JPH01229938A - 膜特性試験用サンプルホルダーおよび膜特性試験用サンプルの除去方法および押込み治具 - Google Patents

膜特性試験用サンプルホルダーおよび膜特性試験用サンプルの除去方法および押込み治具

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JPH01229938A
JPH01229938A JP5667488A JP5667488A JPH01229938A JP H01229938 A JPH01229938 A JP H01229938A JP 5667488 A JP5667488 A JP 5667488A JP 5667488 A JP5667488 A JP 5667488A JP H01229938 A JPH01229938 A JP H01229938A
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JP5667488A
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Masahiro Makino
槙野 正博
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Mitsui Petrochemical Industries Ltd
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Mitsui Petrochemical Industries Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/86Investigating moving sheets

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、膜状物の光学特性等の特性試験を行なうため
のサンプルホルダーに関する。
さらに詳しくは、このようなサンプルホルダーを用い各
種膜特性試験を行なうに際し、試験後のサンプルの除去
が安全かつ容易な膜特性試験用サンプルホルダーおよび
試験用サンプルの除去方法およびそれを行なう治具に関
する。
〈従来技術とその問題点〉 プラスチックフィルム等の膜状物の各種特性試験を行な
うために、各種のサンプルホルダーが用いられている。
例えば、プラスチックフィルム等の各種樹脂膜の透明性
、光沢等の各種光学特性を測定する際には、通常第6図
に示されるように、円筒状のサンプルリング100と、
このサンプルリング100が嵌入する凸部を有する基台
3′とから構成されるサンプルホルダー10′を用いる
このサンプルホルダー10′を用いてサンプルSの各種
光学特性を測定する際には、第6図に示されるようにこ
のサンプルリング100と前記の基台3′の凸部との間
にサンプルSを挟み込み、サンプルリング100をこの
凸部に嵌入することによりサンプルSを緊張させ、各種
光学特性試験を行なう。
その後、サンプルSはサンプルリング100を基台3′
の凸部より取り外すことにより、サンプルホルダー10
′より除去される。
ところが、このようなサンプルホルダー10′において
は、サンプルSを除去する際にサンプルリング100を
基台3′の凸部より取り外すのが非常に困難であり、手
で取り外すことができないばかりか、通常は第6図に示
されるようにマイナスドライバー9等をサンプルリング
100の底面と基台3′ との間に差し込み、このマイ
ナスドライバー9にてこじ開けるようにしてサンプルリ
ング100を前記の凸部から取り外さなくてはならない
そのため、取り外しに時間がかる上に大きな労力を必要
とする、マイナスドライバー9等で手にケガをする、さ
らにはサンプルホルダーが傷つく等の問題点があり改良
が望まれている。
〈発明が解決しようとする課題〉 本発明の目的は、前記の課題を解決することにあり、各
種サンプルホルダーを用い各種膜特性試験、特に光特性
試験を行なった後の、試験後のサンプルを除去するに際
し、安全で、しかも作業時間、労力等の作業性も良好で
あり、かつサンプルホルダー自身も傷つくことのない膜
特性試験用サンプルホルダーおよび試験用サンプルの除
