ研磨後、50mm平方のサンプ
ルを切出して400’Cの温度に30分間加熱し、直ち
に常温水で、水冷してA2合金とN1−P合金の熱膨張
差によるメツキの剥離および膨れを調べ、剥離や膨れの
ないものを◎印、わずかに生じたものをΔ印、多数発生
したものを×印で表わした(◎印が合格、△、×は不合
格である)。
また平滑性についてはメツキ研磨後表面粗度を万能表面
粗さ計5E−3H(生板研究所製)により測定し、JI
SBO601に規定されている中心線平均粗さRa(μ
m)を4点の平均値で示した。
表面欠陥の程度についてはメツキ研磨後、光学顕微鏡に
て基板表面を観察しビットの最大径で5μmを越えるも
のが存在した場合をX印、ビットが存在しても5μm以
下であった場合を○印で表示した。
第1表から明らかなように本発明合金Nα1〜12は何
れも従来合金漱25よりはるかに優れた密着性と表面平
滑性等の特性を有することが判る。
これに対し本発明合金の組成範囲より外れる比較合金N
α13〜24は、密着性、表面平滑性又は表面欠陥の特
性の何れかが悪化することが判る。
〔発明の効果〕
このように本発明合金は磁気ディスク基板として、下地
処理である無電解メツキの密着性が優れ、しかもメツキ
上り表面が平滑で欠陥がなく、磁気ディスクの大容量化
、高密度化を可能にする等、工業上顕著な効果を奏する
ものである。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)Cu0.01〜0.25wt%、Mg2.0〜6
    .0wt%、Zn0.001〜0.4wt%、Zr0.
    001〜0.04wt%、Ti0.02wt%以下を必
    須元素として含有し、不純物元素として、Si0.1w
    t%以下、Fe0.1wt%以下に規制し、残部が不可
    避的不純物とAlからなることを特徴とする磁気ディス
    ク基板用アルミニウム合金。
  2. (2)Cu0.01〜0.25wt%、Mg2.0〜6
    .0wt%、Zn0.001〜0.4wt%、Zr0.
    001〜0.04wt%、Ti0.02wt%以下を必
    須元素として含有し、さらにMn0.01〜1.0wt
    %、Cr0.005〜0.25wt%の内1種以上の元
    素を選択的に含有し、不純物として、Si0.1wt%
    以下、Fe0.1wt%以下に規制し、残部が不可避的
    不純物とAlからなることを特徴とする磁気ディスク基
    板用アルミニウム合金。
JP5462988A 1988-03-08 1988-03-08 磁気ディスク基板用アルミニウム合金 Pending JPH01230745A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0297639A (ja) * 1988-09-30 1990-04-10 Furukawa Alum Co Ltd メツキ性に優れた磁気デイスク基板用アルミニウム合金
CN104911417A (zh) * 2015-06-30 2015-09-16 辽宁科技大学 一种机械式硬盘用高纯铝镁合金板锭及其生产方法

Cited By (3)

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JPH0297639A (ja) * 1988-09-30 1990-04-10 Furukawa Alum Co Ltd メツキ性に優れた磁気デイスク基板用アルミニウム合金
JPH0545659B2 (ja) * 1988-09-30 1993-07-09 Furukawa Aluminium
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