JPH01219702A - 平板レンズおよびその製造方法 - Google Patents

平板レンズおよびその製造方法

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JPH01219702A
JPH01219702A JP4502888A JP4502888A JPH01219702A JP H01219702 A JPH01219702 A JP H01219702A JP 4502888 A JP4502888 A JP 4502888A JP 4502888 A JP4502888 A JP 4502888A JP H01219702 A JPH01219702 A JP H01219702A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor substrate
lens
etching
mask
curved
Prior art date
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Pending
Application number
JP4502888A
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English (en)
Inventor
Toru Tsuruta
徹 鶴田
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 光エレクトロニクスは、新しい学問、産業分野として発
展しつつあり、各方面から強い関心が寄ぜられている。
光フアイバ通信のみならず、複写礪やオーディオ装置、
ビデオディスク装置などの光電子機器では実用化の域に
達しているものもあり、さらに高度の性能をもつシステ
ムへの努力もなされつつある。本発明は、これらの分野
でm要な役割を果たしている光デバイスの1つである平
板レンズに関するものである。
従来の技術 最近、平板レンズは、光エレクトロニクスなどの分野で
盛んに利用されるようになってきた。この平板レンズの
製造方法は、たとえば、rElcctronics 1
etters Vol、17、No、13452〜45
31981Jに記載のM、0IKAWA他著の’ Di
stributed−Indcx  Planar  
Microlens  Array  Prepare
d  FroII Deep Electroligr
ation″に示されている。
以下、従来の平板レンズおよびイの製造方法を図面に基
づいて説明する。第2図(a)および(b)は従来の平
板レンズの製造]程を順に示す断面図である。
従来の平板レンズは、第2図(b)に示すように、透明
光学ガラス板1に屈折率ブ)孔領域2を形成してレンズ
としたものである。まず、第2図(a>に示1)ように
、透明光学ガラス板1の上に通常のフォトグラフィ技術
により円形の開口3を有するマスク4を形成し、この透
明光学ガラス板1の両面をWaイヒタリウム(T I2
804 )を含む500〜600℃の温度の溶融塩で侵
してその中に電極を設け、約8時間7V/mmtf)電
界を印加し、it+口3からイオンを移入すると同時に
熱拡散により、第2図(b)に示すように屈折率分布領
域2を形成している。
発明が解決しようとする課題 しかし、以上のような従来の構成では基板材料が限定さ
れるので、半導体基板上に平板レンズをモノリシックに
f積することが困難であるという問題を有していた。
本発明は上記問題を解決するものであり、半導体基板へ
の集積化が容易で、さらに非点収差の調整が容易な平板
レンズおよびその製造方法を提供することを目的とする
ものである。
課題を解決するための手段 上記問題を解決するため本発明の平板レンズは、ドライ
エツチングにて形成された曲面凹部を半導体基板上面に
備えたものである。
さらに、本発明は、半導体基板の上に断面がメサ状の円
形または楕円形の間口を有するマスクを形成し、この半
導体基板を前記マスクを用いてドライエツチングをする
ことにより半導体に板の上面に曲面四部を形成するもの
である。
作用 上記構成により、半導体基板上面にドライエツチングに
て形成された曲面凹部がレンズを構成するので、従来の
屈折率分布領域でレンズを構成したものと比べて基板材
料に限定されることなく、モノリシックに集積すること
が容易となる。
また、半導体基板上に断面がメ()状の円形または楕円
形のfli1口を有するマスクを形成し、これを用いて
ドライエツチングを行うので、半導体分野ですでに確立
された技術を使用することにより平板レンズを容易に形
成でき、マイクロレンズの半導体基板上の集積が容易と
なる。
実施例 以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図(a)〜第1図(d)は木光明の平板レンズの一
実施例の製造工程を順に示す断面図である。
第1図(d)において、半導体基板である1np基板1
1の土面に、ドライエツチングにて曲面凹部12が形成
され、この曲面凹部12により平板レンズのマイクロレ
ンズが構成されている。
以下、第1図<a)〜第1図(d)の順にしたがって平
板レンズの製造方法を説明する。
まず、第1図(a)に示すように、Inp基板11の上
に、通常のフォトリソグラフィ技術により円形または楕
円形の開口13を有するポジタイプの7オトレジストか
らなるエツチングマスク14を形成する。通常のフォト
リソグラフィ技術を用いると間口13はメサ状となる。
次に、メツ状の開口13を有するエツチングマスク14
を用い、エツチングガスにCCl4ガスを用いて反応性
イオンエツチング(RIE)によってドライエツチング
を行う。ドライエツチングに用いるエツチングガスに対
するエツチングマスク14のエツチングレートをT1、
In1)I板11のエツチングレートをI2とすると、
エツチングマスク、14に通常のフォトレジスト、エツ
チングガスにCCl4ガスを用いたときの選択比は I2 /Tt = 0.6であり、この選択比にしたが
って第1図(b)および第1図(C)に示すように、エ
ツチング”マスク14およびI n o LS板11が
エツチングされる。
そして最終的に第1図(d)に示すように、エツチング
マスク14は除去され、Inpu板11板曲1凹部12
が形成され、マイクロレンズが得られる。
このように、メサ状の開口13を右する通常のフォトレ
ジストマスクをエツチングマスク14にしてInp基板
11をCCl4ガスで反応性イオンエツチング(RIE
)を行うことにより容易に曲面凹部12を形成すること
ができ、Inp基板11にマイクロレンズを容易に集積
することができる。
また、エツチングマスク14の層の厚さや開口13の大
きさを調整してドライエツチングすることにより、曲面
凹部12の大きさを調整できレンズの非点収差を容易に
調整することができる。
なお、上記実施例に6いては、半導体基板にInp基板
11、エツチングマスク14に通常のフォトレジスト、
ドライエツチングにRIEを使い、そのエツチングガス
にCCl4ガスを用いたが、半導体基板は本発明の趣旨
に沿うものであればいかなる半導体でも良く、また、エ
ツチングマスクとエツチングガスの絹合せも自由である
。また、ドライエツチングに反応性イオンエツチング(
RIE)と反応性イオンビームエツチング(RI[3E
)のいずれを用いても良いことは言うまでもない。
光明の効果 以上のように本発明によれば、半導体基板上面にドライ
エツチングにて形成された曲面四部によりレンズを構成
するので基板材料に限定されることなく、モノリシック
に集積できる。
さらに、半導体基板上に断面がメサ状の円形または楕円
形の開口を有するマスクを形成し、この半導体基板を前
記マスクを用いてドライエツチングするという極めて容
易な製造方法で半導体基板上面にレンズを集積すること
がでさ″る。このとさ、マスクの層の厚さや開口の大き
さを調整してドライエツチングをすることにより、曲面
四部の大きさを調整でき、レンズの非点収差を容易に調
整することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(d)は本11明の一実施例の平板レン
ズの製造工程を順に示す断面図、第2図(a)および(
b)は従来の平板レンズの製造工程を順に示1J断面図
である。゛ 11・・・Inp基板、12・・・曲面四部、13・・
・間口、14・・・エツチングマスク。 代理人   森  木  義  弘 第1図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、ドライエッチングにて形成された曲面凹部を半導体
    基板上面に備えた平板レンズ。 2、半導体基板の上に断面がメサ状の円形または楕円形
    の開口を有するマスクを形成し、この半導体基板を前記
    マスクを用いてドライエッチングをすることにより半導
    体基板の上面に曲面凹部を形成する平板レンズの製造方
    法。
JP4502888A 1988-02-26 1988-02-26 平板レンズおよびその製造方法 Pending JPH01219702A (ja)

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