去方法およびそれを行なう治具を提供することにある。
く課題を解決するための手段〉 前記の課題を解決するために、本発明の膜特性試験用サ
ンプルホルダーは、貫通孔を有する筒状体と、前記筒状
体の貫通孔に嵌入してサンプル膜を前記筒状体との間で
固定するための凸部を有し、前記筒状体を前記凸部に貫
通したとき前記筒状体の底面に対応する部分に孔部を有
する基台と、前記孔部に挿通可能な押し出し部を有する
突き出し治具とから構成されることを特徴とする特性試
験用サンプルホルダーである。
また、前記基台および前記凸部が貫通孔を有していても
よい。
また、本発明の膜特性試験用サンプルの除去方法は、前
記の膜特性試験用サンプルホルダーを用い、前記凸部と
前記筒状体との間に膜特性試験用サンプルを置いて前記
凸部を前記筒状体の貫通孔に嵌入させることにより前記
膜特性試験用サンプルを前記筒状体と前記凸部との間に
固定し前記膜特性試験用サンプルの膜特性を試験した後
に、前記孔部に前記突き出し治具の前記押し出し部を挿
通し、前記基台と前記突ぎ出し治具とを近接させること
により、前記押し出し部の先端にて前記筒状体の底面を
押して、前記凸部より前記筒状体を押し上げた後、前記
筒状体を前記凸部より取り外し、前記膜特性試験用サン
プルを除去することを特徴とする特性試験用サンプルの
除去方法である。
また、本発明の押し込み治具は、前記の膜特性試験用サ
ンプルホルダーの前記筒状体を前記凸部に嵌入させ、か
つ前記の膜特性試験用サンプルの除去方法を実施するた
めの筒状の押し込み治具であって、開口部が前記筒状体
の外寸法よりも大きく、かつ前記基台の外寸法よりも小
さな寸法を有し、内部に内方向に突出する前記筒状体を
前記凸部に押し込むための突出部を有することを特徴と
する押し込み治具である。
また、前記突出部が形成する穴部が前記凸部の外寸法よ
りも大きいことが好ましい。
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図、第2図および第3図に、本発明の膜特性試験用
サンプルホルダーを光特性測定用の膜特性試験用サンプ
ルホルダーに通用した好適な一例が示される。
第1図、第2図および第3図に示される本発明の膜特性
試験用サンプルホルダー10は、基本的には貫通孔13
を有する筒状体1と、この筒状体1の貫通孔13に嵌入
して、膜状のサンプルS(以下、サンプルS)を筒状体
1との間で固定するための凸部31を有する筒状の基台
3と、凸部31に嵌入された筒状体1を取り外す際に用
いる突き出し治具5とから構成される。
そして、本発明の膜特性試験用サンプルホルダー10に
おいては、基台3は筒状体1が凸部31に貫゛通したと
き、筒状体1の底面11に対応する部分に孔部33を有
し、また、突き出し治具5はその孔部33に挿通可能な
例えば、棒状の押し出し部51を有する。
なお、第1図、第2図および第3図に 示される膜特性試験用サンプルホルダー10は、基台3
およびその凸部31が、貫通孔を有するものである。
サンプルSは、第2図に示されるように筒状体1と基台
3の凸部31との間に置かれ、筒状体1に凸部31を嵌
入することにより固定される。
そして、各種の特性試験が終了すると、第2図および第
3図に示されるように突き出し治具5の押し出し部51
が基台3の孔部33に挿通される。
そして、好ましくは後述する押込み治具7を用い、基台
3を押して、基台3と突ぎ出し治具5とを近接させるこ
とにより、押し出し部51の先端部により筒状体1の底
面11を押し上げた後、基台3の凸部31から筒状体1
を取り外し、サンプルSを膜特性試験用サンプルホルダ
ー10より除去する。
筒状体lは貫通孔を有する筒状であれば他に一切の制限
はない。
第1図、第2図および第3図に示される例においては、
筒状体1は円筒状であるが、本発明においては筒状であ
れば形状その他に一切の制限はなく、三角筒、四角筒等
いずれの形状であってもよく、また、筒の外壁面形状と
内壁面形状とが異なっていてもよく、用途に応じて適宜
決定すればよい。
しかし、通常、膜特性試験においては、膜状物であるサ
ンプルSを均一に張る必要があるため、第1図、第2図
および第3図に示されるもののように円筒状であるか、
また、少なくとも内壁面形状は円筒状であることが好ま
しい。
また、その寸法は、行なう試験の種類、試験に用いる測
定機器、用いるサンプルSの種類等によって適宜決定す
ればよいが、例えば第1図、第2図および第3図に示さ
れるような光特性測定用のサンプルホルダーの場合、円
筒状である場合には、通常内径で、20mm〜50mm
程度である。 また、このような場合の内径と外径との
差は通常5〜10mm程度である。  さらに、高さに
も特に制限はなく、行なう試験の種類や、用いる測定機
器等により、適宜決定すればよい。
本発明の膜特性試験用サンプルホルダー1゜の基台3は
、筒状体1の貫通孔13に嵌入して、膜状のサンプルS
を筒状体1との間で固定するための凸部31を有し、ま
た、筒状体1か凸部31に貫通したとき、筒状体1の底
面11に対応する面に、突き出し治具5の押し出し部5
1が挿入される孔部33を有する。
基台3としては他に制限はなく、その形状、寸法等は、
筒状体1に合わせて、行なう試験の種類、試験に用いる
測定機器、用いるサンプルSの種類等によって適宜決定
すればよい。
基台3の凸部31は前記の筒状体1が嵌入可能なもので
あるので、通常、筒状体1の内壁面形状と同様の形状を
有するものである。
このような凸部31の形状および寸法は、筒状体1に嵌
入可能でかつサンプルSが固定可能な寸法および形状を
適宜選択すればよい。
また、第1図、第2図および第3図に示される例におい
ては、膜特性試験用サンプルホルダー10は光学特性測
定用の膜特性試験用サンプルホルダーであるので、凸部
31は貫通孔を有するものであるが、このような場合、
凸部31の内壁面形状と外壁面形状と筒状体lと同様に
異なっていてもよい。 ただし、この場合において、凸
部31は筒状体1に嵌入し、両者の間でサンプルSを固
定するものであるので、外壁面形状は筒状体1の内壁面
形状と同様であるのが好ましいことはいうまでもない。
また、本発明においては、このような凸部31は貫通孔
を存するものでなくてもよい。
本発明の膜特性試験用サンプルホルダー1゜において、
基台3は筒状体1が凸部31に貫通したとき、筒状体1
の底面11の対向する面に、突き出し治具5の押し出し
部51が挿通される孔部33を有するものである。
このような孔部33は、筒状体1が凸部31に貫通した
とき、筒状体1の筒状体1の底面11が対向する面に一
つ以上設けられるものであり、突き出し治具5の押し出
し部51が挿通可能なものであれば他に一切の制限はな
く、数、形状等は膜特性試験用サンプルホルダー10の
用途、形状に応じ適宜決定すればよい。
また、通常、その数は突き出し治具5の押し出し部51
と同数である。
なお、このような基台3は第1図、第2図および第3図
に示されるもののように、前記の筒状体1の底面よりも
大きなものであることが好ましい。 基台3をこのよう
なものとすることにより、後述の押込み治具7等を用い
て基台3と突き出し治具5とを近接する際に、作業性の
面でより好ましい結果を得る。
本発明の膜特性試験用サンプルホルダー10の突き出し
治具5は、前記の基台3の孔部33に挿通可能な押し出
し部51を有するものであり、これを有するものであれ
ば他に一切の制限はない。
このような突き出し治具5の押し出し部51は、通常、
第1図、第2図および第3図に示されるように、突き出
し治具5の基部53に固定されるものである。
このような場合、固定方法には一切の制限はなく、溶接
による方法、一体成型による方法、ネジ込みによる方法
等公知の固定方法はいずれも適用可能である。
また、設置する位置も、押し出し部51が前記の基台3
の孔部33に挿入可能な位置であれば、特に制限はなく
、作業性を考慮して、サンプルSの除去の際に安定性の
高い位置に設置すればよい。
突き出し治具5の押し出し部51は、サンプルSの除去
の際に、前記の筒状体1の底面11を押すための部材で
あるので、その形状は円柱状、角柱状等の棒状のもの、
半円状のもの等、特に制限はないが、その頂面が、確実
に前記の底面11を押すことが可能かつ容易な形状を有
することが好ましい。
また、このような押し出し部51の長さも、筒状体1を
、基台3の凸部31から取り外すことができる長さであ
ればよく、膜特性試験用サンプルホルダー10の寸法お
よび形状により適宜決定すればよい。
このような押し出し部51の数は、特に制限はなく、サ
ンプルSの取り外しの際の安定性等を考慮して適宜決定
すればよい。 例えば、第1図、第2図および第3図に
示されるように棒状である場合は、3つ以上であること
が好ましい。
本発明の膜特性試験用サンプルホルダー10に、サンプ
ルSを取り付けおよび取り外しする際には、下記のよう
な押し込み治具を用いることが好ましい。
すなわち、筒状であって、その開口部が筒状体1の外寸
法よりも大きく、かつ基台3の外寸法よりも小さな寸法
を有し、しかも内部に内方向に突出する筒状体1を凸部
31に押し込むための突出部を有する押し込み治具であ
る。
このような押込み治具の好適な一例が第2図、第3図、
第4図および第5図に示される。
この押し込み治具7は、第2図、第3図、第4図および
第5図に示されるように、全体的な形状は筒状であって
、その開口部75が筒状体1の外寸法よりも大きく、か
つ基台3の外寸法よりも小さな寸法を有し、しかも内部
に、サンプルSを固定する際に筒状体1を凸部31に押
し込むための、内方向に突出する突出部71を有する構
成を有する。
このような押し込み治具7は、上記の構成を有するもの
であれば他に制限はなく、その形状、寸法は用いる膜特
性試験用サンプルホルダー10の形状等により適宜決定
すればよいが、作業性等の点で、膜特性試験用サンプル
ホルダー10の筒状体1と同様の形状を有することが好
ましい。
突出部71は、筒状体1を凸部31に押し込むことが可
能で、かつ突出部71により形成される穴部77が、凸
部31の外寸法よりも大きなものであれば他に制限はな
く、フランジ状に連続的に配置されても、突出物のよう
に不連続的に配置されてもよい。 また、その形状もサ
ンプルホルダー10の形状等に応じて適宜決定すればよ
い。
また、このような突出部71の位置は、第2図、第3図
、第4図および第5図に示されるように、筒状の押込み
治具7の高さ方向の中心部より上方または下方のいずれ
かにずれていることが好ましい。
また、筒状体1に凸部31が深く嵌入することが可能と
なるように、突出部71により形成される穴部77は、
凸部31の外寸法よりも大きなものであることが好まし
い。
突出部71をこのような構成とすることにより、サンプ
ルSの装着および除去の際の凸部31に筒状体1を取付
けおよび取り外し作業をを行なう際に、より確実な作業
を行なうことができる。
また、第2図、第3図、第4図および第5図に示される
例においては、押込み治具7は把手73を有するもので
あるが、本発明においてはこれに限られるものではなく
、把手73がないものでもよい、しかし、作業性の点で
、把手73を有する方がより好ましい結果を得る。
以上の筒状体1、基台3、突き出し治具5および押込み
治具7の材質については特に制限はなく、各種金属、各
種樹脂等を用途に応じて適宜用いればよい。
本発明の膜特性試験用サンプルホルダーを用いて特性試
験を行なうサンプルSとしては特に制限はなく、各種樹
脂膜、天然!!a維の布、金属膜等膜状であれば一切の
制限はない。
また、その厚さ等も任意である。
また、行ムう特性試験の種類にも特に制限はなく、透明
度、光沢等の光特性試験、スクラッチ、伸縮率等の膜強
度試験等、膜状物の特性試験であればすべてのものに適
用可能である。
〈発明の作用〉 以下、本発明の作用について具体的に説明する。
第1図、第2図および第3図に示される膜特性試験用サ
ンプルホルダー10において、第2図、第3図、第4図
および第5図に示されるような押込み治具7を用いて、
サンプルSの取付けおよび取り外しを行なう。
まず、膜特性試験用サンプルホルダー10の基台3の凸
部31と筒状体1との間に膜特性試験用サンプルホルダ
ー10のサンプルSを買き、押込み治具7の突出部71
により筒状体1を押し、筒状体1を凸部31に嵌入させ
、サンプルSを固定し、各種特性試験を行なう。
試験終了後、突き出し治具5の押し出し部51を、それ
ぞれ対応する基台3の孔部33に挿入し、第2図および
第3図に示されるように、押込み治具7を用いて基台3
と突き出し治具5とを近接させることにより、押し出し
部51により筒状体1の底面11を押し、基台3の凸部
31より筒状体1を取り外し、サンプルSをサンプルホ
ルダー10より取り外す。
以上、本発明について構成および作用について詳細に説
明したが、本発明はこれのみに限定されるものではなく
、本発明の要旨を逸脱しないかぎりにおいて各種の改良
および変更を行なってもよいことは言うまでもない。
〈発明の効果〉 本発明によれば、従来、作業性が悪く、さらに手に怪我
をする等の危険がある、各種サンプルホルダーを用いて
の膜特性試験を行なった後の、試験後のサンプルの取り
外し作業を、安全に行なうことが可能で、しかも作業時
間の短縮、労力の低下等の作業性も向上する。 さらに
作業にマイナスドライバー等を用いる必要もないので、
サンプルホルダー自身も傷つくことがない。
このような本発明の膜特性試験用サンプルホルダーは、
特に第6図に示されるような光特性試験用のサンプルホ
ルダーに適用したとき大きな効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明のサンプルホルダーの分解斜視図であ
る。 第2図および第3図は、本発明のサンプルホルダーおよ
び押込み治具と、その作用を表す断面図である。 第4図は、本発明の押込み治具の斜視図である。 第5図は、本発明の押込み治具の断面図である。 第6図は従来のサンプルホルダーの斜視図である。 符号の説明 1・・・筒状体、 3・・・基台、 5・・・突き出し治具、 7・・・押し込み治具、 10・・・サンプルホルダー 特許出願人 三井石油化学工業株式会社FIG、1 FIG、3

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)貫通孔を有する筒状体と、前記筒状体の貫通孔に
    嵌入してサンプル膜を前記筒状体との間で固定するため
    の凸部を有し、前記筒状体を前記凸部に貫通したとき前
    記筒状体の底面に対応する部分に孔部を有する基台と、
    前記孔部に挿通可能な押し出し部を有する突き出し治具
    とから構成されることを特徴とする膜特性試験用サンプ
    ルホルダー。
  2. (2)前記基台および前記凸部が貫通孔を有する請求項
    1に記載の膜特性試験用サンプルホルダー。
  3. (3)請求項1または2に記載の膜特性試験用サンプル
    ホルダーを用い、前記凸部と前記筒状体との間に膜特性
    試験用サンプルを置いて前記凸部を前記筒状体の貫通孔
    に嵌入させることにより前記膜特性試験用サンプルを前
    記筒状体と前記凸部との間に固定し、前記膜特性試験用
    サンプルの膜特性を試験した後に前記孔部に前記突き出
    し治具の前記押し出し部を挿通し、前記基台と前記突き
    出し治具とを近接させることにより、前記押し出し部の
    先端にて前記筒状体の底面を押して、前記凸部より前記
    筒状体を押し上げた後、前記筒状体を前記凸部より取り
    外し、前記膜特性試験用サンプルを除去することを特徴
    とする膜特性試験用サンプルの除去方法。
  4. (4)請求項1または2に記載の膜特性試験用サンプル
    ホルダーの前記筒状体を前記凸部に嵌入させ、かつ請求
    項3に記載の膜特性試験用サンプルの除去方法を実施す
    るための筒状の押し込み治具であって、この押し込み治
    具の開口部が前記筒状体の外寸法よりも大きく、かつ前
    記基台の外寸法よりも小さな寸法を 有し、内部に内方向に突出する前記筒状体を前記凸部に
    押し込むための突出部を有することを特徴とする押し込
    み治具。
  5. (5)前記突出部が形成する穴部が前記凸部の外寸法よ
    りも大きい請求項4に記載の押し込み治具。
JP5667488A 1988-03-10 1988-03-10 膜特性試験用サンプルホルダーおよび膜特性試験用サンプルの除去方法および押込み治具 Pending JPH01229938A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006153644A (ja) * 2004-11-29 2006-06-15 Toshiba Corp 光導波路基板用キャリア

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